CN102624404A - 一种咬尾卷积码译码校验方法及装置 - Google Patents

一种咬尾卷积码译码校验方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种咬尾卷积码译码校验方法及装置，用以解决现有降低咬尾卷积码译码校验处理时延的问题。本发明充分利用了咬尾卷积码的结构特点，对输入译码器的LLR值进行了重新排序，并且通过改造派生卷积码的生成多项式，使得译码器在回溯的过程中，可以按照信息比特的正序串行输出，即信息序列的第一个比特最先译码成功，这样可以尽早的启动CRC校验，使得部分回溯过程与CRC校验可以并行执行，从而达到了降低咬尾卷积码译码校验处理时延的目的。本发明不增加硬件开销，属于低成本的改进，不会引起任何译码性能的下降。

Description

一种咬尾卷积码译码校验方法及装置
技术领域
本发明涉及译码校验技术，尤其涉及一种咬尾卷积码译码校验方法及装置。
背景技术
LTE(Long Term Evolution，长期演进)系统中，下行链路的每个子帧(1ms)按照时间分为前后两个部分，前面部分是若干个PDCCH(Physical DownlinkControl Channel，物理下行控制信道)，后面部分是若干个PDSCH(PhysicalDownlink Shared Channel，物理下行共享信道)。其中PDCCH承载DCI(Downlink Control Information，下行控制信息)，利用DCI，eNodeB(基站)可以通知UE(User Equipment，用户设备)相关控制信息，以及本子帧内各个PDSCH的格式信息，如物理资源映射位置、调制方式、编码格式等。对于UE而言，为了解调PDSCH数据必须对PDCCH进行及时正确的解调解码。
在LTE系统的eNodeB中，PDCCH采用QPSK(Quadrature Phase ShiftKeying，正交相移键控)调制，并采用咬尾卷积码作为前向纠错码。请参阅图1，该图为现有LTE系统中eNodeB发送DCI的流程图，由图中可见，eNodeB发送DCI时，将DCI加上16比特的CRC(Cyclic Redundancy Check，循环冗余校验码)校验位，经过码率为1/3的咬尾卷积码编码，然后经过交织和速率匹配，完成调制，然后映射到物理资源上(特定的若干个子载波)实现DCI的发送。在一个子帧中，eNodeB可能会发送多个不同的DCI，承载在不同的PDCCH上，这些PDCCH映射在不同的物理资源上(即不同的OFDM符号或者不同的子载波)。
在LTE系统的UE中，UE并不能完全知道每个PDCCH所占用的物理资源，但是根据协议相关规定，有若干个可能的物理资源组合(即若干个特定位置的数据子载波的组合)，UE需要对每一种物理资源组合进行盲解调和解码。对于每一种物理资源组合，UE处理流程如图2所示，UE通过解OFDM符号子载波映射，取出对应物理资源上的数据信号进行解调，通过软判决得到LLR(Log-Likelihood Ratio，对数似然比)；为了提高效率和灵活性，LTE中UE也不完全事先知道eNode发送的特定PDCCH承载的DCI的长度和格式，但是根据协议和上下文，UE可以知道存在若干种可能的长度，这样，UE需要针对每一种长度，对接收解调的LLR进行解速率匹配和解交织，然后进行咬尾卷积码译码，之后再对译码结果进行CRC校验。如果校验通过，则UE认为正确的接收了一个DCI，按照格式提取并解释eNodeB的各种命令。反之，若CRC校验没有通过，则直接丢弃此次解码结果，继续对其他的假设(不同的DCI长度和格式以及不同的物理资源组合)进行解调解码校验。
从上面的过程来看，UE需要在一个子帧里完成多次解调解码，根据对协议和各种场景的分析，UE需要在一个子帧内进行最多44次解调译码和校验，其中在PDCCH盲检测过程中，咬尾卷积码的译码校验占用了大部分的处理时间。
假设原始DCI信息为a0，a1，...，aA-1，经过CRC校验后，加了X比特校验位(X＝16)为：c0，c1，...，cC-1，C＝A+X。
请参阅图3，该图为现有技术中咬尾卷积码编码器的结构框图，图中从左到右的寄存器分别为s0，s1，...，s5，初值为si＝c(C-1-i)，三路编码器的输出为
Figure BDA0000046303080000021
请参阅图4，该图为现有技术中咬尾卷积码译码校验的处理流程图，解交织之后，三路LLR的输入为rm(i)，m＝0，1，2，i＝0，1，...，C-1。对咬尾卷积码采用传统的viterbi译码算法，viterbi译码算法主要分为前向搜索和最优路径回溯两个主要部分。下面对咬尾卷积码的译码以及CRC校验的过程进行描述，主要包括以下步骤：
