CN102707159B - 预兼容实验室辐射发射测试校准方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及预兼容实验室辐射发射测试校准方法，至少包括如下步骤：步骤201，开始；步骤202，记录在预兼容实验室测试的测试数据曲线；步骤203，记录在标准容实验室测试的测试数据曲线；步骤204，对两组实验室测得相似指数、尖峰保有率和联系度的数据曲线进行定量评价；步骤205，对两组实验室测得的数据曲线进行一致性判断，若满足一致性判据，则进入步骤206，若不满足一致性判断，则进入步骤207；步骤206，转步骤209；步骤207，对预兼容实验室测得的数据曲线进行校准，校准过程包括校准因子的获取过程和校准因子的施加过程；步骤208，转步骤205；步骤209结束。它成本低廉、方便性好，对一般受试设备在预兼容实验室的测试结果进行校准与标准实验室测试结果一致。

Description

预兼容实验室辐射发射测试校准方法

技术领域

本发明涉及定量描述不同电磁兼容实验室测试结果差异程度的评价参量，并基于标准实验室和预兼容实验室之间的比对试验提出了一种预兼容实验室辐射发射测试校准方法。

背景技术

目前很多国家和组织都制定了相关的电子设备及产品的电磁兼容标准，标准规定只有符合相关指标要求的电子和电气产品才能进入市场。要判断某电子产品是否存在电磁兼容性问题，就需要依据相关标准对该产品进行具体的电磁兼容测试。通常，产品电磁兼容性的最终检测评定是在标准实验室里进行的，然而从某种程度上说，目前的标准实验室只是起到了最终测试裁定与评价的作用，而远没有满足产品研发中作为验证测试、故障诊断测试、设计验证手段的需求。

从行业发展来看，迫切需要找到一个针对性强且成本低廉、方便可行的测试验证手段，以保证电子产品能在“设计—研制—生产”的全周期中实现较好的电磁兼容验证与控制。因此，简便易行的基于小型电磁屏蔽室环境的预兼容实验室的建设以其针对性强、方便适用、成本低廉等优点而受到越来越多的关注，尤其对于电磁兼容性能要求很高的国防装备，有着更为广泛的需求背景。但是，目前的已有的实验室由于总体结构、测试环境、测试附件等方面条件与标准实验室相比而言还是存在着较大差异，因此如何尽可能提高预兼容实验室测试结果的准确性和可靠性便成为当务之急。

发明内容

本发明的目的是：提供一种成本低廉、方便性好的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，对一般受试设备在预兼容实验室的测试结果进行校准，使其与标准实验室测试结果一致。

本发明的目的是这样实现的，预兼容实验室辐射发射测试校准装置，其特征是：包括仪器室和测量室，仪器室有测控计算机和频谱分析仪，频谱分析仪与测量室内的接收天线组电连接，接收天线组接收受试设备的信号，受试设备通过线性阻抗稳定网络连接电源。

接收天线组是双锥天线，30MHz～200MHz频段内，信号源与双锥天线连接作为发射天线进行辐射发射，频谱分析仪与另一个双锥天线作为接收天线。

接收天线组是对数周期天线，200MHz～1000MHz频段内，信号源与对数周期天线电连接，对数周期天线作为发射天线进行辐射发射，频谱仪与另一个对数周期天线作为接收天线。

预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是：至少包括如下步骤：

步骤201，开始；

步骤202，记录在预兼容实验室测试的测试数据曲线；

步骤203，记录在标准容实验室测试的测试数据曲线；

步骤204，对两组实验室测得相似指数、尖峰保有率和联系度的数据曲线进行定量评价；

步骤205，对两组实验室测得的数据曲线进行一致性判断，若满足一致性判据，则进入步骤206，若不满足一致性判断，则进入步骤207；

步骤206，转步骤209；

步骤207，对预兼容实验室测得的数据曲线进行校准，校准过程包括校准因子的获取过程和校准因子的施加过程；

步骤208，转步骤205；

步骤209结束。

所述的步骤204中相似指数根据下式便可以计算出这两个序列的相似指数：

$R_{E_1-E_2}=\frac{\underset{i=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}(E_1\left(f_i\right)-\stackrel{\‾}{E_1\left(f\right)})(E_2\left(f_i\right)-\stackrel{\‾}{E_2\left(f\right)})}{n{s}_{E_1}{s}_{E_2}}$

