CN102625949A - 用于监视放电灯性能的方法和系统以及相应的灯 - Google Patents

用于监视放电灯性能的方法和系统以及相应的灯 Download PDF

Info

Publication number
CN102625949A
CN102625949A CN2010800247625A CN201080024762A CN102625949A CN 102625949 A CN102625949 A CN 102625949A CN 2010800247625 A CN2010800247625 A CN 2010800247625A CN 201080024762 A CN201080024762 A CN 201080024762A CN 102625949 A CN102625949 A CN 102625949A
Authority
CN
China
Prior art keywords
ultraviolet light
intensity
sensitivity
luminescent layer
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2010800247625A
Other languages
English (en)
Inventor
朱晓燕
G.格罗伊尔
L.P.巴克
C.R.朗达
T.于斯特尔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Priority to CN2010800247625A priority Critical patent/CN102625949A/zh
Publication of CN102625949A publication Critical patent/CN102625949A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B41/00—Circuit arrangements or apparatus for igniting or operating discharge lamps
    • H05B41/14—Circuit arrangements
    • H05B41/26—Circuit arrangements in which the lamp is fed by power derived from dc by means of a converter, e.g. by high-voltage dc
    • H05B41/28—Circuit arrangements in which the lamp is fed by power derived from dc by means of a converter, e.g. by high-voltage dc using static converters
    • H05B41/2806—Circuit arrangements in which the lamp is fed by power derived from dc by means of a converter, e.g. by high-voltage dc using static converters with semiconductor devices and specially adapted for lamps without electrodes in the vessel, e.g. surface discharge lamps, electrodeless discharge lamps
    • H05B41/2813—Arrangements for protecting lamps or circuits against abnormal operating conditions
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02B—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
    • Y02B20/00—Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps

Abstract

本发明提供了一种监视放电灯性能的方法。该放电灯包括电极和充满气体并且配备有发光层的放电容器，其中当该气体被电极产生的电场激发时，该气体预期发射第一光谱范围中的第一紫外光，并且第一紫外光的至少一部分预期被该发光层改变为第二光谱范围中的第二紫外光，所述第二光谱范围的波长比第一光谱范围的波长更长。该方法包括步骤：找到第一紫外光的第一强度值；找到第二紫外光的第二强度值；以及根据第二强度值对第一强度值的比率确定发光层将第一紫外光转换为第二紫外光的转换效率。

