CN102183703B - Led虚焊检测仪及其使用方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种LED虚焊检测仪及其使用方法，其由脉冲发生单元、第一脉冲计数单元、第二脉冲计数单元第三脉冲计数单元构成；第一脉冲计数单元可记录标准LED发光管的亮灭次数，第二脉冲计数单元可记录被测LED发光管的亮灭次数，第三脉冲计数单元可记录被测LED整灯的亮灭次数，通过对比计数单元的读数可得知被测LED发光管是否虚焊。其电路结构简单，成本低廉，操作简单，克服了以往LED发光管及LED整灯无法检测是否虚焊的技术难题。
Description
技术领域
本发明涉及LED技术领域，具体为LED虚焊检测仪及其使用方法。
背景技术
LED封装过程中，有一道重要工序，利用超生波焊接把LED芯片和支架用金线连接起来。超声波功率的的大小、焊接时间的长短、焊盘的洁净程度等诸多因素，都会影响到焊接质量，甚至造成虚焊。虚焊的不良后果是，在LED发光过程中，会造成时亮时灭、使发光变得不连续和不可靠。同时，由多个LED组装成的LED整灯也存在虚焊的情况，影响LED灯的光照效果。受目前技术限制，尚未有专门用于检测单颗LED发光管或LED整灯是否虚焊的仪器，难以保证LED灯的可靠性。
发明内容
为克服现有技术的不足，本发明提供了一种成本低廉，操作简易即可检测单颗LED也可对组装后的LED灯进行检测的LED虚焊检测仪及其使用方法。
为实现上述技术目的，本发明是采用以下技术方案实现的：一种LED虚焊检测仪，由脉冲发生单元、第一脉冲计数单元、第二脉冲计数单元、第三脉冲计数单元构成；
所述的第一脉冲计数单元为一个由三极管、标准LED发光管、电阻构成的射极跟随器电路，标准LED发光管和电阻依次连接于三极管的发射极，射极跟随器的输入端即三极管基极与脉冲发生单元的输出端连接，射极跟随器的输出回路上设有计数器，计数器可记录脉冲发生单元发出的脉冲个数；
所述的第二脉冲计数单元为一个射极跟随器电路，其构成与第一脉冲计数单元的构成一致，射极跟随器的输入端与脉冲发生单元的输出端连接，射极跟随器的输出回路上设有被测LED发光管及计数器，计数器可记录被测LED发光管的亮灭次数；
所述的第三脉冲计数单元包括一个射极跟随器电路、一个可以为被测LED整灯提供工作电流的恒流源电路，射极跟随器电路的输入端与脉冲发生单元的输出端连接；所述的第三脉冲计数单元的射极跟随器电路的输出端设有两个支路，一个支路通过光敏三极管的集电极、发射极构成回路，并在光敏三极管后方设有计数器，另一个支路上设有标准LED发光管和继电器，继电器的常开触点设置在恒流源电路上；所述的光敏三极管的基极为受光窗口，受光窗口只能接收被测LED整灯发出的光；计数器可记录被测LED整灯的亮灭次数。
一种LED虚焊检测仪的使用方法，其特征在于：将被测LED发光管设置在第二脉冲计数单元中，将被测LED整灯连接在第三脉冲计数单元的恒流源电路上，并将被测LED发光管、LED整灯放置在特定的环境下，开启脉冲发生单元一段时间后并关闭，对比三个计数器的数值，如果数值一致，说明被测LED发光管、LED整灯不存在虚焊，如果第二脉冲计数单元或第三脉冲计数单元的计数器读数小于第一脉冲计数单元的计数器读数，则说明被测LED发光管或被测LED整灯存在虚焊。同理，通过调节恒流源电路的恒流值，还可对由LED发光管组合成的LED灯串进行虚焊检测。
本发明具有以下有益效果：电路结构简单，成本低廉，操作简单，能够有效检测LED发光管或LED整灯或LED灯串是否存在虚焊，克服了以往LED发光管及LED整灯无法检测是否虚焊的技术难题。
附图说明
附图为本发明电路示意图。
图中，1、脉冲发生单元，2、第一脉冲计数单元，3、第二脉冲计数单元，4第三脉冲计数单元，R1、R2、R3、R4、R6、R7、R8、电阻，C1、C2、电容，D1、D2、二极管，T1、T2、T3、T4、T5、三极管，FG1、FG3、标准LED发光管，FG2、被测LED发光管,J1、继电器，EJGD、被测LED整灯，GMG、光敏三极管。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本发明做进一步说明。
脉冲发生单元1可为一个由电阻R1、R2、R3、R4、电容C1、C2、三极管T1、T2组成的集基耦合多谐振荡器，电阻R1、R4连接电源V0，为防止三极管T1、T2同时处于饱和状态引起电路停振，所述多谐振荡器的基极电阻R2、R3分别与三极管T1集电极、三极管T2集电极连接之前，设置了二极管D1、D2；假如三极管T1、T2同时处于饱和，则A1、A2点都接近零电位，由于A点对于三极管T1、T2的集电极各接一个二极管，所以A点也应该接近零电位；而如果A点是零电位，则流过R2、R3的电流也都没有，这样也就否定了T1、T2都稳定地处于饱和状态的可能性，从而说明了这种电路不会因过饱和而不振荡。