$s_{E_1}=\sqrt{\frac{\underset{i=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}{(E_1\left(f_i\right)-\stackrel{\‾}{E_1\left(f\right)})}^2}{N}}$ $s_{E_2}=\sqrt{\frac{\underset{i=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}{(E_2\left(f_i\right)-\stackrel{\‾}{E_2\left(f\right)})}^2}{N}}.$

所述的步骤204中尖峰保有率：依据如下公式：

$\mathrm{\ρ}=\frac{\mathrm{\α}}{\mathrm{\β}}\×100\%$

其中：ρ表示尖峰保有率；

α为预兼容实验室中的尖峰提取计数；

β为标准实验室中的尖峰提取计数。

所述的尖峰提取计数，是对获取的测试结果进行小波消噪处理，求出背景阈值。

所述的背景阈值的求取，基于概率确定背景阈值法，其步骤为：

1）利用概率确定背景阈值，首先判断不同幅值的个数k，计算发生概率 ${\mathrm{\η}}_i=\frac{n_i}{N},i\∈[1,k];$

式中：N为测试频点的总个数，n_i为第i个幅值的出现次数，比较得到前三个最大的η_i，即η_a、η_b、η_c，找出其对应的三个幅度值V_a，V_b，V_c，确定 $V=\frac{V_a+V_b+V_c}{3}$ 为背景阈值；

2）对于高于背景阈值的测试点左右两侧进行单调性判断，如果该测试点的左侧为单调递增并且右侧为单调递减，则认定其为峰值点，否则不是峰值点。

所述的步骤204中联系度依据如下公式：

${\mathrm{\μ}}_{E_1-E_2}=\frac{Q}{N}+\mathrm{\η}\frac{F}{N}+\mathrm{\ζ}\frac{P}{N}$

其中：N为测试曲线中原始频率离散数据点的总个数；

Q为两曲线离散点中判定为同一性的个数；

F为两曲线离散点中判定为差异性的个数；

P为两曲线离散点中判定为对立性的个数；

η为差异不确定性系数；ζ为对立系数；η=0.5、ζ=-1；

Q=count(i,|E₂(f_i)-E₁(f_i)|≤3)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值在[0,3]范围内，定义为同一性；

F=count(i,3<|E₂(f_i)-E₁(f_i)|≤6)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值在(3,6]的范围内，定义为差异性；

P=count(i,|E₂(f_i)-E₁(f_i)|>6)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值大于(6,+∞)，定义为对立性。

所述的步骤205一致性判据具体公式为：

$c={\mathrm{\&lambda;}}_1\&CenterDot;R_{E_1-E_2}+{\mathrm{\&lambda;}}_2\&CenterDot;\mathrm{\&rho;}+{\mathrm{\&lambda;}}_3\&CenterDot;{\mathrm{\&mu;}}_{E_1-E_2}$

其中：λ₁+λ₂+λ₃=1

为相似系数

ρ为尖峰保有率

为联系度

规定：λ₁=0.1、λ₂=0.1、λ₃=0.8；当c≥0.5时，满足一致性判据。

所述的步骤207校准因子的获取过程包括：

步骤401开始；

步骤402，信号源和发射天线组作为受试设备进行辐射发射测试，信号源分别在标准实验室和预兼容校准实验室以-60dBm的功率值进行离散点发射，其中，在30MHz～200MHz的频段内，每隔10MHz发射一次；在200MHz～1000MHz每隔25MHz发射一次；接收天线组5接收场强数据为E₁(f_i)(dBμV/m)和E₂(f_i)(dBμV/m),其测试点数确定为N；对应信号源在离散发射频点处的各离散点场强值分别为e₁(f_j)(dBμV/m)和e₂(f_j)(dBμV/m)，其数据序列点数为n，且n＜N；

步骤403，将在标准实验室提取的场强峰值进行线性运算，线性场强值记为

步骤404，将在预兼容实验室提取的场强峰值进行线性运算，线性场强值记为

步骤405，对标准实验室和预兼容实验室所提取的线性峰值做差值，记为Δe′(V/m)；

步骤406，将Δe′(V/m)进行两点线性插值运算，即将n个离散点幅值扩展至N个，记为ΔE′(V/m)；

步骤407，对ΔE′(V/m)进行功率归一化修正得到ΔE′_修正，即其中ERP′为发射天线9的有效辐射功率的线性值，其单位为W，发射天线9的有效辐射功率的对数值为ERP，其计算公式为：ERP＝P+G-L，P为信号源8的发射功率，G为发射天线9的增益，L为线缆的损耗；