Description

用于监视放电灯性能的方法和系统以及相应的灯
技术领域
本发明总体上涉及监视放电灯性能的方法，更具体地，涉及监视用于输出紫外光的放电灯的性能的方法。
本发明还涉及包含放电灯并且能够用来实现依照本发明的方法的系统。
背景技术
对于常规的紫外（UV）灯，可见光传感器用来检测由等离子体产生的可见光谱线的强度。可见光谱线的强度与灯内部的UV光强度有关。这提供了监视UV灯的性能的成本有效的检测系统。然而，对于UV电介质阻挡放电（DBD）灯或者其它的类似类型的UV灯，因为没有可见光从灯中发射出来，所以可见光传感器不能用来监视这种UV灯的性能。
UV DBD灯属于UV灯的相对较新的系列并且由放电容器组成，该放电容器充满气体并且配备有发光层和通过电介质阻挡而与气体电绝缘的电极。当气体被电极产生的电场激发时，气体发射在第一光谱范围内占优势的第一紫外光。第一紫外光的至少一部分然后由发光层改变成第二光谱范围内的第二紫外光，该第二光谱范围的波长比第一光谱范围的波长更长。通常，紫外传感器用来检测灯的第二紫外光强度以监视UV灯的性能。然而，这样的紫外传感器很贵并且不能用来识别第二紫外光强度变化的根本原因。原因是第二紫外光强度不仅依赖于在DBD灯中的电场激发气体之后从气体的等离子体直接产生的第一紫外光的强度，还依赖于发光层的转换效率。结果，对灯的性能的诊断不是直截了当的和可靠的。
发明内容
本发明的目的是提供一种能够监视放电灯性能的方法和系统。
依照一个方面，本发明提供了监视放电灯性能的方法。该放电灯包括电极和充满气体并且配备有发光层的放电容器，其中当该气体被电极产生的电场激发时，该气体预期发射第一光谱范围中的第一紫外光，并且第一紫外光的至少一部分预期被该发光层转变为第二光谱范围中的第二紫外光，第二光谱范围的波长比第一光谱范围的波长更长。该方法包括以下步骤：找到第一紫外光的第一强度值；找到第二紫外光的第二强度值；以及根据第二强度值对第一强度值的比率确定发光层将第一紫外光转换为第二紫外光的转换效率。
依照另一个方面，本发明提供了包括放电灯的辐照系统。该放电灯包括电极和充满气体并且配备有发光层的放电容器，其中当该气体被电极产生的电场激发时，该气体预期发射第一光谱范围中的第一紫外光，并且第一紫外光的至少一部分预期被该发光层转变为第二光谱范围中的第二紫外光，所述第二光谱范围的波长比第一光谱范围的波长更长。该系统还包括被配置成各自地或者协作地找到第一紫外光的第一强度和第二紫外光的第二强度的值的第一监视单元和第二监视单元，以及被配置成根据第二强度值对第一强度值的比率确定发光层将第一紫外光转换为第二紫外光的转换效率的控制单元。
依照又一个方面，本发明提供了用于输出紫外光的放电灯。该放电灯包括电极和充满气体并且配备有发光层的放电容器，其中当该气体被电极产生的电场激发时，该气体预期发射第一光谱范围中的第一紫外光，并且第一紫外光的至少一部分被该发光层改变为第二光谱范围中的第二紫外光，所述第二光谱范围的波长比第一光谱范围的波长更长。该放电灯还包括从第一物质和第二物质中选择的至少一种物质。该第一物质适于将第一紫外光和第二紫外光当中的至少部分第一紫外光转换为第一可见光，该第二物质适于将第一紫外光和第二紫外光当中的至少部分第二紫外光转换为第二可见光，该第二可见光处于与第一可见光不同的光谱范围内。
本发明的方法和系统导致更可靠的对放电灯的诊断并且提供指示该灯性能的基本参数，例如用于理解主要受等离子体状况和电极状况的影响的第一紫外光的产生的第一强度，以及用于评价发光层退化的发光层的转换效率。因此，可以判断灯性能的变化并且更特别地可以判断它是由第一紫外光的产生所引起的还是由发光层的退化所引起的。通过从这些基本参数的视角了解灯的性能，如以下所示，当灯性能的变化例如由等离子体所引起时，用户可以主动调节用于驱动该灯的电功率，或者当灯性能的变化由发光层的退化所引起时，用户可以替换该灯，所述发光层的退化意味着灯的寿命行将结束。
附图说明
根据以下在实施例中参照附图对各个方面的详细说明，本发明的以上及其他目的和特征将变得清楚明白，在附图中：
图1是依照本发明的自诊断辐照系统的示意图；
图2是依照本发明的系统的一部分的第一实施例；
图3是依照本发明的系统的一部分的第二实施例；
图4是依照本发明的系统的一部分的第三实施例；
图5是依照本发明的诊断放电灯的方法的流程图。
