CN102331586A - 电荷丢失校正 - Google Patents
电荷丢失校正 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102331586A CN102331586A CN2011101605050A CN201110160505A CN102331586A CN 102331586 A CN102331586 A CN 102331586A CN 2011101605050 A CN2011101605050 A CN 2011101605050A CN 201110160505 A CN201110160505 A CN 201110160505A CN 102331586 A CN102331586 A CN 102331586A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- anode
- electric charge
- depth
- interaction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims abstract description 58
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 25
- 230000001915 proofreading effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 18
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 14
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 14
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 14
- QWUZMTJBRUASOW-UHFFFAOYSA-N cadmium tellanylidenezinc Chemical compound [Zn].[Cd].[Te] QWUZMTJBRUASOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims description 2
- 238000009795 derivation Methods 0.000 claims description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 17
- 238000002603 single-photon emission computed tomography Methods 0.000 description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 13
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 239000012217 radiopharmaceutical Substances 0.000 description 7
- 229940121896 radiopharmaceutical Drugs 0.000 description 7
- 230000002799 radiopharmaceutical effect Effects 0.000 description 7
- 238000012636 positron electron tomography Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000036541 health Effects 0.000 description 4
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 description 4
- 206010028980 Neoplasm Diseases 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000012879 PET imaging Methods 0.000 description 2
- 230000003851 biochemical process Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 2
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 2
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 2
- 238000012831 peritoneal equilibrium test Methods 0.000 description 2
- 238000012877 positron emission topography Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 208000021959 Abnormal metabolism Diseases 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007850 degeneration Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000006371 metabolic abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000002503 metabolic effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000035479 physiological effects, processes and functions Effects 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2921—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras
- G01T1/2928—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras using solid state detectors
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/037—Emission tomography
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
本公开涉及辐射检测器(12)中的电荷丢失的校正。在一个实施例中，电荷丢失的校正因数可基于电荷形成事件(48)的辐射检测器(12)内的相互作用深度(82)和横向位置确定。该校正因数可应用于随后测量的信号以校正该测量的信号中的电荷丢失的发生。
Description
技术领域
本文公开的主旨大体上涉及辐射检测技术和系统，并且更加具体地涉及使用这样的系统的信号的检测和校正。
