CN102457883B - 闭环功率控制性能的测试方法及设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种闭环功率控制性能的测试方法及设备，用以提供一种新的闭环功率控制性能的测试方案。方法包括：针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的至少一个过程，分别确定第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境时的各第一时间点；以及监控处于第二物理信道衰落环境中的接收端的误块率BLER的值，分别确定监控的BLER的值收敛至对应于各个所述过程的第二物理信道衰落环境所要求的BLER目标值BLERTarget时的各第二时间点；以及根据各第一时间点与相应的第二时间点，确定BLER的值收敛至所述BLERTarget所需的时间长度，并根据与所述时间长度相关的信息，确定闭环功率控制性能。

Description

闭环功率控制性能的测试方法及设备

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种闭环功率控制性能的测试方法及设备。

背景技术

功率控制(Power Control)是CDMA通信技术的核心技术之一，总的目的是为了让每个发射机以对应于当前无线环境的最小的功率来获得可接受的通话需求，从而最大限度的减少干扰。功率控制分为开环功率控制和闭环功率控制，而闭环功率控制又分为内环功率控制和外环功率控制。

其中，内环功率控制的主要作用是通过控制物理信道的发射端发射功率，使物理信道维持一定的信干比(SIR，Signal to Interference Ratio)，并使维持的该SIR的值收敛于SIR目标值(SIRtarget)。一般地，终端所处物理信道衰落环境和终端移动速度都是处于变化状态的，为满足业务的服务质量(QoS，Quality of Service)需求，传输的业务需要满足的SIR也会变化，因此不能使用固定的SIR的值作为内环功率控制所需的SIRTarget。为了调整SIRTarget，需要外环功率控制根据业务的QoS来实时计算误块率(BLER，Block ErrorRatio)，并根据BLER来确定SIRtarget，从而实现对内环功率控制所需的该SIRtarget的动态调整。

目前，对闭环功率控制性能进行测试的方案主要是通过测试接收端接收到的信号的SIR、发射端的发射功率或接收端接收到的信号的BLER是否收敛到BLER目标值(BLERTarget)来完成的。

发明内容

本发明实施例提供一种闭环功率控制性能的测试方法和设备，用以提供一种新的闭环功率控制性能的测试方案。

本发明实施例采用以下技术方案：

一种闭环功率控制性能的测试方法，包括：针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的至少一个过程，分别确定第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境时的各第一时间点；以及监控处于第二物理信道衰落环境中的接收端的误块率BLER的值，分别确定监控的BLER的值收敛至对应于各个所述过程的第二物理信道衰落环境所要求的BLER目标值BLERTarget时的各第二时间点；以及根据各第一时间点与相应的第二时间点，确定BLER的值收敛至所述BLERTarget所需的时间长度，并根据与所述时间长度相关的信息，确定闭环功率控制性能。

较佳地，与所述时间长度相关的信息为下述信息中的一项或多项的组合：

所述时间长度的值；所述时间长度内的发射端平均发射功率的值；所述时间长度内的发射端发射功率累计概率分布统计值；所述时间长度内的接收端信干比累计概率分布统计值。

一种闭环功率控制性能的测试设备，包括：第一时间点确定单元，用于针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的至少一个过程，分别确定第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境时的各第一时间点；第二时间点确定单元，用于监控处于第二物理信道衰落环境中的接收端的误块率BLER的值，分别确定监控的BLER的值收敛至对应于各个所述过程的第二物理信道衰落环境所要求的BLER目标值BLERTarget时的各第二时间点；时间长度确定单元，用于根据第一时间点确定单元确定的各第一时间点与第二时间点确定单元确定的相应的各第二时间点，确定BLER的值收敛至所述BLERTarget所需的时间长度；性能确定单元，用于根据与时间长度确定单元确定的时间长度相关的信息，确定闭环功率控制性能。

