CN101995268B - 量测仪器示值误差计算系统及方法 - Google Patents

量测仪器示值误差计算系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101995268B
CN101995268B CN200910305889.3A CN200910305889A CN101995268B CN 101995268 B CN101995268 B CN 101995268B CN 200910305889 A CN200910305889 A CN 200910305889A CN 101995268 B CN101995268 B CN 101995268B
Authority
CN
China
Prior art keywords
measuring instrument
linear scale
measurement
error
scale
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN200910305889.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101995268A (zh
Inventor
张旨光
袁忠奎
薛晓光
张江红
陈贤艺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN200910305889.3A priority Critical patent/CN101995268B/zh
Priority to US12/815,410 priority patent/US20110046909A1/en
Publication of CN101995268A publication Critical patent/CN101995268A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101995268B publication Critical patent/CN101995268B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/045—Correction of measurements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

一种量测仪器示值误差计算方法，适用于量测仪器中，所述量测仪器包括存储设备，该方法包括步骤：设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量测距离及量测选项；从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差及线纹尺的零点刻度；调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行；控制量测仪器根据所设置的量测距离及量测选项进行量测，并将量测结果存储至存储设备；及根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备。本发明还提供一种量测仪器示值误差计算系统。

Description

量测仪器示值误差计算系统及方法
技术领域
本发明涉及一种误差计算系统及方法，特别是关于一种量测仪器示值误差计算系统及方法。
背景技术
示值就是由量测仪器所指示的被量测值。量测仪器的示值误差是量测器具指示出来的量测值与被量测值的实际数值之差，它是量测仪器最主要的计量特性之一，本质上反映了量测仪器准确度的大小。示值误差大，则其准确度低；示值误差小，则其准确度高。
现使用的精密影像量测仪器的量测精度较普通量具量测准确，但其仍然存在量测误差，因此，需要量测出仪器的示值误差做精度补偿以达到较高的精度等级。目前，量测仪器示值误差的量测都是工作人员自己编写程序进行量测，没有统一的操作流程，操作过程繁琐，容易出错。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种量测仪器示值误差计算系统，可以使量测仪器根据设置的参数自动进行量测，并快速得到量测仪器的示值误差。
此外，还有必要提供一种量测仪器示值误差计算方法，可以使量测仪器根据设置的参数自动进行量测，并快速得到量测仪器的示值误差。
一种量测仪器示值误差计算系统，运行于量测仪器中，所述量测仪器包括存储设备，该系统包括：设置模块，用于设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量测距离及量测选项；获取模块，用于从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差及线纹尺的零点刻度；调整模块，用于调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行；量测模块，用于控制量测仪器根据所设置的量测距离及量测选项进行量测，并将量测结果存储至存储设备；及计算模块，用于根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备。
一种量测仪器示值误差计算方法，适用于量测仪器中，所述量测仪器包括存储设备，该方法包括步骤：设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量测距离及量测选项；从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差及线纹尺的零点刻度；调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行；控制量测仪器根据所设置的量测距离及量测选项进行量测，并将量测结果存储至存储设备；及根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备。
相较于现有技术，本发明所提供的量测仪器示值误差计算系统及方法，可以使量测仪器根据设置的参数自动进行量测，并快速得到量测仪器的示值误，操作简单方便，提高了工作效率。
附图说明
图1为本发明量测仪器示值误差计算系统较佳实施例的应用环境示意图。
图2为图1中示值误差量测系统的功能模块图。
图3为本发明量测仪器示值误差计算方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