步骤一：初始化
LTE系统采用的咬尾卷积码中有6个寄存器，每次译码路径有64状态需要考虑。
M(i)＝0，i＝0，1，...，63
将卷积码生成式子改写为译码器执行方便的形式，
令 G ‾ i , j = ( Σ k = 0 4 S i , k G j , k + 1 ) mod 2 , i = 0,1 , . . . , 31 , j = 0,1,2
其中，Gj，k是卷积码生成多项式序列，对于LTE系统采用的卷积码而言，
G0，k＝{1，0，1，1，0，1，1}，k＝0，1，...，6；
G1，k＝{1，1，1，1，0，0，1}，k＝0，1，...，6；
G2，k＝{1，1，1，0，1，0，1}，k＝0，1，...，6。
Si，k则是状态变量i以二进制值表示的第k位数值；
又令
Figure BDA0000046303080000032
Figure BDA0000046303080000033
的取值为{0，1}，对应gi，j的取值为{1，-1}。
步骤二：前向搜索
假设向前搜索N步，对于咬尾卷积码N＝3C
循环1：计数器n从0计到N-1，在每一步中，对每个状态逐个计算度量值，并进行加比选操作，具体过程参见循环2；
循环2：计数器j的每个计数值j(j＝0，1，...，31)
计算E＝gj，0r0(n mod C)+gj，1r1(n mod C)+gj，2r2(n mod C)
(1)如果M(j)+E＞M(j+32)-E，
tempM(2j)＝M(j)+E且Pn，2j＝0
否则
tempM(2j)＝M(j+32)-E且Pn，2j＝1
(2)如果M(j)-E＞M(j+32)+E，
tempM(2j+1)＝M(j)-E且Pn，2j+1＝0
否则
tempM(2j+1)＝M(j+32)+E且Pn，2j+1＝1
对计数器j的循环2结束；
待各个状态计算完毕后，令M(j)＝tempM(j)，j＝0，1，...，63，对计数器n的循环1结束。
步骤三：最优路径回溯
找到M(j)中最大的度量值，设为j*；最优路径回溯将从状态j*开始，对于咬尾卷积码，回溯的长度通常取为2倍信息长度，即2C；令k(N-1)＝j*
循环3：计数器i从N-1计到N-2C，在每一步中：
如果Pi，k(i)＝0，
Figure BDA0000046303080000041
否则
Figure BDA0000046303080000042
对计数器i的循环3结束。
步骤四：CRC校验
将译码结果正序排列，送入CRC模块计算校验值；
输出译码结果为
y(i)＝k(N-2C+i)mod 2，i＝0，1，...，C-1
计算CRC校验结果是否正确，如果CRC校验结果正确则上报DCI，否则丢弃本次译码结果。
从上述现有技术的咬尾卷积码译码校验过程来看，整个算法完全是串行处理流程，回溯操作只能在全部正向搜索完成并获得最优路径后才可以开始；CRC校验也必须在回溯全部完成后才能开始：因为CRC检验计算必须从序列的第一个信息比特开始，而回溯操作又是最后才能给出第一个比特，所以这两者必须串行完成。对于传统的咬尾卷积码译码校验方法，正向搜索步骤需要3C个处理时间单位，回溯需要2C个处理时间单位，CRC校验需要1C个时间单位；一共需要6C个处理时间。
如前述LTE系统中，UE需要完成多次咬尾卷积码译码校验，在一个子帧内，UE需要尽快完成PDCCH中DCI的获取，从而进行后续PDSCH的解调解码。为了让后续PDSCH能够获得充分的解调解码时间，UE的系统设计对PDCCH的解调解码时延提出了较高要求，如果设计不当，会大大增加后面处理PDSCH的并行硬件的开销，或者因为不能及时处理完所有PDSCH数据而导致数据链路失败。
发明内容
本发明提供一种咬尾卷积码译码校验方法及装置，用以解决现有降低咬尾卷积码译码校验处理时延的问题。
本发明技术方案包括：
一种咬尾卷积码译码校验方法，包括步骤：
对解交织后得到的M路对数似然比rm(i)进行重新排序，得到
Figure BDA0000046303080000051
将输入译码器，其中，m＝0，1，M-1，i＝0，1，...，C-1，W为咬尾卷积码的寄存器个数，C为咬尾卷积码信息比特长度；
构造咬尾卷积码生成多项式序列的派生序列，该派生序列为咬尾卷积码生成多项式序列的倒序序列，对重新排序后得到的
Figure BDA0000046303080000054
进行正向路径搜索；
对正向路径搜索中状态度量值最大的路径进行最优路径回溯得到咬尾卷积码译码结果，在最优路径回溯过程中启动对咬尾卷积码译码结果的循环冗余校验码校验。
进一步地，若所述咬尾卷积码译码结果通过循环冗余校验码校验，则将译码得到的下行控制信息上报，否则丢弃本次译码结果。
进一步地，所述对重新排序后得到的