背景技术
在单光子发射计算机断层摄影(SPECT)成像和正电子发射断层摄影(PET)成像中，将放射性药物给予患者。该放射性药物典型地选择成以便基于身体中的生理或生物化学过程优先或差异性地分布在身体中。例如，可选择由肿瘤组织优先处理或吸收的放射性药物。在这样的示例中，该放射性药物将典型地在患者内的肿瘤组织周围采用更大的浓度被放置。
在SPECT和PET成像中，当放射性药物在患者内分解或衰变时产生伽玛射线。这些伽马射线与相应PET或SPECT扫描仪内的检测机构(其能够定位衰变事件)相互作用，由此提供放射性药物分布在患者中的位置的视图。如此，护理者可以观察到放射性药物不成比例地分布在患者中的位置并且可由此识别具有诊断意义的生理结构和/或生物化学过程位于患者内的位置。
用于检测伽玛射线的机构可包括转换材料，其当被伽玛射线撞击时产生可由临近该转换材料的电极检测的电荷。该检测的电荷(其提供关于伽玛射线撞击事件的位点、能量和时序的信息)可进而用于产生经受成像的患者或其他对象的图像。
然而，由于涉及检测器的结构因素，在某些情况下电荷信息可能丢失。例如，由于检测器在测量或读出的各种单位区域(例如像素)中的划分，一般在两个或更多像素之间发生的伽玛射线撞击可能未被检测到或可能另外经受另外会贡献于成像过程的电荷信息中的一些的丢失。该电荷信息的丢失可导致成像系统的降低或退化的性能。
发明内容
在一个实施例中，提供用于校正辐射检测器中的电荷丢失的方法。根据该方法，从该辐射检测器采集一个或多个阳极信号和阴极信号。该一个或多个阳极信号和阴极信号响应于与该辐射检测器的伽玛射线相互作用而出现。对与该辐射检测器的伽玛射线相互作用确定相互作用的深度。确定关于该一个或多个阳极的伽玛射线相互作用的横向位置。该一个或多个阳极信号基于相互作用的深度和横向位置分类到多个谱中之一。基于该一个或多个阳极信号和该一个或多个阳极信号的预期值之间的差别确定校正因数。
在另外的实施例中，提供用于确定在辐射检测器处的信号丢失程度的方法。根据该方法，确定其中辐射在小于该辐射检测器的厚度的深度范围内相互作用的检测事件的第一子集。还确定对应于辐射检测器内检测事件的横向位置的检测事件的第二子集。产生与检测事件关联的阳极信号集的总和的发生频率的计数轮廓。另外，基于该计数轮廓，确定相互作用深度和横向位置的特定值的信号丢失的分数。
在另外的实施例中，提供成像系统。该成像系统包括辐射检测器。该辐射检测器包括直接转换材料、设置在该直接转换材料的第一表面上的一个或多个阴极电极和设置在该直接转换材料的第二表面上的多个阳极电极。该成像系统还包括与该一个或多个阴极电极和多个阳极电极通信的数据采集电路和与该数据采集电路通信的信号处理电路。该成像系统还包括配置成控制该数据采集电路和信号处理电路中的一个或两个的操作并且与其通信的操作员工作站。该数据采集电路、信号处理电路或操作员工作站中的一个或多个配置成执行代码，其当执行时进行下列：处理测量的信号数据集，访问适合校正由于在阳极电极中的两个或更多之间分流或丢失到分开相应阳极电极的间隙所引起的电荷丢失的一个或多个校正因数，以及应用该一个或多个校正因数于该测量的信号数据集以产生校正了电荷丢失的校正信号数据集。
附图说明
当下列详细说明参照附图(其中类似的符号在整个附图中代表类似的部件)阅读时，本发明的这些和其他特征、方面和优势将变得更好理解，其中：
图1是根据本公开的方面的SPECT成像系统的图解表示；
图2是根据本公开的方面的检测器模块的一部分的剖视图；
图3是根据本公开的方面描绘用于解决检测器模块内的电荷丢失的算法的步骤的流程图；
图4是根据本公开的方面描绘分别作为相互作用深度的函数的阳极和阴极的电荷收集效率的曲线图；
图5是根据本公开的方面描绘作为相互作用深度的函数的阴极与阳极信号比的曲线图；
图6根据本公开的方面描绘单个像素的直方图的图表；
图7根据本公开的方面描绘作为第一阳极信号对比第二阳极信号的电荷共享事件的图表；
图8描绘其中强调感兴趣像素和相邻像素的像素网格的平面图；
图9根据本公开的方面描绘指示有相互作用的深度的阴极/阳极信号对比阳极信号的图表；
图10根据本公开的方面描绘在规定的相互作用深度的第一阳极信号对比第二阳极信号的图表；
图11根据本公开的方面描绘用径向位点采样的第一阳极信号对比第二阳极信号的图表；
图12根据本公开的方面描绘在规定的径向位点的第一阳极信号对比第二阳极信号的图表；
图13根据本公开的方面描绘在规定的相互作用深度沿径向仓(bin)的观察的计数分布和预期的计数分布的图表；
图14根据本公开的方面描绘在规定的相互作用深度的第一阳极信号对比第二阳极信号的图表；
图15根据本公开的方面描绘沿径向线的计数轮廓；
图16根据本公开的方面描绘曲线拟合到从每个径向样本采样的数据点；
图17根据本公开的方面描绘对不同的相互作用深度拟合的曲线的图表；
图18根据本公开的方面描绘径向线与拟合到采样的数据点的曲线的交叉；
图19根据本公开的方面描绘电荷丢失曲线；
图20根据本公开的方面描绘对每个相互作用深度标绘的在校正之前和之后组合电荷共享阳极信号的直方图；
图21根据本公开的方面描绘在对所有事件和相互作用深度的校正之前和之后的组合电荷共享阳极信号的直方图；以及
图22是根据本公开的方面描绘用于应用电荷丢失校正的算法的步骤的流程图。
具体实施方式
根据本公开，信号数据使用成像或同位素检测形态、例如单光子发射计算机断层摄影(SPECT)或正电子发射断层摄影(PET)成像系统或另一个适合的成像形态等来采集。在一个实施例中，例如碲化镉锌(CZT)检测器等辐射检测器将入射辐射转换成电信号，其可用于产生图像。在这样的实施例中，当伽玛射线与CZT材料相互作用时，产生电子空穴对，其朝与CZT材料关联的电极移动。在一个实现中，阳极结构可形成为分开的阳极电极(例如，像素)的网格，移动的电子和空穴在其上引起电荷。在正常操作中，在阳极电极上引起的电荷与入射伽玛能量成比例。因此，通过测量引起的电荷，可以间接测量入射伽玛能量。取决于伽玛射线相互作用的地点和阳极电极的形状与大小，电荷中的一些可能没有在相应的阳极电极处被感测到。事件离阳极电极的距离具有强烈的影响，因为由空穴在阳极上引起的电荷量是距离的函数。另外，电子不是朝阳极电极自身中的一个移动而是可以朝阳极电极之间的间隙移动。由于这样的电荷丢失的结果，感测的电荷可表示少于实际沉积的能量的信号。如本文论述的，本公开解决对这样的电荷丢失的校正。
记下前述并且现在转向附图，图1描绘根据本公开的某些方面操作的SPECT系统10。如将意识到的，在其他实现中，该成像系统可对应于另一个类型的适合的成像形态，例如PET成像系统等。图1的SPECT成像系统仅仅被描绘和论述以便于目前公开的信号处理方式在特定上下文中的说明使得该方式的方面可更容易理解。
现在回到图1，描绘的SPECT系统10包括检测器组件12、数据采集电路14和图像重建与处理电路16。SPECT系统10的该检测器组件12典型地包括设置在一个或多个环中的许多检测器模块(一般由标号18标明)，如在图1中描绘的。在某些实施例中，准直仪组件也可与该检测器组件12关联以便于伽玛射线撞击的定位。描绘的SPECT系统10还包括操作员工作站26和图像显示工作站28。
