CN102339249A - 主板测试支架 - Google Patents

主板测试支架 Download PDF

Info

Publication number
CN102339249A
CN102339249A CN2010102391656A CN201010239165A CN102339249A CN 102339249 A CN102339249 A CN 102339249A CN 2010102391656 A CN2010102391656 A CN 2010102391656A CN 201010239165 A CN201010239165 A CN 201010239165A CN 102339249 A CN102339249 A CN 102339249A
Authority
CN
China
Prior art keywords
mainboard
measured
auxiliary supports
framework
rear wall
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2010102391656A
Other languages
English (en)
Inventor
黄发生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2010102391656A priority Critical patent/CN102339249A/zh
Priority to US12/859,290 priority patent/US8369098B2/en
Publication of CN102339249A publication Critical patent/CN102339249A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002—Electrical device making
    • Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/4913—Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.

Abstract

一种主板测试支架，用于支撑一待测主板，所述主板测试支架包括一框架、一第一辅助支撑件及一第二辅助支撑件，所述框架包括一前壁、一后壁及两侧壁，所述前壁、所述后壁及两侧壁围成一收容区，所述第一及第二辅助支撑件容置在所述收容区内，且所述第一及第二辅助支撑件的两端分别固定在所述前壁及后壁的内侧，所述第一及第二辅助支撑件的上表面与所述框架的前壁、后壁及两侧壁的上表面在同一平面，所述第一及第二辅助支撑件及所述框架上均设有对应所述待测主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿过所述待测主板上的通孔及所述主板测试支架上的螺孔来固定并支撑所述待测主板。本发明防止了所述待测主板在测试时被压弯变形。

Description

主板测试支架
技术领域
本发明涉及一种主板测试支架。
背景技术
随着电脑运算速度的不断加快，作为电脑核心部件CPU的功耗也越来越大，相对应电脑CPU散热要求也越来越高，而更高的散热要求使得CPU散热器越做越大，重量也随之加重。在计算机主机板的研发和制造阶段，需要单独对主板进行信号完整性、功能型、可靠性等一系列的测试，此时主板没有固定在机箱内，而是用一些螺柱加以支撑，此时过重的CPU散热器会把主机板压弯造成PCB形变，进而造成PCB内信号走线发生形变或断裂。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种主板测试支架，以支撑主板以防止主板在测试时被压弯变形。
一种主板测试支架，用于支撑一待测主板，所述主板测试支架包括一框架、一第一辅助支撑件及一第二辅助支撑件，所述框架包括一前壁、一后壁及两侧壁，所述前壁、后壁及两侧壁围成一收容区，所述第一及第二辅助支撑件设置在所述前壁与所述后壁之间，所述第一及第二辅助支撑件的两端分别固定在所述前壁及后壁的内侧，所述第一及第二辅助支撑件的上表面与所述框架的前壁、后壁及两侧壁的上表面在同一平面，所述第一及第二辅助支撑件及所述框架上均设有对应所述待测主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿过所述待测主板上的通孔及所述主板测试支架上的螺孔来固定并支撑所述待测主板。
本发明主板测试支架包括所述框架、所述第一辅助支撑件及第二辅助支撑件，当所述待测主板进行测试时通过所述框架、所述第一及第二辅助支撑件可以对所述待测主板进行有效地支撑，从而防止了所述待测主板在测试时被压弯变形。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
图1是本发明主板测试支架第一较佳较佳实施方式的示意图。
图2是图1主板测试支架支撑的待测主板的示意图。
图3是图1主板测试支架支撑待测主板的示意图。
图4是本发明主板测试支架第二较佳较佳实施方式的示意图。
主要元件符号说明
待测主板          1
第一列通孔        2
第二列通孔        3
第三列通孔        4
第四列通孔        5
公头螺柱          6
母头螺柱          7
滑槽              8
散热元件          9
框架              10
前壁              11
后壁              12
侧壁              13
收容区            14
第一辅助支撑件    20
第二辅助支撑件    30
第一列螺孔      41
第二列螺孔      42
第三列螺孔      43
第四列螺孔      44
层绝缘材料      50
主板测试支架    100
具体实施方式
请参考图1及图2，本发明主板测试支架100用于支撑一待测主板1。所述主板测试支架100第一较佳实施方式包括一框架10、一第一辅助支撑件20及一第二辅助支撑件30。所述框架10、所述第一及第二辅助支撑件20、30是由刚性材料制成的。所述待测主板1的两侧缘处开设有第一及第二列通孔2、3，所述待测主板1还在靠近其一侧缘处开设有平行于其两侧缘的第三及第四列通孔4、5。一散热元件9设置于所述第二列通孔3与所述第四列通孔5之间。
所述框架10的轮廓尺寸与所述待测主板1的轮廓尺寸相同。所述框架10呈长方形，其包括一前壁11、一后壁12及两侧壁13。所述前壁11、所述后壁12及两侧壁13一体成型，并共同围成一收容区14。所述第一及第二辅助支撑件20、30呈条状。所述第一及第二辅助支撑件20、30设置在所述前壁11与所述后壁12之间且与所述两侧壁13平形，所述第一及第二辅助支撑件20、30的两端分别固定在所述框架10的前壁11及后壁12靠近一侧壁13的内侧使得所述第一及第二支撑件20、30对应所述主板1上的第三及第四列通孔4、5。所述第一及第二辅助支撑件20、30的上表面与所述框架10的前壁11、后壁12及两侧壁13的上表面在同一平面。所述两侧壁13上分别开设对应所述待测主板1的第一及第二列通孔2、3的第一及第二列螺孔41、42。所述第一辅助支撑件20上开设对应所述待测主板1的第三列通孔4的第三列螺孔43。所述第二辅助支撑件30上开设对应所述待测主板1上的第四列通孔5的第四列螺孔44。所述第一及第二辅助支撑件20、30的上表面与所述框架10的前壁11、后壁12及两侧壁13的上表面除了第一至第四列螺孔41-44的位置外均贴附一层绝缘材料50来使所述主板测试支架100与所述待测主板1绝缘。
请参考图3，当需要对所述待测主板1进行测试时，将所述待测主板1置于所述主板测试支架100上，使得所述待测主板1上的第一至第四列通孔2-5分别对应所述主板测试支架100上的第一至第四列螺孔41-44，通过若干公头螺柱6穿过每一通孔及对应的每一螺孔与若干母头螺柱7锁合来将所述待测主板1固定并支撑在所述主板测试支架100上。
在其他实施方式中，所述第一及第二辅助支撑件20、30在所述前壁11及后壁12的内侧的位置可以根据实际进行调整。所述第一及第二辅助支撑件20、30也可滑动地固定在所述框架10的前壁11及后壁12的内侧，即在所述框架10的前壁11及后壁12的内侧分别开设一滑槽8(请参考图4)使所述第一及第二辅助支撑件20、30的两端分别容置在所述前壁11及后壁12的滑槽8内，并根据需要选择性地固定在滑槽8的任意位置，如通过螺丝穿过所述前壁11及后壁12的底部与所述第一及第二支撑件20、30的两端锁合的方式固定。从而可以通过调节所述第一及第二辅助支撑件20、30固定在所述滑槽内的位置来对应不同待测主板的通孔位置从而对不同待测主板进行固定和支撑。所述框架10上的螺孔的位置可以根据支撑的待测主板上的通孔的位置不同来适应性地改变。所述第一及第二辅助支撑件20、30的数量可以根据实际需要进行调整。
由于所述主板测试支架100包括所述框架10、所述第一辅助支撑件20及第二辅助支撑件30，当所述待测主板1进行测试时对所述待测主板1进行支撑，从而防止了所述待测主板1在测试时由于所述散热元件9的重量过重而将所述待测主板1压弯变形。

