TWI387765B - Passive Optical Network Fiber Test and Monitoring Device and Method - Google Patents

Description

被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法

本發明係關於一種被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法，特別係指一種可由光線路終端(Optical Line Termination,OLT)端，以可調式光時域反射器測試主幹線光纖與各分支光纖路由之光纖光損失、長度，光纖事件點之位置、光損失、光反射損失以及障礙點位置之被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法。

被動式光網路由於使用光分歧器之樹狀架構緣故，進行光纖監測向來有其困難度，傳統上使用光時域反射器(Optical Time Domain Reflectometer,OTDR)的測試方式，但所有分支路由的信號均疊加在一起，在光時域反射器軌跡圖上不僅無法進行一般光時域反射器的光纖與事件點光特性分析甚至無法識別出任何分支光纖路由。為了解決識別問題，有在分支光纖路由末端加裝主動識別組件，但需配合通信網路與機房端的控制電腦互動，往往增加監測系統複雜度；亦有用調整各分支光纖路由長度並且增加光反射單元做為識別組件，但因分支光纖路由長短不一，於設計與安裝時均有其困難性；此外，光時域射器有動態範圍(Dynamic Range)與盲區(Dead Zone)限制之故，在分支光纖路由數目增多時，將使得監測目標難以實現。

本案發明人鑑於上述習用方式的各項缺點，乃亟思加以改良創新，並經多年苦心孤詣潛心研究後，終於成功研發完成本件被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法。

本發明之目的即在於提供一種利用一組低成本、架構簡單且影響通信系統性能極微的被動式元件，配合可調式光時域反射器的使用，以達到可由光線路終端(OLT)端即可進行被動式光網路(PON)之主幹線光纖與各分支光纖路由之光纖光損失、長度，光纖事件點之位置、光損失、光反射損失以及障礙點位置之被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法。

本發明之次一目的即在於提供一種以此架構測試被動式光網路其測試方式與測試結果分析幾乎與傳統點對點光纖路由測試相同，由此可解決被動式光網路維護與障礙查測試須遠赴用戶端測試的問題，可大幅降低維護與障礙查測成本與增加時效。

本發明之另一目的即在於提供一種由於不經由高光損失的之被動式光網路光分歧器，使用可調式光時域反射器測試時不僅可大幅提高測試距離亦可以較窄脈波寬度(Pulse width)測試以提高測試解析度、減少盲區(Dead zone)大小。

達成上述發明目的之被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法，係以可調式光時域反射器(Tunable OTDR)以及各種寬度通帶(Pass band)之分波多工器，可依據PON系統測試或監測需求架構出各種測試與監測裝置及使用該裝置之測試與監測方法，其所使用分波多工器包括高密度分波多工器(Dense Wavelength Division Multiplexer,DWDM)、粗分波多工器(Coarse Wavelength Division Multiplexer,CWDM)以及寬頻帶分波多工器(Wide pass band Wavelength Division Multiplexer,WWDM)。其方法為於光線路終端(OLT)端，使用可調式光時域反射器發送出之特定波長測試光以避開通過PON系統高光損失之光分歧器(Optical splitter)方式經由測試用光纖或PON系統光纖路由與各種分波多工器的引導至待測分支光纖路由。前所述可調式光時域反射器可輸出窄波譜寬度測試光只通過高密度分波多工器(Dense Wavelength Division Multiplexer)其中一波道而且可調整其測試光波長以測試連接於高密度分波多工器各波道之分支光纖路由(Branched optical fiber loop)。對於連接光線路終端(OLT)之主光纖路由可由寬頻帶分波多工器(Wideband Wavelength Division Multiplexer)將通信服務光與可調式OTDR測試光合併於主光纖路由傳送。至於由光線路終端(OLT)至光網路單元(Optical Network Unit,ONU)須經過兩個光分歧器之PON系統，於寬頻帶分波多工器與高密度分波多工器之間以粗分波多工器(Coarse wavelength division multiplexer)將連接同一光分歧器之用戶端次分支光纖之測試波長使用粗分波多工器同一波道。由此可調式OTDR經由調整其輸出波長可測試或監測PON系統所有主分支光纖路由與次分支光纖路由並可對主幹線分支光纖路由測試或監測。可調式OTDR只要調整其測試波長為高密度分波多工器某一通道的特定波長時即可針對該對應分支光纖路由測試而不受其他分支光纖路由的影響。為了避免測試或監測光影響通信系統，於光網路單元(Optical Network Unit,ONU)前裝置有光濾波器以阻止測試或監測光進入光網路單元(ONU)但允許被動式光網路(PON)系統通訊光通過。