为了便于SPECT系统10的操作的说明和论述，检测器采集电路14和图像重建与处理电路16与其他图示的部件(例如，检测器组件12、操作员工作站26和图像显示工作站28)分开示出。然而，在某些实现中，这些电路中的一些或所有可提供为检测器组件12、操作员工作站26和/或图像显示工作站28的一部分。例如，在图像重建与处理电路16(无论提供为检测器组件12、操作员工作站26和/或图像显示工作站28的一部分)上执行或提供为其的一部分的硬件、软件和/或固件可用于进行本文描述的各种图像处理动作。在某些实现中，图像重建与处理电路16可包括特别编程的硬件、存储器或处理器(例如，专用集成电路(ASIC))，其用于进行数据处理步骤以补偿在检测器的电荷丢失，如本文论述的。相似地，这些电荷丢失校正步骤中的全部或部分可使用一个或多个通用或专用处理器和存储的配置成在这样的处理器上执行的代码或算法进行。同样地，专用硬件和/或电路的组合可结合配置成执行存储的代码的一个或多个处理器使用以实现本文论述的步骤。这样的数据处理步骤的结果可在操作员工作站26或独立的图像显示工作站28(如果存在的话)中的一个或二者上显示。
记住上文论述的SPECT系统10的示例或其他类型的适合的成像系统的对应部件，提供一个这样的系统的功能的简短描述以便于对本方式的进一步说明。特别地，SPECT成像主要用于测量在组织和器官中发生的代谢活动，并且特别地定位异常代谢活动。在SPECT成像中，患者典型地被注入包含放射性示踪物的溶液。该溶液以不同的程度在身体中分布和吸收，这取决于采用的示踪物和器官与组织的功能。特别地，该放射性示踪物发射与周围的粒子相互作用的正电子，由此产生伽玛射线。在SPECT成像系统10中，伽玛射线由检测器组件12检测。伽玛射线可被准直使得伽玛射线的检测可用于确定伽玛射线在撞击检测器之前传播所沿的响应线，从而允许将湮灭事件定位于该线。通过检测许多这样的伽玛射线，并且计算由伽马射线传播的对应线，可以估计在身体的不同部分中的放射性示踪物的浓度，并且由此可检测肿瘤。因此，伽玛射线的准确检测和定位形成SPECT系统10的基本和最重要的目标。
鉴于这些注释，并且现在回到图1，检测器采集电路14适应于读出响应于来自检测器组件12的检测器模块18的伽玛射线产生的信号。由检测器采集电路14采集的该信号提供给图像重建与处理电路16。图像重建与处理电路基于导出的伽玛射线发射位点产生图像。操作员工作站20由系统操作员利用来提供控制指令给描述的部件中的一些或全部并且用于配置帮助数据采集和图像产生的各种操作参数。操作工作站20还可显示产生的图像。备选地，产生的图像可在远程查看工作站显示，例如图像显示工作站22等。
记下前述，图2描绘检测器模块18的部分的剖视图，其包括由阴极电极42和一组阳极电极44(其限定检测器组件12的像素)托住的直接转换材料40，例如CZT晶体等。如将意识到的，在检测器组件18中，阳极电极44可提供为包括以两个维度(例如，x和y维度)上横向设置的数百、数千或数万个阳极电极44的网格或阵列。相反，阴极电极42可形成为在z维度上(即在直接转换材料40的相反端面上)与阳极电极44间隔开的单个或公共电极。如将意识到的，间隙46可分开检测器模块18的阳极电极44。在一个实施例中，阳极电极44在长度和宽度维度两者上是大约1.86mm，而分开相应阳极电极44的对应间隙46是大约0.6mm宽。间隙46可以是填充的(例如用高电阻率材料)或可以是空的。不管它们的组成，间隙46与它们限定的阳极电极44是电分离和不同的。
另外，图2描绘其中伽玛射线撞击直接转换材料40内的区域由此产生电子空穴对的转换事件48的示例。继这样的转换事件48之后，电子50可朝阳极电极44迁移而空穴52朝阴极电极42迁移。如将意识到的，取决于转换事件48的直接转换材料40内的深度和/或转换事件48关于下面的阳极电极44的横向位置，产生的电子50可都迁移到单个阳极电极44或可在两个或多个阳极电极44之间分流。此外，取决于转换事件48的深度和横向位置，电子50的某些部分可迁移到间隙46，导致在单个阳极电极44的电荷丢失。
从而，当电荷在两个或多个阳极电极之间分流时，理想的情况是电荷中的全部都将在阳极电极44被收集。然而，一些电荷在阳极电极44之间丢失是可能的。在这样的事件中，在阳极电极44感测的电荷降至一定阈值下并且可能不登记或另外没有在该阳极电极44被检测到，导致该转换事件48的信号丢失，这也是可能的。在极端示例中，所得的分流电荷可不足(在读出阈值以下)以在每个阳极电极44读出，导致对于给出的转换事件48没有电荷在阳极电极44被检测到。
记下前述，并且转向图3，描述用于校正这样的电荷丢失的方法54的一个示例。特别地，图3描述用于进行校准以解决电荷丢失的算法的步骤。在该示例中，基于检测器中阳极信号的相对位置(例如，深度和横向位置)制定阳极信号的子集。然后基于观察的信号和预期的信号并且基于与信号关联的相对位置确定适当的校正。
在一个实现中，在转换材料40内的相互作用的每个深度对每个像素组合(例如，邻近阳极电极44)并且对相对于讨论的像素的不同横向或角位置进行各种描述的步骤。例如，在一个实现中横向和/或角位置可由相应“径向仓”表示，该“径向仓”基于具有第一像素(P1)和第二像素(P2)的特定值的所观察事件的相对频率的图表而导出，使得“径向”方面对应于考虑位于描述P1和P2的恒定比率的通过原点的线附近的事件。从而，不同的径向仓可对应于P1/P2的比率的不同范围。
在该示例中，在检查或校准会话期间采集(框56)采用阳极信号64(即，从一个或多个阳极电极44读出的电荷)和阴极信号66(即，从阴极电极42读出的电荷)的形式的数据。这样的读出数据可进而用于导出(框58)另外感兴趣的数据，例如时序数据68(例如当电荷在相应阳极电极44和阴极电极42显现的相应时序)、测量电荷的地方的阳极(即，像素)通道70和/或描述检测到的已知的伽马射线能量信号的内容的能量信号72等。根据描绘的实现，一旦采集适合的数据，阳极信号64和阴极信号66按像素分类(框76)。在检测其中转换事件导致在两个或多个阳极电极44的信号(即，电荷共享事件)的情况下，分类可基于接收最多电荷的阳极电极44或基于其他适合的指定方案完成。
使用相应阴极信号66对阳极信号或阳极信号64的总和的比率和/或使用时序数据68来对每个转换事件48计算相互作用的深度82(框80)。阳极信号64和阴极信号66然后可按相应的相互作用深度82分类(框86)。通过示例并且转向图4和5，图4的曲线102、104示出相互作用的深度和分别在阳极和阴极收集的电荷量之间的关系。在该示例中，电荷收集效率描述对于不同的相互作用深度在阳极电极44和阴极电极42收集的电荷的分数。明显地，阴极电荷收集效率具有对相互作用深度的强烈并且几乎线性的相关性，并且因此可用于确定相互作用的深度。在阴极附近发生的事件将导致更完全的阴极信号，并且在晶体中更深地发生的事件将导致不完全的阴极信号。在极端情况下，对于在阳极附近发生的转换事件48，阴极电荷收集效率可以是非常差的使得没有检测到阴极信号。例如，如果阴极信号的检测阈值是40keV，其中沉积能量是140keV但电荷收集效率小于0.28处的相互作用可能不会被检测到。对于最常见的相互作用深度，越靠近阴极表面，阳极信号越少依赖相互作用的深度。
将阴极电荷收集效率除以阳极电荷收集效率(如在图5中描绘的)示出作为深度的函数的关系。对于其中在阳极和阴极收集预期的电荷量的情况，趋势由线106描绘。然而，如果一些电荷遗失或没有在阳极收集，趋势偏移更高(如由线108描绘的)。对于由线108表示的曲线的区域，如果没有收集所有阴极信号和阳极信号(即，如果发生关于阴极信号和阳极信号两者的丢失)，可能难以或不可能将该情况与其中检测到阳极电极和阴极电极两者的预期电荷量的情况区别开。即，即使电荷在阴极和电极两者处丢失，该比率可能是相似或相同的。从而，在某些情况下，阴极信号对阳极信号的比率可用于确定转换事件48的相互作用的深度82。