本发明实施例的有益效果如下：

本发明实施例提供的方案通过针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的至少一个过程，对误块率BLER收敛至BLER目标值BLERTarget时所需时间长度的确定，实现根据与该时间长度相关的信息确定闭环功率控制性能，从而提供了一种全新的闭环功率控制性能的测试方案。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种闭环功率控制性能的测试方法的具体流程示意图；

图2为本发明实施例提供的一种闭环功率控制性能的测试设备的具体结构示意图；

图3为本发明实施例提供的方案在实际中的一个具体应用环境示意图；

图4为在测试过程一、二中，发射端发射功率值与tc内发射功率累计概率分布统计值的对应关系示意图。

具体实施方式

发明人通过对物理信道衰落环境改变时BLER的变化情况的研究，发现在物理信道衰减环境改变后仍维持一个固定的BLERTarget时，由于SIRTarget一般会随着信道衰落环境改变而发生变化，因此需要通过外环功率控制来实时计算BLER，从而根据计算得到的BLER来实现对SIRTarget的动态调整。这会导致BLER在信道衰落环境改变后需要一段时间才能收敛至该BLERTarget。假设在BLER收敛至BLERTarget之前的这段时间，如果物理信道衰落环境从较差转换至较好，可能会导致接收端要求的发射功率超过其维持业务QoS所需发射端功率，从而导致发射端资源的浪费，同时也会使系统内干扰增加；而如果物理信道衰落环境从较好转换至较差，则又可能导致BLER高于BLERTarget，使业务QoS质量低于目标要求，甚至导致接收端掉话。可见，若闭环功率控制发射功率变化的性能较差，则BLER收敛至BLERTarget所需的时间会较长；反之，若闭环功率控制发射功率变化的性能较好，则BLER能够在较短的时间内收敛到BLERTarget。

发明人通过上述研究，得出结论：BLER收敛至BLERTarget所需的时间长短能够体现闭环功率控制性能的高低。

基于上述结论，本发明实施例提供一种闭环功率控制性能的测试方案，以通过对BLER收敛至BLERTarget所需的时间的确定，来实现闭环功率控制性能的测试。以下结合附图，对本发明实施例提供的上述方案进行详细说明。

首先，本发明实施例提供一种如图1所示的闭环功率控制性能的测试方法，该方法主要包括以下步骤：

步骤11，针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的至少一个过程，分别确定第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境时的各第一时间点；

步骤12，监控处于第二物理信道衰落环境中的接收端的误块率BLER的值，分别确定监控的BLER的值收敛至对应于各个上述过程的第二物理信道衰落环境所要求的BLER目标值BLERTarget时的各第二时间点；

步骤13，根据各第一时间点与相应的第二时间点，确定BLER的值收敛至BLERTarget所需的时间长度，并根据与该时间长度相关的信息，确定闭环功率控制性能。

根据本发明实施例提供的上述测试方法，可测量出在物理信道衰减环境改变后，BLER收敛至BLERTarget所需要的时间长度，从而提供了一种全新的闭环功率控制性能的测试方法，对现有技术提供的闭环功率控制性能的测试方案进行了补充。结合本发明实施例提供的上述测试方案与现有技术中已有的测试方法，能够实现对闭环功率控制性能更为全面的评估。

本发明实施例提供的上述方法的执行主体可以是任意可实现上述步骤的测试设备，比如可以是基站，也可以是通信系统中已有的功能实体，或者是新增的功能实体，本发明实施例对此不做限定。

需要说明的是，通过上述分析已知，上述时间长度越长，闭环功率控制的性能越差，而时间长度越短，闭环功率控制的性能越好。然而，即使针对不同接收端，该时间长度相同，但是该段时间内所需的发射端发射功率或接收端的SIR也可能存在较大差别。显然，这段时间内，发射端的发射功率越低，所消耗的发射端资源越少，对其他接收端造成的干扰越小，因此这段时间内发射端的发射功率高低和SIR也是评价闭环功率控制性能的一个重要指标。根据上述分析，在本发明实施例中，与上述时间长度相关的信息可以为下述信息中的一项或多项的组合：

