CN102129403A - 嵌入式设备烧机测试方法 - Google Patents

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田志海
曹朝杰
董华
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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    • G—PHYSICS
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Abstract

一种嵌入式设备烧机测试方法，该方法包括：于计算机中设置测试时间并启动外置存储设备中的嵌入式设备烧机测试程序，使该嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中运行；断开计算机与嵌入式设备间的连接，并将外置存储设备与嵌入式设备断开；在上述设置的测试时间内对该嵌入式设备进行测试；标识测试结果并将嵌入式设备断电，使得嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中被清除。利用本发明可嵌入式设备内存中的嵌入式设备烧机测试程序自动清除，提高了烧机测试效率。

Description

嵌入式设备烧机测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试方法，尤其涉及一种嵌入式设备烧机测试方法。
背景技术
提高和保证嵌入式设备的产品质量，是嵌入式设备生产企业的重要工作内容。在嵌入式设备产品出厂之前，对嵌入式设备各项性能进行测试、查找出问题点，能有效地保证嵌入式设备的品质，避免不良品流入市场。
嵌入式设备的各项性能测试中，包含一项烧机测试，即对嵌入式设备长时间开机，并检测在该长时间开机过程中嵌入式设备是否能够正常运行。然而，在以往的烧机测试中，需要通过计算机将嵌入式设备烧机测试程序拷贝到嵌入式设备中，且需要作业员定期通过计算机的显示器查看嵌入式设备的测试状态。若嵌入式设备通过测试，还需要将嵌入式设备烧机测试程序从嵌入式设备中移除，降低了测试效率。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提出一种嵌入式设备烧机测试方法，其可以使嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中独立运行，且当嵌入式设备通过测试时，该嵌入式设备烧机测试程序会自动从嵌入式设备的内存中清除，提高了烧机测试效率。
一种嵌入式设备烧机测试方法，该嵌入式设备烧机测试方法包括：于计算机中设置测试时间并启动外置存储设备中的嵌入式设备烧机测试程序，使该嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中运行；断开计算机与嵌入式设备间的连接，并将外置存储设备与嵌入式设备断开；在上述设置的测试时间内对该嵌入式设备进行测试；标识测试结果并将嵌入式设备断电，使得嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中被清除。
相较于现有技术，所述的嵌入式设备烧机测试方法，可以将外置存储设备与嵌入式设备断开，使嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中独立运行，且当嵌入式设备通过测试时，嵌入式设备烧机测试程序会自动从嵌入式设备的内存中清除，提高了烧机测试效率。
附图说明
图1是本发明嵌入式设备烧机测试方法较佳实施例的架构图。
图2是本发明嵌入式设备烧机测试方法较佳实施例的流程图。
图3是图2步骤S20中嵌入式设备烧机测试程序对嵌入式设备进行测试的具体作业流程图。
主要元件符号说明
  测试设备   1
  嵌入式设备   2
  计算机   3
  外置存储设备   4
  内存   10
  嵌入式设备烧机测试程序   40
具体实施方式
参照图1所示，是本发明嵌入式设备烧机测试方法较佳实施例的架构图。该架构主要包括测试设备1、嵌入式设备2、计算机3及外置存储设备4。该测试设备1、计算机3和外置存储设备4均与嵌入式设备2相连接，该嵌入式设备2包括，但不限于，网络摄像头、路由器及交换机等。在本较佳实施例中，所述嵌入式设备2为网络摄像头。其中，该外置存储设备4内安装有嵌入式设备烧机测试程序40(以下简称为“烧机测试程序”)。该烧机测试程序40启动后，会在嵌入式设备2的内存10中运行。此时，若将计算机3与嵌入式设备2断开，或同时将外置存储设备4与嵌入式设备2断开，该烧机测试程序40仍然能够在嵌入式设备2的内存10中独立运行。
所述测试设备1用于对嵌入式设备2的测试结果进行标识，在本较佳实施例中，所述测试设备1安装有一个发光二极管(light-emitting diode，LED)灯，若嵌入式设备2没有通过测试，例如，嵌入式设备2因有故障而不合格，则测试设备1接收该测试结果，控制LED灯处于“暗”状态。若嵌入式设备2通过测试，则测试设备1接收该测试结果，控制LED灯处于“亮”状态。在其他实施例中，所述测试设备1还可以通过安装一显示器来对测试结果进行标识，例如，若嵌入式设备2通过测试，则在显示器上显示“SUCCESS”，若嵌入式设备2没有通过测试，则在显示器上显示“FAIL”。
所述计算机3用于设置测试时间及启动外置存储设备4中的烧机测试程序40。该计算机3可以是个人计算机、网络服务器，还可以是任意其它适用的计算机。
图2是本发明嵌入式设备烧机测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S10，计算机3设置测试时间并启动外置存储设备4中的烧机测试程序40，使烧机测试程序40在嵌入式设备2的内存10中运行。所述的测试时间包括开始时间及结束时间，例如，设置开始时间为8:00，结束时间为18:00。
步骤S20，将计算机3与嵌入式设备2断开，同时，将外置存储设备4与嵌入式设备2断开，烧机测试程序40在设置的测试时间内对该嵌入式设备2进行测试。该测试方法将在图3中做详细描述。
步骤S30，在测试设备1上标识测试结果，将嵌入式设备2断电，使烧机测试程序40在嵌入式设备2的内存10中自动被清除，以完成测试。在本较佳实施例中，若嵌入式设备2通过测试，则测试设备1会控制LED灯一直处于“亮”状态，以表明该嵌入式设备2合格。若嵌入式设备2没有通过测试，则测试设备1会控制LED灯处于“暗”状态，以表明该嵌入式设备2不合格。
图3是图2步骤S20中嵌入式设备烧机测试程序40在设置的测试时间内对嵌入式设备2进行测试的具体作业流程图。
步骤S200，启动嵌入式设备2中的进程查看指令，该进程查看指令用于查看嵌入式设备2运行的进程。嵌入式设备2在运行过程中，每个进程代表该嵌入式设备2的一个具体功能，例如，网络摄像头的拍摄功能对应了一个进程。
步骤S210，判断所查看到的嵌入式设备2运行的进程与该嵌入式设备2合格时所运行的进程是否一致。当所查看到的嵌入式设备2运行的进程与该嵌入式设备2合格时所运行的进程一致时，流程进入步骤S220，否则，当所查看到的嵌入式设备2运行的进程与该嵌入式设备2合格时所运行的进程不一致时，流程进入步骤S230。具体而言，假设该嵌入式设备2合格时所运行的进程有5个，分别为进程A、B、C、D及E，若所查看到的嵌入式设备2运行的进程为A、B、C、D及E，流程进入步骤S220，否则，若所查看到的嵌入式设备2运行的进程不是A、B、C、D及E，则流程进入步骤S230。
步骤S220，判断烧机测试是否结束。若当前时间为所设置的结束时间，则烧机测试结束，且在测试时间内步骤S210中的判断结果始终成立时，表明嵌入式设备2通过测试，流程进入步骤S230。若当前时间还未到所设置的结束时间，则烧机测试还没结束，流程返回步骤S210。
步骤S230，烧机测试程序40将测试结果发送给测试设备1。具体而言，若嵌入式设备2通过测试，则表明该嵌入式设备2合格。若嵌入式设备2没有通过测试，则表明该嵌入式设备2不合格。
最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (5)

