CN102681711B - 触控面板及其多点检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明揭示一种触控面板及其多点检测方法。触控面板具有数个感测区域。触控面板的多点检测方法包括以下步骤。分析一第一感测区域的一第一触控点坐标。分析一第二感测区域的一第二触控点坐标。分析第一触控点坐标及第二触控点坐标的一相对距离。若相对距离小于一预定距离，则定义触控面板在第一触控点坐标被触控，或定义触控面板在第一触控点坐标与第二触控点坐标的一中点被触控。若相对距离大于或等于预定距离，则定义触控面板在第一触控点坐标及第二控点坐标同时被触控。

Description

触控面板及其多点检测方法

技术领域

本发明是有关于一种触控面板及其检测方法，且特别是有关于一种触控面板及其多点检测方法。

背景技术

随着科技不断的进步，各式电子装置不断推陈出新，其中电子装置的输入方式也不断的有创新技术出现。举例来说，触控面板即是一项重大突破的技术。透过触控面板，使用者可直接以触控笔或手指在触控面板上点选元件、写字或画图，而不需要键盘或鼠标。直觉式的输入方式，改变了电子装置的发展模式。

在触控面板发展的过程中，触控点的判断精准度及单点、多点触控判断的正确性是触控面板发展的关键因素。有鉴于此，目前业界无不致力于发展各种技术来提高触控点的判断精准度以及单、多点触控判断的正确性。

发明内容

本发明是有关于一种触控面板及其多点检测方法，其利用判断与分析步骤来分辨触控面板被触控的情况，以提高触控面板在单点及多点检测上的精准度。

根据本发明的一方面，提出一种触控面板的多点检测方法。触控面板包括具有阻抗异向性的一导电层和数个感测接垫。其中导电层的一第一轴向的阻抗值低于导电层的一第二轴向的阻抗值。此些感测接垫分布于导电层沿第二轴向的相对两侧边以在该触控面板形成数个感测区域。多点检测方法包括以下步骤。沿一第二轴向测量触控面板的一感测曲线。感测曲线的一最大感测值位于此些感测区域的一第一感测区域。此些感测区域的一第二感测区域及一第三感测区域分别相邻于第一感测区域的两侧，感测曲线于第二感测区域的一第一平均感测值大于第三感测区域的一第二平均感测值。分析第一感测区域的一第一触控点坐标。分析第二感测区域的一第二触控点坐标。分析第一触控点坐标及第二触控点坐标的一相对距离。若相对距离小于一预定距离，则定义触控面板在第一触控点坐标被触控，或定义触控面板在第一触控点坐标与第二触控点坐标的一中点被触控。若相对距离大于或等于预定距离，则定义触控面板在第一触控点坐标及第二控点坐标同时被触控。

根据本发明的另一方面，提出一种触控面板。触控面板包括一导电层、数个感测元件、一测量单元、一分析单元及一定义单元。导电层具有阻抗异向性。导电层的一第一轴向的阻抗值低于导电层的一第二轴向的阻抗值。此些感测接垫分布于导电层沿第二轴向的相对两侧边以在触控面板形成数个感测区域。测量单元用以沿一第二轴向测量触控面板的一感测曲线。感测曲线的一最大感测值位于此些感测区域的一第一感测区域。此些感测区域的一第二感测区域及一第三感测区域分别相邻于第一感测区域的两侧。感测曲线于第二感测区域的一第一平均感测值大于第三感测区域的一第二平均感测值。分析单元用以分析第一感测区域的一第一触控点坐标及第二感测区域的一第二触控点坐标，并分析第一触控点坐标及第二触控点坐标的一相对距离。若相对距离小于一预定距离，则定义单元定义触控面板在第一触控点坐标被触控，或定义触控面板在第一触控点坐标与第二触控点坐标的一中点被触控。若相对距离大于或等于预定距离，则定义单元定义触控面板在第一触控点坐标及第二控点坐标同时被触控。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1绘示第一实施例的一触控面板的示意图。

