CN102244538A - 分支光纤检测系统及方法、光分配网络和分光器 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种分支光纤检测系统,包括主干光纤、分光模块和多个分支光纤,所述分光模块包括至少一个分光器,其各个端口按照预设规则设置有用于对传送至所述分光器端口的光信号进行带通滤波的光学膜,且所述光学膜使得所述分光模块中与各个分支光纤相对应的测试链路的通带不同;所述测试设备用于根据待测分支光纤所对应的分光器端口,在测试光谱中选择与所述分光器端口的光学膜相匹配的测试波长子带,向光纤网络发送与所选测试波长子带相对应的测试信号,并且接收所述测试信号在对应分支光纤反射而形成的反射信号,并根据反射信号获取所述待测分支光纤的信道特性。本发明实施例还提供一种分支光纤检测方法、光分配网络和分光器。
Description
技术领域
本发明涉及光网络通信技术领域,尤其涉及一种分支光纤检测系统和方法,以及一种可以用于上述分支光纤检测系统的光分配网络和分光器。
背景技术
无源光网络(Passive Optical Network,PON)系统是一种点到多点的光接入网络系统,其通常包括位于局端的光线路终端(Optical Line Terminal,OLT)和位于用户侧的多个光网络单元(Optical Network Unit,ONU)。其中OLT和ONU之间采用光分配网络(Optical Distribution Network,ODN)进行连接,该ODN通常包括分光器。该分光器可以用来实现将来自局端的下行光信号通过分支光纤分配给对应用户,并将来自各个用户的上行光信号汇聚到主干光纤并发送给局端设备。
为实现光纤检测,在现有的ODN的分光器中,连接不同分支光纤的用户侧端口通常会设置有不同的带通滤波器,并且与局端设备连接的主干光纤可连接有光时域反射仪(Optical Time Domain Reflectometer,OTDR)。在进行光纤检测时,该OTDR可发出具有多个不同中心波长的测试光谱,其中该测试光谱的每个中心波长分别对应于配置在该分光器中一个用户侧端口的带通滤波器。该测试光谱经过在各个带通滤波器发生带通滤波之后,传输到各个分支光纤的测试信号分别对应于不同的中心波长。该不同波长的测试信号在分支光纤发生反射之后,反射光经过该分光器后返回该主干光纤。该OTDR通过检测该主干光纤传输的反射光,便可获知各个分支光纤的信道特性,比如是否发生断纤以及光纤的损耗分布等。
不过,在大分光比的PON系统中,比如在分光比为1∶N的网络架构下,经过分光器的分光和带通滤波之后,发送到各个分支光纤的测试信号以及对应的反射信号的光强度只有OTDR光源光强度的1/N。在采用二级分光或者多级分光的情况下,各个测试信号和反射信号的光强度更低。因此,现有技术的分支光纤检测方案存在光利用率低的问题,此容易导致OTDR在主干光纤上检测到的反射光的信噪比过低而可能造成误检。另一方面,在现有技术的分支光纤检测方案中,需要在分光器的用户侧端口分别为各个分支光纤配置不同的带通滤波器,此将导致仓储和系统维护成本过高。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种可解决上述现有技术存在问题的分支光纤检测系统和方法,同时有必要提供一种可采用该分支光纤检测方法的光分配网络以及风光器。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
本发明实施例一方面提供一种分支光纤检测系统,包括:主干光纤、分光模块和多个分支光纤,所述主干光纤的一端耦合有测试设备,另一端通过所述分光模块连接到所述多个分支光纤,所述分光模块包括至少一个分光器,所述至少一个分光器的各个端口按照预设规则设置有用于对传送至所述分光器端口的光信号进行带通滤波的光学膜,且所述光学膜使得所述分光模块中与各个分支光纤相对应的测试链路的通带不同;所述测试设备用于根据待测分支光纤所对应的分光器端口,在测试光谱中选择与所述分光器端口的光学膜相匹配的测试波长子带,向光纤网络发送与所选测试波长子带相对应的测试信号,并且接收所述测试信号在对应分支光纤反射而形成的反射信号,并根据反射信号获取所述待测分支光纤的信道特性。