步骤408，对功率修正后的ΔE′_修正进行折线回归；

步骤409，输出结果，即获取功率归一化校准因子δ。

所述的步骤408中的折线回归是：利用分段模型将整个测试频段分为若干小段，在每一个小段内运用线性回归模型对数据进行线性回归，从而在整个范围内得到一条折线。

所述的在某一分段内的线性回归模型为：

在某一分段内，对功率修正后的ΔE′_修正t(t=1,2Lm)、频率为f_t(t=1,2Lm)进行回归分析，根据回归理论可得其线性模型为：

δ=a+bf

其中：为频率的平均值

为场强线性差值的平均值。

所述的校准因子的施加过程包括：

从步骤601开始；

步骤602为将受试设备预兼容实验室测其辐射发射；

步骤603，提取由步骤409获得的校准因子δ；

步骤604，根据公式获取受试设备校准因子δ_E，其中ERP′_EUT为受试设备的有效辐射功率，受试设备的有效辐射功率根据受试设备在预兼容实验室中测得的数据和其在不同频段的辐射特性预估而得；

步骤606，记录受试设备在预兼容实验室中接收的线性幅值为

步骤607，将获取的受试设备校准因子加至预兼容实验室中所测得的数值上；

步骤608，显示校准后的曲线；

步骤609，结束。

本发明的优点是：通过记录在预兼容实验室测试的测试数据曲线和记录在标准容实验室测试的测试数据曲线；对两组实验室测得相似指数、尖峰保有率和联系度的数据曲线进行定量评价；对两组实验室测得的数据曲线进行一致性判断，实现对一般受试设备在预兼容实验室的测试结果进行校准，使其与标准实验室测试结果一致。

附图说明

图1是辐射发射基本配置示意图；

图2是两实验室辐射发射测试数据评价校准流程图；

图3是标准信号源发射接收天线和发射天线安装示意图；

图4是获取校准因子的流程图；

图5是受试设备（笔记本电脑）的辐射发射配置示意图；

图6是施加校准因子的流程图；

图7是校准后的预兼容实验室测试曲线；

图8是30MHz～200MHz频段内设备的有效辐射功率；

图9是200MHz～1000MHz频段内设备的有效辐射功率；

图10是校准后的预兼容实验室测试曲线与预兼容实验室测试曲线比较；

图11是校准后的预兼容实验室测试曲线与标准实验室测试曲线比较。

图中，1、仪器室；2、测量室；3、测控计算机；4、频谱分析仪；5、接收天线组（包括双锥天线和对数周期天线）；6、受试设备；7、线性阻抗稳定网络；8、信号源；9、发射天线组（包括双锥天线和对数周期天线），10、接地平板。

具体实施方式

实施例1

如图1所示:预兼容实验室辐射发射测试校准装置，包括仪器室1和测量室2，仪器室1有测控计算机3和频谱分析仪4，频谱分析仪4与测量室2内的接收天线组5电连接，接收天线组5接收受试设备6的信号，受试设备6通过线性阻抗稳定网络7连接电源。

实施例2

在预兼容实验室中测试布局按照如图1所示的示意图进行连接，如图1所示，包括仪器室1和测量室2，仪器室1有测控计算机3和频谱分析仪4，频谱分析仪4与测量室2内的接收天线组5（包括双锥天线和对数周期天线）电连接，接收天线组5接收受试设备（EUT）6的信号，受试设备（EUT）6通过线性阻抗稳定网络（LISN）7连接电源；标准实验室的基本配置依据相关标准要求固有。

预兼容实验室辐射发射测试校准方法可以应用到10KHz～10GHz的频段，本发明中对30MHz～1000MHz进行了验证。在图1中，测量室2是标准测试项目RE102中30MHz～1000MHz辐射发射连接示意图。30MHz～200MHz频段内，信号源与双锥天线连接作为发射天线进行辐射发射，频谱分析仪4与另一个双锥天线作为接收天线。200MHz～1000MHz频段内，信号源与对数周期天线电连接，对数周期天线作为发射天线进行辐射发射，频谱仪与另一个对数周期天线作为接收天线。