請參閱圖一所示，為本發明所使用高密度分波多工器100示意圖。各波長光λ1、λ2、λ3、...、λn 103符合高密度分波多工器之波道間隔、通帶與中心波長，並由高密度分波多工器100之共同埠(Common Port)101進入時被分波解多工由各相對波道埠102輸出，以符合符合高密度分波多工器某特定波道之通帶與中心波長之波長光104。各波道之波道間隔(Channel spacing)、通帶(Passband)與中心波長(Center wavelength)視分支光纖路由數而定。前述各種不同波長光λ1、λ2、λ3、...、λn 103所屬波帶(Wavelength band)須避免與PON通信系統之通訊光波段重疊。

請參閱圖二所示，為本發明所使用寬頻帶分波多工器200示意圖。不同波帶之PON系統通信光λS 205與各波長光λ1、λ2、λ3、...、λn 204一起進入寬頻帶分波多工器的共同埠(Common Port)201，PON系統通信光λS205被分波解多工至通過埠(Pass Port)203輸出，其他於同一波帶之各波長光λ1、λ2、λ3、...、λn 204則被分波解多工由輸出埠(Express port)202輸出。

請參閱圖三所示，為為本發明所使用粗分波多工器(CWDM)300示意圖。其各波道通帶寬度(Channel pass band width)允許多個DWDM波道光通過。當多組DWDM波道光λ11、λ12、...、λnm303進入粗分波多工器(CWDM)110的共同埠301時，會依據其所屬波道波長範圍由各波道輸出。如λ11、λ12、...、λ1m304會由各波道埠302中之相對波道輸出。

請參閱圖四所示，為本發明裝置使用於測試或監測PON系統之分支光纖路由之架構圖，包含測試或監測儀器、PON系統分支光纖路由及連接以上兩者之模組A 50。其中該模組A 50由高密度分波多工器10、PON系統光分歧器(Optical Splitter)72與至少一個寬頻帶分波多工器20組成，並由高密度分波多工器10連接一測試埠51以連接可調式光時域反射器(OTDR)40，由PON系統光分歧器(Optical Splitter)72連接一通信埠52以連接光網路單元(OLT)70，由寬頻帶分波多工器20連接至少一個分歧埠53以連接PON系統分支光纖路由60。該模組A 50之高密度分波多工器10具有前述圖一高密度分波多工器100功能特性，而寬頻帶分波多工器20具有前述圖二寬頻帶分波多工器200功能特性。其中高密度分波多工器10各波道以光纖42連接寬頻帶分波多工器20的輸出埠(Express port)，PON系統之光分歧器72之各分支埠以光纖43連接至寬頻帶分波多工器20通過埠(Pass Port)，PON系統之分支光纖路由60連接至寬頻帶分波多工器20的共同埠(Common Port)。依據前述圖一高密度分波多工器100與前述圖二寬頻帶分波多工器200的特性，可調式光時域反射器40以符合高密度分波多工器100中任一波道的波長光經由測試或監測用光纖路由41連接模組A 50之測試埠51以連接高密度分波多工器10的共同埠。由於可調式光時域反射器40測試光只會被傳送到該波道經由寬頻帶分波多工器10所連接之分支光纖路由60，因此可調式光時域反射器40只會顯示前述之分支光纖路由60與測試或監測用光纖路由41之測試曲線而不會有所有分支光纖路由測試曲線重疊現象。此外，可調式光時域反射器40測試之光纖路由不經PON系統之光分歧器72，可大幅提高測試距離亦可以較窄脈波寬度(Pulse width)測試以提高測試解析度、減少盲區(Dead Zone)大小。