该时间长度的值；该时间长度内的发射端平均发射功率的值；该时间长度内的发射端发射功率累计概率分布统计值；该时间长度内的接收端信干比累计概率分布统计值。根据该些信息进行闭环功率控制性能评价的具体实施例将在后文进行详细介绍，在此不再赘述。

在本发明实施例中，可以针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的一个过程来实现测试，但为了提高测试结果的可信度，优选针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的多个过程来进行测试。具体地，针对上述步骤13中根据各第一时间点与相应的第二时间点，确定BLER的值收敛至BLERTarget所需的时间长度具体可以采用方式：首先，分别确定各第一时间点与相应的第二时间点之间的各个时间长度；然后，以确定的该些时间长度之和除以上述过程的个数得到的时间长度平均值，作为BLER的值收敛至BLERTarget所需的时间长度。

考虑到通信系统的实际情况，本发明实施例中，可以通过在一些有代表性的情况下进行该测试方案。假设第一物理信道衰落环境为发射端发射功率为第一预定发射功率的物理信道衰落环境，而第二物理信道衰落环境为发射端发射功率为第二预定发射功率的物理信道衰落环境，则在第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的一个过程中，第一、第二预定发射功率的值可以有以下几种情况：

第一种情况：第一、第二预定发射功率的值可以分别为介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值；

第二种情况：第一、第二预定发射功率的值可以分别为预定最大发射功率值、介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值；

第三种情况：第一、第二预定发射功率的值可以分别为预定最小发射功率值、介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值。

本发明实施例中，第一物理信道衰落环境所要求的BLERTarget可以与第二物理信道衰落环境所要求的BLERTarget相同或不同。当两者相同或后者大于前者而使得第二物理信道衰落环境中BLER收敛至BLERTarget的时间较短时，会导致在该段较短的时间内获得的用于评价闭环功率控制性能的信息(比如发射端平均发射功率的值等)比较少，不利于对闭环功率控制性能的评估，此时可考虑将第二物理信道衰落环境所要求的BLERTarget设置为小于第一物理信道衰落环境所要求的BLERTarget，以使得BLER收敛至BLERTarget的时间较长，从而能够获得较多的评价闭环功率控制性能的信息，实现根据该些信息对闭环功率控制性能的全面评估。

相应地，本发明实施例还提供一种闭环功率控制性能的测试设备，该设备的具体结构示意图如图2所示，包括以下功能单元：

第一时间点确定单元21，用于针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的至少一个过程，分别确定第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境时的各第一时间点；

第二时间点确定单元22，用于监控处于第二物理信道衰落环境中的接收端的误块率BLER的值，分别确定监控的BLER的值收敛至对应于各个上述过程的第二物理信道衰落环境所要求的BLER目标值BLERTarget时的各第二时间点；

时间长度确定单元23，用于根据第一时间点确定单元21确定的各第一时间点与第二时间点确定单元22确定的相应的各第二时间点，确定BLER的值收敛至BLERTarget所需的时间长度；

性能确定单元24，用于根据与时间长度确定单元23确定的时间长度相关的信息，确定闭环功率控制性能。

在一个较佳的实施例中，上述与时间长度相关的信息为下述信息中的一项或多项的组合：

该时间长度的值；该时间长度内的发射端平均发射功率的值；该时间长度内的发射端发射功率累计概率分布统计值；该时间长度内的接收端信干比累计概率分布统计值。

在一个较佳的实施例中，所述时间长度确定单元具体可以包括：第一确定模块，用于根据各第一时间点与相应的第二时间点，分别确定各第一时间点与相应的第二时间点之间的各个时间长度；第二确定模块，用于以第一确定模块确定的各个时间长度之和除以上述过程的个数得到的时间长度平均值，作为BLER的值收敛至BLERTarget所需的时间长度。

在一个较佳的实施例中，第一物理信道衰落环境为发射端发射功率为第一预定发射功率的物理信道衰落环境，第二物理信道衰落环境为发射端发射功率为第二预定发射功率的物理信道衰落环境；