具体实施方式
图1是依照本发明的自诊断辐照系统100的示意图。系统100包括放电灯10、第一监视单元20、第二监视单元30和控制单元40。
如图2所示，放电灯10包括电极11和充满气体121并且配备有发光层122的放电容器12。应当理解，图2以及下面的图中示出的电极11仅仅是简单的图示，详细配置可参考现有技术。当气体121被电极11产生的电场激发时，气体121的至少一部分被转换为等离子体并且发射在第一光谱范围中占优势的第一紫外光UV1。第一紫外光UV1的至少一部分然后被发光层122转变为第二光谱范围中的第二紫外光UV2，该第二光谱范围的波长比第一光谱范围的波长更长。
例如，这样的放电灯10可以是UV DBD灯。在这个情况下，第一紫外光是真空紫外线（VUV），并且第二紫外光可以是紫外线A（UVA）、紫外线B（UVB）或者紫外线C（UVC）。
可替换地，气体121包含氙。在一些实施例中，除了氙，气体121中还包含少量附加的其它惰性气体，例如高达5%的氖和/或5%的氦。气体121可以包括除氙之外的其它成分，只要当气体121被电场激发时它能发射一种具有相对较短的波长的紫外光，该紫外光的至少一部分可以被发光层122转换为另一种具有相对较长的波长的紫外光。
第一监视单元20被配置成找到第一紫外光UV1的第一强度值。第二监视单元30被配置成找到第二紫外光UV2的第二强度值。可替代地，第一监视单元和第二监视单元被配置成协作找到第一紫外光的第一强度和第二紫外光的第二强度的值。一般地，第一监视单元20和第二监视单元30可以具有各种配置，各种配置可以形成各种组合。
控制单元40被配置成根据第二强度值对第一强度值的比率确定发光层将第一紫外光转换为第二紫外光的转换效率。第二紫外光UV2的第二强度不仅依赖于在电场激发气体之后从气体的等离子体直接产生的第一紫外光UV1的第一强度，而且还依赖于发光层122的转换效率。第二强度与第一强度和发光层122的转换效率成比例。因此，发光层122的转换效率可以根据第二强度值对第一强度值的比率确定。
可替代地，控制单元40还被配置成根据第一强度和发光层122的转换效率来分析放电灯10的性能。通过在不同的时刻单独地比较第一强度、第二强度和发光层122的转换效率，可以容易地发现这些参数的变化。在相当大的程度上，灯的寿命由发光层的使用寿命确定，发光层的使用寿命具体体现发光层122的转换效率的变化，并且主要由发光层退化所引起。灯的寿命是否行将结束被建议根据发光层122的转换效率来确定。另一方面，在给定的发光层122的转换效率下，第二紫外光UV2的第二强度由第一强度确定，该第一强度主要由等离子体确定。灯的性能的变化（其表面上具体体现为第二紫外光UV2的变化）可以关于其是由等离子体所引起还是由发光层122所引起的来进行判断。这可以通过一些基本参数方便对灯10的诊断，从而可以找到灯的性能恶化的本质原因。
可替代地，控制单元40还被配置成输出响应第一强度的信号，以便控制给灯10的电功率。在一个实施例中，系统100还包括用于向灯10提供来自市电电源（未示出）的电功率的驱动电路单元60。控制单元40输出响应第一强度的信号至驱动电路单元60，该驱动电路单元60然后根据该信号调节电功率。因此，控制单元40可以根据第一强度来控制给灯的电功率。
可替代地，控制单元40还被配置成根据发光层122的转换效率，例如通过将发光层122的转换效率与指示令人满意的灯的性能的预定阈值转换效率值相比较来判断灯的寿命是否行将结束。此外，控制单元40被配置成当发光层122的转换效率下降到低于该预定阈值转换效率值时输出指示灯10的寿命结束的信号。
可替代地，系统100包括用于显示上述诸如第一强度、第二强度和发光层的转换效率之类的参数和/或诸如指示灯的寿命结束的信号之类的信号的显示单元50。
以下，将给出对第一监视单元20和第二监视单元30的更加详细的描述。
在一个实施例中，如图2所示，第一监视单元20包括第一物质21和第一检测器22。第一物质21适于相应地将第一紫外光UV1和第二紫外光UV2当中的至少一部分第一紫外光转换为第一可见光VL1。第一检测器22适于测量第一可见光VL1的强度。
可替代地，第一物质21对第二紫外光UV2的灵敏度近似等于零，或者第一物质21对第一紫外光UV1的灵敏度与第一物质21对第二紫外光UV2的灵敏度的比率是如此之大，以至于第一物质21对第二紫外光UV2的灵敏度被认为是零。换句话说，第一物质21对第二紫外光UV2是不灵敏的或者具有非常弱的灵敏度，第一物质21适于主要将第一紫外光UV1转换为第一可见光VL1。