請參閱圖五與圖六所示，為使用圖四測試架構分別對不同光纖長度之分支光纖路由60進行測試的結果，顯示測試結果的曲線不會有所有分支光纖路由測試曲線重疊現象。

請參閱圖七所示，為本發明裝置使用於測試或監測單一光分歧器PON系統之主光纖路由與各分支光纖路由之架構圖，係將PON系統之光網路單元70與可調式光時域反射器40以一個寬頻帶分波多工器22連接，使測試或監測光與PON系統通信光可使用PON系統之主幹線光纖路由61，以連接模組B 54之共同埠55。該模組B 54為將模組A 50中之光分歧器72與高密度分波多工器10之前使用另一個寬頻帶分波多工器21連接，形成模組B 54之共同埠55，由此不但可分別對各分支光纖路由60進行測試或監測並可對PON系統主幹線光纖路由61進行測試或監測。其中，該高密度分波多工器10係透過光纖32與寬頻帶分波多工器20進行連接。

請參閱圖八所示，為本發明裝置使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之主分支光纖路由之架構圖，係在圖四之模組A 50與PON系統分支光纖路由60之間加入主分支光纖路由62及另一光分歧器74，其中主分支光纖路由62連接模組A 50之分歧埠53及光分歧器74之共同埠，再由光分歧器74連接PON系統分支光纖路由60，以形成具兩階光分歧器架構之PON通信系統。由此可調式光時域反射器40可分別對主分支光纖路由62進行測試或監測，而所有次分支光纖路由60之可調式光時域反射器測試曲線的信號會疊加在一起。

請參閱圖九所示，為本發明裝置使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之幹線光纖路由、主分支光纖路由之架構圖，係在圖七之模組B 54與PON系統分支光纖路由60之間加入主分支光纖路由62及另一光分歧器74，其中主分支光纖路由62連接模組B 54之分歧埠56及光分歧器74之共同埠，再由光分歧器74連接PON系統分支光纖路由60，以形成使用兩階光分歧器架構之PON通信系統。由此可調式光時域反射器40可分別對幹線光纖61與主分支光纖路由62進行測試或監測，而所有次分支光纖路由60之光時域反射器測試曲線的信號會疊加在一起。

請參閱圖十所示，為本發明裝置使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之單一主分支光纖路由與各分支光纖路由之架構圖，係在圖七之模組B 54與光網路單元70之間加入光分歧器73，使得光網路單元70以主幹線光纖路由61連接光分歧器73，再由光分歧器73中的分歧埠76與可調式光時域反射器40連接一個寬頻帶分波多工器23。該寬頻帶分波多工器23以主分支光纖路由62與模組B 54連接，以形成兩階光分歧器架構之PON通信系統測試或監測，此架構使可調式光時域反射器40可對其所連接之主分支光纖路由62與各個此分支光纖路由60進行測試或監測。

請參閱圖十一所示，為本發明裝置使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統各分支光纖路由之架構圖，係將可調式OTDR 40以測試用光纖路由41連接粗分波多工器30，再由粗分波多工器30各波道分別以光纖42連接複數個模組A 50之測試埠51，而各分支光纖路由60連接複數個模組A 50之分歧埠53。光網路單元70以主幹線光纖路由61連接至第1階段光分歧器73，前述之光分歧器73由主分支光纖路由62連接至模組A 50之通信埠52。各模組A50中高密度分波多工器分別使用粗分波多工器30不同波道且高密度分波多工器所有波道光皆可由該粗分波多工器30之同一波道通過，由此可調式光時域反射器40可經由調整其輸出波長逐一測試PON系統所有次分支光纖路由60。

請參閱圖十二所示，為本發明裝置使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之各主分支光纖路由與各分支光纖路由之架構圖，使用粗分波多工器30、寬頻帶分波多工器24與模組B 54於兩階光分歧器架構之PON通信系統測試或監測。可調式OTDR 40以測試用測試或監測用光纖路由41連接粗分波4多工器30，粗分波多工器30各波道與第1階段光分歧器73各分歧埠分別連接寬頻帶分波多工器24，寬頻帶分波多工器24以PON系統主分支光纖路由62連接至模組B 54。PON系統之各次分支光纖路由60連接至模組B 54之各分歧埠56。由此經由可調式OTDR可經由調整其輸出波長逐一測試PON系統所有主分支光纖路由62與所有次分支光纖路由60。