而在第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的一个过程中，第一、第二预定发射功率的值可以分别为：介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值；或最大发射功率值、介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值；或最小发射功率值、介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值。

在一个较佳的实施例中，第一物理信道衰落环境所要求的BLERTarget可以大于或等于第二物理信道衰落环境所要求的BLERTarget。

以下以本发明实施例提供的上述方案在实际中的一个具体应用为例，详细说明上述方案的实现过程。

为了便于理解，首先需要对本方案在实际中的应用环境进行介绍。该应用环境的示意图如图3所示，其为一个对实际的通信系统进行仿真的仿真测试系统，对该仿真测试系统的主要组成单元及其功能的介绍如下。值得说明的是，本方案也可以在实际的通信系统实现，下述实施例仅用于对本方案的一种实施情况进行说明，而不是对本方案实施过程的一种限定。

中央控制单元31，主要负责加载测试脚本，根据测试脚本控制基站仿真单元32(该单元也可以称为系统模拟单元)、信道仿真单元33、可调衰减器34、加性高斯白噪声(AWGN，Additive White Gaussian Noise)信号发生单元35、收敛时间计算单元36、累积概率分布监控单元37、BLER监控单元38等。

基站仿真单元32，用于对实际的通信系统中的基站进行模拟，可以看做产生并发射原始信号的发射端，该基站仿真单元32可采用通过以太网或者通用接口总线(GPIB，General-Purpose Interface Bus)等方式被中央控制单元31控制，中央控制单元31通过对基站仿真单元32的控制，可以改变其发射功率大小。基站仿真单元32产生的原始信号会发送给信道仿真单元33。

信道仿真单元33，用于仿真物理信道，并根据设置的信道仿真模型和可调衰减器34发送的衰减值，对基站仿真单元32发送的原始信号进行处理，并将处理后的信号发送给接收端39，中央控制单元31可通过以太网或者GPIB线等方式控制信道仿真单元33，从而可以实现实时更改信道仿真模型，达到改变物理信道衰减环境的目的。

可调衰减器34，用于通过GPIB线或串口等与中央控制单元31相连接，并接受中央控制单元31的控制，以实时生成衰减值并提供给信道仿真单元33。需要说明的是，图3中可以只包括可调衰减器34，也可以还包括另一个可调衰减器312。可调衰减器312的作用主要是对合路器310得到的信号执行衰减操作。

AWGN信号发生单元35，用于在中央控制单元31的控制下产生AWGN信号并提供给合路器310，根据实际需求，AWGN信号发生单元35可以在中央控制单元31的控制下灵活改变AWGN信号的频率、幅度等。视实际需求的不同，中央控制单元31可以控制AWGN信号发生单元35处于工作或非工作状态。

收敛时间计算单元36为该仿真系统的核心单元，用于在中央控制单元31的控制下，根据发生物理信道衰减环境改变的时间点、BLER监控单元38在上述环境改变后所监控到的收敛到BLERTargct值的BLER的值的出现时间点，从而确定接收端的BLER的值收敛至BLERTarget所需要的时间长度。其可通过以太网、GPIB线、串口等方式被中央控制单元31所控制。

累计概率分布监控单元37，用于在物理信道衰减环境改变后，确定发射端在上述时间长度内的发射功率累计概率分布统计值，或者确定接收端在上述时间长度内的SIR累积概率分布统计值，累计概率分布监控单元37也可通过以太网、GPIB线、串口等方式与中央控制单元31连接。

BLER监控单元38，用于监控接收端39的BLER的值的变化情况，其也可通过以太网、GPIB线、串口等方式与中央控制单元31连接。

合路器310，用于在AWGN信号发生单元35处于工作状态时，对AWGN信号发生单元35发送的AWGN信号和信道仿真单元33发送的信号进行合路处理后发送给接收端39，以在合路后的信号中体现出AWGN信号对发射端发射信号的影响。