第二监视单元30包括第二物质31和第二检测器32。第二物质31适于相应地将第一紫外光UV1和第二紫外光UV2当中的至少一部分第二紫外光转换为第二可见光VL2。第二检测器32适于测量第二可见光VL2的强度。
可替代地，第二物质31对第一紫外光UV1的灵敏度近似等于零，或者第二物质31对第二紫外光UV2的灵敏度与第二物质31对第一紫外光UV1的灵敏度的比率是如此之大，以至于第二物质31对第一紫外光UV1的灵敏度被认为是零。换句话说，第二物质31对第一紫外光UV1是不灵敏的或者具有非常弱的灵敏度，第二物质31适于主要将第二紫外光UV2转换为第二可见光VL2。
第一可见光VL1和第二可见光VL2分别具有可以由第一检测器22和第二检测器32容易地检测并且区别的不同的光谱范围。第一检测器22和第二检测器32可以是普通光电二极管或者光敏电阻器并且配备有用于仅仅透射部分辐射的滤光器。
第一可见光VL1的强度和第二可见光VL2的强度分别被单独地定义为I1和I2，并且第一强度和第二强度被单独地定义为IUV1和IUV2。第一强度和第二强度可以单独地根据第一可见光VL1的强度和第二可见光VL2的强度确定。例如，第一物质21对第一紫外光UV1的灵敏度和对第二紫外光UV2的灵敏度被分别定义为S11和S12。第二物质31对第一紫外光UV1的灵敏度和对第二紫外光UV2的灵敏度被分别定义为S21和S22。因此，I1和I2可以分别表示为以下等式I1=S11×IUV1+S12×IUV2，和I2=S21×IUV1+S22×IUV2。因为S11、S12、S21和S22是第一物质和第二物质的材料性质，一旦第一物质21和第二物质31固定下来，S11、S12、S21和S22就可以确定下来；第一紫外光和第二紫外光的强度IUV1和IUV2可以从这两个等式导出。为了能获得IUV1和IUV2的解，S11、S12、S21和S22的关系需要满足S11×S22≠S12×S21，一般而言，这意味着第二物质31的对于第一紫外光的灵敏度S21与对于第二紫外光的灵敏度S22的比率和第一物质21的对于第一紫外光的灵敏度S11与对于第二紫外光的灵敏度S12的比率不同。
另一方面，第二强度由第一强度和发光层122的转换效率的乘积确定。因此，发光层122的转换效率可以根据第二强度值与第一强度值的比率得到。
当S12=S21=0，或者S12<<S11，S21<<S22时，第一可见光VL1的强度I1与第一强度IUV1成正比，第二可见光VL2的强度I2与第二强度IUV2成正比。在这种情况下，发光层的转换效率也可以根据第二可见光VL2的强度I2值与第一可见光VL1的强度I1值的比率确定。
在某初始时刻，例如在灯10被制作后和被使用前的任何时刻，第一可见光VL1的强度和第二可见光VL2的强度分别被测量并且被记录为I1(0)和I2(0)。因此，初始的第一强度和第二强度可以分别根据第一可见光VL1的强度I1(0)和第二可见光VL2的强度I2(0)确定。因此，发光层的初始的转换效率可以根据初始的第二强度与初始的第一强度的比率确定，或者在如上所述的情况中根据强度I2(0)和强度I1(0)的比率确定。
在灯10正在使用的另一时刻t，第一可见光VL1的强度和第二可见光VL2的强度被分别测量并且记录为I1(t)和I2(t)。然后，时刻t的第一强度和第二强度可以分别根据第一可见光VL1的强度I1(t)和第二可见光VL2的强度I2(t)确定。时刻t处的发光层的转换效率可以根据时刻t处的第二强度值与第一强度值的比率确定。
因此，第一强度的变化可以通过比较第一强度的初始值和时刻t处的第一强度的值容易地发现；第二强度的变化可以通过比较第二强度的初始值和时刻t处的第二强度的值来发现；发光层的转换效率的变化可以通过比较初始的转换效率和时刻t处的转换效率来确定。
另外，当S12=S21=0，或者S12<<S11，S21<<S22时，比率I1(t)/I1(0)是第一紫外光UV1的第一强度变化的指示；比率I2(t)/I2(0)是第二紫外光UV2的第二强度的变化的指示，其也是第一紫外光UV1的第一强度的变化和发光层的转换效率的变化的指示。通过比较两个比率I2(t)/I1(t)和I2(0)/I1(0)，可以确定发光层的转换效率的变化。