請參閱圖十三所示，為本發明裝置使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由與各分支光纖路由之架構圖，使用寬頻帶分波多工器22、25、粗分波多工器30與模組A 50於兩階光分歧器架構之PON通信系統測試或監測。可調式光時域反射器40與光網路單元70連接寬頻帶分波多工器22，前述之寬頻帶分波多工器22以PON系統之主幹線光纖路由61連接另一寬頻帶分波多工器25。前述之寬頻帶分波多工器25之輸出埠(Express port)與通過埠(Pass port)分別連接粗分波多工器30與第1階段光分歧器73共同埠。粗分波多工器30各波道與第1階段光分歧器73各分歧埠分別連接模組A 50測試埠51與通信埠52。PON系統之各次分支光纖路由60連接至模組A 50之各分歧埠53。由此經由可調式光時域反射器40可經由調整其輸出波長可逐一測試或監測PON系統所有次分支光纖路由60並可對主幹線光纖路由61測試或監測。

請參閱圖十四所示，為本發明裝置使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由、各主分支光纖路由與各分支光纖路由之架構圖，使用寬頻帶分波多工器22/24/25、粗分波多工器30與模組B 54於兩階光分歧器架構之PON通信系統測試或監測。可調式光時域反射器40與光網路單元70連接寬頻帶分波多工器22之輸出埠(Express port)與通過埠(Pass port)，前述之寬頻帶分波多工器22以PON系統之幹線光纖路由61連接另一寬頻帶分波多工器25。前述之寬頻帶分波多工器25之輸出埠(Express port)與通過埠(Pass port)分別連接粗分波多工器30與第1階段光分歧器73共同埠。粗分波多工器30各波道與第1階段光分歧器73各分歧埠分別連接至寬頻帶分波多工器24之輸出埠(Express port)與通過埠(Pass port)。前述之寬頻帶分波多工器24之共同埠以PON系統之各主分支光纖路由62連接至模組B 54共同埠55。PON系統之各次分支光纖路由60連接至模組B 54之各分歧埠56。由此經由可調式光時域反射器40可經由調整其輸出波長可逐一測試或監測PON系統所有主分支光纖路由62與次分支光纖路由60並可對主幹線分支光纖路由61測試或監測。

請參閱圖十五所示，為本發明裝置使用光路選擇器與控制電腦於具有測試與監測功能PON系統之架構圖，使用光路選擇器(Optical Channel Selector,OCS)43，除可依據測試與監測需求經由控制電腦44切換不同光路以選擇待測PON系統以及控制可調式光時域反射器40調整測試或監測波長以選擇測試分支光纖路由，由此提高測試或監測裝置的使用效益，降低監測的單位成本。其中，該高密度分波多工器10係透過光纖32與寬頻帶分波多工器20進行連接。

本發明所提供之被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法，與其他習用技術相互比較時，更具有下列之優點：

1.本發明係在於提供一種可消除了傳統光時域反射器測試被動式光網路各分支光纖路由測試訊號重疊所造成無法辨識各分支光纖路由的個別狀況的問題。

2.本發明係在於提供一種可大幅提高測試距離亦可以較窄脈波寬度(Pulse width)測試以提高測試解析度、減少盲區(Dead Zone)大小。由此可解決被動式光網路維護與障礙查測試須遠赴用戶端測試的問題，可大幅降低維護與障礙查測成本與增加時效。

上列詳細說明係針對本發明之一可行實施例之具體說明，惟該實施例並非用以限制本發明之專利範圍，凡未脫離本發明技藝精神所為之等效實施或變更，均應包含於本案之專利範圍中。

綜上所述，本案不但在技術思想上確屬創新，並能較習用物品增進上述多項功效，應已充分符合新穎性及進步性之法定發明專利要件，爰依法提出申請，懇請 貴局核准本件發明專利申請案，以勵發明，至感德便。