本发明实施例另一方面提供一种分支光纤检测方法,应用于点到多点的光纤网络,所述光纤网络包括:主干光纤、分光模块和多个分支光纤,所述分光模块包括至少一个分光器,所述至少一个分光器的各个端口按照预设规则进行镀膜以使所述分光模块中与各个分支光纤相对应的测试链路的通带不同,所述方法包括:根据待测分支光纤所对应的分光器端口,在测试光谱中选择与所述分光器端口的光学膜相匹配的测试波长子带,向所述光纤网络发送与所选测试波长子带相对应的测试信号,通过所述分光器端口的镀膜,所述测试信号经过所述待测分支光纤所对应的分光器端口并传输至所述待测分支光纤,而在其他分支光纤对应的分光器端口被滤除而不进入其他分支光纤;接收所述测试信号在待测分支光纤反射而形成的反射信号,并根据所述反射信号获取所述待测分支光纤的信道特性。
本发明实施例还提供一种光分配网络,包括主干光纤、分光模块和多个分支光纤,其中,所述分光模块包括至少一个分光器,所述至少一个分光器的各个端口按照预设规则设置有用于对传送至所述分光器端口的光信号进行带通滤波的光学膜,且所述光学膜使得所述分光模块中与各个分支光纤相对应的测试链路的通带不同。
进一步地,本发明实施例还提供一种可以用于上述光分配网络的分光器,其包括多个分光器端口,其中各个分光器端口通过镀膜的方式对传送至所述分光器端口的光信号进行带通滤波,且不同分光器端口的通带不同。
本发明实施例提供的各种方案通过在光分配网络中分光器端口采用预设规则进行镀膜以实现在各个分光器端口对测试信号进行带通滤波,从而降低分光器的仓储和维护成本。并且,在进行分支光纤检测时,测试设备(如光时域反射仪OTDR)根据待测分支光纤所对应的镀膜方式,在测试光谱中选择与所述分支光纤对应的分光器端口相匹配的测试波长子带并发送波长与所选择的测试波长子带相对应的测试信号,使测试信号在待测分支光纤对应的测试链路上的传输过程中不会发生大量光功率衰减,从而提高分支光纤检测时的光利用率,提高测试精度。
附图说明
图1为本发明实施例提供的方案可以适用的PON系统的结构示意图;
图2为图1所示PON系统的光分配网络采用一级分光时的结构示意图;
图3为图1所示PON系统的光分配网络采用两级分光时的结构示意图;
图4为图1所示PON系统的光分配网络采用多级分光时的结构示意图;
图5为本发明实施例的分支光纤检测系统采用一级分光时分光器端口镀膜示意图;
图6为本发明实施例的分支光纤检测系统采用两级分光时第二级分光器端口镀膜示意图;
图7为本发明实施例的分支光纤检测系统采用两级分光时第一级分光器端口镀膜示意图;
图8为本发明实施例的分支光纤检测方法的流程图;
图9为本发明实施例的分支光纤检测系统的流程图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明实施例提供的分支光纤检测方法、系统和分光器进行详细的说明。
本发明实施例提供的各种技术方案可以适用于点到多点的光纤网络,如无源光网络PON系统。为便于理解,以下实施例以应用在PON系统为例进行描述,不过,应当理解,本发明实施例提供的各种技术方案并不限于应用在PON系统,所属技术领域的技术人员可以通过以下具体实施方式的内容知悉,本发明实施例提供的各种技术方案还可以应用于其他光纤网络。
本发明实施例为解决现有技术存在的问题,通过在光分配网络中分光器端口采用预设规则进行镀膜以实现在各个分光器端口对测试信号进行带通滤波,从而降低分光器的仓储和维护成本。并且,在进行分支光纤检测时,测试设备(如光时域反射仪OTDR)根据待测分支光纤所对应的镀膜方式,在测试光谱中选择与所述分支光纤对应的分光器端口相匹配的测试波长子带并发送波长与所选择的测试波长子带相对应的测试信号,使测试信号在待测分支光纤对应的测试链路上的传输过程中不会发生大量光功率衰减,从而提高分支光纤检测时的光利用率,提高测试精度。