如上所述，灯的寿命在相当高的程度上是由发光层的使用寿命确定的，该发光层的使用寿命具体体现发光层的转换效率的变化，并且主要由发光层退化所引起。因此，可以根据发光层的转换效率来确定灯的寿命是否行将结束。例如，通过将时刻t的发光层的转换效率与指示令人满意的灯的性能的预定阈值转换效率值相比较，一旦发光层的转换效率下降到预定阈值转换效率值以下，据此可以判断灯的寿命行将结束。或者，在将时刻t的发光层的转换效率和初始的转换效率的比率与预定阈值相比较时，一旦该比率下降到预定阈值以下，据此可以判断灯的寿命行将结束。
另一方面，在发光层的某个转换效率下，第二紫外光UV2的第二强度通过主要由等离子体决定的第一强度确定。因此，可以根据第一强度控制灯的功率以便满足第二紫外光UV2所需的强度。
对第二紫外光UV2不灵敏或具有非常弱的灵敏度的第一物质21包括选自组LaMgAl11O19:Gd、LaPO4:Pr、LaPO4:Ce、LuPO4:Pr、YPO4:Pr、YAlO3:Pr、CaLi2SiO4:Pr,Na、(Y,Gd)BO3:Tb、(Y,Gd)BO3:Eu、(Y,Gd)BO3:Ce、LaPO4:Tm、YPO4:Bi、Lu3Al5O12:Pr、Lu3Al5O12:Gd和Lu3Al5O12:Tm中的至少一种成分。
第一物质21可以位于放电容器12的小的区域内并且可以与在发光层122之上的等离子体直接接触。第一物质21还可以被混合到发光层122中，这意味着发光层122还发射用于等离子体诊断的第一可见光VL1。
第二物质22对于第一紫外光UV1不灵敏或者具有非常弱的灵敏度；在某种程度上，这意味着第二物质22应该相对等离子体被保护起来以避免来自等离子体的激发。对于第二物质22存在许多选择。在一个实施例中，包含Ca3Lu2Si3O12:Pr的物质对于第二物质22是有效的选择。在这种情况下，第二物质22可以位于放电容器12的另一个小的区域中，即在放电容器12的壁和发光层122之间，并且因此第二物质22被发光层122激发并且相对等离子体被保护起来。
在另一个实施例，第二物质22包括磷光体和磷光体之上的保护层。第二物质22被放置在放电容器12的壁和发光层122之间。可以选择该磷光体之上的保护层的光透射，使得它可以吸收等离子体发射，但是对于发光层122的发射则是透射的。保护层的带隙高于发光层122的等效光子能量，但是小于来自等离子体辐射的第一紫外光的光子能量。在又一个实施例中，第二物质22包括多个磷光粒结构和多个分别在每个磷光粒结构上的颗粒涂层。要由先前的实施例中的保护层满足的要求同样适用于该颗粒涂层。在这样的实施例中，包含在第二物质22中的磷光体可以是可以将具有相当长波长的紫外光转换为可见光的任何类型的磷光体，例如BaMgAl10O17:Eu、Zn2SiO4:Mn或者Y2O3:Eu。包含在保护层或者颗粒涂层中的有效成分可以是选自组ZrO2、Y2O3、La2O3或者Gd2O3的至少一个。
可替代地，第一物质21和第二物质22中的每一个单独地包括磷光体。优选地，第一物质21和第二物质22具有高稳定性，这意味着第一物质21和第二物质22在它们的寿命内不会退化，或者它们的退化率远小于发光层的退化率，从而第一物质21和第二物质22的退化可以被忽略。对于第一物质21和第二物质22的位置，可能存在放置它们的更多的方式，这取决于材料的性质和灯的制造工艺。
在该实施例中，通过利用第一物质21和第二物质22，经由不那么昂贵的可见光检测器测量相应的可见光的强度来容易地获得灯产生的具有不同波长的紫外光的强度，其中第一物质21和第二物质22分别将具有不同波长的紫外光的一部分转换为具有不同波长的可见光。与直接测量紫外光的强度的相当昂贵的紫外线检测器相比，这样的借助于第一物质21和第二物质22而使用的间接监视装置具有节省成本的优点。而且，这样的间接监视装置与经由紫外线检测器的直接测量相比能被更广泛地使用，因为由紫外线检测器捕捉的紫外光容易受灯所在环境的影响，这限制了紫外线检测器的应用。
图3是依照本发明的系统100的一部分的第二实施例。如图3所示，第一监视单元20包括用于测量从气体121发射的红外光（IR）强度的检测器23和用于根据与第一强度具有特定相关性的IR的强度来确定第一强度的计算设备（图中未示出）。可替代地，该计算设备可以与控制单元40结合或者它的功能可以由人力实现。