Figure BDA0000046303080000055
进行正向路径搜索时，在计数的每一步中，逐个计算每个状态的状态度量值，并进行加比选操作。
进一步地，在最优路径回溯过程进行一半时，启动对咬尾卷积码译码结果的循环冗余校验码校验。
进一步地，所述M路为3路。
进一步地，所述寄存器个数W为6。
一种咬尾卷积码译码校验装置，包括：
对数似然比重排模块，用于对解交织后得到的M路对数似然比rm(i)进行重新排序，得到
Figure BDA0000046303080000061
Figure BDA0000046303080000062
将
Figure BDA0000046303080000063
输入译码器，其中，m＝0，1，M-1，i＝0，1，...，C-1，W为咬尾卷积码的寄存器个数，C为咬尾卷积码信息比特长度；
正向路径搜索模块，用于构造咬尾卷积码生成多项式序列的派生序列，该派生序列为咬尾卷积码生成多项式序列的倒序序列，以及对重新排序后得到的
Figure BDA0000046303080000064
进行正向路径搜索；
最优路径回溯模块，用于对正向路径搜索中状态度量值最大的路径进行最优路径回溯得到咬尾卷积码译码结果；
校验模块，用于在最优路径回溯过程中启动对咬尾卷积码译码结果的循环冗余校验码校验。
进一步地，还包括：
译码结果上报模块，用于将通过循环冗余校验码校验的咬尾卷积码译码结果上报，否则丢弃本次译码结果。
进一步地，所述正向路径搜索模块对重新排序后得到的
Figure BDA0000046303080000065
进行正向路径搜索时，在计数的每一步中，逐个计算每个状态的状态度量值，并进行加比选操作。
进一步地，所述校验模块在最优路径回溯过程进行一半时，启动对咬尾卷积码译码结果的循环冗余校验码校验。
本发明有益效果如下：
本发明充分利用了咬尾卷积码的结构特点，对输入译码器的LLR值进行了重新排序，并且通过改造派生咬尾卷积码的生成多项式，使得译码器在回溯的过程中，可以按照信息比特的正序串行输出，即信息序列的第一个比特最先译码成功，这样可以尽早的启动CRC校验，使得部分回溯过程与CRC校验可以并行执行，从而达到降低译码校验处理时延的目的。
利用本发明所述技术方案，正向搜索需要3C个处理时间单位，回溯加CRC校验需要2C个处理时间单位，一共需要5C个时间单位，而传统方法需要6C个处理时间单位，本发明的方法的处理延时缩小16.67％；同时，本发明仅改变了解交织器地址计算偏移量，改变了译码模块内卷积码生成式，不增加硬件开销，属于低成本的改进，不会引起任何译码性能的下降。本发明适用于但不仅限于LTE系统咬尾卷积码的译码校验，可以推广适用于任何咬尾卷积码的译码校验过程。
附图说明
图1为现有LTE系统中eNodeB发送DCI的流程图；
图2为现有LTE系统中UE对每一种物理资源组合进行盲解调和解码的流程图；
图3为现有技术中咬尾卷积码编码器的结构框图；
图4为现有技术中咬尾卷积码译码校验的处理流程图；
图5为本发明所述咬尾卷积码译码校验方法的实现原理流程图；
图6为本发明所述咬尾卷积码译码校验装置的结构框图。
具体实施方式
为了进一步缩小单次咬尾卷积码译码校验的处理时间，本发明充分利用咬尾卷积码的结构特征，提供一种咬尾卷积码译码校验方法及装置。本发明充分利用了咬尾卷积码的结构特点，对输入译码器的LLR值进行了重新排序，并且通过改造派生卷积码的生成多项式，使得译码器在回溯的过程中，可以按照信息比特的正序串行输出，即信息序列的第一个比特最先译码成功，这样可以尽早的启动CRC校验，使得部分回溯过程与CRC校验可以并行执行，从而达到了降低咬尾卷积码译码校验处理时延的目的。
请参阅图5，该图为本发明所述咬尾卷积码译码校验方法的实现原理流程图，其主要包括如下步骤：
步骤S51、对解交织后得到的M路LLR值rm(i)进行重新排序，得到
Figure BDA0000046303080000081
将
Figure BDA0000046303080000083
输入译码器，其中，m＝0，1，M-1，i＝0，1，...，C-1，W为咬尾卷积码的寄存器个数，C为咬尾卷积码信息比特长度；
步骤S52、构造咬尾卷积码生成多项式序列的派生序列，该派生序列为咬尾卷积码生成多项式序列的倒序序列，对重新排序后得到的
Figure BDA0000046303080000084
进行正向路径搜索；
步骤S53、确定正向路径搜索中状态度量值最大的路径；
步骤S54、对正向路径搜索中状态度量值最大的路径进行最优路径回溯得到咬尾卷积码译码结果；
步骤S55、在最优路径回溯过程中启动对咬尾卷积码译码结果的CRC校验，若所述咬尾卷积码译码结果通过CRC校验，则将译码得到的DCI上报，否则丢弃本次译码结果。
