CN102200556A

CN102200556A - 射频微波暗室

Info

Publication number: CN102200556A
Application number: CN2010101327898A
Authority: CN
Inventors: 刘荣宗
Original assignee: EMTREK TECHNOLOGIES Corp
Current assignee: EMTREK TECHNOLOGIES Corp
Priority date: 2010-03-26
Filing date: 2010-03-26
Publication date: 2011-09-28

Abstract

一种射频微波暗室，包括馈入壁和多个其它壁面，其中：在馈入壁上贴附有在平行于馈入壁壁面的方向上具有均态特性的第一材料，并且量测天线安装在该馈入壁上；所述多个其它壁面上贴附有吸波材料，所述吸波材料在平行于所贴附的壁面的方向上不具有均态特性。馈入壁上的第一材料不易干扰量测天线电磁场而产生散射，从而能够大幅改善射频微波暗室产生的测试静域(Quiet Zone)的品质，尤其在较低工作频带下。

Description

射频微波暗室

技术领域

本发明涉及一种矩形射频微波暗室的创新设计，具体涉及一种在馈入壁上贴附有在平行于馈入壁壁面的方向上具有均态特性的材料且量测天线安装于该馈入壁上的射频微波暗室，从而能够大幅改善微波暗室产生的测试静域的品质，或以体积较小的微波暗室产生高品质的低频测试静域。

其中测试静域的品质指的是测试区内电磁波强度的均匀度，或强度波动量的大小。

背景技术

在射频微波暗室中测试天线的方向图(antenna radiation pattern)、天线辐射效率(antenna radiation efficiency of antenna)、无线装置的辐射功率(radiation power)、无线装置的接收灵敏度(receiving sensitivity)、器件的射频杂散辐射(RF spurious emission of device)，其测试静域的品质会直接影响测量精度。

传统的矩形横截面的射频微波暗室10(下文中提到的“矩形射频暗室”和“矩形微波暗室”均指横截面为矩形的微波暗室)，如图1及图1A所示，通常地，锥形吸波材料13被贴附在馈入壁12上，且量测天线14(一个或多个量测天线)被安装在馈入壁12上(如图1A)，或安装在离馈入壁12一定距离的位置上(如图1)。此种类型的设计，在低频率不易具有高品质的测试静域15，例如低于700MHz。为了在低频率频带下得到高品质测试静域15，需要一个较大型的矩形射频微波暗室10。在执行低频测试时，常使用另一种型态的射频微波暗室，锥形微波暗室(Tapered RF Chamber)，其具有较好的低频测试静域15。但是，矩形射频微波暗室较锥形微波暗室容易构建，特别是在高屏蔽测试环境需求下。

由于在低频率频带的应用不断增加，例如数字视频广播(Digital VideoBroadcasting，DVB)、甚高频(Very High Frequency，VHF)通信、及射频识别(RFID)技术等领域的应用。因此，需要一种改良的矩形射频微波暗室，以能够在低频率频带下提高测量精度，以及降低成本。

发明内容

基于高品质测试静域及低频矩形射频微波暗室的需求，本发明提供了一种创新的矩形射频暗室，其中设置在射频微波暗室的馈入壁上的材料在XY平面上具有均态特性，该XY平面平行于馈入壁壁面。安装在其他壁面上的吸收材料在平行于所安装壁面的方向上，则不具有均态特性。而量测天线(measurementantenna(s)，MA)，被安装于该馈入壁上，由此，具有均态特性的材料将能够降低来自该壁面的散射场的干涉并产生极少量的散射场；而接近于馈入壁的电磁场将被导引且在侧壁上以近于垂直入射角度而被吸收，相同地并将产生很少量的散射场，因此可产生一具有相当改善品质的测试静域。尤其工作在低频率，吸收材料具有强的散射特性，以及较差的吸收能力，本发明的射频微波暗室在降低散射场方面的效果更为显著。按照本发明，在正常操作频带以及低频率频带下，能提供高品质测试静域。对低频应用，一个小的矩形射频微波暗室将可节省微波暗室构建的成本。

