CN102541704A

CN102541704A - Raid卡的测试方法

Info

Publication number: CN102541704A
Application number: CN2011104557909A
Authority: CN
Inventors: 李景运
Original assignee: Dawning Information Industry Co Ltd
Current assignee: Dawning Information Systems (Liaoning) Co., Ltd.
Priority date: 2011-12-31
Filing date: 2011-12-31
Publication date: 2012-07-04
Anticipated expiration: 2031-12-31
Also published as: CN102541704B

Abstract

本发明提供了一种RAID卡的测试方法，包括：步骤S1：将RAID卡与多块硬盘相连接，从而形成RAID阵列；以及步骤S2：移除RAID阵列中的至少一块硬盘，并使用第一硬盘压力测试工具对RAID阵列进行压力测试。本发明所公开的RAID卡的测试方法能够全面准确地测试RAID卡的稳定性，省时省力。

Description

RAID卡的测试方法

技术领域

本发明基本上涉及服务器领域，更具体地来说，涉及RAID卡的测试方法。

背景技术

RAID(Redundant Array of Independent Disk，独立冗余磁盘阵列)卡作为服务器内的关键部件，可以有效地保护用户的数据安全。但是如果RAID卡本身不能够稳定工作，则数据安全也就无从谈起了。目前业界对于RAID卡的测试偏重性能较多，对于稳定性的测试也大多局限于长时间的压力测试。

现有技术中提供了一种测试RAID卡兼容性和稳定性的方法，其特征在于测试步骤如下：1)RAID卡结构测试测试RAID卡与机箱、主板、线缆在安装结构上的配合是否有无松动，包括跌落、振动摸底测试；2)RAID卡基本功能测试：(1)加电自检，查看被测RAID卡的缓存容量、firmware版本信息是否正确，与部件工程师提供的《RAID卡选型报告》里的部件信息是否一致；(2)检查该RAID卡各项参数、功能是否符合选型报告；察看该RAID卡所连接的硬盘信息、创建各种RAID级别是否顺利进入创建界面，正常识别硬盘型号、传输速率，cache大小，id信息，硬盘识别过程中有无异常，选择其中的磁盘实现RAID卡级别的创建；(3)冷热反复开关机启动各10次，检测是否出现检测不到RAID卡或是死机、蓝屏异常现象；3)操作系统兼容性测试：(1)Windows系统兼容性测试：安装Windows操作系统，正常加载部件工程师提供的RAID卡驱动，划定分区时，检测磁盘阵列容量大小是否正常，是否出现蓝屏等异常现象；(2)系统安装完毕后，察看该部件信息，确定被测部件信息是否正常；(3)RAID卡的管理功能验证，要求能正常安装部件自带的管理软件，可以实现软件提供的各项功能。4)Linux系统兼容性测试(1)安装Red Hat AS 5.0、SUSE 10操作系统，依照所测机型一类操作系统的定义，完整测试该机型的一类操作系统，检测安装过程中正常加载部件工程师提供的驱动，是否出现无法安装的异常现象；(2)在Linux系统下察看被测部件信息是否正常；(3)RAID卡的管理功能验证，要求能正常安装部件自带的管理软件，实现软件提供的各项功能；5)稳定性测试：测试被测RAID卡在大压力情况下的稳定性(1)Windows系统下运行I/O meter、Maxpower压力软件12小时以上，运行过程正常，不出现掉盘、死机现象，系统日志没有报错信息；(2)系统下重启600次；运行过程正常，没有出现掉盘、死机现象，系统日志没有报错信息。

上述测试方法能够在一定程度上测试出RAID卡的稳定性。然而，上述测试方法只考虑到在RAID阵列在正常工作情况下的压力测试，而当RAID阵列中有硬盘掉线后，RAID会处于降级(Degraded)状态，此时RAID阵列相对脆弱，但是上述方案并未涉及这种情况下的RAID卡压力测试。此外，当硬盘掉线后，当用户重新接入新硬盘时，RAID阵列会处于重建(Rebuilding)状态，而上述测试方法没有涉及在这种情况下的RAID卡压力测试。另外，上述方案所涉及的开机、关机测试需要人手工操作且次数较少，不仅无法自动进行多次不断开AC电源的开机、关机操作(DC on/off)测试，而且操作繁琐。