在不同的灯输入功率下的第一紫外光UV1的第一强度和IR强度可以被预校准并且形成查找表。在实际使用中，通过经由检测器23（其可以是普通的光电二极管）测量IR强度，可以根据该查找表相应地确定第一强度IUV1。
第二监视单元30包括第二物质31和第二检测器32，其分别具有与该系统的第一实施例相同的配置和功能。因此，借助于第二检测器32直接测量第二可见光VL2的强度I2。因为一旦第二物质31被固定，S21和S22可以被确定，并且通过第一监视单元20获得第一强度IUV1，所以根据等式I2=S21×IUV1+S22×IUV2，第二紫外光UV2的第二强度IUV2可从该等式导出。
如果第二物质31被选定为对第一紫外光UV1不灵敏或者具有非常弱的灵敏度，那么S21可以被认为是零；结果，第二紫外光UV2的第二强度IUV2与第二可见光VL2的第二强度I2成正比并且可以根据第二可见光VL2的第二强度I2直接获得。
然后根据第二强度IUV2对第一强度IUV1的比率确定发光层的转换效率。可替代地，如果第二物质31被选定为对第一紫外光UV1是不灵敏的或者具有非常弱的灵敏度，那么也可以根据第二可见光VL2的强度与IR的强度的比率确定发光层的转换效率。因此，关于第二紫外光UV2（灯的性能）的变化，可以确定它是由第一紫外光UV1所引起的还是由发光层所引起的。这可以通过考虑等离子体和发光层而方便对灯进行诊断。发光层的转换效率还给出了灯的寿命的信息。
图4是依照本发明的系统的一部分的第三实施例。第一监视单元20包括第一物质21和第一检测器22，其分别具有与该系统的第一实施例相同的配置和功能。因此，借助于第一检测器22直接测量第一可见光VL1的强度I1。
第二监视单元30包括用于测量第二紫外光UV2的第二强度IUV2的紫外线检测器33。因为第二紫外光UV2处于相当长的波长，所以可以直接测量来自灯本身的第二紫外光UV2的强度的这样的紫外线检测器33是市场上可获得的。例如，当第二紫外光UV2是UVC时，UVC传感器可以容易地从市场上购买。
因为一旦第一物质21被固定，可以确定S11和S12，并且通过第二监视单元30获得第二强度IUV2，所以根据等式I1=S11×IUV1+S12×IUV2，第一紫外光UV1的第一强度IUV1可从该等式导出。
如果第一物质21被选定为对第二紫外光UV2不灵敏或者具有非常弱的灵敏度，那么S12可以被认为是零；结果，第一紫外光UV1的第一强度IUV1与第一可见光VL1的强度I1成正比并且可以根据第一可见光VL1的强度I1被直接获得。因此，借助于第一监视单元20获得第一紫外光UV1的第一强度IUV1。
根据相同的原理，根据第二强度IUV2与第一强度IUV1的比率来确定发光层的转换效率。
图5是监视依照本发明的放电灯的性能的方法600的流程图。为了便于理解，现在将结合上述的辐照系统100来给出方法600的实例。首先，在步骤S1中，借助于第一监视单元20获得第一紫外光的第一强度值。在步骤S3中，经由第二监视单元30获得第二紫外光的第二强度值。可替代地，为了不同的目的和/或需要，可以以一定间隔重复实施步骤S1和步骤S3，或者无间断地实施步骤S1和步骤S3。可替代地，每一次，步骤S1和步骤S3可以在相同的时间实施，或者在合理的时段内相继实施，并且没有特殊的次序要求。因此，根据第二强度值对第一强度值的比率确定发光层将第一紫外光转换为第二紫外光的转换效率（步骤S5）。可以理解的是：第一强度值和第二强度值可以时时变化；因此，特定时刻或者合理的时段内的发光层的转换效率由在相同的时间或合理的时段内获得的第一强度值和第二强度值确定。一旦获得了这些包括第一强度、第二强度和发光层的转换效率的基本参数，可以根据第一强度和发光层的转换效率来分析灯的性能以便找到影响灯的性能的本质原因（步骤S7）。在步骤S7中，该分析可以由控制单元40自动完成或由人力完成。关于方法600的更多细节，请参考对系统100的说明。
上述实施例仅仅是本发明的优选实施例。本领域技术人员在实施要求保护的本发明时，根据对于附图、本公开内容和所附权利要求书的研究，可以理解并且实施所公开的实施例的其它变型。这些变型也应当被认为是在本发明的范围之内。在权利要求书和说明书中，动词“包括”和它的变体的使用并不排除其它元件或步骤，并且不定冠词“一”不排除复数形式。

