CN102738769B - 电路保护装置 - Google Patents
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Abstract
本发明揭示一种电路保护装置,与测试设备和待测设备相连,所述电路保护装置包括:第一接口,与所述待测设备电性连接,取得第一电平状态;保护电路,其一端与所述第一接口电性连接,获取所述第一电平状态,依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断;第二接口,其一端与所述保护电路另一端电性连接,另一端与所述测试设备电性连接。利用本发明的电路保护装置,由于通过第一接口获取所述待测设备的第一电平状态,依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断,从而可以达到对测试设备的保护。
Description
【技术领域】
本发明涉及一种电路保护装置,特别是涉及一种测试设备的电路保护装置。
【背景技术】
随着科技的发展进步,电子产品越来越广泛的应用于家庭和办公场合,尤其是个人台式电脑和笔记本电脑,更是成为人们生活中必不可少的工具。
因此,需要大量生产该类电子产品。在工厂需要出货前,都需要对其性能进行测试,以确保其品质。
请参阅图1,其绘示为现有技术电子产品的测试结构图。目前的测试通常都是将测试设备100与待测设备200直接电性连接。
待测设备200以笔记本电脑的显示器为例,而测试设备100以笔记本电脑的主机为例。利用所述主机对所述显示器进行19V以下的电源测试的时候,将二者直接相连。
然而,采用上述方式进行测试的时候,由于测试设备100与待测设备200直接电性连接。如果待测设备200本身的电路短路,则在测试设备100供电后,会使得测试设备100短路而不能正常工作甚至烧毁。
有鉴于此,实有必要开发一种电路保护装置,以解决上述问题。
【发明内容】
因此,本发明的目的是提供一种电路保护装置,可以保证在测试设备和待测设备电性连接的安全性。
为了达到上述目的,本发明提供的电路保护装置,与测试设备和待测设备相连,所述电路保护装置包括:
第一接口,与所述待测设备电性连接,取得第一电平状态;
保护电路,其一端与所述第一接口电性连接,获取所述第一电平状态,依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断;
第二接口,其一端与所述保护电路另一端电性连接,另一端与所述测试设备电性连接。
可选的,所述第一电平状态为低电平,所述保护电路通路;第一电平状态为高电平,所述保护电路断路。
可选的,所述第二接口与所述测试设备电性连接,获取第二电平状态,所述第一、第二电平状态皆为低电平,所述保护电路通路;第一、第二电平状态其中之一为高电平,所述保护电路断路。
可选的,所述保护电路包括MOS管,所述MOS管导通,则所述保护电路通路。
可选的,所述电路保护装置还包括:监测电路,与所述第一接口电性连接,依据所述第一电平状态产生监测信号。
可选的,所述电路保护装置还包括:监测电路,与所述第二接口电性连接,依据所述第二电平状态产生监测信号。
可选的,所述电路保护装置还包括:警示单元,与所述监测电路连接,所述监测信号正常时,所述警示单元显示为第一状态;所述监测信号异常时,所述警示单元显示为第一状态。
可选的,所述警示单元为发光二极管,所述第一状态为不发光,所述第二状态为发光。
可选的,所述警示单元为扬声器,所述第一状态为不发声,所述第二状态为发声。
相较于现有技术,利用本发明的电路保护装置,由于通过第一接口获取所述待测设备的第一电平状态,依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断,从而可以达到对测试设备的保护。同时,在本发明的一个实施例中,通过第二接口获取所述测试设备的第二电平状态,依据所述第一、第二电平状态共同控制所述保护电路的通断,从而可以达到对测试设备和待测设备的共同保护。在本发明的一个实施例中,还包括监测电路,可以与所述第一接口电性连接,依据所述第一电平状态产生监测信号,达到对待测设备的监测;也可以与所述第二接口电性连接,依据所述第二电平状态产生监测信号,达到对测试设备的监测。
【附图说明】
图1绘示为现有技术电子产品的测试结构图。
图2为本发明的电路保护装置第一实施例应用状态的方框结构图。