参阅图1所示，是本发明量测仪器示值误差计算系统较佳实施例的应用环境示意图。所述示值误差量测系统10运行于量测仪器1中。所述量测仪器1可以是精密影像量测仪器或其它任意适用的具备数据处理功能的量测仪器。所述量测仪器1还包括存储设备12及处理器14。
所述存储设备12用于存储测试相关参数、测试结果以及示值误差量测系统10的计算机化程序代码。存储设备12可以是量测仪器1内置的存储器，也可以是量测仪器1外接的存储器。
所述处理器14执行示值误差量测系统10的计算机化程序代码，对量测仪器的示值误差进行快速量测。
参阅图2所示，是图1中示值误差量测系统10的功能模块图。所述示值误差量测系统10包括输入模块100、判断模块102、设置模块104、获取模块106、调整模块108、量测模块110及计算模块112。本发明所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段，比程序更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此在本发明以下对软件描述中都以模块描述。
所述输入模块100用于输入示值误差量测系统10的参数修改密码。
所述判断模块102用于判断所述输入的参数修改密码正确。若所述输入的参数修改密码与存储设置12中所保存的参数修改密码相同，则判断模块102判断所述输入的参数修改密码正确，进入参数设置界面；若所述输入的参数修改密码与存储设置12中所保存的参数修改密码不相同，则判断模块102判断所述输入的参数修改密码不正确，提示用户参数修改密码输入错误。
所述设置模块104用于设置量测仪器1的量测参数。在本实施例中，所述设置模块104提供参数设置界面，以供使用者进行量测参数的设置。在本发明的其他实施例中，所述设置模块104自动进行量测参数的设置，也就是说，在本发明的其他实施例中，所述输入模块100及判断模块102非必要。所述量测参数包括，但不限于，量测方向、量测距离、量测选项及所量测的线纹尺的类型。
在本实施例中，所述量测方向包括四个量测方向，分别为量测作业坐标系的X轴方向，Y轴方向，与X轴成45度角的方向及与X轴成135度角的方向。所述量测方向为X轴方向时，即将线纹尺沿X轴方向摆放进行量测；所述量测方向为Y轴方向时，即将线纹尺沿Y轴方向摆放进行量测；所述量测方向为与X轴成45度角的方向时，即将线纹尺沿与X轴成45度角的方向摆放进行量测；所述量测方向为与X轴成135度角的方向时，即将线纹尺沿与X轴成135度角的方向摆放进行量测。
所述量测距离是指线纹尺上的量测距离。所述量测距离的设置可以参照JIS B7440标准，也可以自定义。例如：按照JIS B7440标准，量测距离分别为总行程的十分之一，五分之一，五分之二，五分之三及五分之四，若总行程为300mm，则量测距离分别为30mm，60mm，120mm，180mm，及240mm。若选择自定义设置量测距离，且将量测距离的间隔设置为10mm，则量测距离分别为10mm，20mm，30mm，40mm，50mm，60mm，70mm，80mm，90mm，100mm，110mm，120mm，130mm，140mm，150mm，160mm，170mm，180mm，190mm，200mm，210mm，220mm，230mm，240mm，250mm，260mm，270mm，280mm，290mm，300mm。
在本实施例中，所述量测选项包括执行次数、暂停时间、自动调整光源及线纹尺指定长度。所述执行次数是指循环量测的次数，例如，若量测距离分别为30mm，60mm，120mm，180mm，及240mm，当设置执行次数为1时，该系统在量测距离为30mm，60mm，120mm，180mm，及240mm处进行一次量测；当设置执行次数为2时，该系统在量测距离为30mm，60mm，120mm，180mm，及240mm处进行一次量测后，再分别在量测距离为30mm，60mm，120mm，180mm，及240mm处进行第二次量测。所述暂停时间是指对每一量测距离进行量测所需的时间，例如：1秒。所述自动调整光源是指自动调整光源至最佳状态。所述线纹尺指定长度是指线纹尺的总长度。
所述线纹尺的类型包括刻度下对齐线纹尺和刻度上对齐线纹尺。所述刻度下对齐线纹尺是指线纹尺的下部刻度长度对齐，量测仪器在量测时以线纹尺的下部刻度进行量测；所述刻度上对齐线纹尺是指线纹尺的上部刻度长度对齐，量测仪器在量测时以线纹尺的上部刻度进行量测。
所述获取模块106用于从存储设备12中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差。所述线纹尺的误差是指线纹尺的刻度误差，例如：在线纹尺刻度为10mm处的误差为+0.0012mm，在线纹尺刻度为20mm处的误差为-0.0018mm，在线纹尺刻度为30mm处的误差为+0.002mm。
所述获取模块106还用于获取所量测的线纹尺上的零点刻度。
所述调整模块108用于调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行。
所述量测模块110用于控制量测仪器1根据所设置的量测参数进行量测，并将量测结果存储至存储设备12中。
所述计算模块112用于根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器1在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备12中。例如：若量测距离为30mm，该线纹尺在30mm刻度处的误差为+0.002mm，量测模块110对该量测距离的量测结果为30.0012mm，则量测仪器1在该量测距离的示值误差为：30mm+0.002mm-30.0012mm＝0.0008mm。
参阅图3所示，是本发明量测仪器示值误差计算方法较佳实施例的流程图。
步骤S10，输入模块100输入量测仪器示值误差计算系统10的参数修改密码。
步骤S12，判断模块102判断所述输入的参数修改密码正确。若所述输入的参数修改密码与存储设置12中所保存的参数修改密码相同，则判断模块102判断所述输入的参数修改密码正确，进入参数设置界面；若所述输入的参数修改密码与存储设置12中所保存的参数修改密码不相同，则判断模块102判断所述输入的参数修改密码不正确，提示用户参数修改密码输入错误。
