CN102262205A - 一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置，方法包括：通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。本发明通过测试数据方便迅速的屏蔽测试向量源文件中需要忽略的测试点，提高测试效率，解决现有技术无法迅速有效的对可忽略的报错测试点进行屏蔽的问题。
Description
技术领域
本发明涉及芯片的自动测试设备，特别是涉及一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置。
背景技术
ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)，是一种通过计算机控制来进行器件、电路板和芯片测试的设备。其通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。
一般的ATE可以由带一定内存深度的一组通道，一系列时序发生器及多个电源组成。这些资源是通过负载板把信号激励到芯片插座上的芯片管脚，ATE测试系统每个管脚有独立的测试资源。测试时候，每个管脚有对应的输入或输出信号，并由这些信号构成测试向量，进行不同芯片功能的测试。
在ATE进行测试时，根据每个测试向量的描述，对芯片管脚进行操作，施加输入值，测量对应的输出值，比较测得的输出值与测试向量描述的预期输出值是否一致，如果不一致就进行报错。
ATE的开发是从简单器件、低管脚数、低速测试系统(10MHz，64pins)到中等数量管脚、中速测试系统(40MHz，256pins)到高管脚数、高速(超过100MHz，1024pins)并最终过渡到现在的SoC(System on Chip，系统集成在一个芯片)测试系统(超过400MHz，1024pin，并具备模拟、存储器测试能力)。目前器件速度已经达到1.6GHz，管脚数达到1024，所有的电路都集成到单个芯片。因此由针对管脚的测试向量构成的测试向量源文件体积特别大，甚至超过数Gbytes，其包含的测试向量更是成千上万。
在实际测试中，由于pattern脚本或者其他原因，有些测试向量的预期输出值永远不能和测得的输出值相一致，ATE会对这些测试向量对应的输出管脚进行报错，而有时候，这些输出管脚并不重要，是可以忽略的，而持续存在的报错会对产品的不良率产生了严重影响。
因此，需要对这些可以忽略的会报错的测试向量进行屏蔽，但如果直接通过修改庞大的测试向量源文件来进行屏蔽，不但难于查找具体的行数，而且耗费时间，耗费系统资源，特别是要屏蔽的测试点比较多时，会让测试工程师无所适从，严重影响测试进程。
发明内容
本发明的目的是提供一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置，能够通过测试数据方便迅速的屏蔽测试向量源文件中需要忽略的测试点，提高测试效率，解决现有技术无法迅速有效的对可忽略的报错测试点进行屏蔽的技术问题。
为了实现上述目的，一方面，提供了一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法，包括如下步骤：
通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；
根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；
对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。
优选地，上述的方法中，还包括：通过将所述报错测试向量与预置的指定测试点表单进行比较确定所述需要屏蔽的报错测试向量。
优选地，上述的方法中，如果所述报错测试向量中包含所述指定测试点表单中的被测管脚，则所述报错测试向量为不能屏蔽的测试向量，否则所述报错测试向量为所述需要屏蔽的报错测试向量。
优选地，上述的方法中，还包括：使用所述修改后的测试向量源文件进行芯片测试。
为了实现上述目的，本发明实施例还提供了一种测试向量源文件的测试点的屏蔽装置，包括：
执行模块，用于：通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；
辅助文件生成模块，用于：根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；
源文件修改模块，用于：对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。
优选地，上述的装置中，所述源文件修改模块还用于：通过将所述报错测试向量与预置的指定测试点表单进行比较，来确定所述需要屏蔽的报错测试向量。
优选地，上述的装置中，所述执行模块，还用于：使用所述修改后的测试向量源文件进行芯片测试。
本发明至少存在以下技术效果：
减少pattern的制作时间，缩短芯片测试程序开发周期。
1)本发明实施例利用ATE测试数据，方便快捷的在测试向量的源文件中找到需要屏蔽的测试向量，并且本发明以测得值替换要屏蔽的测试向量的期待值，这样，该测试向量再次运行后的测得值会同期待值相一致，就不会再次报错，从而避免不停报错的测试向量对测试进程的干扰和对系统资源的占用。
2)本发明使测试工程师可以快速定位要屏蔽的测试向量，能进行快捷操作，节约时间，加快测试进程，缩短芯片测试程序开发周期。
3)本发明实施例通过指定测试点表单来判断报错的测试向量是否是不重要的，不重要就可以忽略其报错，也就是进行屏蔽，而重要的就不能屏蔽，从而本发明实施例只屏蔽指定测试点表单之外的测试向量，避免了对重要测试点进行误屏蔽。
附图说明
图1为本发明实施例提供的屏蔽方法的步骤流程图；
图2为本发明实施例提供的利用辅助文件屏蔽需要屏蔽的报错测试向量的步骤流程图；
图3为本发明实施例提供的屏蔽装置的结构图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对具体实施例进行详细描述。
图1为本发明实施例提供的屏蔽方法的步骤流程图，如图所示，测试向量源文件的测试点的屏蔽方法，包括如下步骤：
步骤101：通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；