记下在图5中描绘的关系，可意识到阴极信号/阳极信号的较大比率可指示相互作用的深度82更靠近阴极电极42。同样地，阴极信号/阳极信号的较小比率可指示相互作用的深度82更靠近阳极电极44。如上文论述的，这可的确如此，因为检测到相对小的阴极信号66，其可指示缓慢传播(相对于电子50)或未能在信号积分时间内达到阴极电极42的空穴52。
在当阴极信号/阳极信号比率大于1的某些情况下，检测到比预期的少的阳极信号(如由相对于阳极信号的更大的阴极信号指示的那样)。在当仅一个阳极电极44检测为具有电荷并且阴极信号/阳极信号比率大于1的情况下，信号应该已经从第二阳极电极44检测到也是可能的，但由于电荷丢失和/或在阳极电极44中之一处的电荷未能超过与读出关联的阈值，没有检测到在阳极电极44中之一处的电荷。如上文提到的，如由线108表示的阴极/阳极信号比率曲线在图5中对电荷丢失情况示出。此外，如上文提到的，在其中阴极信号也比完全信号少的情况下，曲线之间的差别不能容易地区别。即，在阳极电极以及在阴极电极是否也有不完全的信号是未知的。此外，如果在两个不同的阳极电极44以及在阴极电极42测量电荷，这三个信号可用于对转换事件48的位置(即，相互作用的深度82和横向位置)作三角测量。相反，如上文论述的，如果没有检测到阴极信号但检测到两个阳极信号，转换事件48可能在阳极电极44附近发生。这样的信息可用于使用三信号三角测量数据选择适合的电荷丢失校准曲线或因数(如本文论述的)。
记下相互作用深度82的前面论述并且回到图3，在其中存在多个阳极信号64的实现中，第一阳极的相应信号可作为计算的相互作用深度82的函数对比第二阳极的相应信号来标绘(框90)。相应第一阳极对比第二阳极信号然后可分类(框94)至表示与检测到电荷共享的第一和第二阳极有关的电荷的相应横向位置的径向仓中。校准关系98(例如，校准因数、偏离或曲线)可针对相应的相互作用深度和径向位点在预期信号和观察信号之间确定(框96)。例如，校准关系可描述预期和观察信号(例如阳极信号)之间计算的差别或从这样的观察和预期信号导出的平均数、中位数或众数(mode)。同样地，校准关系可基于偏离或偏移(其将拟合到谱(即，观察谱)的峰与一个或多个特征能量峰(即，预期谱)对准)或基于观察谱中的平均峰高的比率。在另外的实施例，校准关系可基于或描述倍增因数，其提供预期和观察能谱之间的最佳拟合。校准关系一旦确定然后可存储(框100)用于随后在检查或其他成像会话期间使用。
转向图6-13，描述前面算法的示例以用于校正单个相互作用深度和单个径向仓的(即，单个转换事件48的)在两个阳极电极测量的信号。转向图6，在该示例中一系列直方图110描绘在一个像素的各种采集的信号。如将意识到的，各种直方图110(例如单像素直方图)被提供用于说明并且不必按比例描绘。在描绘的示例中，直方图112表示感兴趣的像素P1和一个或多个相邻像素P2之间的电荷共享事件。基于这些采集的信号，并且转向图7，对于其中确定电荷共享已经在阳极电极44之间发生的转换事件48，可产生图表114，其描绘对于所有相互作用深度的由第一像素采集的信号对比由一个或多个第二像素采集的信号。这些步骤中的一个或两个可一般对应于作为如在图3的框62描绘的采集校准数据的一部分所进行的步骤。
接着，信号可基于电荷共享事件的相应阳极像素分类，如在图3的框76描述的。通过示例，图8描绘其中一个阳极电极(例如，像素P1)描绘为具有相邻阳极电极(例如，像素P2)的阳极像素网格120的示例。如将意识到的，电荷共享可在像素P1和一个或多个相邻像素P2之间发生。如本文论述的，可对每个像素对单独地或对像素P1和所有相邻像素P2共同地进行校准。
转向图9，相互作用的深度82(如由阴极/阳极信号比确定的)可对比感兴趣的像素的阳极信号64标绘，如在图示126中描绘的。备选地，代替使用阴极/阳极信号比将阳极信号64按相互作用82的深度分类，而是在电极处的上升时间可用于提供关于相互作用深度82的信息。在这样的实施例中，上升时间可标绘作为y轴。
如此，相应阳极信号64可根据引起相应阳极信号64的关联转换事件48的相互作用深度82分类或分仓。基于这些相互作用深度确定，第一阳极电极的信号可在给定的相互作用深度对比第二阳极电极的信号标绘，如在图10的图表130中描绘的。两个阳极信号的存在指示可能的电荷共享事件并且这样的电荷共享事件的各种阳极信号按相互作用深度82分类使得与每个相互作用深度关联的信号可单独处理。
尽管前面描述确定相互作用深度和根据相互作用深度分类的过程，在某些实施例中也可考虑事件关于像素几何结构的横向位置。例如，转向图11，描绘图表134，其中第一阳极对比第二阳极信号分类至径向仓136中，其中每个径向仓136对应于相对于第一阳极电极44(即，像素P1)的不同径向或角位置或片段。在图12中可采用任何数目的径向仓(例如，3、4、6、8、10、12等等)，对于单个径向仓136的第一阳极对比第二阳极信号的图表140被分类出以用于进一步处理。从而，采用此方式来确定对应于像素P1和它的相邻像素P2的阳极电极的对应于单个相互作用深度和单个径向仓的信号。
在该点，选择的径向样本可用于找到选择的相互作用深度仓的电荷丢失相关性。例如，可标绘沿选择的径向仓的观察到的计数146对比总能量的轮廓144并且将其与预期计数148比较。如在图13的图表中描绘的，观察计数146和预期计数148之间的差别指示电荷丢失。基于该比较，可对于像素P1和一个或多个相应像素P2对选择的相互作用深度82和径向仓136确定校正值或因数。例如，在一个实施例中适当的校正可简单地是确定对准相应计数分布的平均值、众数和/或中位数所需要的必需偏离值。即，在这样的实现中，观察计数146的分布偏移到它预期的地方。该校正值然后可存储并且在随后的成像操作中使用。
尽管前面描述其中电荷丢失校正可对于一个相互作用深度和径向仓对像素计算的一个方式，在某些实施例中确定所有信号组合的电荷共享和丢失校准可是可取的。例如，这样的方式可允许产生描述电荷丢失行为的连续曲线和在处理采集的信号数据中待采用的适当校正因数。在这样的实现中，检测事件(即，辐射转换事件)可按它们的相应相互作用深度和辐射检测器内的横向位置(例如，位点、取向等等)分类或划类。可对与检测的事件关联的阳极信号集的总和的发生频率产生计数轮廓。然后可对于相互作用深度和/或横向位置的特定值确定丢失的信号的分数。
现在转向图14-21，描述用于校正信号的组合的电荷丢失的一个这样的方式的示例。转向图14，描绘初始图表200，其中在第一阳极电极(即，P1)的能量在规定的相互作用深度82对比一个或多个第二阳极电极(即，P2)标绘。另外，计数轮廓210从沿径向线的数据产生，如在图15描绘的。即，产生对于数据所识别或规定的每个径向仓136的轮廓。计数轮廓210可进而用于识别对于每个径向仓136的数据的代表点(P1、P2)214。
如在图17中描绘的，在一个实施例中，一个或多个曲线可拟合到数据点214。在描绘的示例中，三个曲线220、222、224拟合到数据点214。在该示例中，具有最小误差(即，最佳拟合)(如由曲线220、222、224和数据点214之间的差别确定)的曲线222被选择用于随后处理。在图17中，还标绘描绘预期能量的线230。预期能量线230和数据点214(或拟合到数据点214的曲线222)之间的差别表示观察到的电荷丢失。