图2绘示触控面板被两个手指接触的示意图。

图3绘示触控面板被两个手指接触的另一示意图。

图4绘示本实施例多点检测方法的流程图。

图5A～5D绘示图4的各步骤的示意图。

图6绘示第二实施例的触控面板的示意图。

图7绘示第三实施例的触控面板的示意图。

主要元件符号说明：

100、200、300：触控面板

110、210、310：导电层

111：纳米碳管

120：测量单元

130：分析单元

140：定义单元

150：感测接垫

211、311：感测元件

D1：第一轴向

D12：相对距离

D2：第二轴向

A0：感测区域

A1：第一感测区域

A2：第二感测区域

A3：第三感测区域

C1、C2、C3、C4：感测曲线

M：中点

P1：第一触控点坐标

P2：第二触控点坐标

S101～S107：流程步骤

Vmax：最大感测值

具体实施方式

以下系提出实施例进行详细说明，实施例仅用以作为范例说明，并不会限缩本发明欲保护的范围。此外，实施例中的图式系省略不必要的元件，以清楚显示本发明的技术特点。

本发明是利用判断与分析步骤来分辨触控面板被触控的情况，以提高触控面板在单点及多点检测上的精准度。

第一实施例

请参照图1，其绘示第一实施例的一触控面板100的示意图。触控面板100具有多个感测区域A0。触控面板100包括一导电层110、多个感测接垫150、一测量单元120、一分析单元130及一定义单元140。导电层110具有阻抗异向性。导电层110的一第一轴向D1的阻抗值低于导电层110的一第二轴向D2的阻抗值。此些感测接垫150分布于导电层110沿第二轴向D2的相对两侧边以在触控面板100形成多个感测区域A0。此导电层110例如是(但不局限)为纳米碳管膜。纳米碳管膜包含有数个纳米碳管111。此些纳米碳管111为长条状结构，且实质上朝第一轴向D1排列。在纳米碳管膜的实施例中，相邻的四个感测接垫150在触控面板100定义出一个感测区域A0。如图1所示，相邻的四个感测接垫150定义出一个感测区域A0，所以相邻的感测区域A0将共用两个感测接垫150，且会部分相互重叠。在任一感测区域A0中，第一轴向D1的阻抗值较低，第二轴向D2(例如是图1的X轴方向)的阻抗值相对较高。

测量单元120用以沿第二轴向D2测量触控面板110的一感测曲线C1。透过感测曲线C1的峰值可以感测出哪一感测区域A0被触控。测量单元120可再借由四个感测接垫150的电容值的测量可以分析出此一感测区域A0在第一轴向D1的哪一坐标位置被触控。

分析单元130则用以进行各种分析程序，例如是坐标数值的分析程序。定义单元140则用以输出或记录触控面板100被触控的情况的分析结果。其中分析单元130及定义单元140例如是一芯片、一固件电路或储存数组程序码的储存媒体。

如上所述，测量单元120可从感测曲线C1的峰值感测出哪一感测区域A0被触控。请参照图2，其绘示触控面板100被两个手指接触的示意图。当使用者以两个手指接触触控面板100时，测量单元120可由感测曲线C2的两个峰值来判断出哪两个感测区域A0被触控，接着再分别分析出这两个感测区域A0分别在第一轴向D1的哪一坐标位置被触控。

请参照图3，其绘示触控面板100被两个手指接触的另一示意图。当使用者以两个手指接触触控面板100时，两个手指可能过于接近而使得感测曲线C3没有明显的两个峰值。此时，触控面板100可借由以下的多点检测方法来进行判断与分析，以做出精确的判断。

请参照图4及5A～5D，图4绘示本实施例多点检测方法的流程图，图5A～5D绘示图4的各步骤的示意图。以下以上述触控面板100为例来说明本实施例的多点检测方法，然而本发明所属技术领域中普通技术人员均可了解本发明的多点检测方法并不局限于上述触控面板100。并且多点检测方法也不局限于流程图上的步骤顺序与细部步骤。

首先，在步骤S101中，如图5A所示，沿第二轴向D2测量触控面板100的感测曲线C4。感测曲线C4的一最大感测值Vmax位于此些感测区域A0的一第一感测区域A1。也就是说，触控面板100在第一感测区域A1一定有被一手指触控。

