CN102339157B - 触控面板的触碰探测方法及触碰探测装置 - Google Patents

Abstract

一种用于触控面板的触碰探测方法，包含有：在第一时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第一触碰数据；依据该第一触碰数据得到第一触碰点数量；在第二时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第二触碰数据，其中该第一时间点不同于该第二时间点；依据该第二触碰数据得到第二触碰点数量；比较该第一触碰点数量与该第二触碰点数量来产生一比较结果；并依据该比较结果来决定是否使用该第二触碰数据来决定触碰探测结果。

Description

触控面板的触碰探测方法及触碰探测装置

技术领域

本发明涉及触控面板的触碰探测方法及其相关装置，特别地，涉及一种判断触控点特征来决定是否重新扫描的触碰探测方法及其相关装置。

背景技术

在现代化电子商品当中，电容式触控面板由于简单易操作的特性而常被用来作为使用者与机器的沟通接口，其中投射式电容(projective capacitive)因具有支持多点触控(multi touch)、较高的透光率以及省电等特性而被广泛地应用在手机、车用导航器等可携式装置上。然而，由于电子商品的普及，一般的触控系统在使用时，往往会被环境中其它的噪声来源所干扰，例如：手机的射频(radiofrequency，RF)噪声、电源噪声等等，这些干扰源所产生的噪声通常并不具有规律性，因此无法锁定特定的频率来源而加以滤除。倘若这些噪声在信号处理进入数字阶段之前便对触控面板所产生的触碰信号产生干扰，则触控面板在经过模拟/数字转换取样后的数据会因这些不规律的噪声所干扰，进而在后端处理时产生误判而将噪声误认为触碰点或将原有的触碰点判定为不存在，导致最后其所显示的触碰点数量与实际不符。因此，如何避免外在的噪声干扰以进行正确的触碰点判定仍是该领域的一大课题。

发明内容

依据本发明的第一实施例，其提供了一种用于触控面板的触碰探测方法，包含有：在第一时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第一触碰数据；依据该第一触碰数据得到第一触碰点数量；在第二时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第二触碰数据，其中该第一时间点不同于该第二时间点；依据该第二触碰数据得到第二触碰点数量；比较该第一触碰点数量与该第二触碰点数量来产生一比较结果；以及依据该比较结果来决定是否使用该第二触碰数据来决定触碰探测结果。

根据该实施例所述的触碰探测方法，其中依据该比较结果来决定是否使用该第二触碰数据来决定该触碰探测结果的步骤包含有：当该第二触碰点数量不同于该第一触碰点数量时，在不同于该第一时间点与该第二时间点的第三时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并依据该第三触碰数据来决定该触碰探测结果；以及当该第二触碰点数量等于该第一触碰点数量时，依据该第二触碰数据来决定该触碰探测结果。

根据该实施例所述的触碰探测方法，其还包含有：依据该第二触碰数据得到第一触碰点位置信息；其中依据该比较结果来决定是否使用该第二触碰数据来决定该触碰探测结果的步骤包含有：当该第二触碰点数量不同于该第一触碰点数量时：在不同于该第一时间点与该第二时间点的第三时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据；依据该第三触碰数据得到第三触碰点数量；比较该第二触碰点数量与该第三触碰点数量；当该第三触碰点数量等于该第二触碰点数量时，使用该第一触碰点位置信息来作为该触碰探测结果；以及当该第三触碰点数量不同该第二触碰点数量时，依据该第三触碰数据得到第二触碰点位置信息，并使用该第二触碰点位置信息来作为该触碰探测结果；以及当该第二触碰点数量等于该第一触碰点数量时，使用该第一触碰点位置信息来作为该触碰探测结果。

依据本发明的第二实施例，其提供了一种用于触控面板的触碰探测方法，包含有：在第一时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第一触碰数据；依据该第一触碰数据得到第一触碰点位置信息；在第二时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第二触碰数据，其中该第一时间点不同于该第二时间点；依据该第二触碰数据得到第二触碰点位置信息；比较该第一触碰点位置信息以及该第二触碰点位置信息来产生一比较结果；以及依据该比较结果来决定是否使用该第二触碰数据来决定触碰探测结果。