下面以LTE系统为例，对本发明上述方法的具体实现过程予以进一步详细的阐述。
本发明所述LTE系统中咬尾卷积码译码校验过程主要包括以下步骤：
步骤S61、对解交织后得到的LLR值进行重新排序；
假设解交织之后，三路LLR值的输入为rm(i)，m＝0，1，2，i＝0，1，...，C-1，C为咬尾卷积码信息比特长度；
经过重新排序得到
Figure BDA0000046303080000085
Figure BDA0000046303080000086
式中的6是咬尾卷积码的寄存器个数，m＝0，1，2，i＝0，1，...，C-1。
本步骤中的重新排序操作可以和解交织操作合并，在生成解交织地址的时候按照上式对地址重新映射即可。所以，这一步骤不会带来任何额外的开销。
步骤S62、对重新排序后得到的LLR值
Figure BDA0000046303080000087
进行正向路径搜索，具体包括子步骤S62A和子步骤S62B，过程如下：
子步骤S62A：初始化
LTE系统采用的咬尾卷积码中有6个寄存器，每次译码路径有64状态需要考虑。
M(i)＝0，i＝0，1，...，63
将咬尾卷积码生成多项式改写为译码器执行方便的形式，
令i＝0，1，...，31，j＝0，1，2，其中，G′j，k是咬尾卷积码生成多项式序列派生的序列，咬尾卷积码生成多项式序列派生的序列是咬尾卷积码生成多项式序列的倒序序列，对于LTE采用的卷积码而言，
G′0，k＝{1，1，0，1，1，0，1}，k＝0，1，...，6；
G′1，k＝{1，0，0，1，1，1，1}，k＝0，1，...，6；
G′2，k＝{1，0，1，0，1，1，1}，k＝0，1，...，6；
Si，k则是状态变量i以二进制值表示的第k位数值；
又令中间变量
Figure BDA0000046303080000092
的取值为{0，1}，对应中间变量g′i，j的取值为{1，-1}。
子步骤S62B：正向路径搜索(这个步骤与传统方法完全相同，只是输入不同)
假设向前搜索N步，对于咬尾卷积码N＝3C
循环1：计数器n从0计到N-1，在每一步中，对每个状态逐个计算度量值，并进行加比选操作，具体过程参见循环2；
循环2：计数器j的每个计数值j(j＝0，1，...，31)
计算E＝gj，0r0(n mod C)+gj，1r1(n mod C)+gj，2r2(n mod C)
(1)如果M(j)+E＞M(j+32)-E，
tempM(2j)＝M(j)+E且Pn，2j＝0
否则
tempM(2j)＝M(j+32)-E且Pn，2j＝1
(2)如果M(j)-E＞M(j+32)+E，
tempM(2j+1)＝M(j)-E且Pn，2j+1＝0
否则
tempM(2j+1)＝M(j+32)+E且Pn，2j+1＝1
对计数器j的循环2结束；
待各个状态计算完毕后，令M(j)＝tempM(j)，j＝0，1，...，63，对计数器n的循环1结束。
步骤S63、最优路径回溯并进行CRC校验
找到M(j)中最大的度量值，设为j*；最优路径回溯将从状态j*开始，对于咬尾卷积码，回溯的长度通常取为2倍信息长度，即2C；令k(N-1)＝j*，本步骤具体包括子步骤S63A和子步骤S63B，过程如下：
子步骤S63A：
循环3：计数器i从N-1计到N-C，在每一步中：
如果Pi，k(i)＝0，
Figure BDA0000046303080000101
否则
Figure BDA0000046303080000102
对计数器i的循环3结束；
子步骤S63B：
循环4：计数器i从N-C-1计到N-2C，在每一步中：
如果Pi，k(i)＝0，
Figure BDA0000046303080000103
否则
同时，每一步可以输出译码结果y(N-C-1-i)＝k(i)mod2(输出的第一个比特正好是y0)，这个结果输入CRC模块进行计算；
对计数器i的循环4结束；
当子步骤S63B结束后，CRC译码结果即可以立即得到，如果CRC校验结果正确则上报DCI，否则丢弃本次译码结果。
与本发明上述方法相对应，本发明还提供了一种咬尾卷积码译码校验装置，请参阅图6，该图为本发明所述咬尾卷积码译码校验装置的结构框图，其主要包括：
对数似然比重排模块，用于对解交织后得到的M路LLR值rm(i)进行重新排序，得到
Figure BDA0000046303080000111
Figure BDA0000046303080000112
将
Figure BDA0000046303080000113
输入译码器，其中，m＝0，1，M-1，i＝0，1，...，C-1，W为咬尾卷积码的寄存器个数，C为咬尾卷积码信息比特长度；