提供最佳拟合的曲线222可用作用于标绘不同相互作用深度的对应趋势线236的基础，如在图17的图表238中描绘的。如将意识到的，曲线222还可以是分段组合、样条(spline)或其他已知方法。如在图表238中描绘的，更靠近图表238的中心(即，更靠近预期的能量线230)的趋势线236一般对应于更靠近阴极电极42的相互作用深度，而更靠近图表238的外部(即，更靠近图表的原点)的趋势线236一般对应于更靠近阳极电极44的相互作用深度。如此，不同相互作用深度的描述曲线可使用与不同相互作用深度关联的预期电荷之间的已知关系导出。
相似地，转向图18的图表250，数据点还可径向采样。例如，如在图表250中描绘的，径向线252与提供最佳拟合的曲线222的交叉可用于将采样数据点214作为角度的函数再分仓，其中该角度表示从第一阳极像素到第二阳极像素的横向位置。例如，在描绘的图表250中，当相互作用的位置接近P1时，P1能量增加并且P2能量减小。相反，当相互作用的位置接近P2时，P2能量增加并且P1能量减小。对于P1和P2能量的中间值，相互作用的位置在将P1和P2分开的间隙46附近出现。
一旦相互作用的径向和深度信息如此导出，可确定径向样本与预期能量之间的差别。例如，转向图19，电荷丢失曲线260基于径向样本与预期能量之间的差别(如从图17和18的图表确定的)标绘。这样的电荷丢失曲线260可从原点(0，0)到(P1，P2)能量作为角度的函数标绘。即，电荷丢失曲线260可作为角度的函数拟合，由此将电荷丢失量或百分比作为角度的函数描述，并且角度描述沿关于阳极电极44的不同横向位置发生的事件的电荷丢失。
接着，可确定每个数据点214的校正因数，如在图20的图表270中描绘的。例如，使用图17和19的图表，电荷丢失曲线260可用于对每个相互作用深度仓将作为角度的函数的数据点偏移。如在图20中描绘的，在每个相互作用深度仓中采集的数据特征在于独立分布。由虚线表示的分布272是使用电荷丢失曲线260校正之前在不同相互作用深度的组合阳极能量的能量直方图，而由实线表示的分布274描述使用电荷丢失曲线260校正后在不同相互作用深度的能量直方图。
相互作用深度仓中的每个的相应分布可组合，如由图21的图表280描绘的，以提供组合的电荷共享谱。通过示例，由虚线表示的谱282描述电荷丢失校正之前的组合的电荷共享谱。由实线表示的谱284描述电荷丢失校正之后的电荷共享谱。校正的电荷共享谱284可存储并且随后用于校正随后成像操作中的电荷丢失。
前面描述用于计算校准因数或曲线以解决成像系统中的电荷丢失发生的各种方式。图22描绘用于在成像操作中应用这样的校准数据的算法的流程图。例如，根据该算法，采用阳极信号64和阴极信号66的数据在检查或校准会话期间采集(框56)。这样的读出数据可进而用于导出(框58)另外感兴趣的数据，例如时序数据68、阳极(即，像素)通道70和/或能量信号72等。
基于采集和/或导出的成像数据，一个或多个校正因数可在进行中或通过访问存储的校准因数或曲线304(例如经由查找表或其他存储器位置等)确定(框302)。如将意识到的，该存储的校准因数或曲线304可使用本文论述的方式导出。一旦可应用的校正因数确定，校正可应用(框308)于采集的信号数据以补偿或校正检测过程中的电荷丢失。该校正或补偿的信号数据然后可用在用于基于校正的数据产生和显示图像的随后过程中。
前面的论述提供某些实现的示例和论述，校准因数(例如，校正偏离、乘数、偏移等等)可由此确定以解决检测器中的电荷丢失。如将意识到的，在某些实施例中这样的校准因数可对检测器确定一次并且随后不仅用于该检测器并且用于其他检测器，例如用于相同型号的、具有相同设计的、使用相同材料的等等其他检测器。即，就深度/横向校正是装置的基本物理的函数来说，校准关系将仅需要对具有相同或相似结构的装置确定一次。从而，对一个检测器确定的校准关系可在其他相似或相同检测器上使用，例如通过存储导出的校准关系在对不同的检测器可访问的存储器或表格中。同样地，本文论述的类型的进行中的计算可在继续进行或例行基础上进行以确认这样存储的校准关系保持可应用于给定的检测器(即，证实观察到的电荷丢失保持与由存储的校准关系描述的电荷丢失关系一致)。在其中存储的校准关系确定为不再有效的情况下，可对讨论的检测器确定或访问新的校准关系。
此外，为了说明，本论述已经描述作为对个体像素和像素对确定的关系。如将意识到的，在其中像素可以关于位点、性能或其他设计因素组在一起的某些实施例中，这样的像素的电荷丢失校正(和使用这样的像素的比较)可基于讨论的像素的组或类型。例如，像素可如本文论述的基于行、列来分仓和处理，而无论像素在检测器的边缘上，无论像素在检测器的中心等等。在这样的实施例中，对应的校准关系(例如，校正因数、偏离等等)可对相应组中的像素确定。即，横过组中或类型的所有像素，对应的校正因数可以是公共的。
本发明的技术效果包括通过补偿电荷丢失的发生而恢复辐射检测器的性能，例如CZT检测器等。本发明的其他技术效果包括提高辐射检测器的能量分辨率和/或绝对计数效率。
该书面说明使用示例以公开本发明，其包括最佳模式，并且还使本领域内技术人员能够实践本发明，包括制作和使用任何装置或系统和进行任何包含的方法。本发明的专利范围由权利要求限定，并且可包括本领域内技术人员想到的其他示例。这样的其他示例如果它们具有不与权利要求的书面语言不同的结构元件，或者如果它们包括与权利要求的书面语言无实质区别的等同结构元件则规定在权利要求的范围内。
部件列表
Claims (10)
1.一种用于校正辐射检测器(12)中的电荷丢失的方法，其包括步骤：
从所述辐射检测器(12)采集(56)一个或多个阳极信号(64)和阴极信号(66)，其中所述一个或多个阳极信号(64)和阴极信号(66)响应于与所述辐射检测器(12)的伽玛射线相互作用(48)而出现；
确定与所述辐射检测器(12)的伽玛射线相互作用(48)的相互作用深度(82)；
确定关于所述一个或多个阳极(44)的伽玛射线相互作用(48)的横向位置；
将所述一个或多个阳极信号(64)基于所述相互作用深度(82)和横向位置分类到多个谱中之一中；
基于所述一个或多个阳极信号(64)和所述一个或多个阳极信号(64)的预期值之间的差别确定(96)校正因数(98)。
2.如权利要求1所述的方法，其中确定(96)所述校正因数(98)包括以下其中之一：确定所述一个或多个阳极信号(64)和所述一个或多个阳极信号(64)的预期值之间的偏离、确定谱中平均峰高的比率，或确定用于拟合预期和观察能谱的倍增因数。
3.如权利要求1所述的方法，其中确定所述相互作用深度(82)包括使用所述阴极信号(66)和阳极信号(64)的比率计算(80)所述相互作用深度(82)。
4.如权利要求1所述的方法，其中确定所述相互作用深度(82)包括使用时序数据(68)计算所述相互作用深度(82)。
5.一种成像系统，其包括：
辐射检测器(12)，其包括直接转换材料(40)、设置在所述直接转换材料(40)的第一表面上的一个或多个阴极电极(42)和设置在所述直接转换材料(40)的第二表面上的多个阳极电极(44)；
与所述一个或多个阴极电极(42)和所述多个阳极电极(44)通信的数据采集电路(14)；