步骤102：根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；
步骤103：对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。
在步骤103中，通过将所述报错测试向量与预置的指定测试点表单进行比较确定所述需要屏蔽的报错测试向量，如果所述报错测试向量中包含所述指定测试点表单中的被测管脚，则所述报错测试向量为不能屏蔽的测试向量，否则所述报错测试向量为所述需要屏蔽的报错测试向量。
在步骤103之后还包括：使用所述修改后的测试向量源文件进行芯片测试。
可见，本发明实施例利用ATE测试数据，方便快捷的在测试向量的源文件中找到需要屏蔽的测试向量，并且本发明以测得值替换要屏蔽的测试向量的期待值，这样，该测试向量再次运行后的测得值会被忽略掉，就不会再次报错，从而避免不停报错的测试向量对测试进程的干扰和对系统资源的占用。因此，本发明使测试工程师可以快速定位要屏蔽的测试向量，能进行快捷操作，节约时间，加快测试进程。
并且，本发明实施例通过指定测试点表单来判断报错的测试向量是否是不重要的，不重要就可以忽略其报错，也就是进行屏蔽，而重要的就不能屏蔽，从而本发明实施例只屏蔽指定测试点表单之外的测试向量，避免了对重要测试点进行误屏蔽。
其中，根据测试数据产生辅助文件，可以由功能模块自动生成，以下是测量数据及对应的辅助文件的举例。
ATE的测量数据举例：
LL
CC
DD
S7
1
N
Cycle Relative R
e
p
11276 112750 XH
-＞FAIL LL
487024 4870230 XL
-＞FAIL LH
569648 5696470 XH
-＞FAIL HL
589464 5894630 LH
-＞FAIL HH
589471 5894700 LH
-＞FAIL HH
......
用上面ATE测量数据制作的辅助文件(*.txt)内容
11276
LL
487024
LH
569648
HL
589464
HH
589471
HH
......
其中，参考图2所示，在步骤103中，利用辅助文件屏蔽需要屏蔽的报错测试向量的步骤流程如下：
步骤201，读取辅助文件；
步骤202，逐个读取辅助文件中的报错测试向量；
步骤203，判断该报错测试向量是否包含指定测试点，是则执行步骤205，否则执行步骤204；
步骤204，修改测试向量源文件，以测得值替换要屏蔽的测试向量的期待值；
步骤205，辅助文件结束？是则执行步骤206，否则返回步骤202；
步骤206，储存修改后测试向量源文件，结束。
图3为本发明实施例提供的屏蔽装置的结构图。如图所示，测试向量源文件的测试点的屏蔽装置，包括：
执行模块301，用于：通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；
辅助文件生成模块302，用于：根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；
源文件修改模块303，用于：对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。
其中，所述源文件修改模块303还用于：通过将所述报错测试向量与预置的指定测试点表单进行比较，来确定所述需要屏蔽的报错测试向量。所述执行模块301还用于：使用所述修改后的测试向量源文件进行芯片测试。
由上可知，本发明实施例具有以下优势：
1)本发明实施例利用ATE测试数据，方便快捷的在测试向量的源文件中找到需要屏蔽的测试向量，并且本发明以测得值替换要屏蔽的测试向量的期待值，这样，该测试向量再次运行后的测得值会同期待值相一致，就不会再次报错，从而避免不停报错的测试向量对测试进程的干扰和对系统资源的占用。
2)本发明使测试工程师可以快速定位要屏蔽的测试向量，能进行快捷操作，节约时间，加快测试进程，缩短芯片测试程序开发周期。
3)本发明实施例通过指定测试点表单来判断报错的测试向量是否是不重要的，不重要就可以忽略其报错，也就是进行屏蔽，而重要的就不能屏蔽，从而本发明实施例只屏蔽指定测试点表单之外的测试向量，避免了对重要测试点进行误屏蔽。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (7)
1.一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法，其特征在于，包括如下步骤：
通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；
根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；
对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：通过将所述报错测试向量与预置的指定测试点表单进行比较确定所述需要屏蔽的报错测试向量。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，如果所述报错测试向量中包含所述指定测试点表单中的被测管脚，则所述报错测试向量为不能屏蔽的测试向量，否则所述报错测试向量为所述需要屏蔽的报错测试向量。
4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，还包括：使用所述修改后的测试向量源文件进行芯片测试。
5.一种测试向量源文件的测试点的屏蔽装置，其特征在于，包括：
执行模块，用于：通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；
辅助文件生成模块，用于：根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；
源文件修改模块，用于：对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。
6.根据权利要求5所述的屏蔽装置，其特征在于，所述源文件修改模块还用于：通过将所述报错测试向量与预置的指定测试点表单进行比较，来确定所述需要屏蔽的报错测试向量。
7.根据权利要求6所述的屏蔽装置，其特征在于，所述执行模块，还用于：使用所述修改后的测试向量源文件进行芯片测试。
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