正向路径搜索模块，用于构造咬尾卷积码生成多项式序列的派生序列，该派生序列为咬尾卷积码生成多项式序列的倒序序列，以及对重新排序后得到的
Figure BDA0000046303080000114
进行正向路径搜索；
最优路径回溯模块，用于对正向路径搜索中状态度量值最大的路径进行最优路径回溯得到咬尾卷积码译码结果；
校验模块，用于在最优路径回溯过程中启动对咬尾卷积码译码结果的CRC校验；
译码结果上报模块，用于将通过CRC校验的咬尾卷积码译码结果上报，否则丢弃本次译码结果。
其中，正向路径搜索模块对重新排序后得到的进行正向路径搜索时，在计数的每一步中，逐个计算每个状态的状态度量值，并进行加比选操作；校验模块在最优路径回溯过程进行一半时，启动对咬尾卷积码译码结果的循环冗余校验码校验。
本发明所述装置的具体工作过程请参阅本发明上述方法中相应内容的描述，这里不再给予过多赘述。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种咬尾卷积码译码校验方法，其特征在于，包括步骤：
对解交织后得到的M路对数似然比rm(i)进行重新排序，得到
Figure FDA0000046303070000011
Figure FDA0000046303070000012
将
Figure FDA0000046303070000013
输入译码器，其中，m＝0，1，M-1，i＝0，1，...，C-1，W为咬尾卷积码的寄存器个数，C为咬尾卷积码信息比特长度；
构造咬尾卷积码生成多项式序列的派生序列，该派生序列为咬尾卷积码生成多项式序列的倒序序列，对重新排序后得到的进行正向路径搜索；
对正向路径搜索中状态度量值最大的路径进行最优路径回溯得到咬尾卷积码译码结果，在最优路径回溯过程中启动对咬尾卷积码译码结果的循环冗余校验码校验。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述咬尾卷积码译码结果通过循环冗余校验码校验，则将译码得到的下行控制信息上报，否则丢弃本次译码结果。
3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对重新排序后得到的
Figure FDA0000046303070000015
进行正向路径搜索时，在计数的每一步中，逐个计算每个状态的状态度量值，并进行加比选操作。
4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在最优路径回溯过程进行一半时，启动对咬尾卷积码译码结果的循环冗余校验码校验。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述M路为3路。
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述寄存器个数W为6。
7.一种咬尾卷积码译码校验装置，其特征在于，包括：
对数似然比重排模块，用于对解交织后得到的M路对数似然比rm(i)进行重新排序，得到
Figure FDA0000046303070000016
将
Figure FDA0000046303070000018
输入译码器，其中，m＝0，1，M-1，i＝0，1，...，C-1，W为咬尾卷积码的寄存器个数，C为咬尾卷积码信息比特长度；
正向路径搜索模块，用于构造咬尾卷积码生成多项式序列的派生序列，该派生序列为咬尾卷积码生成多项式序列的倒序序列，以及对重新排序后得到的
Figure FDA0000046303070000021
进行正向路径搜索；
最优路径回溯模块，用于对正向路径搜索中状态度量值最大的路径进行最优路径回溯得到咬尾卷积码译码结果；
校验模块，用于在最优路径回溯过程中启动对咬尾卷积码译码结果的循环冗余校验码校验。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：
译码结果上报模块，用于将通过循环冗余校验码校验的咬尾卷积码译码结果上报，否则丢弃本次译码结果。
9.如权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述正向路径搜索模块对重新排序后得到的
Figure FDA0000046303070000022
进行正向路径搜索时，在计数的每一步中，逐个计算每个状态的状态度量值，并进行加比选操作。
10.如权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述校验模块在最优路径回溯过程进行一半时，启动对咬尾卷积码译码结果的循环冗余校验码校验。
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