CN102252829A - 一种测量led的内量子效率和出光效率的方法 - Google Patents
一种测量led的内量子效率和出光效率的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102252829A CN102252829A CN2011101037832A CN201110103783A CN102252829A CN 102252829 A CN102252829 A CN 102252829A CN 2011101037832 A CN2011101037832 A CN 2011101037832A CN 201110103783 A CN201110103783 A CN 201110103783A CN 102252829 A CN102252829 A CN 102252829A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- quantum efficiency
- led
- eta
- eqe
- lee
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
Description
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 201110103783 CN102252829B (zh) | 2011-04-25 | 2011-04-25 | 一种测量led的内量子效率和出光效率的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 201110103783 CN102252829B (zh) | 2011-04-25 | 2011-04-25 | 一种测量led的内量子效率和出光效率的方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102252829A true CN102252829A (zh) | 2011-11-23 |
CN102252829B CN102252829B (zh) | 2013-03-06 |
Family
ID=44980225
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN 201110103783 Active CN102252829B (zh) | 2011-04-25 | 2011-04-25 | 一种测量led的内量子效率和出光效率的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102252829B (zh) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102378451A (zh) * | 2011-09-30 | 2012-03-14 | 晶能光电(江西)有限公司 | 具有稳态量子阱的led照明装置的制造方法 |
CN103528802A (zh) * | 2013-10-31 | 2014-01-22 | 中国科学院半导体研究所 | 一种利用电致发光谱测量氮化物led内量子效率的方法 |
CN103645033A (zh) * | 2013-11-27 | 2014-03-19 | 中国科学院半导体研究所 | 一种测量led内量子效率的方法 |
CN103808497A (zh) * | 2014-03-05 | 2014-05-21 | 中国科学院半导体研究所 | 一种测量led内量子效率的方法 |
CN107228710A (zh) * | 2017-05-26 | 2017-10-03 | 厦门大学 | 一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法 |
CN108845237A (zh) * | 2018-04-28 | 2018-11-20 | 广东省半导体产业技术研究院 | 一种器件性能判断方法与装置 |
CN109212402A (zh) * | 2018-09-30 | 2019-01-15 | 清华大学 | 评测发光二极管内量子效率的方法 |
CN111006853A (zh) * | 2019-12-16 | 2020-04-14 | 苏州辰睿光电有限公司 | 一种用于集成激光器光传输分析的光功率确定计算方法 |
CN112117296A (zh) * | 2020-10-22 | 2020-12-22 | 厦门强力巨彩光电科技有限公司 | Led显示面板和led显示装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06103711B2 (ja) * | 1989-05-10 | 1994-12-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 発光効率評価方法および装置 |
JP2007088389A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Yamaguchi Univ | 半導体発光素子の内部量子効率を測定する装置及びその方法 |
CN201429463Y (zh) * | 2009-06-30 | 2010-03-24 | 上海半导体照明工程技术研究中心 | 一种led灯具流明效率测试装置 |
JP2010276565A (ja) * | 2009-06-01 | 2010-12-09 | Systemroad Co Ltd | 光源の光学特性の測定装置および測定方法ならびに該測定装置を備えた検査装置 |
-
2011
- 2011-04-25 CN CN 201110103783 patent/CN102252829B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06103711B2 (ja) * | 1989-05-10 | 1994-12-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 発光効率評価方法および装置 |
JP2007088389A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Yamaguchi Univ | 半導体発光素子の内部量子効率を測定する装置及びその方法 |
JP2010276565A (ja) * | 2009-06-01 | 2010-12-09 | Systemroad Co Ltd | 光源の光学特性の測定装置および測定方法ならびに該測定装置を備えた検査装置 |
CN201429463Y (zh) * | 2009-06-30 | 2010-03-24 | 上海半导体照明工程技术研究中心 | 一种led灯具流明效率测试装置 |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102378451A (zh) * | 2011-09-30 | 2012-03-14 | 晶能光电(江西)有限公司 | 具有稳态量子阱的led照明装置的制造方法 |
CN102378451B (zh) * | 2011-09-30 | 2016-08-31 | 晶能光电(江西)有限公司 | 具有稳态量子阱的led照明装置的制造方法 |
CN103528802A (zh) * | 2013-10-31 | 2014-01-22 | 中国科学院半导体研究所 | 一种利用电致发光谱测量氮化物led内量子效率的方法 |
CN103528802B (zh) * | 2013-10-31 | 2016-03-02 | 中国科学院半导体研究所 | 一种利用电致发光谱测量氮化物led内量子效率的方法 |
CN103645033A (zh) * | 2013-11-27 | 2014-03-19 | 中国科学院半导体研究所 | 一种测量led内量子效率的方法 |
CN103645033B (zh) * | 2013-11-27 | 2016-08-17 | 中国科学院半导体研究所 | 一种测量led内量子效率的方法 |
CN103808497A (zh) * | 2014-03-05 | 2014-05-21 | 中国科学院半导体研究所 | 一种测量led内量子效率的方法 |
CN107228710B (zh) * | 2017-05-26 | 2018-08-07 | 厦门大学 | 一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法 |