此些感测区域A0的一第二感测区域A2及一第三感测区域A3分别相邻于第一感测区域A1的两侧。感测曲线C4于第二感测区域A2的一第一平均感测值大于第三感测区域A3的一第二平均感测值。也就是说，在一种情况中，可能是第二感测区域A2被另一手指触控，而造成第二感测区域A2的第一平均感测值较高。在另一种情况中，可能是较粗的手指横跨第一感测区域A1及第二感测区域A2，而造成第二感测区域A2的第一平均感测值较高。后面的步骤将可分辨出这两种情况。

接着，在步骤S102中，如图5B所示，分析单元130分析第一感测区域A1的一第一触控点坐标P1。其中第一触控点坐标P1系为二维坐标。

然后，在步骤S103中，如图5C所示，分析单元130分析第二感测区域A2的一第二触控点坐标P2。其中第二触控点坐标P2也是二维坐标。

接着，在步骤S104中，如图5D所示，分析单元130分析第一触控点坐标P1及第二触控点坐标P2的一相对距离D12。

然后，在步骤S105中，分析单元130判断相对距离D12是否小于一预定距离。若相对距离D12小于预定距离，则进入步骤S106；若相对距离D12大于或等于预定距离，则进入步骤S107。其中，预定距离为0.5～1.5厘米。此预定距离系可依据实际情况作调整，一般是依据人类手指的大小范围来制订此预定距离。

进入步骤S106时，表示第一触控点坐标P1与第二触控点坐标P2相当接近，故可认定触控面板100仅被一个手指所触控。故在此步骤中，定义单元140定义触控面板100在第一触控点坐标P1被触控，或定义触控面板100在第一触控点坐标P1与第二触控点坐标P2的一中点M被触控。

进入步骤S107时，表示第一触控点坐标P1与第二触控点坐标P2分离的较远，故可认定触控面板100是被两个手指所触控。故在此步骤中，定义单元140定义触控面板100在第一触控点坐标P1及第二控点坐标P2同时被触控。

根据上述实施例，可以辨识出使用者是否以多个手指来接触触控面板100。两个手指过于接近时，也可以精准地辨识出两个手指的触控点坐标。而在使用者的手指较粗时，也可以不会误判为两个手指。

第二实施例

请参照图6，其绘示第二实施例的触控面板200的示意图。本实施例的触控面板200与第一实施例的触控面板100不同的处在于导电层210，其余相同的处不再重复叙述。

在本实施例中，导电层210包含多个感测元件211。此些感测元件211为长条型金属薄膜，且实质上朝第一轴向D1排列。同样地，导电层210的第一轴向D1的阻抗值低于导电层210的第二轴向D2的阻抗值。

透过上述多点检测方法，第二实施例同样也可以辨识出使用者是否以多个手指来接触触控面板200。两个手指过于接近时，也同样可以精准地辨识出两个手指的触控点坐标。而在使用者的手指较粗时，也同样可以不会误判为两个手指。

第三实施例

请参照图7，其绘示第三实施例的触控面板300的示意图。本实施例的触控面板300与第一实施例的触控面板100不同之处在于导电层310，其余相同的处不再重复叙述。

在本实施例中，导电层310包含多个感测元件311。此些感测元件311为长条型铟锡氧化物(IndiumTinOxide，ITO)或长条型铟锌氧化物(IndiumZincOxide，IZO)，且实质上朝第一轴向D1排列。本实施例的感测元件310实质上为梯形结构。同样地，导电层310的第一轴向D1的阻抗值低于导电层310的第二轴向D2的阻抗值。

透过上述多点检测方法，第三实施例同样也可以辨识出使用者是否以多个手指来接触触控面板300。两个手指过于接近时，也同样可以精准地辨识出两个手指的触控点坐标。而在使用者的手指较粗时，也同样可以不会误判为两个手指。

虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。

Claims (14)

1.一种触控面板的多点检测方法，该触控面板包括具有阻抗异向性的一导电层和多个感测接垫，其中该导电层的一第一轴向的阻抗值低于该导电层的一第二轴向的阻抗值，该些感测接垫分布于该导电层沿该第二轴向的相对两侧边以在该触控面板形成多个感测区域，该多点检测方法包括：