100．．．高密度分波多工器

101．．．共同埠

102．．．波道埠

103．．．波長光

104．．．波長光

200．．．寬頻帶分波多工器

201．．．共同埠

202．．．輸出埠

203．．．通過埠

204．．．波長光

205．．．PON系統通信光

300．．．粗分波多工器

301．．．共同埠

302．．．波道埠

303．．．波長光

304．．．波長光

10．．．高密度分波多工器

20．．．寬頻帶分波多工器

21．．．寬頻帶分波多工器

22．．．寬頻帶分波多工器

23．．．寬頻帶分波多工器

24．．．寬頻帶分波多工器

30．．．粗分波多工器

32．．．光纖

40．．．可調式光時域反射器

41．．．測試或監測用光纖路由

42．．．光纖

43．．．光路選擇器

44．．．控制電腦

50．．．模組A

51．．．測試埠

52．．．通信埠

53．．．分歧埠

54．．．模組B

55．．．共同埠

56．．．分歧埠

60．．．分支光纖路由

61．．．主幹線光纖路由

62．．．主分支光纖路由

70．．．光線路終端

71．．．光網路單元

72．．．PON系統光分歧器

73．．．PON系統光分歧器

74．．．PON系統光分歧器

75．．．光濾波器

76．．．分歧埠

請參閱以下有關本發明一較佳實施例之詳細說明及其附圖，將可進一步瞭解本發明之技術內容及其目的功效；有關該實施例之附圖為：圖一為本發明所提供之被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用高密度分波多工器示意圖；圖二為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用寬頻帶分波多工器示意圖；圖三為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用粗分波多工器示意圖；圖四為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用於測試或監測單一光分歧器PON系統之各分支光纖路由之架構圖；圖五、六為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用圖四測試架構分別對不同光纖長度之分支光纖路由進行測試的結果圖；圖七為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用於測試或監測單一光分歧器PON系統之主光纖路由與各分支光纖路由之架構圖；圖八為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之主分支光纖路由之架構圖；圖九為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之幹線光纖路由、主分支光纖路由之架構圖；圖十為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之單一主分支光纖路由與各分支光纖路由之架構圖；圖十一為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統各分支光纖路由之架構圖；圖十二為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之各主分支光纖路由與各分支光纖路由之架構圖；圖十三為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由與各分支光纖路由之架構圖；圖十四為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用於測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由、各主分支光纖路由與各分支光纖路由之架構圖；以及圖十五為該被動式光網路之光纖測試與監測裝置及其方法之使用光路選擇器與控制電腦於具有測試與監測功能PON系統之架構圖。

10．．．高密度分波多工器

20．．．寬頻帶分波多工器

21．．．寬頻帶分波多工器

22．．．寬頻帶分波多工器

23．．．寬頻帶分波多工器

24．．．寬頻帶分波多工器

30．．．粗分波多工器

32．．．光纖

40．．．可調式光時域反射器

43．．．光路選擇器

44．．．控制電腦

54．．．模組B

55．．．共同埠

56．．．分歧埠

60．．．分支光纖路由

61．．．主幹線光纖路由

70．．．光線路終端

71．．．光網路單元

72．．．PON系統光分歧器

75．．．光濾波器

Claims (15)

