CN102243440A - 一种能监测硅片台位置精度的光刻机 - Google Patents
一种能监测硅片台位置精度的光刻机 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102243440A CN102243440A CN2010101704278A CN201010170427A CN102243440A CN 102243440 A CN102243440 A CN 102243440A CN 2010101704278 A CN2010101704278 A CN 2010101704278A CN 201010170427 A CN201010170427 A CN 201010170427A CN 102243440 A CN102243440 A CN 102243440A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- wafer
- platform
- stage
- supporting platform
- exposure desk
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
一种能监测硅片台位置精度的光刻机,主要由照明系统、掩模版、掩模台、投影物镜成像系统、整机框架、硅片、硅片台等组成,其中硅片台主要由曝光台、曝光台支架、承片台、长条镜、干涉仪、水平定位台和大理石组成;水平定位台通过气浮与大理石相连,承片台位于水平定位台上,通过曝光台支架支撑曝光台,其特征在于在光刻机的承片台及曝光台支架相应位置安装位置传感器,通过位置传感器得到承片台和水平定位台之间的相对位置信息,从而测量出承片台位置坐标的漂移量,并进行补偿,提高了控制精度。
Description
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,特别是一种能监测硅片台位置精度的光刻机。
背景技术
光刻机是集成电路芯片制造中重要的加工设备之一,用于将芯片的设计图形,曝光转印于硅片表面的光刻胶上。作为光刻机主要组成部分的工件台系统和掩模台系统,它们的运动精度和运动速度、可靠性,很大程度上影响了光刻机的生产效率。
中国专利CN200810034478.0公开了一种可补偿Z向位置的六自由度精密定位台,用于芯片的封装或MEMS加工制造,可以实现大行程、高速、高精度的要求。
在现有技术中,如图1所示,后道圆片级封装光刻机(Bumping光刻机)系统主要由照明系统1、掩模版2、掩模台3、投影物镜成像系统4、框架5、硅片6、硅片台15等组成。FLS为调平调焦传感器,IFM为干涉仪测量系统。如图2所示,硅片台15主要由曝光台10、曝光台支架11、承片台7、长条镜12、干涉仪13、水平定位台(XY台)8、大理石9组成。通过测量系统,控制器、执行器,电机驱动形成控制环路实现7自由度的运动。XY台8由两个X形电机、两个Y向电机,以及两个电机的导轨,连接件,以及曝光台支架11组成。曝光台10位于XY台8的上层,XY台8通过气浮与大理石9相连。如图3所示,曝光台10包括位于曝光台支架11上方的旋转台101,调平调焦机构104和硅片厚度补偿机构108。旋转台101除承载硅片外还有完成Rz向调节的功能,它通过三个柔性件102与调平调焦机构104的上平板103相连。调平调焦机构104与硅片厚度补偿机构108通过一个板簧109相连。硅片厚度补偿机构108下设有气足106,所述Y向导轨107穿过气足。旋转台101由承片台14和Rz驱动机构组成。作为激光干涉仪测量面的长条镜12安装在曝光台支架11上,和旋转台101、调平调焦机构104、硅片厚度补偿机构108分离,可以尽量降低阿贝误差。旋转台101通过三个柔性件102和调平调焦机构的上平板103相连。承片台7是旋转台101的一部分,旋转台101通过直线电机加丝杆机构推动承片台7绕一个铰链运动。调平调焦机构104通过一个板簧109和硅片补偿机构108相连,硅片补偿机构108下设有气足106,XY台8的Y向导轨穿过气足106。
这样的结构存在几个问题:
1.承片台和调平调焦机构通过柔性件相连,调平调焦机构通过板簧和硅片补偿机构相连,硅片补偿机构通过气足和XY台相连,这样的结构在水平向上是非刚性联接的,因此在XY台运动时,会对调平调焦机构和承片台带来干扰。
2.干涉仪的长条镜是安装在曝光台的支架上,而曝光台的支架和XY台是刚性联接的,因此它看不到承片台的运动。
这样,干涉仪不能观测到承片台和XY台之间由于非刚性联接导致的亚微米的偏移,降低了曝光精度。
发明内容
为了能够监测到承片台与XY台之间的位置偏移,从而提高曝光精度,本发明提供一种能监测硅片台位置精度的光刻机,主要由照明系统、掩模版、掩模台、投影物镜成像系统、整机框架、硅片、硅片台等组成,其中硅片台主要由曝光台、曝光台支架、承片台、长条镜、干涉仪、水平定位台和大理石组成。水平定位台通过气浮与大理石相连,承片台位于水平定位台上,通过曝光台支架支撑曝光台。在光刻机的承片台及曝光台支架相应位置安装位置传感器,通过位置传感器得到承片台和水平定位台之间的相对位置信息,从而测量出承片台位置坐标的漂移量。
其中,每个位置传感器由非接触的两个元件组成,其中一个元件安装在承片台下方,另一个元件安装在曝光台支架相应位置上。
其中,位置传感器至少有3个,成三角形排列。
本发明和现有技术相比的有益效果是:
在承片台和曝光台支架上增加了三对用于测量承片台和XY台之间的相对位置的传感器,得到的承片台和XY台之间的相对位置信息,通过转换矩阵M和偏置offset可以得到承片台在工件台坐标系的漂移,并进行补偿,提高了控制精度。
附图说明
图1是光刻机结构示意图;