CN107228710A (zh) * | 2017-05-26 | 2017-10-03 | 厦门大学 | 一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法 |
CN108845237A (zh) * | 2018-04-28 | 2018-11-20 | 广东省半导体产业技术研究院 | 一种器件性能判断方法与装置 |
CN108845237B (zh) * | 2018-04-28 | 2020-07-17 | 广东省半导体产业技术研究院 | 一种器件性能判断方法与装置 |
CN109212402A (zh) * | 2018-09-30 | 2019-01-15 | 清华大学 | 评测发光二极管内量子效率的方法 |
CN111006853A (zh) * | 2019-12-16 | 2020-04-14 | 苏州辰睿光电有限公司 | 一种用于集成激光器光传输分析的光功率确定计算方法 |
CN111006853B (zh) * | 2019-12-16 | 2021-07-20 | 苏州辰睿光电有限公司 | 一种用于集成激光器光传输分析的光功率确定方法 |
CN112117296A (zh) * | 2020-10-22 | 2020-12-22 | 厦门强力巨彩光电科技有限公司 | Led显示面板和led显示装置 |
CN112117296B (zh) * | 2020-10-22 | 2021-07-13 | 厦门强力巨彩光电科技有限公司 | Led显示面板和led显示装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102252829B (zh) | 2013-03-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102252829B (zh) | 一种测量led的内量子效率和出光效率的方法 | |
Grandusky et al. | High output power from 260 nm pseudomorphic ultraviolet light-emitting diodes with improved thermal performance | |
CN103234656B (zh) | 一种发光二极管结温的测量方法 | |
CN103217229B (zh) | 一种发光二极管的结温测量方法及应用 | |
CN103528802B (zh) | 一种利用电致发光谱测量氮化物led内量子效率的方法 | |
KR101116840B1 (ko) | 광소자의 내부 양자 우물 효율을 측정하는 방법 및 장치 | |
Dalapati et al. | Study of effective carrier lifetime and ideality factor of BPW 21 and BPW 34B photodiodes from above room temperature to liquid nitrogen temperature | |
Chen et al. | Internal quantum efficiency drop induced by the heat generation inside of light emitting diodes (LEDs) | |
KR101194349B1 (ko) | 광소자의 내부양자효율 및 재결합율을 산출하는 방법 | |
CN107919854B (zh) | 一种太阳能电池iv特性的检测装置及其检测方法 | |
CN103645033B (zh) | 一种测量led内量子效率的方法 | |
CN103808497A (zh) | 一种测量led内量子效率的方法 | |
US9945898B2 (en) | Method and device for measuring internal quantum efficiency of an optical element | |
Baumgartner et al. | Optical characterization of iii-v multijunction solar cells for temperature-independent band gap features | |
Li et al. | In-situ measurement of junction temperature and light intensity of light emitting diodes with an internal sensor unit | |
CN102185041B (zh) | 具有肖特基二极管测温的大功率led | |
CN109212402B (zh) | 评测发光二极管内量子效率的方法 | |
Kivisaari et al. | Full optoelectronic simulation of nanowire LEDs: Effects of temperature | |
Wang et al. | Light fades and life prediction of led light source | |
Santhanam et al. | Light-emitting diodes operating above unity efficiency for infrared absorption spectroscopy | |
Moore et al. | Photoluminescence excitation spectroscopy characterization of cadmium telluride solar cells | |
Andra et al. | Empirical Estimation and Analysis of the Dark Ideality factor ‘n’of single c-Si and c-GaAs Solar cells at Different Sun Irradiation | |
Ivanov et al. | Conversion of the optical and noise characteristics of ultraviolet light-emitting diodes on a setup with a wide temperature measurement of− 196° C to 100° C | |
Martikainen et al. | Cryostat setup for measuring spectral and electrical properties of light-emitting diodes at junction temperatures from 81 K to 297 K | |
Paduthol et al. | Limitations of photoluminescence based external quantum efficiency measurements |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: DONGGUAN INSTITUTE OF OPTO-ELECTRONICS PEKING UNIV Free format text: FORMER OWNER: BEIJING UNIV. Effective date: 20140221 |
|
COR | Change of bibliographic data |
Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 100871 HAIDIAN, BEIJING TO: 523808 DONGGUAN, GUANGDONG PROVINCE |
|
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20140221 Address after: 523808 Guangdong province Dongguan Songshan Lake high tech Industrial Development Zone Technology Park Building 4 Building 417, room 418 Patentee after: Dongguan Institute of Opto-Electronics Peking University Address before: 100871 Beijing the Summer Palace Road, Haidian District, No. 5 Patentee before: Peking University |
|
TR01 | Transfer of patent right |