Claims (16)

1.一种监视放电灯性能的方法，该放电灯包括电极和充满气体并且配备有发光层的放电容器，其中当该气体被所述电极产生的电场激发时，该气体预期发射第一光谱范围中的第一紫外光，并且该第一紫外光的至少一部分预期被所述发光层改变为第二光谱范围中的第二紫外光，所述第二光谱范围的波长比第一光谱范围的波长更长，所述方法包括步骤：
- 找到所述第一紫外光的第一强度值；
- 找到所述第二紫外光的第二强度值；以及
- 根据所述第二强度值对所述第一强度值的比率确定所述发光层将所述第一紫外光转换为所述第二紫外光的转换效率。
2.依照权利要求1的方法，其中找到第一强度值的步骤包括测量从所述气体发射的红外光的强度并且根据与第一强度具有特定相关性的红外光的强度来确定所述第一强度。
3.依照权利要求1的方法，其中找到所述第一强度值的步骤包括利用第一物质将第一紫外光和第二紫外光当中的至少部分第一紫外光转换为第一可见光并且测量第一可见光的强度。
4.依照权利要求3的方法，其中第一物质对第二紫外光的灵敏度近似等于零，或者第一物质对第一紫外光的灵敏度与第一物质对第二紫外光的灵敏度的比率如此之大，以至于第一物质对第二紫外光的灵敏度被视为零。
5.依照权利要求1的方法，其中找到第二强度值的步骤包括借助于紫外线检测器测量第二强度。
6.依照权利要求1的方法，其中找到第二强度值的步骤包括利用第二物质将第一紫外光和第二紫外光当中的至少部分第二紫外光转换为第二可见光并且测量第二可见光的强度。
7.依照权利要求6的方法，其中第二物质对第一紫外光的灵敏度近似等于零，或者第二物质对第二紫外光的灵敏度与第二物质对第一紫外光的灵敏度的比率如此之大，以至于第二物质对第一紫外光的灵敏度被视为零。
8.依照权利要求3的方法，其中监视第二强度的步骤包括利用第二物质将第一紫外光和第二紫外光当中的至少第二紫外光转换为第二可见光并且测量第二可见光的强度，第二物质对第一紫外光的灵敏度与对第二紫外光的灵敏度的比率不同于第一物质对第一紫外光的灵敏度与对第二紫外光的灵敏度的比率。
9.依照权利要求8的方法，其中第一物质对第二紫外光的灵敏度近似等于零，或者第一物质对第一紫外光的灵敏度与第一物质对第二紫外光的灵敏度的比率如此之大，以至于第一物质对第二紫外光的灵敏度被视为零；第二物质对第一紫外光的灵敏度近似相等于零，或者第二物质对第二紫外光的灵敏度与第二物质对第一紫外光的灵敏度的比率如此之大，以至于第二物质对第一紫外光的灵敏度被视为零；并且确定发光层的效率的步骤包括计算第二可见光的强度对第一可见光的强度的比率，该比率与所述第二强度对所述第一强度的比率具有特定相关性。
10.依照权利要求4或9的方法，其中所述第一物质包括选自组LaMgAl11O19:Gd、LaPO4:Pr、LaPO4:Ce、LuPO4:Pr、YPO4:Pr、YAlO3:Pr、CaLi2SiO4:Pr,Na、(Y,Gd)BO3:Tb、(Y,Gd)BO3:Eu、(Y,Gd)BO3:Ce、LaPO4:Tm、YPO4:Bi、Lu3Al5O12:Pr、Lu3Al5O12:Gd和Lu3Al5O12:Tm的至少一种成分。
11.依照权利要求7或9的方法，其中第二物质包括Ca3Lu2Si3O12:Pr，或者包括具有适于吸收第一紫外光的颗粒涂层的磷光体。
12.依照权利要求1的方法，其中第一紫外光是真空紫外线，并且第二紫外光包括从紫外线A、紫外线B和紫外线C中选择的至少一个。
13.依照权利要求1的方法，其中该方法还包括根据第一强度和发光层的转换效率分析放电灯的性能的步骤。
14.依照权利要求13的方法，其中所述分析步骤包括根据发光层的转换效率来确定灯的寿命是否行将结束，和/或根据第一强度来调节给灯的电功率。
15.一种用于输出紫外光的放电灯，该放电灯包括：
- 电极；
- 充满气体并且配备有发光层的放电容器，其中当气体被电极产生的电场激发时，该气体预期发射第一光谱范围中的第一紫外光，并且第一紫外光的至少一部分预期被发光层改变成第二光谱范围中的第二紫外光，第二光谱范围的波长比第一光谱范围的波长更长；以及
- 从第一物质和第二物质中选择的至少一种物质，该第一物质适于将第一紫外光和第二紫外光当中的至少部分第一紫外光转换为第一可见光，该第二物质适于将第一紫外光和第二紫外光当中的至少部分第二紫外光转换为第二可见光，该第二可见光处于与第一可见光不同的光谱范围内。
16.一种辐照系统，包括：
- 放电灯，其包括电极和充满气体并且配备有发光层的放电容器，其中当气体被电极产生的电场激发时，该气体预期发射第一光谱范围中的第一紫外光，并且该第一紫外光的至少一部分预期被发光层转变为第二光谱范围中的第二紫外光，第二光谱范围的波长比第一光谱范围的波长更长；
- 被配置成各自地或者协作地找到第一紫外光的第一强度和第二紫外光的第二强度的值的第一监视单元和第二监视单元；和
- 控制单元，其被配置成根据第二强度值对第一强度值的比率确定发光层将第一紫外光转换为第二紫外光的转换效率。
CN2010800247625A 2009-06-05 2010-06-02 用于监视放电灯性能的方法和系统以及相应的灯 Pending CN102625949A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010800247625A CN102625949A (zh) 2009-06-05 2010-06-02 用于监视放电灯性能的方法和系统以及相应的灯