1. 一種被動式光網路之光纖測試與監測裝置，包括：一可調式光時域反射器，可輸出多種所需波譜寬度與波長之測試光，以量測光纖之光損失、長度與光反射損失；一由高密度分波多工器、PON系統光分歧器連接複數個寬頻帶分波多工器所組成之模組A，以使可調式光時域反射器只對PON系統之某一分支光纖路由進行測試；一由寬頻帶分波多工器連接高密度分波多工器、PON系統光分歧器再連接複數個寬頻帶分波多工器所組成之模組B，可分別對PON系統各分支光纖路由進行測試或監測並可對主幹線光纖路由進行測試或監測；一組寬頻帶分波多工器，將可調式光時域反射器與PON系統通信光由不同光纖多工合併入同一光纖或由相同光纖解多工分配至不同光纖；一組粗分波多工器，將多個高密度分波多工器波道光依據其所屬波道波長範圍由各波道輸出；一控制電腦，控制可調式光時域反射器調整測試波長以選擇測試分支光纖路由；一光路選擇器，切換不同光路以選擇待測PON系統。
2. 如申請專利範圍第1項所述之被動式光網路之光纖測試與監測裝置，其中可調式光時域反射器可由光時域反射器、光路選擇器或光纖跳接線與高密度分波多工器所組成。該光時域反射器用以輸出具寬頻譜寬度之脈波光並測試分析脈波光所產生之回散射光。光路選擇器或光纖跳接線用以選擇連接至高密度分波多工器的特定波長通道。高密度分波多工器用以將光時域反射器輸出脈波光調整為特定中心波長與波譜寬度之輸出脈波光。
3. 如申請專利範圍第1項所述之被動式光網路之光纖測試與監測裝置，其中該模組A之組成係由高密度分波多工器、PON系統光分歧器與至少一個寬頻帶分波多工器所組成，由高密度分波多工器之共同埠連接可調式光時域反射器，將其所發射之測試光分波解多工由各相對波道輸出至複數個寬頻帶分波多工器，再由其連接各分支光纖路由，再經由PON系統光分歧器連接光線路終端，將其所發射之通信光由各相對波道輸出至複數個寬頻帶分波多工器，再由其連接各分支光纖路由：
4. 如申請專利範圍第1項所述之被動式光網路之光纖測試與監測裝置，其中該模組B之組成係將模組A之高密度分波多工器之共同埠及PON系統光分歧器之共同埠連接於另一個寬頻帶分波多工器之輸出埠，該寬頻帶分波多工器之共同埠則連接主幹線光纖路由。
5. 如申請專利範圍第1項所述之被動式光網路之光纖測試與監測裝置，其中該光網路單元使用光濾波器用以過濾可調式光時域反射器之輸出脈波光，以避免影響被動式光網路之通信並允許被動式光網路之下行與上行之通信光通過。
6. 一種被動式光網路之光纖測試與監測方法，係使用被動式光網路測試與監測裝置對各分支光纖路由、主分支光纖路由及主幹線光纖路由進行測試或監測的方法，其包含：步驟一：測試或監測單一光分歧器PON系統之各分支光纖路由的方法；步驟二：測試或監測單一光分歧器PON系統之主幹線光纖路由與各分支光纖路由的方法；步驟三：測試或監測二階段光分歧器PON系統之主分支光纖路由的方法；步驟四：測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由及主分支光纖路由的方法；步驟五：測試或監測二階段光分歧器PON系統之單一主分支光纖路由與各分支光纖路由的方法；步驟六：測試或監測二階段光分歧器PON系統之各主分支光纖路由與各分支光纖路由的方法；步驟七：測試或監測二階段光分歧器PON系統各分支光纖路由的方法；步驟八：測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由與各分支光纖路由的方法；及步驟九：測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由、各主分支光纖路由與各分支光纖路由的方法。
7. 如申請專利範圍第6項所述之被動式光網路之光纖測試與監測方法，其中該測試或監測單一光分歧器PON系統之各分支光纖路由的方法包含：步驟一：將模組A之高密度分波多工器之共同埠連接可調式光時域反射器；步驟二：將模組A之複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠連接各分支光纖路由；步驟三：將模組A之PON系統光分歧器連接光線路終端。
8. 如申請專利範圍第6項所述之被動式光網路之光纖測試與監測方法，其中該測試或監測單一光分歧器PON系統之主幹線光纖路由與各分支光纖路由的方法包含：步驟一：將光線路終端與可調式光時域反射器以一個寬頻帶分波多工器連接，使測試或監測光與通信光可同時使用主幹線光纖路由；步驟二：將主幹線光纖路由連接模組B之共同埠；步驟三：將模組B之之複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠連接各分支光纖路由。