步骤S14，设置模块104设置量测参数。所述量测参数包括，但不限于，量测方向、量测距离、量测选项及所量测的线纹尺的类型。在本实施例中，所述量测方向包括四个量测方向，分别为量测作业坐标系的X轴方向，Y轴方向，与X轴成45度角的方向及与X轴成135度角的方向。所述量测距离是指线纹尺上的量测距离。所述量测距离的设置可以参照JIS B7440标准，也可以自定义。所述量测选项包括执行次数、暂停时间、自动调整光源及线纹尺指定长度。所述暂停时间是指对每一量测距离进行量测所需的时间。所述自动调整光源是指自动调整光源至最佳状态。所述线纹尺指定长度是指线纹尺的总长度。所述线纹尺的类型包括刻度下对齐线纹尺和刻度上对齐线纹尺。所述刻度下对齐线纹尺是指线纹尺的下部刻度长度对齐，在量测时以线纹尺的下部刻度进行量测；所述刻度上对齐线纹尺是指线纹尺的上部刻度长度对齐，在量测时以线纹尺的上部刻度进行量测。
步骤S16，获取模块106从存储设备12中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差。例如：在线纹尺刻度为10mm处的仪器误差为+0.0012mm，在线纹尺刻度为20mm处的仪器误差为-0.0018mm，在线纹尺刻度为30mm处的仪器误差为+0.002mm。
步骤S18，获取模块106获取所量测的线纹尺上的零点刻度。
步骤S20，调整模块108调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行。
步骤S22，量测模块110控制量测仪器1根据所设置的量测参数进行量测，并将量测结果存储至存储设备12中。
步骤S24，计算模块112根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器1在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备12中。例如：若量测距离为30mm，该线纹尺在30mm刻度处的误差为+0.002mm，量测模块110对该量测距离的量测结果为30.0012mm，则量测仪器1在该量测距离的示值误差为：30mm+0.002mm-30.0012mm＝0.0008mm。
以上实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照以上较佳实施方式对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换都不应脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种量测仪器示值误差计算系统，运行于量测仪器中，所述量测仪器包括存储设备，其特征在于，该系统包括：
设置模块，用于设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量测距离及量测选项；
获取模块，用于从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差及线纹尺的零点刻度；
调整模块，用于调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行；
量测模块，用于控制量测仪器根据所设置的量测距离及量测选项进行量测，并将量测结果存储至存储设备；及
计算模块，用于根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备。
2.如权利要求1所述的量测仪器示值误差计算系统，其特征在于，该系统还包括：
输入模块，用于输入量测仪器示值误差计算系统的参数修改密码；
判断模块，用于判断所述输入的参数修改密码是否正确；
其中：
所述设置模块在所述输入的参数修改密码正确时，提供参数设置界面以进行量测参数的设置。
3.如权利要求1所述的量测仪器示值误差计算系统，其特征在于，所述量测方向包括X轴方向，Y轴方向，与X轴成45度角的方向及与X轴成135度角的方向。
4.如权利要求1所述的量测仪器示值误差计算系统，其特征在于，所述量测选项包括执行次数、暂停时间、自动调整光源及线纹尺指定长度。
5.如权利要求1所述的量测仪器示值误差计算系统，其特征在于，所述量测参数还包括线纹尺的类型，线纹尺的类型包括刻度下对齐线纹尺和刻度上对齐线纹尺。
6.一种量测仪器示值误差计算方法，所述量测仪器包括存储设备，其特征在于，该方法包括步骤：
设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量测距离及量测选项；
从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差及线纹尺的零点刻度；
调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行；
控制量测仪器根据所设置的量测距离及量测选项进行量测，并将量测结果存储至存储设备；及
根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备。
7.如权利要求6所述的量测仪器示值误差计算方法，其特征在于，该方法还包括步骤：
输入量测仪器示值误差计算系统的参数修改密码；
判断所述输入的参数修改密码正确。
8.如权利要求6所述的的量测仪器示值误差计算方法，其特征在于，所述量测方向包括X轴方向，Y轴方向，与X轴成45度角的方向及与X轴成135度角的方向。
9.如权利要求6所述的的量测仪器示值误差计算方法，其特征在于，所述量测选项包括执行次数、暂停时间、自动调整光源及线纹尺指定长度。
10.如权利要求6所述的的量测仪器示值误差计算方法，其特征在于，所述量测参数还包括线纹尺的类型，线纹尺的类型包括刻度下对齐线纹尺和刻度上对齐线纹尺。
CN200910305889.3A 2009-08-21 2009-08-21 量测仪器示值误差计算系统及方法 Expired - Fee Related CN101995268B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910305889.3A CN101995268B (zh) 2009-08-21 2009-08-21 量测仪器示值误差计算系统及方法
US12/815,410 US20110046909A1 (en) 2009-08-21 2010-06-15 System and method for calculating observational errors of a coordinate measuring machine