图2是两实验室辐射发射测试数据评价校准流程图：

步骤201，开始；

步骤202，记录在预兼容实验室测试的测试数据曲线；

步骤203，记录在标准容实验室测试的测试数据曲线；

步骤204，对两组实验室测得的数据曲线进行定量评价，其中包括相似指数、尖峰保有率和联系度；

步骤205，对对两组实验室测得的数据曲线进行一致性判断，若满足一致性判据，则进入步骤206，若不满足一致性判断，则进入步骤207；

步骤206，两组实验室测得的数据曲线一致；

步骤207，对预兼容实验室测得的数据曲线进行校准，校准过程包括校准因子的获取过程和校准因子的施加过程；

步骤208，对校准后的预兼容实验室测试数据曲线与标准试验室测试数据曲线进行一致性判断；

步骤209结束；

所述的步骤204中相似指数：是用来描述同种受试设备在不同实验室获取的测试结果之间相关程度的数字特征量。根据下式便可以计算出这两个序列的相似指数：

$R_{E_1-E_2}=\frac{\underset{i=1}{\overset{N}{\mathrm{\&Sigma;}}}(E_1\left(f_i\right)-\stackrel{\&OverBar;}{E_1\left(f\right)})(E_2\left(f_i\right)-\stackrel{\&OverBar;}{E_2\left(f\right)})}{n{s}_{E_1}{s}_{E_2}}$

$s_{E_1}=\sqrt{\frac{\underset{i=1}{\overset{N}{\mathrm{\&Sigma;}}}{(E_1\left(f_i\right)-\stackrel{\&OverBar;}{E_1\left(f\right)})}^2}{N}}$ $s_{E_2}=\sqrt{\frac{\underset{i=1}{\overset{N}{\mathrm{\&Sigma;}}}{(E_2\left(f_i\right)-\stackrel{\&OverBar;}{E_2\left(f\right)})}^2}{N}}$

根据上式得到的相似指数的绝对值越接近于1，说明两组测试数据的相关程度越密切。

尖峰保有率：为了判断在预兼容实验室中获取的测试结果与标准实验室相比是否有丢失尖峰的现象以及确定尖峰丢失的程度，本发明提出尖峰保有率指标，其公式如下：

$\mathrm{\&rho;}=\frac{\mathrm{\&alpha;}}{\mathrm{\&beta;}}\&times;100\%$

其中：ρ表示尖峰保有率；

α为预兼容实验室中的尖峰提取计数；

β为标准实验室中的尖峰提取计数；

所述的尖峰提取计数，是对获取的测试结果进行小波消噪处理，求出背景阈值，对高于背景阈值的测试点进行单调性判断，实现频谱尖峰提取并计数。

所述的背景阈值的求取，主要采用了基于概率确定背景阈值法，其步骤为：

1）利用概率确定背景阈值，由于背景幅度值会在一定范围内进行波动，该方法可以有效的克服由于数据突变而导致错误提取的问题。通过分析，背景阈值在测试数据中一定为出现次数最多的值，首先判断不同幅值的个数k，计算发生概率 ${\mathrm{\&eta;}}_i=\frac{n_i}{N},i\&Element;[1,k].$

式中：N为测试频点的总个数，n_i为第i个幅值的出现次数，比较得到前三个最大的η_i，即η_a、η_b、η_c，找出其对应的三个幅度值V_a，V_b，V_c，确定 $V=\frac{V_a+V_b+V_c}{3}$ 为背景阈值。

2）对高于背景阈值V的测试点进行单调性判断，实现频谱尖峰提取并计数，指的是通过利用平均值作为判据找到背景阈值后，对于高于背景阈值的测试点左右两侧进行单调性判断，如果该测试点的左侧为单调递增并且右侧为单调递减，则认定其为峰值点，否则不是峰值点。

联系度：是在集对分析理论中所提出的一个数据比对评价参量，指的是将两组测试数据幅值视为两个集合，对两个集合(E₁,E₂)的特性做同一性、差异性、对立性分析，本发明中定义联系度如下：

${\mathrm{\&mu;}}_{E_1-E_2}=\frac{Q}{N}+\mathrm{\&eta;}\frac{F}{N}+\mathrm{\&zeta;}\frac{P}{N}$