与所述数据采集电路(14)通信的信号处理电路(16)；以及
配置成控制所述数据采集电路(14)和所述信号处理电路(16)中的一个或二者的操作并且与其通信的操作员工作站(26)；
其中所述数据采集电路(14)、所述信号处理电路(16)或所述操作员工作站(26)中的一个或多个配置成执行代码，其当执行时进行下列：
处理测量的信号数据集(64、66)；
访问适合校正由于在所述阳极电极(44)中的两个或更多之间分流或丢失到分开相应阳极电极(44)的间隙(46)引起的电荷丢失的一个或多个校正因数；以及
应用(308)所述一个或多个校正因数于所述测量的信号数据集以产生校正了电荷丢失的校正信号数据集。
6.如权利要求5所述的成像系统，其中所述直接转换材料(40)包括碲化镉锌或其他适合的半导体。
7.如权利要求5所述的成像系统，其中所述一个或多个校正因数基于所述辐射检测器(12)内的相应电荷产生事件的相互作用深度(82)和横向位点来访问。
8.如权利要求5所述的成像系统，其中访问所述一个或多个校正因数包括访问其中存储校正因数的查找表或其他存储器位点。
9.如权利要求5所述的成像系统，其中所述一个或多个校正因数从描述基于相互作用深度(82)和横向取向所预期的电荷丢失的校准曲线(304)导出。
10.如权利要求5所述的成像系统，其中应用(308)所述一个或多个校正因数包括调节所述测量的信号数据中的一些或所有以对应于在没有电荷丢失的情况下预期由所述阳极电极(44)看到的信号量。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US12/794,525 US8466420B2 (en) | 2010-06-04 | 2010-06-04 | Charge loss correction |
| US12/794525 | 2010-06-04 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN102331586A true CN102331586A (zh) | 2012-01-25 |
Family
ID=45063759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2011101605050A Pending CN102331586A (zh) | 2010-06-04 | 2011-06-03 | 电荷丢失校正 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8466420B2 (zh) |
| CN (1) | CN102331586A (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106680860A (zh) * | 2015-11-11 | 2017-05-17 | Fei公司 | 用于探测微粒辐射的方法 |
| CN107110987A (zh) * | 2014-12-17 | 2017-08-29 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于探测电离辐射的探测器和方法 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8712124B2 (en) | 2011-06-21 | 2014-04-29 | General Electric Company | Artifact removal in nuclear images |
| US9261609B2 (en) | 2012-08-20 | 2016-02-16 | General Electric Company | Apparatus and methods for charge collection control in radiation detectors |
| US9531968B2 (en) * | 2014-02-25 | 2016-12-27 | Semiconductor Components Industries, Llc | Imagers having image processing circuitry with error detection capabilities |
| FR3030779B1 (fr) | 2014-12-22 | 2017-01-27 | Commissariat Energie Atomique | Procede de calibration d'un detecteur de rayonnement ionisant et dispositif associe |
| FR3030778B1 (fr) * | 2014-12-22 | 2017-01-27 | Commissariat Energie Atomique | Procede de calibration d'un detecteur de rayonnement ionisant et dispositif associe |
| US9927539B2 (en) * | 2015-02-20 | 2018-03-27 | General Electric Company | Systems and methods for improving imaging by sub-pixel calibration |
| EP3223039A1 (en) * | 2016-03-21 | 2017-09-27 | FEI Company | Method for detecting particulate radiation |
| WO2018187124A1 (en) * | 2017-04-07 | 2018-10-11 | Microchip Technology Incorporated | A semiconductor package having exposed redistribution layer features and related methods of packaging and testing |
| US10156646B1 (en) * | 2017-06-13 | 2018-12-18 | General Electric Company | Systems and methods for a radiation detector |
| EP3508887A1 (en) * | 2018-01-09 | 2019-07-10 | Koninklijke Philips N.V. | Charge sharing calibration method and system |
| US10254163B1 (en) | 2018-03-15 | 2019-04-09 | Kromek Group, PLC | Interaction characteristics from a plurality of pixels |
| US10976452B2 (en) * | 2018-08-13 | 2021-04-13 | General Electric Medical Systems Israel, Ltd. (Il) | Systems and methods for improved medical imaging |