根据该实施例所述的触碰探测方法，其中依据至少该比较结果来决定是否使用该第二触碰数据来决定该触碰探测结果的步骤包含有：当该第二触碰点位置信息不同于该第一触碰点位置信息时，在不同于该第一时间点与该第二时间点的第三时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并依据该第三触碰数据来决定该触碰探测结果；以及当该第二触碰点位置信息等于该第一触碰点位置信息时，依据该第二触碰数据来决定该触碰探测结果。

依据本发明的第三实施例，其提供了一种用于触控面板的触碰探测装置，包含有：探测电路以及决定电路。该探测电路用以在第一时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第一触碰数据并依据该第一触碰数据得到第一触碰点数量；以及在第二时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第二触碰数据并依据该第二触碰数据得到第二触碰点数量，其中该第一时间点不同于该第二时间点。该决定电路耦接于该探测电路，用以比较该第一触碰点数量与该第二触碰点数量来产生一比较结果，并依据该比较结果来决定是否使用该第二触碰数据来决定触碰探测结果。

根据该实施例所述的触碰探测装置，其中当该第二触碰点数量不同于该第一触碰点数量时，该探测电路在不同于该第一时间点与该第二时间点的第三时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并且该决定电路依据该第三触碰数据来决定该触碰探测结果；以及当该第二触碰点数量等于该第一触碰点数量时，该决定电路依据该第二触碰数据来决定该触碰探测结果。

根据该实施例所述的触碰探测装置，其中该探测电路另依据该第二触碰数据得到第一触碰点位置信息；当该第二触碰点数量不同于该第一触碰点数量时，该探测电路在不同于该第一时间点与该第二时间点的第三时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并依据该第三触碰数据得到第三触碰点数量，而该决定电路则比较该第二触碰点数量与该第三触碰点数量，其中当该第三触碰点数量等于该第二触碰点数量时，该决定电路使用该第一触碰点位置信息来作为该触碰探测结果，以及当该第三触碰点数量不同该第二触碰点数量时，该探测电路依据该第三触碰数据得到第二触碰点位置信息，并且该决定电路使用该第二触碰点位置信息来作为该触碰探测结果；以及当该第二触碰点数量等于该第一触碰点数量时，该决定电路使用该第一触碰点位置信息来作为该触碰探测结果。

依据本发明的第四实施例，其提供了一种用于触控面板的触碰探测装置，包含有探测电路以及决定电路。该探测电路用以在第一时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第一触碰数据并依据该第一触碰数据得到第一触碰点位置信息；以及在第二时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第二触碰数据并依据该第二触碰数据得到第二触碰点位置信息，其中该第一时间点不同于该第二时间点。该决定电路耦接于该探测电路，用以比较该第一触碰点位置信息与该第二触碰点位置信息来产生一比较结果，并依据该比较结果来决定是否使用该第二触碰数据来决定触碰探测结果。

根据该实施例所述的触碰探测装置，其中当该第二触碰点位置信息不同于该第一触碰点位置信息时，该探测电路在不同于该第一时间点与该第二时间点的第三时间点，依据该触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并且该决定电路依据该第三触碰数据来决定该触碰探测结果；以及当该第二触碰点位置信息等于该第一触碰点位置信息时，该决定电路依据该第二触碰数据来决定该触碰探测结果。

附图说明

图1为依据本发明的实施例所实现的应用于一触控面板的触碰探测装置。

图2为依据本发明的实施例所实现的触碰探测方法的流程图。

图3为依据本发明的另一实施例所实现的触碰探测方法的流程图。

具体实施方式

请参照图1，其为依据本发明的的一个实施例所实现的应用于触控面板101的触碰探测装置100。触碰探测装置100包含有探测电路110以及决定电路120。探测电路110用以在第一时间点T1依据触控面板101的触碰事件来得到第一触碰数据D1，并依据第一触碰数据D 1来得到第一触碰点数量N1；同样地，探测电路110在第二时间点T2，依据触控面板101的触碰事件来得到第二触碰数据D2，并依据第二触碰数据D2得到第二触碰点数量N2，其中第一时间点T1不同于第二时间点T2。决定电路120则比较第一触碰点数量N1与第二触碰点数量N2来产生一比较结果CR，并依据比较结果CR来决定是否使用第二触碰数据D2来决定触碰探测结果。