9. 如申請專利範圍第6項所述之被動式光網路之光纖測試與監測方法，其中該測試或監測二階段光分歧器PON系統之主分支光纖路由的方法包含：步驟一：將模組A之高密度分波多工器之共同埠連接可調式光時域反射器；步驟二：將模組A之PON系統光分歧器連接光線路終端；步驟三：將模組A之複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠各連接一個光分歧器，以形成主分支光纖路由；步驟四：再由各光分歧器分別連接各分支光纖路由。
10. 如申請專利範圍第6項所述之被動式光網路之光纖測試與監測方法，其中該測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由及主分支光纖路由的方法包含：步驟一：將光線路終端與可調式光時域反射器以一個寬頻帶分波多工器連接，使測試或監測光與通信光可同時使用主幹線光纖路由；步驟二：將主幹線光纖路由連接模組B之共同埠；步驟三：將模組B之之複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠各連接一個光分歧器，以形成主分支光纖路由；步驟四：再由各光分歧器分別連接各分支光纖路由。
11. 如申請專利範圍第6項所述之被動式光網路之光纖測試與監測方法，其中該測試或監測二階段光分歧器PON系統之單一主分支光纖路由與各分支光纖路由的方法包含：步驟一：將光線路終端以主幹線光纖路由連接一個光分歧器，該分歧器之輸出再與可調式光時域反射器以一個寬頻帶分波多工器連接；步驟二：將該寬頻帶分波多工器之共同埠連接模組B之共同埠，以形成主分支光纖路由；步驟三：將模組B之複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠連接各分支光纖路由。
12. 如申請專利範圍第6項所述之被動式光網路之光纖測試與監測方法，其中該測試或監測二階段光分歧器PON系統之各主分支光纖路由與各分支光纖路由的方法包含：步驟一：將可調式光時域反射器以測試用光纖連接粗分波多工器，粗分波多工器各波道分別連接複數個寬頻帶分波多工器；步驟二：將光線路終端以主幹線光纖路由連接一個光分歧器，該分歧器之輸出分別連接複數個寬頻帶分波多工器；步驟三：將該複數個寬頻帶分波多工器分別連接複數個模組B之共同埠，以形成各主分支光纖路由；步驟四：將模組B之複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠連接各分支光纖路由。
13. 如申請專利範圍第6項所述之被動式光網路之光纖測試與監測方法，其中該測試或監測二階段光分歧器PON系統各分支光纖路由的方法包含：步驟一：將可調式光時域反射器以測試用光纖連接粗分波多工器，該粗分波多工器之輸出分別連接各模組A之高密度分波多工器之共同埠；步驟二：將光線路終端以主幹線光纖路由連接一個光分歧器，該分歧器之輸出分別連接各模組A之PON系統光分歧器，以形成各主分支光纖路由；步驟三：將各模組A之複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠連接各分支光纖路由。
14. 如申請專利範圍第6項所述之被動式光網路之光纖測試與監測方法，其中該測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由與各分支光纖路由的方法包含：步驟一：將可調式光時域反射器與光線路終端連接寬頻帶分波多工器，再以主幹線光纖路由連接另一寬頻帶分波多工器；步驟二：將前述之寬頻帶分波多工器之輸出埠與通過埠分別連接粗分波多工器與光分歧器之共同埠；步驟三：將粗分波多工器各波道分別連接各模組A之高密度分波多工器之共同埠；步驟四：將光分歧器各分歧埠分別連接各模組A之PON系統光分歧器；步驟五：將各模組A之複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠連接各分支光纖路由。
15. 如申請專利範圍第6項所述之被動式光網路之光纖測試與監測方法，其中該測試或監測二階段光分歧器PON系統之主幹線光纖路由、各主分支光纖路由與各分支光纖路由的方法包含：步驟一：將可調式光時域反射器與光線路終端連接寬頻帶分波多工器，再以主幹線光纖路由連接另一寬頻帶分波多工器；步驟二：將前述步驟一之寬頻帶分波多工器之輸出埠與通過埠分別連接粗分波多工器與光分歧器之共同埠；步驟三：將前述步驟二之粗分波多工器各波道分別連接另複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠；前述步驟二之光分歧器各分歧埠分別連接另複數個寬頻帶分波多工器之通過埠；步驟四：將前述步驟三之寬頻帶分波多工器之共同埠以主分支光纖路由連接至模組B共同埠；步驟五：將將模組B之複數個寬頻帶分波多工器之輸出埠連接各分支光纖路由。