| US10591619B2 (en) | 2018-08-15 | 2020-03-17 | GE Precision Healthcare LLC | Anodes for improved detection of non-collected adjacent signals |
| US10247834B1 (en) | 2018-08-15 | 2019-04-02 | General Electric Company | Anodes for improved detection of non-collected adjacent signal |
| EP3864440A4 (en) * | 2018-10-09 | 2022-05-25 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | METHODS AND SYSTEMS FOR FORMING IMAGES BY RADIATION |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5479006A (en) * | 1994-08-10 | 1995-12-26 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Positioning skew compensation for imaging system using photoconductive material |
| CN1791807A (zh) * | 2003-05-23 | 2006-06-21 | 格尔根·尼尔森 | 放射疗法中的治疗前验证方法 |
| US7208739B1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-04-24 | General Electric Company | Method and apparatus for correction of pileup and charge sharing in x-ray images with energy resolution |
| US7411197B2 (en) * | 2005-09-30 | 2008-08-12 | The Regents Of The University Of Michigan | Three-dimensional, position-sensitive radiation detection |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2738693B1 (fr) | 1995-09-12 | 1997-10-10 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de traitement d'impulsions provenant de l'interaction d'une particule gamma avec un detecteur de rayonnement cdte |
| US6046454A (en) * | 1995-10-13 | 2000-04-04 | Digirad Corporation | Semiconductor radiation detector with enhanced charge collection |
| FR2759837B1 (fr) | 1997-02-14 | 2001-10-19 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de traitement de signaux d'un detecteur de rayonnements a semiconducteurs |
| US20040227091A1 (en) | 2003-05-14 | 2004-11-18 | Leblanc James Walter | Methods and apparatus for radiation detecting and imaging using monolithic detectors |
| US6987833B2 (en) | 2003-10-16 | 2006-01-17 | General Electric Company | Methods and apparatus for identification and imaging of specific materials |
| US20050107694A1 (en) | 2003-11-17 | 2005-05-19 | Jansen Floribertus H. | Method and system for ultrasonic tagging of fluorescence |
| US7312457B2 (en) | 2005-05-02 | 2007-12-25 | Advanced Measurement Technology, Inc. | Spectrometer with charge-carrier-trapping correction |
| US20060289777A1 (en) | 2005-06-29 | 2006-12-28 | Wen Li | Detector with electrically isolated pixels |
| US7263167B2 (en) | 2005-09-30 | 2007-08-28 | General Electric Company | Direct conversion X-ray detector with over-range and pile-up correction |
| US20070076842A1 (en) | 2005-09-30 | 2007-04-05 | Tkaczyk John E | Adaptable energy discriminating computed tomography system |
| US8010184B2 (en) | 2005-11-30 | 2011-08-30 | General Electric Company | Method and apparatus for automatically characterizing a malignancy |
| US8070987B2 (en) | 2006-03-03 | 2011-12-06 | Washington State University Research Foundation | Compositions of doped, co-doped and tri-doped semiconductor materials |
| CA2615827A1 (en) | 2008-01-22 | 2009-07-22 | Karim S. Karim | Method and apparatus for single-polarity charge sensing for semiconductor radiation detectors deposited by physical vapor deposition techniques |