由于外来的噪声是以随机的方式所产生，本发明所提供的探测电路110会分别在两个不同的时间点T1、T2探测并针对触碰点数量N1、N2来加以比较，当所探测到的触碰点数量不同，亦即N1≠N2时，则代表外来的噪声影响到触碰点的判定，因此，探测电路110会接着在不同于第一时间点T1与第二时间点T2的第三时间点T3，依据触控面板101的触碰事件来得到第三触碰数据D3，并由依据第三触碰数据D3来决定出该触碰探测结果。然而，当所探测到的触碰点数量相同，亦即N1＝N2时，则代表触碰点的判定并未受到外来噪声的影响，此时，决定电路120便依据第二触碰数据D2来决定该触碰探测结果。请注意，在此当所探测到的触碰点数量相同时，即代表第一触碰数据D 1等同于第二触碰数据D2，因此，也可依据第一触碰数据D1来决定该触碰探测结果。

请结合图1来参照图2以了解触碰探测装置100的操作，图2为依据本发明的实施例所实现的触碰探测方法的流程图。倘若大体上可达到相同的结果，并不需要一定遵照图2所示的流程中的步骤顺序来进行，且图2所示的步骤不一定要连续进行，亦即，其它步骤可插入其中；详细操作步骤如下所述：

201：开始。

203：扫描一触控面板并获取触碰数据。

205：依据该触碰数据来计算触碰点数量。

207：检查触碰点数量是否有改变，若触碰点数量有改变，则到步骤209；反之，到步骤211。

209：扫描该触控面板并获取修正触碰数据。

211：依据该触碰数据或该修正触碰数据来输出触碰探测结果。

首先，触碰探测装置100会应用探测电路110来开始对触控面板101进行扫描，并将扫描结果经过模拟/数字转换得到触碰数据D(步骤203)。接着，探测电路110会依据触碰数据D来计算触碰点数量N(步骤205)。在此同时，决定电路120会以先前已储存的既有触碰点数量N0(在此实例中，既有触碰点数量N0为上次对触控面板101进行扫描所得到，亦即，既有触碰点数量N0与触碰点数量N为在先后两个不同时间点(例如，第一时间点T1与第一时间点T2)进行扫描所得到的结果)来与触碰点数量N作比较(步骤207)，当既有触碰点数量N0与触碰点数量N不同时，亦即N0≠N，触碰探测装置100会再次应用探测电路110来开始对触控面板101进行扫描，并将扫描结果经过模拟/数字转换以得到修正触碰数据D’(步骤209)，而触碰探测装置100便依据修正触碰数据D’来输出触碰探测结果(步骤211)，并将修正触碰数据D’设定为既有触碰数据D0，接着回到步骤203，在此，修正触碰数据D’为在第三时间点T3进行扫描所得到的结果(第三时间点T3不同于第一时间点T1以及第二时间点T2)。而当既有触碰点数量N0与触碰点数量N相同时，亦即N0＝N，触碰探测装置100便依据触碰数据D来输出触碰探测结果(步骤211)，并将触碰数据D设定为既有触碰数据D0，回到步骤203。

然而，前述的实施例仅为用来说明本发明的精神，并非用来限制本发明的范围。举例来说，步骤205中，探测电路110可依据触碰数据D来计算触碰点位置信息P，并在步骤207中，决定电路120转而比较触碰点位置信息P与既有触碰点位置信息P0(同样地，既有触碰点位置信息P0为上次对触控面板101进行扫描所得到)。此设计只是本发明在实际操作上的变化，凡是探测触碰点相关信息的变化，并依据该变化探测结果来决定是否重新进行扫描以输出触碰点探测结果的方法与相关装置，均属于本发明的范畴之内。

请再参照图3，图3为依据本发明的另一实施例所实现的触碰探测方法的流程图。倘若大体上可达到相同的结果，并不需要一定遵照图3所示的流程中的步骤顺序来进行，且图3所示的步骤不一定要连续进行，亦即，其它步骤可插入其中；详细操作步骤如下所述：