Claims (6)

1.一种主板测试支架，用于支撑一待测主板，所述主板测试支架包括一框架、一第一辅助支撑件及一第二辅助支撑件，所述框架包括一前壁、一后壁及两侧壁，所述前壁、后壁及两侧壁围成一收容区，所述第一及第二辅助支撑件设置在所述前壁与所述后壁之间，所述第一及第二辅助支撑件的两端分别固定在所述前壁及后壁的内侧，所述第一及第二辅助支撑件的上表面与所述框架的前壁、后壁及两侧壁的上表面在同一平面，所述第一及第二辅助支撑件及所述框架上均设有对应所述待测主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿过所述待测主板上的通孔及所述主板测试支架上的螺孔来固定并支撑所述待测主板。
2.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于：所述框架的前壁及后壁的内侧分别开设一滑槽使所述第一及第二辅助支撑件的两端分别容置并滑动固定在所述前壁及后壁的滑槽内。
3.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于：所述待测主板的两侧缘处开设有第一及第二列通孔，所述待测主板还在靠近其一侧缘处开设有平行于其两侧缘的第三及第四列通孔，所述框架的两侧壁上分别开设对应所述待测主板的第一及第二列通孔的第一及第二列螺孔，所述第一辅助支撑件上开设对应所述待测主板的第三列通孔的第三列螺孔，所述第二辅助支撑件上开设对应所述待测主板上的第四列通孔的第四列螺孔。
4.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于：所述框架、所述第一及第二辅助支撑件均由刚性材料制成。
5.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于：所述第一及第二辅助支撑件的上表面与所述框架的上表面除了螺孔的位置外均贴附一层绝缘材料。
6.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于：所述框架的轮廓尺寸与所述待测主板的轮廓尺寸相同。
CN2010102391656A 2010-07-28 2010-07-28 主板测试支架 Pending CN102339249A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010102391656A CN102339249A (zh) 2010-07-28 2010-07-28 主板测试支架
US12/859,290 US8369098B2 (en) 2010-07-28 2010-08-19 Bracket for supporting motherboard

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010102391656A CN102339249A (zh) 2010-07-28 2010-07-28 主板测试支架

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102339249A true CN102339249A (zh) 2012-02-01

Family

ID=45514991

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010102391656A Pending CN102339249A (zh) 2010-07-28 2010-07-28 主板测试支架