1.一种嵌入式设备烧机测试方法，其特征在于，该嵌入式设备烧机测试方法包括：
于计算机中设置测试时间并启动外置存储设备中的嵌入式设备烧机测试程序，使该嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中运行；
断开计算机与嵌入式设备间的连接，并将外置存储设备与嵌入式设备断开；
在上述设置的测试时间内对该嵌入式设备进行测试；及
标识测试结果并将嵌入式设备断电，使得嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中被清除。
2.如权利要求1所述的嵌入式设备烧机测试方法，其特征在于，所述在上述设置的测试时间内对该嵌入式设备进行测试的步骤包括如下步骤：
(a)启动嵌入式设备中的进程查看指令以查看嵌入式设备所运行的进程；
(b)判断所查看到的嵌入式设备运行的进程与该嵌入式设备合格时所运行的进程是否一致；
(c)当所查看的嵌入式设备运行的进程与该嵌入式设备合格时所运行的进程一致且测试时间结束时，判定嵌入式设备通过测试；或
(d)当所查看的嵌入式设备运行的进程与该嵌入式设备合格时所运行的进程不一致时，判定该嵌入式设备没有通过测试；及
(e)将测试结果发送给所述测试设备。
3.如权利要求1所述的嵌入式设备烧机测试方法，其特征在于，所述嵌入式设备包括网络摄像头、路由器及交换机。
4.如权利要求1所述的嵌入式设备烧机测试方法，其特征在于，所述在测试设备上标识测试结果是指通过LED灯的亮或暗进行标识。
5.如权利要求1所述的嵌入式设备烧机测试方法，其特征在于，所述在测试设备上标识测试结果是指通过在显示器上显示测试结果进行标识。
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