图2是包含Z向位置补偿机构的七自由度精密定位平台结构示意图;
图3是曝光台的结构示意图;
图4是本发明承片台的位置传感器安装位置示意图;
图5是曝光台支架立体结构示意图;
图6是本发明曝光台支架安装位置传感器位置俯视图;
图7是本发明含有承片台和水平定位台的位置补偿运动台控制框图。
具体实施方式
下面,结合附图详细描述根据本发明的优选实施例。
如图4所示,图4是本发明承片台和水平定位台的位置传感器安装位置示意图。为了测量承片台7和XY台8相对位置的漂移,提高光刻机的控制精度,在承片台7下方和XY台8上的曝光架支架11之间至少安装三个位置传感器14,用于测量承片台7和XY台8的水平向(X、Y、Rz)的位置关系。如图5和6所示,图5和6是本发明曝光台支架安装位置传感器示意图。所述每个位置传感器14主要由非接触的两个元件组成。其中一个元件,如图6中的212,222,232安装在承片台7下方;另一个元件,如图6中的211,221,231安装在曝光台支架11上。两个元件不接触,通过磁场信号,电信号,光信号等非接触式的传感器来检测两个元件之间相对位置发生变化产生的信号。作为一个实施例,如图6所示,通过安装在曝光台支架11上的位置敏感元件211检测其相对于安装在承片台7下方的元件212位置发生变化时产生的信号变化,可以获得曝光台支架和承片台在此方向上的位置变化信息;通过安装在曝光台支架11上的位置敏感元件221检测其相对于安装在承片台7下方的元件222位置发生变化时产生的信号变化,可以获得曝光台支架和承片台在此方向上的位置变化信息;通过安装在曝光台支架11上的位置敏感元件231检测其相对于安装在承片台7下方的元件232位置发生变化时产生的信号变化,可以获得曝光台支架和承片台在此方向上的位置变化信息。这三个位置传感器位置布局形成一个三角形。三个传感器位置测量精度应达到对准系统的精度。
控制环路如图7所示,工件台控制环路包括水平向控制环路和垂向控制环路。垂向控制环路和水平向主要都由轨迹规划、测量系统、测量传感器、控制器、解耦矩阵、电机等部分组成。在水平向位置测量环节增加了测量用于测量承片台和XY台在水平方向上的位置传感器,通过转换矩阵M和偏置offset将三个传感器的读数(h1,h2,h3)T转换为承片台和XY台之间在水平向上的相互位置关系(x,y,rz)T,即承片台中心在工件台坐标系下的坐标,如公式1所示,在工件台运动前读取传感器读数,记为(h10,h20,h30)T,通过公式1可以得到承片台的位置(x0,y0,rz0)T,在工件台运动稳定之后,再次读取这三个传感器读数,记为(h11,h21,h31)T,通过公式1可以得到承片台的位置(x1,y1,rz1)T,则承片台在本次运动前后在水平向上漂移了(Δx,Δy,Δrz)T=(x1,y1,rz1)T-(x0,y0,rz0)T。则让工件台反向运动(Δx,Δy,Δrz)T即可补偿承片台的漂移。
上面所述转换矩阵M,偏置offset和三个位置传感器的安装位置有关,需要调试时标定。
标定流程如下:
1.工件台上装载一片带标记的硅片,将工件台运动到工件台零位上,此时分别连续读取三个位置传感器的值(h1(n),h2(n),h3(n))T,分别对h1(n),h2(n),h3(n)求均值,将他们的均值作为offset1,offset2,offset3。
2.工件台在干涉仪控制下,在X方向上分别运动到三个位置x1,x2,x3,同时读取三个位置传感器的读数(h11,h21,h31)T,(h12,h22,h32)T,(h13,h23,h33)T。则可建立方程组:
通过公式2可以得到转换矩阵系数H1_X,H2_X,H3_X。
3.采取步骤2相同方法在Y、Rz方向上运动三个位置,同时读取三个位置传感器读数,建立类似公式2的方程组,可分别计算得到H1_Y,H2_Y,H3_Y,H1_Rz,H2_Rz,H3_Rz。
本说明书中所述的只是本发明的几种较佳具体实施例,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对本发明的限制。凡本领域技术人员依本发明的构思通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案,皆应在本发明的范围之内。
Claims (3)
1.一种能监测硅片台位置精度的光刻机,主要由照明系统、掩模版、掩模台、投影物镜成像系统、整机框架、硅片、硅片台等组成,其中硅片台主要由曝光台、曝光台支架、承片台、长条镜、干涉仪、水平定位台和大理石组成;水平定位台通过气浮与大理石相连,承片台位于水平定位台上,通过曝光台支架支撑曝光台,其特征在于在光刻机的承片台及曝光台支架相应位置安装位置传感器,通过位置传感器得到承片台和水平定位台之间的相对位置信息,从而测量出承片台位置坐标的漂移量。
2.如权利要求1所述的光刻机,其特征在于每个位置传感器由非接触的两个元件组成,其中一个元件安装在承片台下方,另一个元件安装在曝光台支架相应位置上。
3.如权利要求2所述的光刻机,其特征在于位置传感器至少有3个,成三角形排列。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201010170427.8A CN102243440B (zh) | 2010-05-10 | 2010-05-10 | 一种能监测硅片台位置精度的光刻机 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201010170427.8A CN102243440B (zh) | 2010-05-10 | 2010-05-10 | 一种能监测硅片台位置精度的光刻机 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102243440A true CN102243440A (zh) | 2011-11-16 |