请参阅图1,其为本发明实施例可以应用在的无源光网络PON系统的架构图。所述PON系统100包括局端通信设备(比如光线路终端OLT)110、测试设备(比如光时域反射仪OTDR)120、光分配网络ODN 130和多个用户侧通信设备(比如光网络单元ONU)140。其中,所述局端通信设备110通过所述光分配网络130以点到多点的方式连接到所述用户侧通信设备140。并且,通过所述光分配网络130,在下行方向,所述局端通信设备110可以采用时分复用(TDM)的方式与所述多个用户侧通信设备140进行通信,而在上行方向,所述多个用户侧通信设备140可采用时分多址(TDMA)的方式与所述局端通信设备110进行通信。
所述光分配网络130可以包括主干光纤131、分光模块132和多个分支光纤133。其中所述分光模块132包括网络侧端口134和多个用户侧端口135。所述网络侧端口134通过所述主干光纤131连接到所述局端通信设备110,且每个用户侧端口135分别通过一个分支光纤133连接到对应的用户侧通信设备140。
所述测试设备120可通过波分复用器(WDM)耦合到所述主干光纤131,且其可以用于通过所述主干光纤131和分光模块132向所述分支光纤133发送测试信号,并接收所述测试信号在所述分支光纤133反射而返回的反射信号。在具体实施例中,所述测试设备120采用可调激光器进行测试信号的发送,并且其发送的用于检测不同分支光纤的测试信号各不相同。比如,所述测试设备120采用的测试光谱可以包括多个测试波长子带,且其发出的用于检测不同分支光纤的测试信号的波长可以分别位于其中不同的测试波长子带,即不同分支光纤分别对应于不同的测试波长子带。并且,所述测试设备120内部可以预先配置有所述分支光纤与波长子带的对应关系,并且在对某一分支光纤进行检测时可根据所述对应关系选择与所述分支光纤对应的测试波长子带并发送对应的测试信号。
在所述光分配网络130中,所述分光模块132可通过分光器(Splitter)对来自局端的下行光信号(包括测试设备120发送的测试信号)进行分路处理,并对来自用户侧的上行光信号进行汇聚处理。在具体实现上,所述光分配网络130可以通过一个或多个分光器实现一级分光、两级分光或者多级分光。
具体地,请参阅图2,当所述光分配网络130采用一级分光时,所述分光模块132可以为一个单独的分光器,且该分光器的各个端口可作为所述用户侧端口135。请参阅图3,当所述光分配网络130采用两级分光时,所述分光模块132可以具有多个分光器,包括一个第一级分光器和多个连接到所述第一级分光器的第二级分光器。其中所述第一级分光器的各个端口分别通过光纤连接到对应的第二级分光器,且所述第二级分光器的各个端口可分别作为所述分光模块132的用户侧端口135。请参阅图4,当所述光分配网络130采用多级分光时,所述分光模块132的具体实现可在以上二级分光基础上进行对应的扩展。
另一方面,在本发明实施例中,所述分光模块132中的每个分光器的端口分别通过特定的镀膜方式以实现带通滤波,并且所述分光器端口的镀膜方式可以使得所述分光模块132中与各个分支光纤133对应测试链路的通带均为不同,即使得每个用户侧端口135所对应的通带均为不同。比如,所述分光器端口可以按照预设规定分别镀有特定的光学膜,所述光学膜可以相当于一个简化的带通滤波器,用于限制各个分支光纤133对应的测试链路可以通过的测试信号。具体地,所述光学膜可以使得由所述测试设备120提供的且波长与待测分支光纤133相匹配的测试信号可以完全通过所述待测分支光纤133连接的用户侧端口135,并使所述测试信号在所述待测分支光纤133上反射而形成的反射信号返回给所述测试设备120,并且可以使得由所述测试设备120发出的其他波长的测试信号无法通过所述用户侧端口135,即阻止波长与待测分支光纤133不对应的测试信号通过所述用户侧端口135。
为便于描述,假定所述光分配网络130可以实现分光比为1∶N的分光处理。