其中：N为测试曲线中原始频率离散数据点的总个数；

Q为两曲线离散点中判定为同一性的个数；

F为两曲线离散点中判定为差异性的个数；

P为两曲线离散点中判定为对立性的个数；

η为差异不确定性系数；ζ为对立系数；本发明中规定：η=0.5、ζ=-1。

对于判断为背景的幅值点，我们判定其均为同一性点；

对于判断为非背景的幅值点，依据对应点曲线幅值差值不同进行判定，具体如下：

Q=count(i,|E₂(f_i)-E₁(f_i)|≤3)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值在[0,3]范围内，定义为同一性；

F=count(i,3<|E₂(f_i)-E₁(f_i)|≤6)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值在(3,6]的范围内，定义为差异性；

P=count(i,|E₂(f_i)-E₁(f_i)|>6)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值大于(6,+∞)，定义为对立性。

所述的步骤205一致性判据(c)指对多个实验室结果差异性评价指标进行加权平均，以综合评价各个方面的性能，其具体公式为：

$c={\mathrm{\&lambda;}}_1\&CenterDot;R_{E_1-E_2}+{\mathrm{\&lambda;}}_2\&CenterDot;\mathrm{\&rho;}+{\mathrm{\&lambda;}}_3\&CenterDot;{\mathrm{\&mu;}}_{E_1-E_2}$

其中：λ₁+λ₂+λ₃=1

为相似系数

ρ为尖峰保有率

为联系度

规定：λ₁=0.1、λ₂=0.1、λ₃=0.8；当c≥0.5时，满足一致性判据。

所述的步骤207校准因子的获取过程包括：

步骤401开始；

步骤402，信号源8和发射天线组9作为受试设备进行辐射发射测试，布置如图3所示。预兼容实验室辐射发射测试校准方法可以应用到10KHz～10GHz的频段，本发明中对30MHz～1000MHz进行了验证。信号源分别在标准实验室和预兼容校准实验室以-60dBm的功率值进行离散点发射，其中，在30MHz～200MHz的频段内，每隔10MHz发射一次；在200MHz～1000MHz每隔25MHz发射一次；接收天线组5接收场强数据为E₁(f_i)(dBμV/m)和E₂(f_i)(dBμV/m),其测试点数确定为N；对应信号源在离散发射频点处的各离散点场强值分别为e₁(f_j)(dBμV/m)和e₂(f_j)(dBμV/m)，其数据序列点数为n，且n＜N；

步骤403，将在标准实验室提取的场强峰值进行线性运算，线性场强值记为

步骤404，将在预兼容实验室提取的场强峰值进行线性运算，线性场强值记为

步骤405，对标准实验室和预兼容实验室所提取的线性峰值做差值，记为Δe′(V/m)；

步骤406，将Δe′(V/m)进行两点线性插值运算，即将n个离散点幅值扩展至N个，记为ΔE′(V/m)，；

步骤407，对ΔE′(V/m)进行功率归一化修正得到ΔE′_修正，即其中ERP′为发射天线9的有效辐射功率的线性值，其单位为W。发射天线9的有效辐射功率的对数值为ERP，其计算公式为：ERP＝P+G-L，P为信号源8的发射功率，G为发射天线9的增益，L为线缆的损耗；

步骤408，对功率修正后的ΔE′_修正进行折线回归；

步骤409，输出结果，即获取功率归一化校准因子δ；

所述的步骤408中的折线回归是：

本发明提出了一种分段回归方法，即利用分段模型将整个测试频段分为若干小段，在每一个小段内运用线性回归模型对数据进行线性回归，从而在整个范围内得到一条折线。

所述的在某一分段内的线性回归模型为：

在某一分段内，对功率修正后的ΔE′_修正t(t=1,2Lm)、频率为f_t(t=1,2Lm)进行回归分析，根据回归理论可得其线性模型为：

δ=a+bf

其中：为频率的平均值

为场强线性差值的平均值

所述的分段模型实现方法为：

a）按照电磁兼容测试宽带天线10KHz～30MHz、30MHz～200MHz、200MHz～1GHz、1GHz～10GHz对所测得的频段进行分段；

b）按照预兼容实验室测试数据步骤402所获得的离散峰值点进行分段；

其中校准因子的施加过程包括：

从步骤601开始；

步骤602为将受试设备预兼容实验室测其辐射发射；

步骤603，提取由步骤409获得的校准因子δ；

步骤604，根据公式获取受试设备校准因子δ_E，其中ERP′_EUT为受试设备的有效辐射功率，受试设备的有效辐射功率根据受试设备在预兼容实验室中测得的数据和其在不同频段的辐射特性预估而得；

