CN102693175A - 主板测试系统及其测试治具 - Google Patents
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Abstract
一种测试治具，用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试，所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组，所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口，所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信，所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压，所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。本发明实现了方便快捷地对所述主板进行测试。本发明还包括一种应用所述测试治具的主板测试系统。
Description
技术领域
本发明涉及一种主板测试系统及其测试治具。
背景技术
随着服务器的主板尺寸越来越小，为了节省空间，很多主板在设计上放弃了使用传统的PCIE插槽，而使用更为迷你的连接器，但是在对主板的测试过程中需要用到带有PCIE连接器的显卡、网卡等来插接到主板内，而没有PCIE插槽的主板在测试方面给测试机开发人员造成了很大的困扰。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种主板测试系统及其测试治具，以方便快捷地对所述主板进行测试。
一种测试治具，用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试，所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组，所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口，所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信，所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压，所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。
一种主板测试系统，包括一主板及一测试治具，所述主板包括一PCIE信号端口，所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组，所述PCIE连接端口连接至所述主板的PCIE信号端口，所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信，所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压，所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。
本发明主板测试系统通过所述测试治具的PCIE连接端口连接至所述主板的PCIE信号端口，从而将所述主板的PCIE信号端口连接至所述PCIE插槽，当对所述主板进行测试时将所述外界卡插入所述PCIE插槽内即可，方便快捷。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
图1是本发明主板测试系统的较佳实施方式的示意图。
主要元件符号说明
| 板体 | 10 |
| PCIE连接端口 | 20 |
| PCIE插槽 | 30 |
| 电源模组 | 40 |
| 稳压及电流保护电路 | 50 |
| 软排线 | 60 |
| 测试治具 | 100 |
| 主板 | 200 |
| PCIE信号端口 | 220 |
| 主板测试系统 | 300 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参考图1，本发明主板测试系统300的较佳实施方式包括一主板200及一测试治具100。所述主板200包括一PCIE信号端口220。所述测试治具100连接至所述PCIE信号端口220来对所述主板200进行测试。
所述测试治具100包括一板体10、一PCIE连接端口20、一PCIE插槽30、一电源模组40及一稳压及电流保护电路50。所述电源模组40连接至所述PCIE插槽30及所述稳压及电流保护电路50以给所述PCIE插槽30及所述稳压及电流保护电路50提供电压。所述PCIE连接端口20通过一软排线60连接至所述PCIE信号端口。所述PCIE插槽30连接至所述PCIE连接端口以与所述PCIE信号端口220通信。所述稳压及电流保护电路50连接至所述PCIE插槽30以对所述PCIE插槽30进行稳压及电路保护。由于所述稳压及电流保护电路50属于现有技术，所述稳压及电流保护电路50的具体的电路结构在此不再赘述。
当对所述主板200进行测试时，需要将一外接卡如一显卡（未示出）插入所述PCIE插槽30内，启动所述主板200。所述主板200的PCIE信号端口220通过所述PCIE信号端口220与所述测试治具100的PCIE插槽30上的显卡通信。通过连接至所述主板200的显示器（未示出）便可直观得到所述主板200的性能参数。
在本实施方式中，所述稳压及电流保护电路50是用于对所述PCIE插槽30进行稳压及电流保护。在其他实施方式中，在所述PCIE插槽30的电压及电流稳定的条件下，所述稳压及电路保护电路50可以省略。
所述主板测试系统300通过所述测试治具100的PCIE连接端口20连接至所述主板200的PCIE信号端口220，从而将所述主板200的PCIE信号端口220连接至所述PCIE插槽30，当所述显卡插入所述PCIE插槽30内即可对所述主板200进行测试，方便快捷。
Claims (5)
1.一种测试治具，用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试，所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组，所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口，所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信，所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压，所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述测试治具还包括一稳压及电流保护电路，所述电源模组连接至所述稳压及电流保护电路以给所述稳压及电流保护电路提供电压，所述稳压及电流保护电路连接至所述PCIE插槽以对所述PCIE插槽进行稳压及电路保护。
3.一种主板测试系统，包括一主板及一测试治具，所述主板包括一PCIE信号端口，所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组，所述PCIE连接端口连接至所述主板的PCIE信号端口，所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信，所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压，所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。
4.如权利要求3所述的主板测试系统，其特征在于：所述测试治具还包括一稳压及电流保护电路，所述电源模组连接至所述稳压及电流保护电路以给所述稳压及电流保护电路提供电压，所述稳压及电流保护电路连接至所述PCIE插槽以对所述PCIE插槽进行稳压及电路保护。
5.如权利要求3所述的主板测试系统，其特征在于：所述PCIE连接端口通过一软排线连接至所述PCIE信号端口。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201110071936XA CN102693175A (zh) | 2011-03-24 | 2011-03-24 | 主板测试系统及其测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201110071936XA CN102693175A (zh) | 2011-03-24 | 2011-03-24 | 主板测试系统及其测试治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN102693175A true CN102693175A (zh) | 2012-09-26 |
Family
ID=46858649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201110071936XA Pending CN102693175A (zh) | 2011-03-24 | 2011-03-24 | 主板测试系统及其测试治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN102693175A (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103795583A (zh) * | 2012-10-30 | 2014-05-14 | 英业达科技有限公司 | 测试装置 |
| CN106324473A (zh) * | 2015-06-19 | 2017-01-11 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 信号放大器供电装置 |
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2011
- 2011-03-24 CN CN201110071936XA patent/CN102693175A/zh active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20120926 |