发明内容

针对现有技术无法测试处于降级(Degraded)状态和重建(Rebuilding)状态的RAID阵列中的RAID卡的稳定性，并且无法自动多次进行开机、关机测试的缺陷，本发明提供了一种RAID卡的测试方法，从而解决了如何测试处于降级(Degraded)状态和重建(Rebuilding)状态的RAID阵列中的RAID卡的稳定性的技术问题，还解决了如何自动多次进行开机、关机测试的技术问题。

本发明提供了一种RAID卡的测试方法，包括：步骤S1：将RAID卡与多块硬盘相连接，从而形成RAID阵列；以及步骤S2：移除所述RAID阵列中的至少一块硬盘，并使用第一硬盘压力测试工具对所述RAID阵列进行压力测试。

在该RAID卡的测试方法中，进一步包括：步骤S3：将在所述步骤S2中移除的硬盘安装回所述RAID阵列，并使用第二硬盘压力测试工具对所述RAID阵列进行压力测试。

在该RAID卡的测试方法中，进一步包括：步骤S4：在不断开电源的情况下，对所述RAID阵列所在的服务器连续进行多次开启操作和关闭操作。

在该RAID卡的测试方法中，所述第一硬盘压力测试工具为IOmeter或者IOzone。

在该RAID卡的测试方法中，所述步骤S2包括：步骤S21：移除所述RAID阵列中的至少一块硬盘；以及步骤S22：在所述RAID阵列处于降级状态时，使用IOmeter或者IOzone对所述RAID阵列进行24个小时的4KB读写压力测试。

在该RAID卡的测试方法中，所述第二硬盘压力测试工具为IOmeter或者IOzone。

在该RAID卡的测试方法中，所述步骤S3包括：步骤S31：将在所述步骤S2中移除的硬盘安装回所述RAID阵列；以及步骤S32：在所述RAID阵列处于重建状态时，使用IOmeter或者IOzone对所述RAID阵列进行12小时的压力测试。

在该RAID卡的测试方法中，所述步骤S4包括：步骤S41：开启服务器；步骤S42：所述服务器根据预定时间周期设定下一次开启时间；以及步骤S43：关闭所述服务器，但是不断开电源；其中，在所述下一次开启时间时，所述服务器执行所述步骤S41至所述步骤S43，直到所述步骤S41至所述步骤S43被执行过预定次数。

在该RAID卡的测试方法中，所述预定次数至少为500次。

在该RAID卡的测试方法中，所述RAID阵列为RAID5阵列。

本发明所公开的RAID卡的测试方法能够全面准确地测试RAID卡的稳定性，省时省力。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1示出了根据本发明的示例性实施例的RAID卡的测试方法；

图2示出了根据本发明的示例性实施例的RAID卡的测试方法的处于降级状态的具体测试方法；

图3示出了根据本发明的示例性实施例的RAID卡的测试方法的处于重建状态的具体测试方法；

图4示出了根据本发明的示例性实施例的RAID卡的测试方法的自动连续开机、关机的具体测试方法。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

图1示出了根据本发明的示例性实施例的RAID卡的测试方法。在图1中：

步骤S100：将RAID卡与多块硬盘相连接，从而形成RAID阵列。其中，该RAID阵列可以是RAID5阵列。

步骤S102：移除RAID阵列中的至少一块硬盘，并使用第一硬盘压力测试工具对RAID阵列进行压力测试。该步骤模拟了用户的RAID阵列中有硬盘损坏的情况。当从RAID阵列中移除至少一块硬盘之后，该RAID阵列将处于降级状态，此时，利用IOmeter或者Iozone等等硬盘压力测试工具对该RAID阵列进行压力测试。当然，上述IOmeter或者IOzone仅仅是实例，还可以使用本领域普通技术人员公知的其他硬盘压力测试工具进行测试。

