CN102565065A - 单片光伏电池芯片的检测方法 - Google Patents
单片光伏电池芯片的检测方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102565065A CN102565065A CN2010105998552A CN201010599855A CN102565065A CN 102565065 A CN102565065 A CN 102565065A CN 2010105998552 A CN2010105998552 A CN 2010105998552A CN 201010599855 A CN201010599855 A CN 201010599855A CN 102565065 A CN102565065 A CN 102565065A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- photovoltaic cell
- cell chips
- detection method
- cell chip
- images
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
单片光伏电池芯片的检测方法。其检测方法,调整输入电流,曝光时间,存储路径,序列号,观察显示器上显示的单片光伏电池芯片图像,按性能分档的测试过程;所述的输入电流在1A~10A范围内,曝光时间在0.1s~25s范围内。其主要利用光伏电池芯片的电致发光原理来完成的,所以,光伏电池芯片电致发光图像直观的展现出了光伏电池芯片的扩散长度的分布特征,通过该图像的分析,可以有效的发现光伏电池芯片隐裂,断栅,材料不良,边缘短路等问题并通过测试得出光伏电池芯片性能特征进行分档,对太阳能电池组件提供优化的配置,增大了输出功率,提高了太阳能电池组件一次合格率,最终可以杜绝问题组件流入市场。
Description
技术领域
本发明单片光伏电池芯片的检测方法,涉及光伏太阳能组件生产检测的技术领域,应用于单片光伏电池芯片性能检测。
背景技术
目前,随着客户对太阳能电池组件质量要求的提高,我们不断的改进我们的生产设备,以满足顾客的需求。由于光伏电池芯片在运输、焊接过程中可能造成隐裂等现象,这种隐裂是我们无法用眼睛判断出的;此外光伏电池芯片在制造过程中,可能出现一些问题,像边缘短路、表面污染、断栅、材料的缺陷等。这样就会影响太阳能电池组件的使用寿命及输出功率,造成太阳能转化成电能的效率降低,造成了光电资源的极大浪费。
发明内容
本发明的目的在于解决以上问题,通过对单片光伏电池芯片的检测和配置,增大了太阳能电池组件的输出功率,提高了太阳能电池组件一次合格率,最终可以杜绝问题组件流入市场的单片光伏电池芯片的检测方法。包括设定工作温度为25℃,湿度为60%的工作环境,配置单相电源220V,10A在内;其特征在于:其检测方法,调整输入电流,曝光时间,存储路径,序列号,观察显示器上显示单片电池芯片图像,按性能分档的测试过程;所述的输入电流在1A~10A范围内;所述的曝光时间在0.1sim~25sim范围内。
实施该技术后的明显优点和效果是:其主要利用光伏电池芯片的电致发光原理来完成的,由于光伏电池芯片的电致发光亮度正比于少子扩散长度和正向电流大小,所以,光伏电池芯片电致发光图像直观的展现出了电池芯片的扩散长度的分布特征,通过该图像的分析,可以有效的发现光伏电池芯片隐裂,断栅,材料不良,边缘短路等问题并通过测试得出光伏电池芯片性能特征进行分档,对太阳能电池组件提供优化的配置,增大了太阳能电池组件的输出功率,提高了太阳能电池组件一次合格率,最终可以杜绝问题组件流入市场。
具体实施方式
下面用单晶125mm×125mm的光伏电池芯片为例,进一步对单片光伏电池芯片的检测方法作进一步描述:
首先,确定测试的工作条件:工作温度为25℃,湿度为60%,单相电源220V,10A。
设置输入电流2A,曝光时间10s,存储路径,序列号,设置完毕,踩下脚踩开关,测试台自动弹出,将光伏电池芯片拆开包装后确认无裂片、崩边现象后,单片光伏电池芯片放入检测仪的正、负极插口上,通电,按下测试按钮开始测试,单片电池芯片产生红外光,显示器上显示单片光伏电池芯片图像,观察图像中是否有隐裂、断栅或材料缺陷等异常现象,同时,测出光伏电池芯片的性能指标,取出光伏电池芯片,进行分档排放和废品的剔除,进入焊接和拼装组件工序。
Claims (3)
1.单片光伏电池芯片的检测方法,包括设定工作温度为25℃,湿度为60%的工作环境,配置单相电源220V,10A在内;其特征在于:其检测方法,调整单片光伏电池芯片的输入电流,曝光时间,存储路径,序列号,观察显示器上显示的单片光伏电池芯片图像,按性能分档的测试过程。
2.根据权利要求1所述的单片光伏电池芯片的检测方法,其特征在于:所述的输入电流在1A~10A范围内。
3.根据权利要求1所述的单片光伏电池芯片的检测方法,其特征在于:所述的曝光时间在0.1s~25s范围内。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2010105998552A CN102565065A (zh) | 2010-12-17 | 2010-12-17 | 单片光伏电池芯片的检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2010105998552A CN102565065A (zh) | 2010-12-17 | 2010-12-17 | 单片光伏电池芯片的检测方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102565065A true CN102565065A (zh) | 2012-07-11 |
Family
ID=46411052
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2010105998552A Pending CN102565065A (zh) | 2010-12-17 | 2010-12-17 | 单片光伏电池芯片的检测方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102565065A (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106768888A (zh) * | 2016-12-23 | 2017-05-31 | 福建省计量科学研究院 | 一种电致发光缺陷检测仪的空间分辨力测试板及测试方法 |
CN107250778A (zh) * | 2014-12-24 | 2017-10-13 | 安赛乐米塔尔公司 | 用于生产具有包括金属基底、电介质涂层和导电层的支承件的光电模块的方法 |