性能判定单元311，用于根据收敛时间计算单元36确定的时间长度或累计概率分布监控单元37得到的发射功率累计概率分布统计值，来确定闭环功率控制的性能。

以下详细介绍本发明实施例提供的方案在如图3所示的上述系统中进行闭环功率控制性能测试的具体过程。

针对接收端在实际中所遇到的各种情况，本发明实施例中可以考虑主要按照以下三种比较有代表性的情况进行测试，这三种情况分别为：

情况一：物理信道衰减环境改变前后，发射端发射功率的值均介于最大预定发射功率值和预定最小发射功率值之间；

情况二：物理信道衰减环境改变前，发射端发射功率的值为预定最小发射功率值，物理信道衰减环境改变后，发射端发射功率的值为介于最大预定发射功率值和预定最小发射功率值之间的值；

情况三：物理信道衰减环境改变前，发射端发射功率的值为预定最大发射功率值，物理信道衰减环境改变后，发射端发射功率的值为介于最大预定发射功率值和预定最小发射功率值之间的值。

以下分别针对以上三种情况，采用三个实施例对基于上述系统的测试过程进行阐述。为了便于说明，以下将改变前的物理信道衰减环境称为无线物理信道衰减环境1，而将改变后的物理信道衰减环境称为无线物理信道衰减环境2。

针对情况一的一个实施例：

中央控制单元31控制AWGN信号发生单元35产生AWGN信号，同时控制可调衰减器34生成合适的衰减值以及控制信道仿真单元33采用适合的信道仿真模型，以使得可以分别产生满足情况一的无线物理信道衰减环境1和无线物理信道衰减环境2。中央控制单元31可以记录与衰减器34、无线信道仿真单元33、AWGN信号发生单元35的一些相关参数，这样后续就可以根据该些参数重复生成无线物理信道衰减环境1和无线物理信道衰减环境2，以使得采用不同算法进行闭环功率控制性能测试的同一接收端或者采用同一算法的不同接收端可以相同的无线物理信道衰减环境变化情况为基准，以实现对测试结果的比较。中央控制单元31在无线物理信道衰减环境1中，控制基站仿真单元32的发射功率值介于最大预定发射功率值和预定最小发射功率值之间，在无线物理信道衰减环境2中，控制基站仿真单元32的值也介于最大预定发射功率值和预定最小发射功率值之间。

BLER监控单元38可以根据预设的业务的QoS所需要的BLERTarget来确定用于计算BLER的滑动窗W的大小，其中，W＝M/BLERTarget，M为衡量BLER值置信度的一个常数，其可根据实际测试要求来定义，但不宜过大，以免影响测试精度。在确定W的大小后，BLER监控单元38就可以实现对BLER值的实时统计与计算，以监控BLER是否已经收敛至BLERTarget。由于在实际应用中，监控到的BLER一般是无法收敛到与理论上的BLERTarget的值(即BLERTarget₀)一致的，因此在实际测试中，若BLER监控单元38监控到BLER满足下述公式[1]，就可以认为该BLER已收敛到BLERTarget₀：

BLERTarget₀*(1-Va)≤BLER≤BLERTarget₀*(1+Va)     [1]

其中，Va为预定的门限值参数，其为常数，可以针对不同的物理信道衰减环境和不同的业务而取不同值，一般可为0.3。

针对情况二的一个实施例：

中央控制单元31控制AWGN信号发生单元35产生AWGN信号，同时控制可调衰减器34生成合适的衰减值，以使得可以分别产生满足情况二的无线物理信道衰减环境1和无线物理信道衰减环境2。并且，中央控制单元31控制基站仿真单元32在无线物理信道衰减环境1中以预定最小发射功率值发射原始信号，在无线物理信道衰减环境2中，控制基站仿真单元32的发射功率值也介于最大预定发射功率值和预定最小发射功率值之间。中央控制单元31也可以记录与衰减器34、无线信道仿真单元33、AWGN信号发生单元35的一些相关参数，这样后续就可以根据该些参数重复生成无线物理信道衰减环境1和无线物理信道衰减环境2，以使得采用不同算法进行闭环功率控制性能测试的同一接收端或者采用同一算法的不同接收端可以相同的无线物理信道衰减环境变化情况为基准，以实现对测试结果的比较。