CN102243440B CN102243440B (zh) | 2014-11-12 |
Family
ID=44961568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201010170427.8A Active CN102243440B (zh) | 2010-05-10 | 2010-05-10 | 一种能监测硅片台位置精度的光刻机 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102243440B (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103777303A (zh) * | 2012-10-19 | 2014-05-07 | 上海微电子装备有限公司 | 长条镜安装装置 |
CN104570612A (zh) * | 2013-10-25 | 2015-04-29 | 上海微电子装备有限公司 | 一种工件台接片手装置 |
WO2020011222A1 (zh) * | 2018-07-11 | 2020-01-16 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 曝光机 |
CN112835269A (zh) * | 2021-01-19 | 2021-05-25 | 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 | 一种光刻装置及曝光方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5095190A (en) * | 1987-03-03 | 1992-03-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus |
JPH11195583A (ja) * | 1997-12-26 | 1999-07-21 | Nikon Corp | 露光装置 |
US6198527B1 (en) * | 1992-09-14 | 2001-03-06 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and exposure method |
CN101201559A (zh) * | 2006-12-11 | 2008-06-18 | 上海华虹Nec电子有限公司 | 一种光刻机硅片平台水平控制和自动对焦系统及方法 |
CN101241314A (zh) * | 2008-03-11 | 2008-08-13 | 上海微电子装备有限公司 | 可补偿z向位置的六自由度精密定位台 |
CN101260967A (zh) * | 2008-04-17 | 2008-09-10 | 上海微电子装备有限公司 | Xyy精密定位平台的校准方法 |
CN101510056A (zh) * | 2009-03-13 | 2009-08-19 | 上海微电子装备有限公司 | 光刻机工件台移动调整装置及方法 |
CN101694560A (zh) * | 2009-04-03 | 2010-04-14 | 清华大学 | 采用气浮平面电机的硅片台双台交换系统 |
-
2010
- 2010-05-10 CN CN201010170427.8A patent/CN102243440B/zh active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5095190A (en) * | 1987-03-03 | 1992-03-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus |
US6198527B1 (en) * | 1992-09-14 | 2001-03-06 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and exposure method |
JPH11195583A (ja) * | 1997-12-26 | 1999-07-21 | Nikon Corp | 露光装置 |
CN101201559A (zh) * | 2006-12-11 | 2008-06-18 | 上海华虹Nec电子有限公司 | 一种光刻机硅片平台水平控制和自动对焦系统及方法 |
CN101241314A (zh) * | 2008-03-11 | 2008-08-13 | 上海微电子装备有限公司 | 可补偿z向位置的六自由度精密定位台 |
CN101260967A (zh) * | 2008-04-17 | 2008-09-10 | 上海微电子装备有限公司 | Xyy精密定位平台的校准方法 |
CN101510056A (zh) * | 2009-03-13 | 2009-08-19 | 上海微电子装备有限公司 | 光刻机工件台移动调整装置及方法 |
CN101694560A (zh) * | 2009-04-03 | 2010-04-14 | 清华大学 | 采用气浮平面电机的硅片台双台交换系统 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103777303A (zh) * | 2012-10-19 | 2014-05-07 | 上海微电子装备有限公司 | 长条镜安装装置 |