CN109580991A (zh) * | 2017-09-29 | 2019-04-05 | 株式会社爱德万测试 | 电子部件处理装置以及电子部件试验装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101246927A (zh) * | 2007-02-14 | 2008-08-20 | 北京行者多媒体科技有限公司 | 非晶锗薄膜的光伏应用 |
WO2010003186A1 (en) * | 2008-07-09 | 2010-01-14 | Bt Imaging Pty Ltd | Thin film imaging method and apparatus |
CN101861643A (zh) * | 2007-08-30 | 2010-10-13 | Bt成像股份有限公司 | 光生伏打电池制造 |
-
2010
- 2010-12-17 CN CN2010105998552A patent/CN102565065A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101246927A (zh) * | 2007-02-14 | 2008-08-20 | 北京行者多媒体科技有限公司 | 非晶锗薄膜的光伏应用 |
CN101861643A (zh) * | 2007-08-30 | 2010-10-13 | Bt成像股份有限公司 | 光生伏打电池制造 |
WO2010003186A1 (en) * | 2008-07-09 | 2010-01-14 | Bt Imaging Pty Ltd | Thin film imaging method and apparatus |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
杨畅民等: "《第十届中国太阳能光伏会议论文集》", 31 December 2008 * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107250778A (zh) * | 2014-12-24 | 2017-10-13 | 安赛乐米塔尔公司 | 用于生产具有包括金属基底、电介质涂层和导电层的支承件的光电模块的方法 |
CN106768888A (zh) * | 2016-12-23 | 2017-05-31 | 福建省计量科学研究院 | 一种电致发光缺陷检测仪的空间分辨力测试板及测试方法 |
CN106768888B (zh) * | 2016-12-23 | 2023-05-02 | 福建省计量科学研究院 | 一种电致发光缺陷检测仪的空间分辨力测试板及测试方法 |
CN109580991A (zh) * | 2017-09-29 | 2019-04-05 | 株式会社爱德万测试 | 电子部件处理装置以及电子部件试验装置 |
CN109580991B (zh) * | 2017-09-29 | 2022-05-03 | 株式会社爱德万测试 | 电子部件处理装置以及电子部件试验装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Carolus et al. | Physics of potential-induced degradation in bifacial p-PERC solar cells | |
US20100071752A1 (en) | Solar Cell Module Having Buss Adhered With Conductive Adhesive | |
CN104868841A (zh) | 太阳能电池组件 | |
CN106057702B (zh) | 一种具有合格热斑温度范围的太阳能电池片的检测方法 | |
Augusto et al. | Thin silicon solar cells: Pathway to cost-effective and defect-tolerant cell design | |
CN102565065A (zh) | 单片光伏电池芯片的检测方法 | |
KR101165911B1 (ko) | 광전 변환 장치 및 광전 변환 장치의 제조 방법 | |
CN207947300U (zh) | 一种切片电池自动检测焊接系统 | |
CN102832154B (zh) | 一种检测和修复薄膜太阳能电池漏电缺陷的方法 | |
CN103278512B (zh) | 一种利用微波在线检测太阳能板结构损伤的装置及方法 | |
US10361655B2 (en) | Electrical inspection method for solar cells | |
Cattaneo et al. | Encapsulant materials for high reliable bifacial heterojunction glass/glass photovoltaic modules | |
Rajput et al. | Visual and electrical degradation of 22 years field age monocrystalline silicon PV module in composite climate of India | |
Condorelli et al. | High efficiency hetero-junction: from pilot line to industrial production | |
CN103633174A (zh) | 一种带保护功能的高效率聚光光伏光电转换接收器 | |
Weber et al. | Electroluminescence investigation on thin film modules | |
Wang et al. | Monitoring of monocrystalline silicon PERC solar cell with laser-doped selective emitter using infrared and electroluminescence imaging | |
TWI427804B (zh) | 電池短路部除去裝置及方法 | |
CN204615756U (zh) | 太阳能电池组件 | |
CN102569496A (zh) | 太阳能电池组件缺陷检测工艺方法 | |
CN102522450A (zh) | 缺陷修复方法和系统 | |
CN112687763A (zh) | 一种钝化接触晶体硅电池制备方法 | |
CN201523021U (zh) | 用于硅基薄膜太阳电池旁路分流的去除装置 | |
KR101697589B1 (ko) | 박막 태양전지의 리페어장치 및 리페어방법 | |
Lin et al. | Accelerated aging tests of high concentration multijunction solar cells |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20120711 |