第一脉冲计数单元2为一个由三极管T3、标准LED发光管FG1、电阻R6构成的射极跟随器电路，标准LED发光管FG1和电阻R6依次连接于三极管的发射极，射极跟随器的输入端即三极管基极与脉冲发生单元的输出端连接，射极跟随器的输出回路上设有计数器；多谐振荡器输出的脉冲，使A2点的电位按脉冲的节奏，呈现规律性的高低变化；A2点高电位时，标准LED发光管FG1被点亮；A2点低电位时，发光管FG1熄灭。多谐振荡器每输出一个脉冲标准LED发光管FG1就亮灭一次，计数器一跟着做累计加一；因为LED发光管FG1是确认无虚焊的发光管，所以计数器一记录的数值是真实可靠的脉冲个数。
第二脉冲计数单元3由三极管T4、被测LED发光管FG2、电阻R7组成射极跟随器电路。与第一脉冲计数单元2同理，多谐振荡器输出的脉冲，使A2点的电位按脉冲的节奏，呈现规律性的高低变化；A2点高电位时，如果被测LED发光管FG2完好，则被测LED发光管FG2被点亮，A2点低电位时，被测LED发光管FG2熄灭。多谐振荡器每输出一个脉冲发光管FG2就亮灭一次，计数器二跟着做累计加一；所以计数器二所累计的数是FG2的发光次数。
第三脉冲计数单元4包括一个射极跟随器电路、一个可以为被测LED整灯提供工作电流的恒流源电路；射极跟随器电路中三极管T5的发射极后方接有两个支路，一个支路通过光敏三极管GMG的集电极、发射极以及电阻R8构成接地回路，并在光敏三极管GMG与电阻R8间设有计数器三；三极管T5的发射极后方的另一个支路通过标准LED发光管FG3、继电器J1接地，继电器J1的常开触点设置在恒流源电路上；光敏三极管GMG的基极为受光窗口，安装第三脉冲计数单元4时应保证光敏三极管GMG的受光窗口只能接收被测LED整灯EJGD发出的光。多谐振荡器输出的脉冲，使A2点的电位按脉冲的节奏，呈现规律性的高低变化。A2点高电位时，标准LED发光管FG3被点亮；继电器J1吸合，被测LED整灯EJGD被点亮。这将使光敏三极管GMG导通，流过电阻R8的电流大幅增加，设计数器三是在脉冲的上升沿中实现的记数功能，则EJGD每被点亮一次，引起记数器三做一次加一运算。因此，计数器三可记录被测LED整灯EJGD的亮灭次数。
本装置的使用方法为：将被测LED发光管设置在第二脉冲计数单元中，将被测的LED整灯连接在第三脉冲计数单元的恒流源电路上，并将将被测LED发光管、被测的LED整灯放置在特定的环境下，开启脉冲发生单元一段时间后并关闭，对比三个计数器的数值，如果数值一致，说明被测LED发光管及LED整灯不存在虚焊，如果第二脉冲计数单元或第三脉冲计数单元的计数器读数小于第一脉冲计数单元的计数器读数，则说明被测LED发光管或被测LED整灯存在虚焊。
通常将LED发光管和LED整灯等被测器件置于常温下测试即可，由于器件虚焊情况往往在环境变化时才能凸显，因此为达到更好的测试效果，被测元器件可置于高温环境或低温环境下下测试，也置于高温、低温变动温度下测试，还可置于振动工作台上进行测试。
基于上述的LED虚焊检测仪电路结构原理及使用方法，只要根据被测器件的规格、型号加以调整电压、电流参数，可应用于多种电子元件的虚焊检测。
Claims (6)
1.一种LED虚焊检测仪，其特征在于：其由脉冲发生单元、第一脉冲计数单元、第二脉冲计数单元及第三脉冲计数单元构成；第一脉冲计数单元为一个由三极管、标准LED发光管、电阻构成的射极跟随器电路，标准LED发光管和电阻依次连接于三极管的发射极，射极跟随器的输入端与脉冲发生单元的输出端连接，射极跟随器的输出回路上设有计数器；第二脉冲计数单元为一个射极跟随器电路，射极跟随器的输入端与脉冲发生单元的输出端连接，射极跟随器的输出回路上设有被测LED发光管及计数器；第三脉冲计数单元包括一个射极跟随器电路、一个可以为被测LED整灯提供工作电流的恒流源电路，射极跟随器电路的输入端与脉冲发生单元的输出端连接，所述的第三脉冲计数单元的射极跟随器电路的输出端设有两个支路，一个支路通过光敏三极管的集电极、发射极构成回路，并在光敏三极管后方设有计数器，另一个支路上设有标准LED发光管和继电器，继电器的常开触点设置在恒流源电路上，所述的光敏三极管的基极为受光窗口，受光窗口只能接收被测LED整灯发出的光。
2.一种权利要求1所述的LED虚焊检测仪的使用方法，其特征在于：将被测LED发光管设置在第二脉冲计数单元中，将被测的LED整灯连接在第三脉冲计数单元的恒流源电路上，并将被测的LED发光管、被测的LED整灯放置在特定的环境下，开启脉冲发生单元一段时间后并关闭，对比三个计数器的数值，如果数值一致，说明被测LED发光管及LED整灯不存在虚焊，如果第二脉冲计数单元或第三脉冲计数单元的计数器读数小于第一脉冲计数单元的计数器读数，则说明被测LED发光管或被测LED整灯存在虚焊。
3.根据权利要求2所述的一种LED虚焊检测仪的使用方法，其特征在于：所述特定的环境是指将被测器件置于常温下测试即可。
4.根据权利要求2所述的一种LED虚焊检测仪的使用方法，其特征在于：所述特定的环境是指将被测元器件置于高温环境或低温环境下测试。
5.根据权利要求2所述的一种LED虚焊检测仪的使用方法，其特征在于：所述特定的环境是指将被测元器件置于高温、低温变动温度下测试。
6.根据权利要求2所述的一种LED虚焊检测仪的使用方法，其特征在于：所述特定的环境是指被测元器件置于振动工作台上进行测试。
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