在一种具体实施例中,所述光分配网络130采用一级分光,所述分光模块(即一单独的分光器)132的N个用户侧端口135分别镀有不同的光学膜,每种光学膜分别对应于不同的通带。在具体实现上,比如,可以将所述测试设备120采用的测试光谱进行N等分以形成N个波长子带ΔB1~ΔBN,所述分光器132的每个端口所镀的光学膜可以分别对应于其中一个波长子带(如图5所示),从而使得每个用户侧端口135只允许波长与所述端口连接的分支光纤相对应的测试信号通过。
在另一种具体实施例中,所述光分配网络130采用两级分光,且N=m×n。所述分光模块132包括一个分光比为1∶m的第一级分光器和m个分光比为1∶n的第二级分光器。其中,所述第一级分光器和所述m个第二级分光器的端口可按照预设规则分别进行镀膜处理,以使所述分光模块132中与所述m×n个分支光纤对应的测试链路分别对应于不同的通带,比如使得所述m×n个用户侧端口135分别对应不同的通带。
在具体实现上,可选地,可以将所述测试设备120的测试光谱进行N等分以形成N个测试波长子带ΔB1~ΔBN。并且,将所述第一级分光器的m个端口所镀有的光学膜对应的通带分别定义为m个第一波长子带,将每个第二级分光器的n个端口所镀有的光学膜对应的通带分别定义为n个第二波长子带ΔC1~ΔCn。其中,所述m个第一波长子带各不相同,所述m个第二级分光器的端口镀膜方式是一致的,且所述n个第二波长子带可以是将测试光谱进行n等分而形成。并且,每个第二波长子带ΔC1~ΔCn分别包括m个测试波长子带。
比如,假定N=32且m=4、n=8,则ΔC1可以包括ΔB1~ΔB4,ΔC2包括ΔB5~ΔB8,以此类推,如图6所示。并且,每个第二级分光器的n个端口所镀的光学膜可以分别对应于其中一个第二波长子带ΔC1、ΔC2......或ΔCn,而所述第一级分光器的每个端口所镀的光学膜所对应的第一波长子带可分别包括n个相互间隔的测试波长子带,且其中所述n个相互间隔的测试波长子带中的每个测试波长子带分别位于不同的第二波长子带,另外,所述第一分光器中不同端口所对应的第一波长子带互不相同且互不交迭。比如,在m=4、n=8的情况下,所述第一级分光器的第一个端口的光学膜对应于八个测试波长子带ΔBi1(其中i1=1,5,9,13,17,21,25,29),第二个端口的光学膜对应于八个测试波长子带ΔBi2(i2=2,6,10,14,18,22,26,30),以此类推,如图7所示。
当然,应当理解,以上所述仅是在所述光分配网络130采用两级分光时可以采用的一种可选的镀膜方式,在实际应用上还可以采用其他镀膜方式,只要所采用的镀膜方式可以使得所述m×n个用户侧端口135分别对应于不同的通带便可。
进一步地,当所述光分配网络130采用多级分光时,所述分光模块132中各个分光器可以采用的具体镀膜方式可以参照上述方案进行类推。基于上述PON系统100,本发明实施例首先提供一种分支光纤检测方法。请参阅图8,所述方法可以包括:
步骤S1:根据待测分支光纤对应的分光器端口,所述测试设备120在测试光谱中选择与所述分光器端口的镀膜相对应的测试波长子带,并发送与所述波长子带相对应的测试信号。
具体地,所述测试设备120内部可以预先配置有分支光纤与测试波长子带的对应关系,其中,所述测试光谱中的每一测试波长子带分别对应于一个分支光纤133。如上所述,在所述光分配网络130中,通过在分光器端口进行镀膜的方式实现带通滤波,且每个分支光纤133所对应的分光器端口的具体镀膜方式分别可以使得带通滤波的通带为所述分支光纤133对应的测试波长子带。因此,通过所述分支光纤与测试波长子带的对应关系,所述测试设备120便可获知待测分支光纤所对应的分光器端口的镀膜方式,并在测试光谱中选择与所述镀膜相匹配的测试波长子带。在所述对应关系中,可选地,所述分支光纤可通过分支光纤标识进行表示。进一步地,所述测试设备120可以通过其内部的可调激光器生成并发送与所述测试波长子带相对应的测试信号,其中所述测试信号的谱宽可以为完全覆盖所述测试波长子带,也可以为仅为所述测试波长子带的一部分,甚至还可以为所述测试波长子带中的单一波长信号。