BLER监控单元38实时监控BLER值，由于在无线物理信道衰减环境1中，基站仿真单元32是以预定最小发射功率值发射原始信号，因此BLER监控单元38在无线物理信道衰减环境1中监控到的BLER的值应为0或者远远小于BLERTarget值，否则，可通过中央控制单元31控制可调衰减器34生成的衰减值适当减小，并将修改后的衰减值保存至中央控制单元31中，此时通过外环功率控制，会将SIRTarget调整至接收端所限制的最小值。

针对情况三的一个实施例：

中央控制单元31控制AWGN信号发生单元35产生AWGN信号，同时控制可调衰减器34生成合适的衰减值，以使得可以分别产生满足情况三的无线物理信道衰减环境1和无线物理信道衰减环境2。并且，中央控制单元31在无线物理信道衰减环境1中，控制基站仿真单元32以预定最大发射功率值发射原始信号，在无线物理信道衰减环境2中，控制基站仿真单元32的发射功率值也介于最大预定发射功率值和预定最小发射功率值之间。中央控制单元31也可以记录与衰减器34、无线信道仿真单元33、AWGN信号发生单元35的一些相关参数，这样后续就可以根据该些参数重复生成无线物理信道衰减环境1和无线物理信道衰减环境2，以使得采用不同算法进行闭环功率控制性能测试的同一接收端或者采用同一算法的不同接收端可以相同的无线物理信道衰减环境变化情况为基准，以实现对测试结果的比较。

BLER监控单元38实时监控BLER值，由于在无线物理信道衰减环境1中，基站仿真单元32是以预定最小发射功率值发射原始信号，因此BLER监控单元38在无线物理信道衰减环境1中监控到的BLER的值应大于BLERTarget值所允许的上限值，否则，可通过中央控制单元31控制可调衰减器34生成的衰减值适当增大，并将修改后的衰减值保存至中央控制单元31中，此时通过外环功率控制，会将SIRTarget调整至接收端所限制的最大值。

由于上述三个实施例的后续处理过程比较类似，因此以下一并对其进行概括介绍：

在无线物理信道衰减环境1中，BLER监控单元38在监控到BLER的值达到无线物理信道衰减环境1中的期望值(比如，针对基站仿真单元32以最小发射功率发射原始信号的情况，根据上文可知，该期望值一般为0)后，由中央控制单元31控制信道仿真单元33、可调衰减器34、AWGN信号发生单元35生成无线物理信道衰减环境2。收敛时间计算单元36记录无线物理信道衰减环境1变化为无线物理信道衰减环境2的时刻Ts。从Ts时刻起，累计概率分布计算单元37记录基站仿真单元32在所有业务时隙的发射功率，同时BLER监控单元38监控BLER值。当BLER监控单元38监控到BLER的值收敛至BLERTarget值时，收敛时间计算单元36记录此时的时间Te。收敛时间计算单元36按照下式|2|计算收敛所需时间长度tc：

tc＝Te-Ts                [2]

性能判定单元311可以直接根据收敛时间计算单元36确定的tc来确定闭环功率控制的性能，一般地，tc越大，闭环功率控制的性能越差，而tc越小，闭环功率控制的性能越好。然而，也有可能出现tc很小，但是所需的发射端发射功率非常大，或者tc很大，但是所需的发射端发射功率又很小的情况，因此，为了精确确定闭环功率控制的性能，性能判定单元311一般会考虑根据累计概率分布监控单元37得到的发射功率累计概率分布统计值来确定闭环功率控制的性能。以图4为例，其示意了在测试过程一、二(这两次测试过程应基于相同的无线物理信道衰减环境变化情况，且得到相同tc值)中，发射端发射功率值与tc内发射功率累计概率分布统计值的对应关系，其中，横坐标为发射端的发射功率值(单位dBm)，纵坐标为tc内的发射功率累计概率分布统计值。从图中可以看出，测试过程一在tc内所需的发射端发射功率值较大，测试过程二在tc内所需的发射端发射功率值较小，从而可以判断测试过程一中的闭环功率控制性能较测试过程二中的闭环功率控制性能差。此外，性能判定单元311也可以通过累计概率分布监控单元37得到的发射功率累计概率分布统计值的平均值来确定闭环功率控制性能，均值越小，性能越好。