CN103777303B (zh) * | 2012-10-19 | 2016-02-03 | 上海微电子装备有限公司 | 长条镜安装装置 |
CN104570612A (zh) * | 2013-10-25 | 2015-04-29 | 上海微电子装备有限公司 | 一种工件台接片手装置 |
CN104570612B (zh) * | 2013-10-25 | 2016-09-28 | 上海微电子装备有限公司 | 一种工件台接片手装置 |
WO2020011222A1 (zh) * | 2018-07-11 | 2020-01-16 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 曝光机 |
CN112835269A (zh) * | 2021-01-19 | 2021-05-25 | 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 | 一种光刻装置及曝光方法 |
CN112835269B (zh) * | 2021-01-19 | 2024-04-12 | 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 | 一种光刻装置及曝光方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102243440B (zh) | 2014-11-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104838469B (zh) | 曝光装置及曝光方法、以及器件制造方法 | |
CN102549501B (zh) | 曝光装置、曝光方法、以及组件制造方法 | |
CN101405838B (zh) | 移动体驱动方法及移动体驱动系统、图案形成方法及装置、曝光方法及装置、组件制造方法、以及校正方法 | |
US10907952B2 (en) | Optical measurement device and method with improved measurement precision | |
CN104880911B (zh) | 一种光刻机工件台及其垂向位置初始化方法 | |
US8575791B2 (en) | Manufacturing-process equipment | |
CN111965948B (zh) | 曝光装置、曝光方法、平面显示器的制造方法、及元件制造方法 | |
CN101405837A (zh) | 移动体驱动方法及移动体驱动系统、图案形成方法及装置、曝光方法及装置、以及组件制造方法 | |
CN108225213A (zh) | 自由曲面非接触降维误差分离检测方法与装置 | |
CN101410945A (zh) | 移动体驱动方法和移动体驱动系统、图案形成方法和装置、曝光方法和装置、以及器件制造方法 | |
TWI579123B (zh) | 機器人校正系統與方法 | |
CN102243440B (zh) | 一种能监测硅片台位置精度的光刻机 | |
CN103543613B (zh) | 一种动铁式无线缆的六自由度磁浮运动平台 | |
CN108139685A (zh) | 曝光装置、平面显示器的制造方法、组件制造方法、及曝光方法 | |
TWI501058B (zh) | 用以改善站台移動時間之方法、系統及設備 | |
CN109239068A (zh) | 一种针对宏微运动平台的视觉检测装置及方法 | |
CN101770180A (zh) | 一种采用多关节机械手的光刻机硅片台的线缆台 | |
CN107883866B (zh) | 一种光学测量装置和方法 | |
KR20120031076A (ko) | 이동체 장치, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
CN105549332B (zh) | 一种工件台三自由度位移测量方法 | |
JP4962779B2 (ja) | ステージ装置およびその浮上制御方法と、ステージ装置を用いた露光装置 | |
JP4717639B2 (ja) | 基板の両面形状測定方法及び装置 | |
CN101093814A (zh) | 平台装置 | |
US8875979B2 (en) | Apparatus and method for determining an alignment of a bondhead of a die bonder relative to a workchuck | |
CN109916315B (zh) | 一种基于分离式光栅的测量装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
Address after: 201203 Shanghai Zhangjiang High Tech Park of Pudong New Area Zhang Road No. 1525 Patentee after: Shanghai microelectronics equipment (Group) Limited by Share Ltd Address before: 201203 Shanghai Zhangjiang High Tech Park of Pudong New Area Zhang Road No. 1525 Patentee before: Shanghai Micro Electronics Equipment Co., Ltd. |
|
CP01 | Change in the name or title of a patent holder |