上述测试方法的具体实施例将在以下结合图2进行描述。

步骤S104：将在步骤S102中移除的硬盘安装回RAID阵列，并使用第二硬盘压力测试工具对RAID阵列进行压力测试。该步骤模拟了当用户利用新硬盘替换了损坏的硬盘的情况。将在步骤S102中移除的硬盘安装回RAID阵列，此时，该RAID阵列处于重建状态，此时，利用IOmeter或者IOzone等等硬盘压力测试工具对该RAID阵列进行压力测试。当然，上述IOmeter或者IOzone仅仅是实例，还可以使用本领域普通技术人员公知的其他硬盘压力测试工具进行测试。

上述测试步骤的具体实施例将在以下结合图3进行描述。

步骤S106：在不断开电源的情况下，对RAID阵列所在的服务器连续进行多次开启操作和关闭操作。该步骤模拟了对于RAID阵列进行的自动连续开机、关机测试(DC on/off)。

上述测试步骤的具体实施例将在以下结合图4进行描述。

通过本发明所公开的RAID卡的测试方法，可以测试处于降级状态的的RAID阵列中的RAID卡的稳定性，还可以测试处于重建状态的RAID阵列中的RAID卡的稳定性。此外，可以通过自动进行多次开机、关机测试对RAID阵列中的RAID卡的稳定性进行测试。因此，本发明所公开的RAID卡的测试方法能够全面准确地测试RAID卡的稳定性，省时省力。

以下将分别具体描述上述测试步骤。

图2示出了根据本发明的示例性实施例的RAID卡的测试方法的处于降级状态的具体测试方法。在图2中：

步骤S200：移除RAID阵列中的至少一块硬盘。

步骤S202：在RAID阵列处于降级状态时，使用IOmeter或者IOzone对所述RAID阵列进行24个小时的4KB读写压力测试。

例如，使用RAID卡连接3块或以上的硬盘做RAID5阵列，安装Windows 200332bit操作系统，操作系统安装完成后，手动移除RAID5阵列中的一块硬盘，此时RAID5阵列会处于降级(Degraded)状态。然后，在这种状态下使用IOmeter对这个RAID5阵列进行4KB小块数据读写的压力测试24小时，在测试中如果没有出现掉盘、或者死机等问题，则该RAID5阵列中的RAID卡通过该项测试。

用户在服务器的使用过程中，不可避免的会出现硬盘损坏的情况，当RAID阵列中的某一硬盘出现故障而用户又没有及时发现，这样RAID就工作在Degraded状态。在这种状态下的压力测试很好的模拟了用户的实际应用情况，通过了这个测试的RAID卡具有较好的稳定性，可以应对各种压力。由此，本实施例所公开的测试方法能够全面准确地测试RAID卡的稳定性，不仅贴近实际应用，而且省时省力。

图3示出了根据本发明的示例性实施例的RAID卡的测试方法的处于重建状态的具体测试方法。在图3中：

步骤S300：将在上述步骤中移除的硬盘安装回RAID阵列。

步骤S302：在RAID阵列进行重建状态时，使用IOmeter或者IOzone对所述RAID阵列进行12小时的压力测试。

例如，将之前从RAID5阵列中拔下的硬盘安装回原来的RAID5阵列中。当RAID5阵列处于重建(Rebuilding)操作时，进入Red Hat EnterpriseLinux Server 5Update 564bit(以下简称为RHEL 5U564bit)操作系统，使用IOzone工具进行压力测试12小时，在测试中如果没有出现掉盘、或者死机等问题，则该RAID5阵列中的RAID卡通过该项测试。

用户在服务器的使用过程中，不可避免的会出现RAID阵列中的硬盘损坏的情况，当用户发现了问题更换了硬盘，这时RAID阵列就工作在Rebuilding状态，而在这种状态下的压力测试很好的模拟了用户的实际应用情况，通过了这个测试的RAID卡具有较好的稳定性，可以应对各种压力。由此，本实施例所公开的测试方法能够全面准确地测试RAID卡的稳定性，不仅贴近实际应用，而且省时省力。