或者,由于每个分支光纤133分别对应于不同的分光器端口,因此所述分支光纤可以通过其对应的分光器端口的端口号进行表示,相对应地,所述分支光纤与测试波长子带的对应关系便可通过分光器端口号与测试波波长子带的对应关系来实现。
当所述光分配网络130采用单级分光时,每一分支光纤133分别连接在分光器的其中一端口,因此每一分支光纤133分别对应于一个端口号,即所述分光器中与所述分支光纤133相连接的端口的端口号。当所述光分配网络130采用两级分光时,每一分支光纤133分别对应于两个分光器端口号,其中一个为第二级分光器中与所述分支光纤133对应的端口号,即所述第二级分光器中与所述分支光纤133相连接的端口的端口号,另一个为第一级分光器中与所述分支光纤133对应的端口号,即所述第一级分光器中与所述第二级分光器相连接的端口的端口号。相类似地,当所述光分配网络130采用多级分光时,每一分支光纤133分别对应于多个分光器端口号。
在本实施例提供的分支光纤检测方法中,若所述分支光纤通过其对应的分光器端口号来表示,则所述测试设备120可以根据待测分支光纤对应的分光器端口号,在测试光谱中选择测试波波长子带并生成对应的测试信号。
步骤S2:所述光分配网络130通过在其分光模块132内部的分光器端口所镀的光学膜分别对所述测试信号进行带通滤波,以将所述测试信号传送到所述待测分支光纤133并阻止所述测试信号进入其他分支光纤133。
具体地,在所述光分配网络130中,所述测试信号通过所述主干光纤131进入所述分光模块132,所述分光模块132内部的分光器对所述测试信号进行分光处理并发送到所述分光器的各个端口,所述分光器的各个端口通过其所镀的光学膜分别对所述测试信号进行带通滤波,以使所述测试信号通过所述分光器中与所述待测分支光纤相对应的端口,并在其他端口被滤除掉,并且使得用于检测其他分支光纤133的测试信号在所述分光器端口被滤除。
可选地,当所述光分配网络130采用两级分光时,所述步骤S2还可以包括:
所述分光器将与所述待测分支光纤对应的端口通过的测试信号送入与所述端口连接的下一级分光器,所述下一级分光器进一步对所述测试信号进行分光处理并发送到所述下一级分光器的各个端口。相类似地,所述下一级分光器的各个端口进一步通过其所镀有的光学膜分别对所述测试信号进行带通滤波,以使所述测试信号通过与所述待测分支光纤对应的端口并发送到所述待测分支光纤,并在所述下一级分光器的其他端口被滤除掉。
步骤S3,所述待测分支光纤133在其末端对所述测试信号进行反射,反射信号进一步通过所述待测分支光纤133、分光模块132和主干光纤131返回所述测试设备120。
具体地,在所述光纤网络中,每个分支光纤133邻近用户侧的一端可以设置有反射镜,比如所述反射镜可以通过波分复用器耦合到所述分支光纤133末端,或者,所述反射镜也可以设置在与所述分支光纤133相连接的光网络单元140中。当测试信号通过所述分支光纤133传送到所述反射镜时,所述测试信号将被所述反射镜反射而转换为反射信号。所述反射信号沿原路径返回,由于所述反射信号的波长与所述测试信号相对应,因此其可以直接通过原路径上的分光器端口所镀的光学膜,并经由所述主干光纤131进入所述测试设备120。
步骤S4,所述测试设备120接收所述反射信号,并对其波长进行检测以获取其所对应的波长子带,进一步地,所述测试设备120可以通过查询预先设置在其内部的波长子带与分支光纤的对应关系,获知所述反射信号所对应的分支光纤133,即所述待测分支光纤,并通过所述反射信号获取待测分支光纤133的信道特性。
为更好地理解本发明实施例提供的方案,下面以光纤网络为两级分光且分光比为1∶32(第一级分光为1∶4,第二级分光为1∶8)为例进行实例说明。