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8369098B2 (zh)
CN (1) CN102339249A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105578787A (zh) * 2015-12-17 2016-05-11 东莞市秦智工业设计有限公司 一种印制电路板组件的检验罩板
CN111198317A (zh) * 2018-11-19 2020-05-26 深圳市艾诺信射频电路有限公司 一种高频电路板互调测试加固装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWM478982U (zh) * 2013-11-18 2014-05-21 Gigazone Int Co Ltd 承載架及機箱

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2757135Y (zh) * 2004-12-07 2006-02-08 环隆电气股份有限公司 电路板的测试治具

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5516089A (en) * 1994-12-30 1996-05-14 Gerber Systems Corporation Adjustable workpiece locating unit
US5661640A (en) * 1996-01-05 1997-08-26 Dell Usa, L.P. Computer chassis having a size-adjustable, TEM-shielded circuit board support plate structure therein
US5838538A (en) * 1996-11-14 1998-11-17 Intel Corporation Computer system with a chassis equipped with support structures configured to support multiple length versions of a printed circuit board
WO1998057873A1 (fr) * 1997-06-18 1998-12-23 Sony Corporation Dispositif de stockage pour elements
US6164636A (en) * 1999-02-23 2000-12-26 S.P. Precision International, Ltd. Printed circuit board fixture
TW417904U (en) * 1999-05-28 2001-01-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Fastening device for expansion card
US6164634A (en) * 1999-07-23 2000-12-26 Farlow; Douglas T. Adjustable tooling pins
TW453460U (en) * 1999-09-23 2001-09-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Mainboard supporting apparatus
WO2001069359A1 (en) * 2000-03-15 2001-09-20 J-Line Co, Ltd. Computer case
US6813161B2 (en) * 2002-05-09 2004-11-02 Gateway, Inc. Movable standoff for mounting a circuit board
TW532714U (en) * 2002-06-28 2003-05-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Position-adjusting device
US6761273B1 (en) * 2002-12-30 2004-07-13 First International Computer Inc. Fast installation/removal structure for circuit board
US6874226B2 (en) * 2003-03-06 2005-04-05 James Gleason Circuit board pallet with improved securement pin
TW572572U (en) * 2003-05-05 2004-01-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Mounting apparatus for motherboard
TWM248218U (en) * 2003-11-18 2004-10-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd A mounting device for a motherboard tray
TWM247897U (en) * 2003-11-21 2004-10-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Mounting apparatus for motherboard
CN2715219Y (zh) * 2004-06-15 2005-08-03 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主机板固定装置
CN2731532Y (zh) * 2004-08-27 2005-10-05 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主机板固定装置
CN101118308A (zh) * 2006-08-03 2008-02-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 托盘定位装置
US7609525B2 (en) * 2006-12-09 2009-10-27 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Computer system
US8749967B2 (en) * 2010-03-17 2014-06-10 PC Partner (Dongguan) Limited Mounting structure for Mini PCI-E equipment and a computer using the same
US8757874B2 (en) * 2010-05-03 2014-06-24 National Instruments Corporation Temperature sensing system and method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2757135Y (zh) * 2004-12-07 2006-02-08 环隆电气股份有限公司 电路板的测试治具

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105578787A (zh) * 2015-12-17 2016-05-11 东莞市秦智工业设计有限公司 一种印制电路板组件的检验罩板
CN105578787B (zh) * 2015-12-17 2018-07-27 佛山市顺德区博为电器有限公司 一种印制电路板组件的检验罩板
CN111198317A (zh) * 2018-11-19 2020-05-26 深圳市艾诺信射频电路有限公司 一种高频电路板互调测试加固装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20120026683A1 (en) 2012-02-02
US8369098B2 (en) 2013-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8493718B2 (en) Server
Pitarresi et al. Mechanical shock testing and modeling of PC motherboards
CN102339249A (zh) 主板测试支架
US20150285695A1 (en) Load cell
US9320157B2 (en) Display device
US10197621B2 (en) Testing device
CN209297671U (zh) Led显示屏背架组件和led显示屏背架
CN101761830A (zh) 一种背光模组
US8553418B2 (en) Mounting apparatus for power supply unit
KR101814085B1 (ko) 서버랙 용 컴퓨터 케이스
CN102620132B (zh) 壁挂结构及相应的液晶显示装置
CN209878808U (zh) 一种间距可调的试验装置
CN102200809A (zh) 磁碟机固定装置
CN207663439U (zh) 一种计算机硬盘测试装置
CN204422050U (zh) 电子秤
CN218352799U (zh) 一种便于拆卸的组装式接口电路板
CN201716090U (zh) 电子秤
US20170285407A1 (en) Backlight module and display device
CN102681623A (zh) 扩充卡固定装置
CN101330810B (zh) 固定支架
CN102563311A (zh) 伸缩支架
CN104699196B (zh) 内存固定结构
CN102829450A (zh) 具有反射片补强结构的背板组件及液晶显示装置
CN105138077A (zh) 计算机
CN202694232U (zh) 机箱电源支撑结构

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20120201