步骤606，记录受试设备在预兼容实验室中接收的线性幅值为

步骤607，将获取的受试设备校准因子加至预兼容实验室中所测得的数值上；

步骤608，显示校准后的曲线，如图7所示；

步骤609，结束。

为了验证校准因子的准确性，分别计算校准前和校准后的预兼容实验室测试数据与标准试验室测试数据的相似指数、尖峰保有率、联系度和一致性判据，其结果如表1所示。图10是校准后的预兼容实验室测试曲线与预兼容实验室测试曲线比较；图11是校准后的预兼容实验室测试曲线与标准实验室测试曲线比较。

表1是折线回归法校准前后评价参量比对表

验证的受试设备	供电方式	工作状态
			某型号笔记本电脑	LISN交流供电	开机桌面状态

表2是验证的受试设备状态

校准前后的预兼容实验室数据与标准实验室数据的评价指标如表1所示，其中相似指数、尖峰保有率和联系度都得到了很大的提高。

受试设备的供电状态、工作状态如表2所示。

由于测试的不确定性和不稳定性，校准后的曲线会有个别的点远低于其他的点，我们称之为奇异点。由于奇异点的出现并不会影响校准后曲线的趋势和峰值。为了更直观的与标准实验室测得的曲线相比较，这里采用里基于分段均值相差法对奇异点进行处理。所述的基于分段均值相差法是奇异点偏离于其频段内的各个点的均值以下5dB时，将奇异点赋值为其频段内的均值。

本实施例没有详细叙述的部件和结构属本行业的公知部件和常用结构或常用手段，这里不一一叙述。

Claims (6)

1.预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是：至少包括如下步骤：

步骤201，开始；

步骤202，记录在预兼容实验室测试的测试数据曲线；

步骤203，记录在标准容实验室测试的测试数据曲线；

步骤204，对两组实验室测得相似指数、尖峰保有率和联系度的数据曲线进行定量评价；

步骤205，对两组实验室测得的数据曲线进行一致性判断，若满足一致性判据，则进入步骤206，若不满足一致性判断，则进入步骤207；

步骤206，转步骤209；

步骤207，对预兼容实验室测得的数据曲线进行校准，校准过程包括校准因子的获取过程和校准因子的施加过程；

所述的步骤207校准因子的获取过程包括：

步骤401开始；

步骤402，信号源和发射天线组作为受试设备进行辐射发射测试，信号源分别在标准实验室和预兼容校准实验室以-60dBm的功率值进行离散点发射，其中，在30MHz～200MHz的频段内，每隔10MHz发射一次；在200MHz～1000MHz每隔25MHz发射一次；接收天线组接收场强数据为E₁(f_i)(dBμV/m)和E₂(f_i)(dBμV/m),其测试点数确定为N；对应信号源在离散发射频点处的各离散点场强值分别为e₁(f_j)(dBμV/m)和e₂(f_j)(dBμV/m)，其数据序列点数为n，且n<N；

步骤403，将在标准实验室提取的场强峰值进行线性运算，线性场强值记为e'₁(f_j)(V/m)；

步骤404，将在预兼容实验室提取的场强峰值进行线性运算，线性场强值记为e'₂(f_j)(V/m)；

步骤405，对标准实验室和预兼容实验室所提取的线性峰值做差值，记为Δe'(V/m)；

步骤406，将Δe'(V/m)进行两点线性插值运算，即将n个离散点幅值扩展至N个，记为ΔE'(V/m)；

步骤407，对ΔE'(V/m)进行功率归一化修正得到ΔE'_修正，即其中ERP'为发射天线9的有效辐射功率的线性值，其单位为W，发射天线9的有效辐射功率的对数值为ERP，其计算公式为：ERP＝P+G-L，P为信号源8的发射功率，G为发射天线9的增益，L为线缆的损耗；