301：开始。

303：扫描触控面板并获取触碰数据。

305：依据该触碰数据来计算触碰点数量以及触碰点位置信息。

307：检查触碰点数量是否有改变，若触碰点数量有改变，则到步骤309；反之，到步骤317。

309：扫描该触控面板并获取修正触碰数据。

311：依据该修正触碰数据来计算修正触碰点数量。

313：检查该修正触碰点数量与该触碰点数量是否相同，若该修正触碰点数量与该触碰点数量不同，则到步骤315；反之，到步骤317。

315：依据该修正触碰数据来计算修正触碰点位置信息。

317：依据该触碰数据或该修正触碰数据来输出触碰探测结果。

首先，触碰探测装置100同样会应用探测电路110来开始对触控面板101进行扫描，并将扫描结果经过模拟/数字转换以得到触碰数据D(步骤303)。接着，探测电路110会依据触碰数据D来计算触碰点数量N以及触碰点位置信息P(步骤305)。决定电路120会以先前已储存的既有触碰点数量N0来与触碰点数量N作比较(步骤307)。当既有触碰点数量N0与触碰点数量N不同时，亦即N0≠N，触碰探测装置100会再次应用探测电路110来开始对该触控面板进行扫描，并将扫描结果经过模拟/数字转换以得到修正触碰数据D’(步骤309)，且探测电路110会依据修正触碰数据D’来计算修正触碰点数量N’(步骤311)，接下来，决定电路120会再次比较触碰点数量N以及修正触碰点数量N’，当触碰点数量N以及修正触碰点数量N’不同时，亦即N≠N’，探测电路110才会依据修正触碰数据D’来计算修正触碰点位置信息P’(步骤315)，并由触碰探测装置100来依据修正触碰点位置信息P’来输出触碰探测结果(步骤317)；然而，当触碰点数量N以及修正触碰点数量N’相同时，亦即N＝N’，触碰探测装置100则会依据之前在步骤305得到的触碰点位置信息P来输出该触碰探测结果(步骤317)。而在步骤307中，当既有触碰点数量N0与触碰点数量N相同时，亦即N0＝N，触碰探测装置100则直接依据触碰点位置信息P来输出该触碰探测结果(步骤317)。

由以上叙述可知，图3所示的流程与图2所示的流程大致相同，主要差异仅在于图3的步骤313会再次确认触碰点数量N与修正触碰点数量N’是否相同才会进一步计算出修正触碰位置信息P’。此设计上的变化也落在本发明的保护范围之内。

综上所述，本发明提供了一种应用于触控面板的触碰探测方法及其相关装置，经由探测触碰点相关信息(例如触碰点的数量或位置等信息)的变化，本发明可以轻易判断是否有因噪声而形成的错误触碰点，并将该些不需要的错误触碰点滤除，此外，不需要额外增加其它的数据处理程序便可快速判断出正确的触碰点并增加系统的稳定度。

以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求所做的各种变化与修饰，皆应属本发明的保护范围之内。

主要组件符号说明

100触碰探测装置            101触控面板

110探测电路                120决定电路

201～211、301～317步骤。

Claims (8)

1.一种用于触控面板的触碰探测方法，包含有：

在第一时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第一触碰数据；

依据所述第一触碰数据得到第一触碰点数量；

在第二时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第二触碰数据，其中所述第一时间点不同于所述第二时间点；

依据所述第二触碰数据得到第二触碰点数量；

比较所述第一触碰点数量与所述第二触碰点数量来产生一比较结果；以及

依据所述比较结果来决定是否使用所述第二触碰数据来决定触碰探测结果。

2.根据权利要求1所述的触碰探测方法，其中依据所述比较结果来决定是否使用所述第二触碰数据来决定所述触碰探测结果的步骤包含有：

当所述第二触碰点数量不同于所述第一触碰点数量时，在不同于所述第一时间点与所述第二时间点的第三时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并依据所述第三触碰数据来决定所述触碰探测结果；以及