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910142689.0 2009-06-05
CN200910142689 2009-06-05
CN2010800247625A CN102625949A (zh) 2009-06-05 2010-06-02 用于监视放电灯性能的方法和系统以及相应的灯
PCT/IB2010/052451 WO2010140124A2 (en) 2009-06-05 2010-06-02 Method and system for monitoring performance of a discharge lamp and corresponding lamp

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102625949A true CN102625949A (zh) 2012-08-01

Family

ID=42338262

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010800247625A Pending CN102625949A (zh) 2009-06-05 2010-06-02 用于监视放电灯性能的方法和系统以及相应的灯

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20120074848A1 (zh)
EP (1) EP2438607A2 (zh)
JP (1) JP2012529142A (zh)
CN (1) CN102625949A (zh)
WO (1) WO2010140124A2 (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2751222A1 (en) * 2011-12-12 2014-07-09 Koninklijke Philips N.V. Red emitting phosphor for plasma display panels and gas discharge lamps
JP7139203B2 (ja) * 2018-09-11 2022-09-20 ローム株式会社 紫外線検出器

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101133475A (zh) * 2004-07-09 2008-02-27 皇家飞利浦电子股份有限公司 带有反射器的uvc/vuv电介质阻挡放电灯
US20090046273A1 (en) * 2007-08-16 2009-02-19 Vivek Bakshi Systems and Methods for Monitoring and Controlling the Operation of Extreme Ultraviolet (EUV) Light Sources Used in Semiconductor Fabrication

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001015287A (ja) * 1999-04-30 2001-01-19 Ushio Inc 誘電体バリア放電ランプ光源装置
JP3683461B2 (ja) * 2000-02-16 2005-08-17 Ｈｏｙａ Ｃａｎｄｅｏ Ｏｐｔｒｏｎｉｃｓ株式会社 キセノンエキシマランプの光強度測定装置
GB2375603B (en) * 2001-05-17 2005-08-10 Jenact Ltd Control system for microwave powered ultraviolet light sources
FR2889886A1 (fr) * 2005-08-19 2007-02-23 Saint Gobain Lampe uv plane a decharge coplanaire et utilisations

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101133475A (zh) * 2004-07-09 2008-02-27 皇家飞利浦电子股份有限公司 带有反射器的uvc/vuv电介质阻挡放电灯
US20090046273A1 (en) * 2007-08-16 2009-02-19 Vivek Bakshi Systems and Methods for Monitoring and Controlling the Operation of Extreme Ultraviolet (EUV) Light Sources Used in Semiconductor Fabrication

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
靳贵平: "紫外检测系统中的紫外可见转换屏的研制", 《科学技术与工程》 *

Also Published As

Publication number Publication date
US20120074848A1 (en) 2012-03-29
JP2012529142A (ja) 2012-11-15
WO2010140124A3 (en) 2011-12-01
WO2010140124A2 (en) 2010-12-09
EP2438607A2 (en) 2012-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7067875B2 (ja) 火炎検出システム及び劣化指標算出装置
Moine et al. Luminescence and photoionization processes of Yb2+ in CaF 2, SrF2 and BaF2
US11187818B2 (en) Method of forming a scintillation crystal and a radiation detection apparatus including a scintillation crystal including a rare earth halide
US20180010041A1 (en) Scintillation crystal, a radiation detection system including the scintillation crystal, and a method of using the radiation detection system
Bulos et al. Excitation of the 4.3-μm bands of CO 2 by low-energy electrons
US5866984A (en) Mercury-free ultraviolet discharge source
EP2219048A2 (en) Radiation detecting apparatus and method for detecting radiation
CN102607476B (zh) 可调节高精度x射线测厚仪及测试方法
Auzel et al. Comparison and efficiency of materials for summation of photons assisted by energy transfer
WO2020241352A1 (ja) 放射線モニタ装置
CN102798485A (zh) 一种基于上转换荧光粉的温度传感方法
CN202614177U (zh) 硅片全面检测装置
Zhang et al. Luminescence properties of the pink emitting persistent phosphor Pr 3+-doped La 3 GaGe 5 O 16
Bizarri et al. Scintillation properties of Ø 1 1 inch
CN102625949A (zh) 用于监视放电灯性能的方法和系统以及相应的灯
CN108489605A (zh) 日盲紫外光探测装置
Fujimoto et al. Evaluation of Gd2SiO5: Ce (GSO), Lu2− xGdxSiO5: Ce (LGSO), and Lu2− xYxSiO5: Ce (LYSO) crystalline scintillators using a photoacoustic spectroscopy technique
CN104280361B (zh) 用于测量测试气体中的气体成分的浓度的方法
Sciuto et al. On the aging effects of 4H-SiC Schottky photodiodes under high intensity mercury lamp irradiation
CN103162942A (zh) 一种下转换发光薄膜转换效率测量方法
Chiossi et al. Infrared and visible scintillation of Ho3+-doped YAG and YLF crystals
WO2003095958A1 (fr) Detecteur d&#39;ultraviolets
Araujo et al. Low temperature performance of photomultiplier tubes illuminated in pulsed mode by visible and vacuum ultraviolet light
CN204705604U (zh) 基于时间相关单光子计数原理的x射线激发发射光谱仪
Gierlik et al. Investigation of absolute light output measurement techniques

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20120801