| US8405038B2 (en) * | 2009-12-30 | 2013-03-26 | General Electric Company | Systems and methods for providing a shared charge in pixelated image detectors |
-
2010
- 2010-06-04 US US12/794,525 patent/US8466420B2/en active Active
-
2011
- 2011-06-03 CN CN2011101605050A patent/CN102331586A/zh active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5479006A (en) * | 1994-08-10 | 1995-12-26 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Positioning skew compensation for imaging system using photoconductive material |
| CN1791807A (zh) * | 2003-05-23 | 2006-06-21 | 格尔根·尼尔森 | 放射疗法中的治疗前验证方法 |
| US7411197B2 (en) * | 2005-09-30 | 2008-08-12 | The Regents Of The University Of Michigan | Three-dimensional, position-sensitive radiation detection |
| US7208739B1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-04-24 | General Electric Company | Method and apparatus for correction of pileup and charge sharing in x-ray images with energy resolution |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107110987A (zh) * | 2014-12-17 | 2017-08-29 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于探测电离辐射的探测器和方法 |
| CN107110987B (zh) * | 2014-12-17 | 2019-11-01 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于探测电离辐射的探测器和方法 |
| CN106680860A (zh) * | 2015-11-11 | 2017-05-17 | Fei公司 | 用于探测微粒辐射的方法 |
| CN106680860B (zh) * | 2015-11-11 | 2022-05-17 | Fei公司 | 用于探测微粒辐射的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US8466420B2 (en) | 2013-06-18 |
| US20110297838A1 (en) | 2011-12-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102331586A (zh) | 电荷丢失校正 | |
| CN101297221B (zh) | 用于谱计算机断层摄影的方法和设备 | |
| CN107250844B (zh) | 用于处理正电子发射断层摄影数据的方法和装置 | |
| CN102262237B (zh) | 光子辐射检测装置和此种装置的定制和运行方法 | |
| RU2620863C2 (ru) | Способ энергетической калибровки цифровой позитронно-эмиссионной томографии (dpet) | |
| CN107110983A (zh) | 基于像素的死时间校正 | |
| CN104220899A (zh) | 利用具有光子计数探测器的成像系统的常规成像 | |
| CN101900695B (zh) | 伪双能欠采样物质识别系统和方法 | |
| US20100038548A1 (en) | Gamma-camera utilizing the interaction depth in a detector | |
| US8274054B2 (en) | Method and apparatus for imaging using robust bayesian sequence reconstruction | |
| CN103890571B (zh) | 具有偏移校正的用于探测光子的放射探测装置 | |
| CN105190357A (zh) | 用于对伽马辐射事件的评估的装置和方法 | |
| CN104024886A (zh) | 用于考虑堆积事件来探测光子的探测装置 | |
| CN101900696A (zh) | 双能欠采样物质识别方法和系统 | |
| CN102906595B (zh) | 正电子ct装置和定时校正方法 | |
| CN102283665A (zh) | 核医学成像装置以及核医学成像方法 | |
| Fan et al. | Scatter and crosstalk corrections for 99mTc/123I dual‐radionuclide imaging using a CZT SPECT system with pinhole collimators | |
| CN104936525A (zh) | X射线计算机断层摄影装置以及光子计数方法 | |
| Riggi et al. | The Muon Portal Project: Commissioning of the full detector and first results | |
| US20070253530A1 (en) | Gamma-ray tracking method for pet systems | |
| JP2012088300A (ja) | ポジトロン放射断層撮影（ｐｅｔ）イメージングシステム、方法及び核医学イメージングシステム | |
| CN108209958A (zh) | 一种归一化校正因子的确定、获取方法及医学成像方法 | |
| CN109077748A (zh) | 一种精准的pet归一化校正方法 | |
| CN109521459B (zh) | 一种射线在闪烁晶体中的击中点定位方法及其系统 | |
| CN102688052A (zh) | 校正x射线探测器的探测器数据的方法和x射线拍摄系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20120125 |