图3为本发明的电路保护装置第二实施例应用状态的方框结构图。
【具体实施方式】
请参阅图2,图2为本发明的电路保护装置第一实施例应用状态的方框结构图。
本发明提供的电路保护装置300,与测试设备100和待测设备200相连,于该第一实施例,所述电路保护装置300包括:
第一接口301,与所述待测设备200电性连接,取得第一电平状态;
保护电路302,其一端与所述第一接口301电性连接,获取所述第一电平状态,依据所述第一电平状态控制所述保护电路302的通断;
第二接口303,其一端与所述保护电路302另一端电性连接,另一端与所述测试设备100电性连接。
此处,所述保护电路302可以为包括MOS管,所述MOS管导通,则所述保护电路通路。采用MOS管可以方便控制。
此处,所述第一电平状态为低电平,所述待测设备200正常,所述保护电路302通路;第一电平状态为高电平,所述待测设备200短路,所述保护电路302断路。
可见,利用本发明的电路保护装置300,由于通过第一接口301获取所述待测设备200的第一电平状态,依据所述第一电平状态控制所述保护电路302的通断,从而可以达到对测试设备100的保护。
当然,所述第二接口303与所述测试设备100电性连接,也可以为获取第二电平状态,所述第一、第二电平状态皆为低电平,所述测试设备100和待测设备200皆正常,所述保护电路302通路;第一、第二电平状态其中之一为高电平,所述测试设备100和待测设备200其中之一短路,所述保护电路302断路。
由于通过第二接口303获取所述测试设备100的第二电平状态,依据所述第一、第二电平状态共同控制所述保护电路302的通断,从而可以达到对测试设备100喝待测设备200的共同保护。
请参阅图3,图3为本发明的电路保护装置第二实施例应用状态的方框结构图。
于该第二实施例,所述电路保护装置300除包括第一实施例中的各功能模块外,还包括监测电路304。
当然,监测电路304可以与所述第一接口301电性连接,依据所述第一电平状态产生监测信号。所述监测电路304也可以为与所述第二接口302电性连接,依据所述第二电平状态产生监测信号。
此处,所述电路保护装置300还包括:警示单元305,与所述监测电路304连接,所述监测信号正常时,所述警示单元305显示为第一状态;所述监测信号异常时,所述警示单元305显示为第一状态。
当然,所述警示单元305可以为发光二极管,所述第一状态为不发光,所述第二状态为发光。
当然,所述警示单元305也可以为扬声器,所述第一状态为不发声,所述第二状态为发声。
于该第二实施例,由于该电路保护装置300还包括监测电路304,可以与所述第一接口301电性连接,依据所述第一电平状态产生监测信号,从而达到对待测设备200的监测;也可以与所述第二接口302电性连接,依据所述第二电平状态产生监测信号,从而达到对测试设备100的监测。
Claims (4)
1.一种电路保护装置,与测试设备和待测设备相连,其特征在于,所述电路保护装置包括:
第一接口,与所述待测设备电性连接,取得第一电平状态;
保护电路,其一端与所述第一接口电性连接,获取所述第一电平状态,依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断;
第二接口,其一端与所述保护电路另一端电性连接,另一端与所述测试设备电性连接;
所述第二接口与所述测试设备电性连接,获取第二电平状态,所述第一、第二电平状态皆为低电平,所述保护电路通路;第一、第二电平状态其中之一为高电平,所述保护电路断路;
所述电路保护装置还包括:监测电路,与所述第一接口或所述第二接口电性连接,依据所述第一电平状态或所述第二电平状态产生监测信号;
所述电路保护装置还包括:警示单元,与所述监测电路连接,所述监测信号正常时,所述警示单元显示为第一状态;所述监测信号异常时,所述警示单元显示为第二状态。
2.如权利要求1所述的电路保护装置,其特征在于,所述保护电路包括MOS管,所述MOS管导通,则所述保护电路通路。
3.如权利要求1所述的电路保护装置,其特征在于,所述警示单元为发光二极管,所述第一状态为不发光,所述第二状态为发光。
4.如权利要求1所述的电路保护装置,其特征在于,所述警示单元为扬声器,所述第一状态为不发声,所述第二状态为发声。
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