当所述第二触碰点数量等于所述第一触碰点数量时，依据所述第二触碰数据来决定所述触碰探测结果。

3.根据权利要求1所述的触碰探测方法，其还包含有：

依据所述第二触碰数据得到第一触碰点位置信息；

其中依据所述比较结果来决定是否使用所述第二触碰数据来决定所述触碰探测结果的步骤包含有：

当所述第二触碰点数量不同于所述第一触碰点数量时：

在不同于所述第一时间点与所述第二时间点的第三时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据；

依据所述第三触碰数据得到第三触碰点数量；

比较所述第二触碰点数量与所述第三触碰点数量；

当所述第三触碰点数量等于所述第二触碰点数量时，使用所述第一触碰点位置信息来作为所述触碰探测结果；以及

当所述第三触碰点数量不同所述第二触碰点数量时，依据所述第三触碰数据得到第二触碰点位置信息，并使用所述第二触碰点位置信息来作为所述触碰探测结果；以及

当所述第二触碰点数量等于所述第一触碰点数量时，使用所述第一触碰点位置信息来作为所述触碰探测结果。

4.一种用于触控面板的触碰探测方法，包含有：

在第一时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第一触碰数据；

依据所述第一触碰数据得到第一触碰点位置信息；

在第二时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第二触碰数据，其中所述第一时间点不同于所述第二时间点；

依据所述第二触碰数据得到第二触碰点位置信息；

比较所述第一触碰点位置信息与所述第二触碰点位置信息来产生一比较结果；以及

依据所述比较结果来决定是否使用所述第二触碰数据来决定触碰探测结果，

其中依据至少所述比较结果来决定是否使用所述第二触碰数据来决定所述触碰探测结果的步骤包含有：

当所述第二触碰点位置信息不同于所述第一触碰点位置信息时，在不同于所述第一时间点与所述第二时间点的第三时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并依据所述第三触碰数据来决定所述触碰探测结果；以及

当所述第二触碰点位置信息等于所述第一触碰点位置信息时，依据所述第二触碰数据来决定所述触碰探测结果。

5.一种用于触控面板的触碰探测装置，包含有：

探测电路，用以在第一时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第一触碰数据并依据所述第一触碰数据得到第一触碰点数量；以及在第二时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第二触碰数据并依据所述第二触碰数据得到第二触碰点数量，其中所述第一时间点不同于所述第二时间点；

决定电路，耦接于所述探测电路，用以比较所述第一触碰点数量与所述第二触碰点数量来产生一比较结果，并依据所述比较结果来决定是否使用所述第二触碰数据来决定触碰探测结果。

6.根据权利要求5所述的触碰探测装置，其中当所述第二触碰点数量不同于所述第一触碰点数量时，所述探测电路在不同于所述第一时间点与所述第二时间点的第三时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并且所述决定电路依据所述第三触碰数据来决定所述触碰探测结果；以及当所述第二触碰点数量等于所述第一触碰点数量时，所述决定电路依据所述第二触碰数据来决定所述触碰探测结果。

7.根据权利要求5所述的触碰探测装置，其中所述探测电路另依据所述第二触碰数据得到第一触碰点位置信息；当所述第二触碰点数量不同于所述第一触碰点数量时，所述探测电路在不同于所述第一时间点与所述第二时间点的第三时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并依据所述第三触碰数据得到第三触碰点数量，而所述决定电路则比较所述第二触碰点数量与所述第三触碰点数量，其中当所述第三触碰点数量等于所述第二触碰点数量时，所述决定电路使用所述第一触碰点位置信息来作为所述触碰探测结果，以及当所述第三触碰点数量不同所述第二触碰点数量时，所述探测电路依据所述第三触碰数据得到第二触碰点位置信息，并且所述决定电路使用所述第二触碰点位置信息来作为所述触碰探测结果；以及当所述第二触碰点数量等于所述第一触碰点数量时，所述决定电路使用所述第一触碰点位置信息来作为所述触碰探测结果。

8.一种用于触控面板的触碰探测装置，包含有：

探测电路，用以在第一时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第一触碰数据并依据所述第一触碰数据得到第一触碰点位置信息；以及在第二时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第二触碰数据并依据所述第二触碰数据得到第二触碰点位置信息，其中所述第一时间点不同于所述第二时间点；

决定电路，耦接于所述探测电路，用以比较所述第一触碰点位置信息与所述第二触碰点位置信息来产生一比较结果，并依据所述比较结果来决定是否使用所述第二触碰数据来决定触碰探测结果，

其中当所述第二触碰点位置信息不同于所述第一触碰点位置信息时，所述探测电路在不同于所述第一时间点与所述第二时间点的第三时间点，依据所述触控面板的触碰事件来得到第三触碰数据，并且所述决定电路依据所述第三触碰数据来决定所述触碰探测结果；以及当所述第二触碰点位置信息等于所述第一触碰点位置信息时，所述决定电路依据所述第二触碰数据来决定所述触碰探测结果。

Images