请参阅图9,其为本实施例所采用对分光比为1∶32的光纤网络进行分支光纤检测的系统结构示意图,为更清楚直接地表示本实施例的检测方案,图9并没有表示出局端和用户侧的通信设备。如图9所示,所述分支光纤检测系统包括:测试仪、一个分光比为1∶4的第一级分光器和四个分光比为1∶8的第二级分光器。其中,所述测试仪包括测试光发射光源TLS(Tunable Laser Source,超宽带可调谐激光器)和PD(Photo Detector,光感测器)。其中所述TLS和PD通过光纤连接器连接到主干光纤的一端。所述第一级分光器连接到所述主干光纤的另一端,且其包括四个端口。所述四个第二级分光器分别连接到所述第一级分光器的其中一端口,且每个第二级分光器包括八个端口,即所述四个第二级分光器共包括32个端口,其中每个第二级分光器端口分别连接至一分支光纤。
在本实施例中,所述测试仪可采用的测试光谱的宽度U-Band为1625nm-1675nm。
所述第一级分光器和第二级分光器通过在其分光器端口进行镀膜的方式实现带通滤波,且其中第一级分光器端口所镀的光学膜与第二级分光器端口所镀的光学膜相互配合,使每个分支光纤所对应的测试链路的通带各不相同。比如,在本实施例中,所述第一级分光器的端口与所述四个第二级分光器的端口可以采用梳齿交叉镀膜的方式,实现在所述第一级和第二级中与每一分支光纤所对应的测试链路具有预先设定的带通滤波功能。
具体而言,上述梳齿交叉镀膜方式可以如下:
由于所述光纤网络的分光比为1∶32,因此可以将所述测试光谱U-Band的宽度平均进行32等分,从而划分为32个测试波长子带ΔBi(1≤i≤32),其中每个测试波长子带ΔBi带宽为(1675nm-1625nm)/32。
将所述第一级分光器的四个端口分别记为端口P11~P14,本实施例中,端口P11所镀的光学膜可以对应于测试波长子带ΔB1、ΔB5、ΔB9、ΔB13、ΔB17、ΔB21、ΔB25和ΔB29的集合,端口P12所镀的光学膜可以对应于测试波长子带ΔB2、ΔB6、ΔB10、ΔB14、ΔB18、ΔB22、ΔB26和ΔB30的集合,端口P11所镀的光学膜可以对应于测试波长子带ΔB3、ΔB7、ΔB11、ΔB15、ΔB19、ΔB23、ΔB27和ΔB31的集合,端口P11所镀的光学膜可以对应于测试波长子带ΔB4、ΔB8、ΔB12、ΔB16、ΔB20、ΔB24、ΔB28和ΔB32的集合。若将所述第一级分光器四个端口所镀的光学膜对应的通带分别定义为四个第一波长子带,则不同的第一波长子带互不相同和互不交迭。
在所述四个第二级分光器中,将第一个第二级分光器的八个端口分别记为端口P21~P28,第二个第二级分光器的八个端口分别记为P31~P38,第三个第二级分光器的八个端口分别记为P41~P48,第四个第二级分光器的八个端口分别记为P51~P58。
在本实施例中,端口P21、P31、P41和P51所镀的光学膜是相同的,其分别对应于测试波长子带ΔB1~ΔB4的集合;端口P22、P32、P42和P52所镀的光学膜是相同的,其分别对应于测试波长子带ΔB5~ΔB8的集合;端口P23、P33、P43和P53所镀的光学膜是相同的,其分别对应于测试波长子带ΔB9~ΔB12的集合;端口P24、P34、P44和P54所镀的光学膜是相同的,其分别对应于测试波长子带ΔB13~ΔB16的集合;端口P25、P35、P45和P55所镀的光学膜是相同的,其分别对应于测试波长子带ΔB17~ΔB20的集合;端口P26、P36、P46和P56所镀的光学膜是相同的,其分别对应于测试波长子带ΔB21~ΔB24的集合;端口P27、P37、P47和P57所镀的光学膜是相同的,其分别对应于测试波长子带ΔB25~ΔB28的集合;端口P28、P38、P48和P58所镀的光学膜是相同的,其分别对应于测试波长子带ΔB29~ΔB32的集合。
也就是说,对于所述四个第二级分光器而言,其端口的镀膜方式是统一的。若将所述第二级分光器八个端口所镀的光学膜对应的通带分别定义为八个第二波长子带,则不同的第二波长子带也互不相同也互不交迭。所述八个第二波长子带可以是通过将所述测试光谱U-Band的宽度平均进行八等分得到。由此,每个第二级分光器的八个端口所镀的光学膜分别对应于其中一个第二波长子带,且每个第二波长子带分别包括四个相邻的测试波长子带。