沿该第二轴向测量该触控面板的一感测曲线，该感测曲线的一最大感测值位于该些感测区域的一第一感测区域，该些感测区域的一第二感测区域及一第三感测区域分别相邻于该第一感测区域的两侧；

判断该感测曲线于该第二感测区域的一第一平均感测值是否大于该第三感测区域的一第二平均感测值；

若该第二感测区域的该第一平均感测值大于该第三感测区域的该第二平均感测值，则分析该第一感测区域的一第一触控点坐标并分析该第二感测区域的一第二触控点坐标；

分析该第一触控点坐标及该第二触控点坐标的一相对距离；

若该相对距离小于一预定距离，则定义该触控面板在该第一触控点坐标被触控，或定义该触控面板在该第一触控点坐标与该第二触控点坐标的一中点被触控；以及

若该相对距离大于或等于该预定距离，则定义该触控面板在该第一触控点坐标及该第二触控点坐标同时被触控。

2.如权利要求1所述的触控面板的多点检测方法，其特征在于，该导电层为一纳米碳管膜。

3.如权利要求2所述的触控面板的多点检测方法，其特征在于，该纳米碳管膜包含有多个纳米碳管，且该些纳米碳管实质上朝该第一轴向排列。

4.如权利要求1所述的触控面板的多点检测方法，其特征在于，该导电层包含有多个感测元件，其特征在于，该些感测元件为长条型金属薄膜、长条型铟锡氧化物或长条型铟锌氧化物，且实质上朝该第一轴向排列。

5.如权利要求1所述的触控面板的多点检测方法，其特征在于，相邻的该感测区域部分相互重叠。

6.如权利要求1所述的触控面板的多点检测方法，其特征在于，该预定距离为0.5～1.5厘米。

7.如权利要求1所述的触控面板的多点检测方法，其特征在于，该第一触控点坐标及该第二触控点坐标为二维坐标。

8.一种触控面板，该触控面板包括：

一导电层，具有阻抗异向性，其中该导电层的一第一轴向的阻抗值低于该导电层的一第二轴向的阻抗值；

多个感测接垫，该些感测接垫分布于该导电层沿该第二轴向的相对两侧边以在该触控面板形成多个感测区域；

一测量单元，用以沿该第二轴向测量该触控面板的一感测曲线，该感测曲线的一最大感测值位于该些感测区域的一第一感测区域，该些感测区域的一第二感测区域及一第三感测区域分别相邻于该第一感测区域的两侧，判断该感测曲线于该第二感测区域的一第一平均感测值是否大于该第三感测区域的一第二平均感测值；

一分析单元，用以若该第二感测区域的该第一平均感测值大于该第三感测区域的该第二平均感测值，则分析该第一感测区域的一第一触控点坐标及该第二感测区域的一第二触控点坐标，并分析该第一触控点坐标及该第二触控点坐标的一相对距离；以及

一定义单元，若该相对距离小于一预定距离，则该定义单元定义该触控面板在该第一触控点坐标被触控，或定义该触控面板在该第一触控点坐标与该第二触控点坐标的一中点被触控；若该相对距离大于或等于该预定距离，则该定义单元定义该触控面板在该第一触控点坐标及该第二触控点坐标同时被触控。

9.如权利要求8所述的触控面板，其特征在于，该导电层为一纳米碳管膜。

10.如权利要求9所述的触控面板，其特征在于，该纳米碳管膜包含有多个纳米碳管，且该些纳米碳管实质上朝该第一轴向排列。

11.如权利要求8所述的触控面板，其特征在于，该导电层包含多个感测元件，且该些感测元件为长条型金属薄膜、长条型铟锡氧化物或长条型铟锌氧化物，且实质上朝该第一轴向排列。

12.如权利要求8所述的触控面板，其特征在于，相邻的该感测区域部分相互重叠。

13.如权利要求8所述的触控面板，其特征在于，该预定距离为0.5～1.5厘米。

14.如权利要求8所述的触控面板，其特征在于，该第一触控点坐标及该第二触控点坐标为二维坐标。