图4示出了根据本发明的示例性实施例的RAID卡的测试方法的自动连续开机、关机的具体测试方法。在图4中：

步骤S400：开启服务器。

步骤S402：服务器根据预定时间周期设定下一次开启时间。

步骤S404：关闭服务器，但是不断开电源，

其中，在下一次开启时间时，服务器执行步骤S400至步骤S404，直到步骤S400至步骤S404被执行过预定次数。

其中，该预定次数可以是至少500次。也就是说，该自动连续开机、关机的测试方法是一个自循环过程，通过设置预定次数(循环的总次数)和预定时间周期(上一次关机和下一次开机之间的时间间隔)，使得服务器根据预定时间周期设定下一次开启时间，然后当服务器关机之后，时间进行到该下一次开启时间时，该服务器自动开启。反复进行上述过程，使得服务器自动进行开机、关机测试，从而对于RAID卡的稳定性进行了测试。

例如，安装RHEL 5U564bit操作系统进行DC on/off测试500次。具体方法是：修改系统下的/etc/rc.local文件，使系统在每次启动时设定RTCAlarm(RTC是“Real Time Clock”的缩写，RTC Alarm是预设的系统启动时间)的时间，即下一次机器上电开启的时间，然后执行关机操作。到了之前RTC Alarm设定的时间后，服务器会自动上电再次进入系统执行相同的操作，这样就完了一次DC on/off操作。进行500次DC on/off测试没有出现识别不到卡、无法进入系统、系统报错等问题则认为通过测试。需要在/etc/rc.local添加如下内容以实现上述功能：

其中，echo″+00-00-0000:01:20″＞/proc/acpi/alarm可以实现在执行此条命令后的1分20秒自动开机的功能。

上述自动连续开机、关机的测试步骤可以作为独立的方法进行测试，还可以作为一个步骤应用于其他测试方法中。

使用DC on/off自动测试方法可以实现无人值守的测试方式，经过几百乃至上千次的测试可以证明RAID卡不会出现上电过程中无法识别的情况，可以证明RAID卡稳定工作。由于不需要手动操作，可以进行多次测试，从而能够全面准确地测试RAID卡的稳定性，省时省力。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims

1.一种RAID卡的测试方法，包括：

步骤S1：将RAID卡与多块硬盘相连接，从而形成RAID阵列；以及

步骤S2：移除所述RAID阵列中的至少一块硬盘，并使用第一硬盘压力测试工具对所述RAID阵列进行压力测试。

2.根据权利要求1所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，进一步包括：

步骤S3：将在所述步骤S2中移除的硬盘安装回所述RAID阵列，并使用第二硬盘压力测试工具对所述RAID阵列进行压力测试。

3.根据权利要求1或2所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，进一步包括：

步骤S4：在不断开电源的情况下，对所述RAID阵列所在的服务器连续进行多次开启操作和关闭操作。

4.根据权利要求1所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述第一硬盘压力测试工具为IOmeter或者IOzone。

5.根据权利要求2所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述步骤S2包括：

步骤S21：移除所述RAID阵列中的至少一块硬盘；以及

步骤S22：在所述RAID阵列处于降级状态时，使用IOmeter或者IOzone对所述RAID阵列进行24个小时的4KB读写压力测试。

6.根据权利要求2所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述第二硬盘压力测试工具为IOmeter或者IOzone。

7.根据权利要求6所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述步骤S3包括：

步骤S31：将在所述步骤S2中移除的硬盘安装回所述RAID阵列；以及

步骤S32：在所述RAID阵列处于重建状态时，使用IOmeter或者IOzone对所述RAID阵列进行12小时的压力测试。

8.根据权利要求3所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述步骤S4包括：

步骤S41：开启服务器；

步骤S42：所述服务器根据预定时间周期设定下一次开启时间；以及

步骤S43：关闭所述服务器，但是不断开电源；

其中，在所述下一次开启时间时，所述服务器执行所述步骤S41至所述步骤S43，直到所述步骤S41至所述步骤S43被执行过预定次数。

9.根据权利要求8所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述预定次数至少为500次。

10.根据权利要求1所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述RAID阵列为RAID5阵列。