并且,通过上面的描述可以看出,每个第一波长子带可以分别对应于八个相互间隔的测试波长子带,且其中所述八个相互间隔的第一波长子带中的每个第一波长子带分别位于不同的第二波长子带。
图9所示的分支光纤检测系统的具体工作过程可以如下:
首先,所述测试仪根据待测分支光纤对应的分光器端口的镀膜方式,选择对应的测试波长子带,并调整其内部的TLS的发射波长,以使所述TLS发射出的测试信号的波长与所述待测分支光纤对应的分光器端口通过镀膜形成的带通滤波器的通带相匹配。假定对第一个分支光纤进行检测,所述TLS发射的测试信号的波长对应于测试波长子带ΔB1。
所述测试信号经过所述第一级分光器的分光处理之后传送至所述第一级分光器的四个端口,所述第一级分光器分别通过各个端口所镀的光学膜分别对传送到各个端口的测试信号进行滤波。由于所述第一级分光器中只有端口P11的通带与所述测试波长子带ΔB1相匹配,因此所述测试信号只能通过所述端口P11并进一步进入所述第一个第二级分光器。
相类似地,由所述端口P11输出的测试信号经过所述第一个第二级分光器的分光处理之后传送至所述第一个第二级分光器的八个端口,所述第二级分光器分别通过各个端口所镀的光学膜分别对传送到各个端口的测试信号进行滤波。由于所述第一级分光器中只有端口P21的通带与所述测试波长子带ΔB1相匹配,因此所述测试信号只能通过所述端口P21并进一步进入第一个分支光纤。通过分光器端口所镀的光学膜的滤波作用,所述测试信号被限制为只能传送至所述待测分支光纤。
进一步地,所述待测分支光纤在其末端对所述测试信号进行发射,反射信号进一步通过原路径返回至所述测试仪,并被所述测试仪的PD所接收。接着,所述测试仪可对其接收到的反射信号进行波长检测以得到所述反射信号的波长所位于的测试波长子带ΔB1,由此获知所述反射信号所对应的分支光纤,即所述待测分支光纤,进一步地,所述测试仪可以通过所述反射信号获取到待测分支光纤的信道特性。
通过以上的实施方式的描述,本领域普通技术人员可以理解:实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,包括如上述方法实施例的步骤,所述的存储介质,如:ROM/RAM、磁碟、光盘等。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (13)
1.一种分支光纤检测系统,包括:主干光纤、分光模块和多个分支光纤,所述主干光纤的一端耦合有测试设备,另一端通过所述分光模块连接到所述多个分支光纤,其特征在于:
所述分光模块包括至少一个分光器,所述至少一个分光器的各个端口按照预设规则设置有用于对传送至所述分光器端口的光信号进行带通滤波的光学膜,且所述光学膜使得所述分光模块中与各个分支光纤相对应的测试链路的通带不同;
所述测试设备用于根据待测分支光纤所对应的分光器端口,在测试光谱中选择与所述分光器端口的光学膜相匹配的测试波长子带,向光纤网络发送与所选测试波长子带相对应的测试信号,并且接收所述测试信号在对应分支光纤反射而形成的反射信号,并根据反射信号获取所述待测分支光纤的信道特性。
2.如权利要求1所述的分支光纤检测系统,其特征在于,所述分光模块为一个分光比为1∶N的分光器,所述测试光谱包括N个测试波长子带,且所述分光器的每个端口所设置的光学膜分别对应于一个测试波长子带。
3.如权利要求1所述的分支光纤检测系统,其特征在于,所述测试光谱包括N个测试波长子带,所述分光模块的分光比为1∶N,其中N=m×n,且所述分光模块包括一个连接到所述主干光纤且分光比为1∶m的第一级分光器和m个分光比为1∶n的第二级分光器,其中所述m个第二级分光器分别连接到所述第一级分光器的m个端口,且不同的第二级分光器端口分别连接到不同的分支光纤。
4.如权利要求3所述的分支光纤检测系统,其特征在于,所述第一级分光器的m个端口所设置的光学膜分别对应于m个不同的第一波长子带,所述m个第二级分光器的端口镀膜方式是一致的,且每个第二级分光器中n个端口所设置的光学膜分别对应于n个不同的第二波长子带,其中不同的第一波长子带不相互交迭,不同的第二波长子带也不相互交迭,每个第二波长子带分别包括m个相邻的测试波长子带,每个第一波长子带分别包括n个相互间隔的测试波长子带,且其中所述n个相互间隔的第一波长子带中的各个测试波长子带分别位于不同的第二波长子带。