以下，将参照图面所示的实施例详细说明本发明的技术特点及技术效果。

附图说明

图1表示一种现有的矩形射频微波暗室的示意图，

图1A表示一种现有的矩形射频微波暗室的示意图，

图2表示现有的矩形射频微波暗室的针对不同频率的测试结果，

图3表示本发明的矩形射频微波暗室的截面示意图，

图3A表示本发明中的XYZ座标相关方向的示意图，

图4表示本发明的矩形射频微波暗室的针对不同频率的测试结果，

图5表示本发明的另一种实施例的示意图。

具体实施方式

请参见图3A，显示了本发明的矩形微波暗室20的XYZ座标相关方向，图3A中仅仅示出了本发明的矩形微波暗室20的一部分。而图3则为沿Y方向做截面所得的截面示意图。顾名思义，暗室是封闭的“室”。如图所示，矩形微波暗室是由多个侧壁构成的立方体腔室，量测天线安装在暗室内，并且暗室内壁上安装有吸波材料。本发明提供一种矩形微波暗室20，该微波暗室20包括一个馈入壁22和多个其它壁面，所述馈入壁和多个其它壁面构成一腔室。在微波暗室20内，在其馈入壁(feeding wall)22上贴附有第一材料23，该第一材料23在XY方向(即，平行于馈入壁22壁面的方向)上具有均态特性(homogeneousproperty)，且量测天线(measurement antenna(s))24安装在该馈入壁22上。显然，量测天线24是安装在馈入壁22的内壁上的。该矩形微波暗室20内的除了馈入壁22以外的其它壁面上贴附有吸波材料21，这些吸波材料21在平行于所贴附的壁面的方向上不具有均态特性，即，具有非均态特性。如图3中所示，在平行于壁面的方向上呈非均态的材料21是锥状的材料。显然，吸波材料(非均态材料)21是贴附在微波暗室的内壁上的。按照一种优选实施方式，第一材料23可以是单层吸波材料(flat absorber)。按照另一种优选实施方式，第一材料23也可以是空气(air)。

本发明通过将矩形微波暗室20的馈入壁22(或接收壁)改进为在其XY平面方向具有均态特性的材料23，使得量测天线24的电磁场在该馈入壁上不易产生散射(scattering)现象，从而能够改善测试静域(Quiet Zone)25内的场强均匀度。这样，将使得整个矩形微波暗室20能够以较小尺寸产生较低频率的测试环境，有助于成本的降低。

参见图4所示的测试结果，显示本发明的微波暗室能够产生高品质的低频测试静域25。(注：图4所示微波暗室的尺寸为650cm*385cm*385cm，图2所示的现有技术中的微波暗室的尺寸为：712cm*365cm*365cm)

进一步地，请参见图5，示出了本发明的另一种实施例，其中矩形微波暗室30与前一实施例相同，具有平行于壁面呈非均态的材料31、馈入壁32、平行于壁面呈均态的材料33、量测天线34等，但与图3中平行于壁面的呈均态的材料23为单层吸波材料(flat absorber)不同，图5中所示的平行于壁面的呈均态的材料33可为多层吸波材料(laminated absorber)331、332及333。经由这样的设计，将使得低频测试静域35品质大为改善。另外，平行于壁面的呈均态的材料也可以是空气(air)。

前面所介绍的实施方式，仅仅是本发明的较佳实施例，不能由此限定本发明的范围。

Claims

1.一种射频微波暗室，包括馈入壁和多个其它壁面，其中：

在馈入壁上贴附有在平行于馈入壁壁面的方向上具有均态特性的第一材料，并且量测天线安装在该馈入壁上；

所述多个其它壁面上贴附有吸波材料，所述吸波材料在平行于所贴附的壁面的方向上不具有均态特性。

2.按照权利要求1所述的射频微波暗室，其特征在于，所述第一材料为空气。

3.按照权利要求1所述的射频微波暗室，其特征在于，所述第一材料为单层平板吸波材料。

4.按照权利要求1所述的射频微波暗室，其特征在于，所述第一材料为多层平板吸波材料。