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910305889.3A CN101995268B (zh) 2009-08-21 2009-08-21 量测仪器示值误差计算系统及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101995268A CN101995268A (zh) 2011-03-30
CN101995268B true CN101995268B (zh) 2014-02-19

Family

ID=43606027

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200910305889.3A Expired - Fee Related CN101995268B (zh) 2009-08-21 2009-08-21 量测仪器示值误差计算系统及方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20110046909A1 (zh)
CN (1) CN101995268B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MY166377A (en) * 2011-08-30 2018-06-25 Omron Tateisi Electronics Co Management device, management method, program, and recording media

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2107636U (zh) * 1991-12-07 1992-06-17 大连理工大学 一种百分表自动检定装置
CN1313502A (zh) * 2001-04-30 2001-09-19 上海交通大学 图像式千分表百分表自动检定仪
CN2742391Y (zh) * 2004-11-11 2005-11-23 朱庆保 指示表全自动检定仪
CN201126337Y (zh) * 2007-11-20 2008-10-01 成都市英子测控科技有限公司 指示表全自动检定仪
CN101324452A (zh) * 2008-07-22 2008-12-17 中国计量学院 一种指针式仪表自动检定方法
CN101398296A (zh) * 2008-11-06 2009-04-01 沈阳飞机工业（集团）有限公司 轮廓仪校准用标准量规