为了提高测试结果的准确性，上述实施例所述的测试过程可以执行多次，以获得tc和发射功率概率分布统计值的多个测试样本。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (6)

1.一种闭环功率控制性能的测试方法，其特征在于，包括：

针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的至少一个过程，分别确定第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境时的各第一时间点；以及

监控处于第二物理信道衰落环境中的接收端的误块率BLER的值，分别确定监控的BLER的值收敛至对应于各个所述过程的第二物理信道衰落环境所要求的BLER目标值BLERTarget时的各第二时间点；以及

根据各第一时间点与相应的第二时间点，分别确定各第一时间点与相应的第二时间点之间的各个时间长度；

以所述各个时间长度之和除以所述过程的个数得到的时间长度平均值，作为BLER的值收敛至所述BLERTarget所需的时间长度，并根据与所述时间长度相关的信息，确定闭环功率控制性能，与所述时间长度相关的信息为下述信息中的一项或多项的组合：所述时间长度的值；所述时间长度内的发射端平均发射功率的值；所述时间长度内的发射端发射功率累计概率分布统计值；所述时间长度内的接收端信干比累计概率分布统计值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，第一物理信道衰落环境为发射端发射功率为第一预定发射功率的物理信道衰落环境，第二物理信道衰落环境为发射端发射功率为第二预定发射功率的物理信道衰落环境；以及

在第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的一个过程中，所述第一、第二预定发射功率的值分别为：

介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值；或

最大发射功率值、介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值；或

最小发射功率值、介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，第一物理信道衰落环境所要求的BLERTarget大于或等于第二物理信道衰落环境所要求的BLERTarget。

4.一种闭环功率控制性能的测试设备，其特征在于，包括：

第一时间点确定单元，用于针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的至少一个过程，分别确定第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境时的各第一时间点；

第二时间点确定单元，用于监控处于第二物理信道衰落环境中的接收端的误块率BLER的值，分别确定监控的BLER的值收敛至对应于各个所述过程的第二物理信道衰落环境所要求的BLER目标值BLERTarget时的各第二时间点；

时间长度确定单元，包括第一确定模块和第二确定模块，其中，第一确定模块，用于根据各第一时间点与相应的第二时间点，分别确定各第一时间点与相应的第二时间点之间的各个时间长度；第二确定模块，用于以第一确定模块确定的各个时间长度之和除以所述过程的个数得到的时间长度平均值，作为BLER的值收敛至所述BLERTarget所需的时间长度；

性能确定单元，用于根据与时间长度确定单元确定的时间长度相关的信息，确定闭环功率控制性能，与所述时间长度相关的信息为下述信息中的一项或多项的组合：所述时间长度的值；所述时间长度内的发射端平均发射功率的值；所述时间长度内的发射端发射功率累计概率分布统计值；所述时间长度内的接收端信干比累计概率分布统计值。

5.如权利要求4所述的测试设备，其特征在于，第一物理信道衰落环境为发射端发射功率为第一预定发射功率的物理信道衰落环境，第二物理信道衰落环境为发射端发射功率为第二预定发射功率的物理信道衰落环境；以及

在第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的一个过程中，所述第一、第二预定发射功率的值分别为：

介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值；或

最大发射功率值、介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值；或

最小发射功率值、介于预定最大发射功率值与预定最小发射功率值之间的发射功率值。

6.如权利要求4或5所述的测试设备，其特征在于，第一物理信道衰落环境所要求的BLERTarget大于或等于第二物理信道衰落环境所要求的BLERTarget。