步骤408，对功率修正后的ΔE'_修正进行折线回归；

步骤409，输出结果，即获取功率归一化校准因子δ；

所述的步骤207中校准因子的施加过程包括：

从步骤601开始；

步骤602为将受试设备预兼容实验室测其辐射发射；

步骤603，提取由步骤409获得的校准因子δ；

步骤604，根据公式获取受试设备校准因子δ_E，其中ERP'_EUT为受试设备的有效辐射功率，受试设备的有效辐射功率根据受试设备在预兼容实验室中测得的数据和其在不同频段的辐射特性预估而得；

步骤606，记录受试设备在预兼容实验室中接收的线性幅值为E'₂；

步骤607，将获取的受试设备校准因子加至预兼容实验室中所测得的数值上；

步骤608，显示校准后的曲线；

步骤609，结束；

步骤208，转步骤205；

步骤209结束；

该方法的预兼容实验室辐射发射测试校准装置包括仪器室(1)和测量室(2)，仪器室(1)有测控计算机(3)和频谱分析仪(4)，频谱分析仪(4)与测量室(2)内的接收天线组(5)电连接，接收天线组(5)接收受试设备(6)的信号，受试设备(6)通过线性阻抗稳定网络(7)连接电源；接收天线组(5)是对数周期天线，200MHz～1000MHz频段内，信号源与对数周期天线电连接，对数周期天线作为发射天线进行辐射发射，频谱仪与另一个对数周期天线作为接收天线。

2.根据权利要求1所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是：所述的步骤204中尖峰保有率：依据如下公式：

$\mathrm{\&rho;}=\frac{\mathrm{\&alpha;}}{\mathrm{\&beta;}}\&times;100\%$

其中：ρ表示尖峰保有率；

α为预兼容实验室中的尖峰提取计数；

β为标准实验室中的尖峰提取计数。

3.根据权利要求2所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是：所述的尖峰提取计数，是对获取的测试结果进行小波消噪处理，求出背景阈值；所述的背景阈值的求取，基于概率确定背景阈值法，其步骤为：

1)利用概率确定背景阈值，首先判断不同幅值的个数k，计算发生概率i∈[1,k]；

式中：N为测试频点的总个数，n_i为第i个幅值的出现次数，比较得到前三个最大的η_i，即η_a、η_b、η_c，找出其对应的三个幅度值V_a，V_b，V_c，确定为背景阈值；

2)对于高于背景阈值的测试点左右两侧进行单调性判断，如果该测试点的左侧为单调递增并且右侧为单调递减，则认定其为峰值点，否则不是峰值点。

4.根据权利要求1所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是：所述的步骤204中联系度依据如下公式：

${\mathrm{\&mu;}}_{E_1-E_2}=\frac{Q}{N}+\mathrm{\&eta;}\frac{F}{N}+\mathrm{\&zeta;}\frac{P}{N}$

其中：N为测试曲线中原始频率离散数据点的总个数；

Q为两曲线离散点中判定为同一性的个数；

F为两曲线离散点中判定为差异性的个数；

P为两曲线离散点中判定为对立性的个数；

η为差异不确定性系数；ζ为对立系数；η＝0.5、ζ＝-1；

Q＝count(i,|E₂(f_i)-E₁(f_i)|≤3)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值在[0,3]范围内，定义为同一性；

F＝count(i,3＜|E₂(f_i)-E₁(f_i)|≤6)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值在(3,6]的范围内，定义为差异性；

P＝count(i,|E₂(f_i)-E₁(f_i)|＞6)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值大于(6,+∞)，定义为对立性。

5.根据权利要求1所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是：所述的步骤205一致性判据具体公式为：

$c={\mathrm{\&lambda;}}_1\&CenterDot;R_{E_1-E_2}+{\mathrm{\&lambda;}}_2\&CenterDot;\mathrm{\&rho;}+{\mathrm{\&lambda;}}_3\&CenterDot;{\mathrm{\&mu;}}_{E_1-E_2}$

其中：λ₁+λ₂+λ₃＝1

为相似系数

ρ为尖峰保有率

为联系度

规定：λ₁＝0.1、λ₂＝0.1、λ₃＝0.8；当c≥0.5时，满足一致性判据。

6.根据权利要求1所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是：所述的接收天线组(5)是双锥天线，30MHz～200MHz频段内，信号源与双锥天线连接作为发射天线进行辐射发射，频谱分析仪(4)与另一个双锥天线作为接收天线。