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0526056B1 (en) * 1991-07-27 1996-01-31 Renishaw Transducer Systems Limited Calibration and measurement device
US5426861A (en) * 1993-04-19 1995-06-27 Advanced Metrological Development Method and apparatus for inspecting parts for dimensional accuracy outside a laboratory environment
DE19508861A1 (de) * 1995-03-11 1996-09-12 Zeiss Carl Fa Koordinatenmeßgerät mit einer Einrichtung für die Rauheitsmessung
US6796048B2 (en) * 2001-02-01 2004-09-28 Faro Technologies, Inc. Method, system and storage medium for providing a tool kit for a coordinate measurement system
US7905027B2 (en) * 2009-07-01 2011-03-15 Hexagon Metrology, Inc. Method and apparatus for probe tip diameter calibration

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2107636U (zh) * 1991-12-07 1992-06-17 大连理工大学 一种百分表自动检定装置
CN1313502A (zh) * 2001-04-30 2001-09-19 上海交通大学 图像式千分表百分表自动检定仪
CN2742391Y (zh) * 2004-11-11 2005-11-23 朱庆保 指示表全自动检定仪
CN201126337Y (zh) * 2007-11-20 2008-10-01 成都市英子测控科技有限公司 指示表全自动检定仪
CN101324452A (zh) * 2008-07-22 2008-12-17 中国计量学院 一种指针式仪表自动检定方法
CN101398296A (zh) * 2008-11-06 2009-04-01 沈阳飞机工业（集团）有限公司 轮廓仪校准用标准量规

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
《钢卷尺》检定规程示值误差计算之我见;郝宏;《中国计量》;20090110(第01期);第115页 *
郝宏.《钢卷尺》检定规程示值误差计算之我见.《中国计量》.2009,(第01期),第115页.

Also Published As

Publication number Publication date
CN101995268A (zh) 2011-03-30
US20110046909A1 (en) 2011-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100522472C (zh) 板材的倒角装置中的加工尺寸的测量方法和修正方法
CN102854841B (zh) 一种曲面零件的形位误差原位补偿加工方法
CN103962889A (zh) 加工机探针测量系统及方法
CN107063060A (zh) 一种确定表面平面度的方法及装置
CN105290880B (zh) 一种检测主轴轴线和基准轴线运动间垂直度的装置及方法
US10508895B2 (en) Method for single-point scanning of a workpiece and coordinate measuring machine
CN112147951B (zh) 机加工设备热误差补偿方法及其装置、系统、介质、终端
CN102478815B (zh) 计算机数控机床工作台和相关联探针的自动校准和补偿
CN104661793A (zh) 机床的接口系统
CN109260612A (zh) 病床的位置参数检测方法、位置校正方法、装置及系统
CN101995268B (zh) 量测仪器示值误差计算系统及方法
CN104567773A (zh) 臂型三维测量机和支撑该测量机的基部的倾斜校正方法
TW201518888A (zh) 加工機機內斷差補償系統及方法
CN105522483A (zh) 偏心轴的激光检测装置和控制系统以及监控方法
CN113950650A (zh) 调整量推定装置、调整量推定方法及调整量推定程序
CN101806758B (zh) 一种籽晶检测方法及其装置
CN107883872B (zh) 一种核电站安全壳垂直坐标仪在线标定方法以及标定装置
TWI550373B (zh) 自動更換測針系統及方法
Diakov et al. Large-scaled details flatness measurement method
CN107978540B (zh) 用于量测机台的自动调校方法和系统
CN110045680A (zh) 一种数控机床上在线检测臂架空间尺寸的测量方法
CN112414340A (zh) 一种工件的三坐标测量方法、装置、设备及存储介质
TWI460390B (zh) 量測儀器示值誤差計算系統及方法
CN110008503A (zh) 一种机床工作台平面度测量方法
CN104006781B (zh) 曲面法矢测量精度的计算方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20140219

Termination date: 20150821

EXPY Termination of patent right or utility model