5.如权利要求1所述的分支光纤检测系统,其特征在于,所述预设规则为梳齿交叉间隔的镀膜方式。
6.如权利要求1至5中任一项所述的分支光纤检测系统,其特征在于,所述测试设备内部预先设置有分支光纤与测试波长子带的对应关系,其中不同的测试波长子带分别对应于不同的分支光纤,且所述测试设备在对待测分支光纤进行检测时可根据所述对应关系选择与所述待测分支光纤对应的测试波长子带并发送对应波长的测试信号。
7.如权利要求1至5中任一项所述的分支光纤检测系统,其特征在于,所述测试设备内部预先设置有分光器端口号与测试波长子带的对应关系,其中不同的测试波长子带分别对应于不同的分光器端口号,且所述测试设备在对待测分支光纤进行检测时可根据所述对应关系选择与所述待测分支光纤连接到的分光器端口的端口号对应的测试波长子带并发送对应波长的测试信号。
8.一种分支光纤检测方法,应用于点到多点的光纤网络,所述光纤网络包括:主干光纤、分光模块和多个分支光纤,所述分光模块包括至少一个分光器,所述至少一个分光器的各个端口按照预设规则进行镀膜以使所述分光模块中与各个分支光纤相对应的测试链路的通带不同,其特征在于,所述方法包括:
根据待测分支光纤所对应的分光器端口,在测试光谱中选择与所述分光器端口的光学膜相匹配的测试波长子带,向所述光纤网络发送与所选测试波长子带相对应的测试信号,通过所述分光器端口的镀膜,所述测试信号经过所述待测分支光纤所对应的分光器端口并传输至所述待测分支光纤,而在其他分支光纤对应的分光器端口被滤除而不进入其他分支光纤;
接收所述测试信号在待测分支光纤反射而形成的反射信号,并根据所述反射信号获取所述待测分支光纤的信道特性。
9.一种光分配网络,其特征在于,包括主干光纤、分光模块和多个分支光纤,其中,所述分光模块包括至少一个分光器,所述至少一个分光器的各个端口按照预设规则设置有用于对传送至所述分光器端口的光信号进行带通滤波的光学膜,且所述光学膜使得所述分光模块中与各个分支光纤相对应的测试链路的通带不同。
10.如权利要求9所述的光分配网络,其特征在于,所述至少一分光器用于接收通过所述主干光纤传送的测试信号,其中所述测试信号的波长位于测试光谱中的预设波长子带,且所述预设波长子带与待测分支光纤所镀的光学膜相匹配。
11.如权利要求10所述的光分配网络,所述测试光谱包括N个测试波长子带,所述分光模块的分光比为1∶N,其中N=m×n,且所述分光模块包括一个连接到所述主干光纤且分光比为1∶m的第一级分光器和m个分光比为1∶n的第二级分光器,所述第一级分光器的m个端口所设置的光学膜分别对应于m个不同的第一波长子带,所述m个第二级分光器的端口镀膜方式是一致的,且每个第二级分光器中n个端口所设置的光学膜分别对应于n个不同的第二波长子带,其中不同的第一波长子带不相互交迭,不同的第二波长子带也不相互交迭,每个第二波长子带分别包括m个相邻的测试波长子带,每个第一波长子带分别包括n个相互间隔的测试波长子带,且其中所述n个相互间隔的第一波长子带中的各个测试波长子带分别位于不同的第二波长子带。
12.如权利要求11所述的光分配网络,其特征在于,所述预设规则为梳齿交叉间隔的镀膜方式。
13.一种用于如权利要求9所述的光分配网络的分光器,其特征在于,包括多个分光器端口,其中各个分光器端口通过镀膜的方式对传送至所述分光器端口的光信号进行带通滤波,且不同分光器端口的通带不同。
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
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C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |