CN101950228B - 触控点检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种用于电容式触控面板的触控点检测方法，该方法包括借由于水平方向与垂直方向上，扫描电容式触控面板的感测电容，得到对应于各感测电容的第一差异信号与第二差异信号、累计同列感测电容的第一差异信号，以产生对应于各列感测电容的列负载信号、累计同行感测电容的第二差异信号，以产生对应于各行感测电容的行负载信号、比较对应于一感测电容的列负载信号与行负载信号，以据以选择对应于该感测电容的第一差异信号或第二差异信号，以及依据所选择的差异信号与触控阈值，以判断该感测电容是否为一触控点。本发明的触控点检测方法可得到更正确的触控点检测结果。

Description

触控点检测方法

技术领域

本发明涉及一种触控检测技术，尤其涉及一种用于电容式触控面板的触控点检测方法。

背景技术

于各类消费性电子产品中，触控面板已被广泛使用作为输入装置。使用者透过手指或触控笔等装置在触控面板上的点触、滑动、书写等动作，可对触控面板上所显示的物件或选单直接下指令及操作，以提供更方便的人机操作界面。以不同感测技术来区分，触控面板可分为电容式、电阻式、光学式等。请参考图1，图1为说明现有技术的电容式触控面板100的示意图。电容式触控面板100包括有感测电容C₁₁～C_MN、电极X₁～X_M与Y₁～Y_N，其中感测电容C₁₁～C_MN与电极X₁～X_M以及电极Y₁～Y_N之间的耦接关系如图1所示，故不再赘述。以下将说明在现有技术中，用于电容式触控面板100的触控点检测方法的工作原理。

在电容式触控面板100中，当透过电极Y₁～Y_N扫描各行感测电容时，可透过电极X₁～X_M读取感测电容C₁₁～C_MN所产生的感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}。当透过电极X₁～X_M扫描每列感测电容时，可透过电极Y₁～Y_N读取感测电容C₁₁～C_MN所产生的感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}。此外，借由平均感测电容C₁₁～C_MN于电容式触控面板100尚未被触碰时所产生的感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}，可产生一基准值BASE来表示一感测电容于未被触碰时所产生的感测信号。如此，于检测触控点时，可将感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}与基准值BASE相减，以得到可反映出感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}的变化的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}。举例而言，第A个感测电容的差异信号S_{DIFF1_A}可由下式计算：

S_{DIFF1_A}＝abs(S_{SEN1_A}-BASE)...(1)；

其中abs表示取绝对值，S_{SEN1_A}表示第A个感测电容所产生的感测信号，BASE表示基准值。同理，依据式(1)将感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}与基准值BASE相减，可得到可反映出感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}的变化的差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}。此时，借由检测差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}与差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}，可判断感测电容所产生的感测信号的变化的程度，并据以判断触控点的位置。更明确地说，现有技术的触控点检测方法将对应于感测电容C_A的差异信号S_{DIFF1_A}以及S_{DIFF2_A}与一触控阈值TH_TOUCH比较。当差异信号S_{DIFF1_A}与S_{DIFF2_A}皆大于触控阈值TH_TOUCH时，现有技术的触控点检测方法判断感测电容C_A为一触控点。

图2与图3图3为说明现有技术的触控点检测方法于使用者作多点触控时，无法正确地检测到触控点的示意图。图2为当使用者作多点触控时，对应于感测电容C₁₁～C_MN的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}的示意图。图3为当使用者作多点触控时，对应于感测电容C₁₁～C_MN的差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}的示意图，其中设M、N皆为8，且触控阈值TH_TOUCH为10。由图2与图3可看出，由于感测电容C₃₂所产生的感测信号S_{DIFF1_32}(21)与S_{DIFF2_32}(20)皆大于触控阈值TH_TOUCH(10)，因此现有技术的触控点检测方法可判断感测电容C₃₂为一触控点。同理，现有技术的触控点检测方法也可判断感测电容C₃₆与C₃₈为触控点。

然而，当感测电容C_IJ实际上为一触控点时，若第I列(或第J行)感测电容中有其他感测电容同时也为触控点，则感测电容C_IJ可能透过电极X_I(或Y_J)受到同列(或行)感测电容中对应于触控点的感测电容的干扰，而产生不正确的感测信号S_{SEN1_IJ}(或S_{SEN2_IJ})，如此造成现有技术的触控点检测方法的误判。举例而言，在图2中，感测电容C₃₄实际上为一触控点。然而，由于感测电容C₃₄透过电极X₃受到同列感测电容中对应于触控点的感测电容(C₃₂、C₃₆与C₃₈)的干扰，因此感测电容C₃₄产生不正确的感测信号S_{SEN1_34}，导致差异信号S_{DIFF1_34}(8)小于触控阈值TH_TOUCH(10)。此时，虽然对应于感测电容C₃₄的差异信号S_{DIFF2_34}(18)大于触控阈值TH_TOUCH(10)，然而，现有技术的触控点检测方法却依据差异信号S_{DIFF1_34}(8)，判断感测电容C₃₄不是触控点。换句话说，在电容式触控面板中，当使用者作多点触控时，现有技术的触控点检测方法可能无法正确地检测到触控点。

发明内容

为克服上述现有技术的缺陷，本发明提供一种触控点检测方法。该触控点检测方法用于一电容式触控面板。该电容式触控面板具有(M×N)个感测电容、M个第一电极与N个第二电极。该(M×N)个感测电容耦接于该M个第一电极与该N个第二电极。该(M×N)个感测电容沿着一第一方向排列成M列感测电容，且沿着相异于该第一方向的一第二方向排列成N行感测电容。该触控点检测方法包括透过该N个第二电极扫描该N行感测电容，以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第一差异信号、针对各列感测电容，相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该M列感测电容的M个列负载信号、透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第二差异信号、针对各行感测电容，相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的第二差异信号，以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号，以及依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该(M×N)个第一差异信号、该(M×N)个第二差异信号与一触控阈值，产生一触控点检测结果。M、N皆为正整数。

相较于现有技术，本发明的触控点检测方法可得到更正确的触控点检测结果。此外，当一指示物对应于多个触控点时，本发明所提供的触控点检测方法可依据多个触控点所对应的感测电容的位置，以及其所对应的差异信号作为加权比例，计算出加权触控坐标，以更正确地表示指示物所接触的位置。

附图说明

图1为说明现有技术的电容式触控面板的示意图。

图2与图3为说明现有技术的触控点检测方法于使用者作多点触控时，无法正确地检测到触控点的示意图。

图4为说明本发明的触控点检测方法的一实施例的示意图。

图5为说明本发明的触控点检测方法所应用的电容式触控面板的示意图。

图6与图7为说明经重置的差异信号的示意图。

图8与图9为当指示物接触电容式触控面板时，对应于感测电容的差异信号的示意图。

图10为说明本发明的触控点检测方法的另一实施例的示意图。

其中，附图标记说明如下：

1、2                                          端点

100、500                                      电容式触控面板

400                                           方法

410～450、1060～1070                          步骤

510                                           控制电路

520                                           驱动电路

530                                           感测电路

540                                           切换电路

C₁₁～C_MN                                      感测电容

X₁～X_M、Y₁～Y_N                                电极

S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}、S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}    差异信号

T₁～T₃                                        指示物

具体实施方式

请参考图4。图4为说明本发明的触控点检测方法400的示意图。触控点检测方法400用于电容式触控面板500(如图5所示)。电容式触控面板500包括有感测电容C₁₁～C_MN、电极X₁～X_M与Y₁～Y_N、控制电路510、驱动电路520、感测电路530，以及切换电路540。感测电容C₁₁～C_MN沿着X方向(水平方向)排列成M列感测电容，且沿着Y方向(垂直方向)排列成N行感测电容。每个感测电容C₁₁～C_MN皆包括一第一端与一第二端。如图5所示，感测电容C_IJ的第一端耦接至电极X_I，感测电容C_IJ的第二端耦接至电极Y_J。依此类推可得其他感测电容、电极X₁～X_M以及电极Y₁～Y_N之间的耦接关系。驱动电路520用来提供驱动信号，以透过电极Y₁～Y_N(或X₁～X_M)扫描感测电容C₁₁～C_MN。感测电路530用来透过电极X₁～X_M(或Y₁～Y_N)接收感测电容C₁₁～C_MN所产生的感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}(或S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN})。控制电路510用来控制切换电路540，以调整驱动电路520、感测电路530，以及电极X₁～X_M与Y₁～Y_N之间的耦接关系。更明确地说，当控制电路510控制切换电路540将驱动电路520耦接至电极X₁～X_M时，控制电路510控制切换电路540将感测电路530耦接至电极Y₁～Y_N；反之，当控制电路510控制切换电路540将驱动电路520耦接至电极Y₁～Y_N时，控制电路510控制切换电路540将感测电路530耦接至电极X₁～X_M。以下将说明本发明的触控点检测方法400的步骤：

步骤410：驱动电路520透过电极Y₁～Y_N扫描N行感测电容，以得到对应于感测电容C₁₁～C_MN的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}；

步骤420：针对各列感测电容，相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}，以产生对应于M列感测电容的列负载信号CLD₁～CLD_M；

步骤430：驱动电路520透过电极X₁～X_M扫描M列感测电容，以得到对应于感测电容C₁₁～C_MN的差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}；

步骤440：针对各行感测电容，相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}，以产生对应于N行感测电容的行负载信号RLD₁～RLD_N；以及

步骤450：依据列负载信号CLD₁～CLD_M、行负载信号RLD₁～RLD_N、差异信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}与S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}与一触控阈值TH_TOUCH，产生一触控点检测结果RT。

在步骤410中，控制电路510控制切换电路540将驱动电路520耦接至电极Y₁～Y_N，且控制切换电路540将感测电路530耦接至电极X₁～X_M。此时，控制电路510控制驱动电路520透过电极Y₁～Y_N扫描N行感测电容。举例而言，驱动电路520输入驱动信号至电极Y₁，以驱动第一行感测电容C₁₁～C_M1，如此感测电路530可透过电极X₁～X_M接收第一行感测电容C₁₁～C_M1所产生的感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_M1}。接着，驱动电路520输入驱动信号至电极Y₂，如此感测电路530可透过电极X₁～X_M接收第二行感测电容C₁₂～C_M2的感测信号S_{SEN1_12}～S_{SEN1_M2}。依此类推，驱动电路520可依序透过其余电极Y₃～Y_N，扫描第三行感测电容至第N行感测电容。如此一来，感测电路530可得到对应于感测电容C₁₁～C_MN的感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}，并传送给控制电路510。控制电路510可先借由平均感测电容C₁₁～C_MN于电容式触控面板500未被触碰时所产生的感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}，以产生一基准值BASE₁来表示一感测电容于未被触碰时所产生的感测信号。因此，控制电路510可根据式(1)，将步骤410中所得到的感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}与基准值BASE₁相减，以得到可反映出感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}的变化的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}。控制电路510可更进一步地将差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFFI_MN}与一噪声阈值TH_NOISE作比较，以判断差异信号是否为环境的背景噪声。当差异信号S_{DIFF1_A}小于噪声阈值TH_NOISE时，控制电路510判断差异信号S_{DIFF1_A}为环境的背景噪声。此时，控制电路510可选择重置差异信号S_{DIFF1_A}为预定值PRE₁(举例而言，PRE₁为零)。举例而言，假设原本控制电路510所计算出的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}如图2所示，且设定噪声阈值TH_NOISE等于5、预定值PRE₁等于0，控制电路510将差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}与噪声阈值TH_NOISE作比较后，可得到如图6所示的经重置的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}。

在步骤420中，控制电路510针对各列感测电容，相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}，以产生对应于M列感测电容的列负载信号CLD₁～CLD_M。举例而言，假设列负载信号为该列感测电容的所有的感测电容所产生的差异信号的总和。如此，对应于第一列感测电容的列负载信号CLD₁等于(S_{DIFF1_11}+S_{DIFF1_12}+...+S_{DIFF1_1N})；对应于第二列感测电容的列负载信号CLD₂等于(S_{DIFF1_21}+S_{DIFF1_22}+...+S_{DIFF1_2N})；依此类推，对应于第M列感测电容的列负载信号CLD_M等于(S_{DIFF1_M1}+S_{DIFF1_M2}+...+S_{DIFF1_MN})。以图6所示的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}为例，依据步骤420可得对应于M列感测电容的列负载信号CLD₁～CLD_M等于[0，0，67，0，0，0，0，0]。

在步骤430中，控制电路510控制切换电路540将驱动电路520耦接至电极X₁～X_M，且控制切换电路540将感测电路530耦接至电极Y₁～Y_N。此时，控制电路510控制驱动电路520透过电极X₁～X_M扫描M列感测电容。举例而言，驱动电路520输入驱动信号至电极X₁，以驱动第一列感测电容C₁₁～C_1N，如此感测电路530可透过电极Y₁～Y_N接收第一列感测电容C₁₁～C_1N所产生的感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_1N}。接着，驱动电路520输入驱动信号至电极X₂，如此感测电路530可透过电极Y₁～Y_N接收第二列感测电容C₂₁～C_2N的感测信号S_{SEN2_21}～S_{SEN2_2N}。依此类推，驱动电路520可依序透过电极X₃～X_M，扫描第三列感测电容至第M列感测电容。如此一来，感测电路530可得到对应于感测电容C₁₁～C_MN的感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}，并传送给控制电路510。同理，控制电路510可先借由平均感测电容C₁₁～C_MN于电容式触控面板500未被触碰时所产生的感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}，以产生一基准值BASE₂来表示一感测电容于未被触碰时所产生的感测信号。因此，控制电路510可根据式(1)，将步骤430中所得到的感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}与基准值BASE₂相减，以得到可反映出感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}的变化的差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}。然而，为了减少运算量，控制电路510也可选择不计算基准值BASE₂，而是选择直接将感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}与步骤410中所说明的基准值BASE₁相减，以得到差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}。此外，控制电路510可更进一步地将差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}与噪声阈值TH_NOISE作比较，以判断差异信号是否为环境的背景噪声。当差异信号S_{DIFF2_A}小于噪声阈值TH_NOISE时，控制电路510判断差异信号S_{DIFF2_A}为环境的背景噪声。此时，控制电路510可选择重置差异信号S_{DIFF2_A}为预定值PRE₂(举例而言，PRE₂为零)。举例而言，假设原本控制电路510所计算出的差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}如图3所示，且设定噪声阈值TH_NOISE等于5、预定值PRE₂等于0。此时控制电路510将差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}与噪声阈值TH_NOISE作比较后，可得到如图7所示的经重置的差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}。

在步骤440中，控制电路510针对各行感测电容，相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}，以产生对应于N行感测电容的行负载信号RLD₁～RLD_N。举例而言，假设行负载信号为该行感测电容的所有感测电容所产生的差异信号的总和。如此，对应于第一行感测电容的行负载信号RLD₁等于(S_{DIFF2_11}+S_{DIFF2_21}+...+S_{DIFF2_M1})；对应于第二行感测电容的行负载信号RLD₂等于(S_{DIFF2_12}+S_{DIFF2_22}+...+S_{DIFF2_M2})；依此类推，对应于第N行感测电容的行负载信号RLD_N等于(S_{DIFF2_1N}+S_{DIFF2_2N}+...+S_{DIFF2_MN})。以图7所示的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}为例，依据步骤440可得对应于N行感测电容的行负载信号RLD₁～RLD_N等于[0，20，0，18，0，22，0，16]。

在步骤450中，控制电路510可依序将每个列负载信号CLD₁～CLD_M，与每个行负载信号RLD₁～RLD_N作比较，以检测感测电容C₁₁～C_MN中的触控点。以检测第I列感测电容C_I1～C_IN中的触控点作为举例说明，控制电路510将列负载信号CLD_I与行负载信号RLD₁～RLD_N作比较。当行负载信号RLD₁～RLD_N中有一行负载信号RLD_J大于列负载信号CLD_I时，表示于第J行感测电容上可能比第I列感测电容上具有更多的触控点。此时，相较于从电极X_I扫描感测电容C_IJ所得到的感测信号S_{SEN2_IJ}，透过电极Y_J扫描感测电容C_IJ所得到的感测信号S_{SEN1_IJ}较不容易受到其他的触控点的干扰。换句话说，相较于差异信号S_{DIFF2_IJ}，差异信号S_{DIFF1_IJ}较不受到其他的触控点的干扰。因此，控制电路510依据较不受干扰的差异信号S_{DIFF1_IJ}与触控阈值TH_TOUCH，判断感测电容C_IJ是否为一触控点。当差异信号S_{DIFF1_IJ}大于触控阈值TH_TOUCH时，控制电路510即判断感测电容C_IJ为触控点，并记录至一触控点检测结果RT。反之，当列负载信号CLD_I大于行负载信号RLD_J时，表示于第I列感测电容上可能比第J行感测电容上具有更多的触控点。此时，相较于从电极Y_J扫描感测电容C_IJ所得到的感测信号S_{SEN1_IJ}，透过电极X_I扫描感测电容C_IJ所得到的感测信号S_{SEN2_IJ}较不受到其他的触控点的干扰。换句话说，与差异信号S_{DIFF1_IJ}相较，差异信号S_{DIFF2_IJ}较不受到其他的触控点的干扰。因此，控制电路510依据较不受干扰的差异信号S_{DIFF2_IJ}与触控阈值TH_TOUCH，判断感测电容C_IJ是否为一触控点。当差异信号S_{DIFF2_IJ}大于触控阈值TH_TOUCH时，控制电路510即判断感测电容C_IJ为触控点，并记录至触控点检测结果RT。此外，当列负载信号CLD_I等于行负载信号RLD_J时，控制电路510可任意地选择差异信号S_{DIFF1_IJ}或S_{DIFF2_IJ}其中的一，与触控阈值TH_TOUCH作比较，以判断感测电容C_IJ是否为一触控点。

为了更清楚的说明触控点检测方法400的步骤450，以下以图6的列负载信号CLD₁～CLD_M与图7的行负载信号RLD₁～RLD_N作举例说明，列负载信号CLD₃(67)大于行负载信号RLD₁(0)，因此表示于第三列感测电容上比第一行感测电容上具有更多的触控点。如此，控制电路510依据感测信号S_{DIFF2_31}(0)与触控阈值(10)，判断感测电容C₃₁不为触控点。列负载信号CLD₃(67)大于行负载信号RLD₂(20)，因此表示于第三列感测电容上比第二行感测电容上具有更多的触控点。如此，控制电路510依据感测信号S_{DIFF2_32}(20)与触控阈值TH_TOUCH(10)，判断感测电容C₃₂为触控点。列负载信号CLD₃(67)大于行负载信号RLD₃(0)，因此表示于第三列感测电容上比第三行感测电容上具有更多的触控点。如此，控制电路510依据感测信号S_{DIFF2_33}(0)与触控阈值TH_TOUCH(10)，判断感测电容C₃₃不为触控点。列负载信号CLD₃(67)大于行负载信号RLD₄(18)，因此表示于第三列感测电容上比第四行感测电容上具有更多的触控点。如此，控制电路510依据感测信号S_{DIFF2_34}(20)与触控阈值TH_TOUCH(10)，判断感测电容C₃₄为触控点。依此类推，控制电路510依据感测信号S_{DIFF2_36}(22)、S_{DIFF2_38}(16)与触控阈值TH_TOUCH(10)，可判断感测电容C₃₆与C₃₈也为触控点。由上述说明可知，相较于现有技术，即使对应于感测电容C₃₄的差异信号S_{DIFF1_34}(8)因受其他触控点的干扰而小于触控阈值TH_TOUCH(10)，本发明的触控点检测方法仍可依据较不受干扰的差异信号S_{DIFF2_34}(18)，正确地判断感测电容C₃₄为一触控点。

此外，在前述的步骤450中，控制电路510将每个列负载信号CLD₁～CLD_M，与每个行负载信号RLD₁～RLD_N作比较，以检测感测电容C₁₁～C_MN中的触控点。然而，为了减少运算量，控制电路510可选择只比较大于触控阈值TH_TOUCH的列负载信号CLD₁～CLD_M与大于触控阈值TH_TOUCH的行负载信号RLD₁～RLD_N。以图6的列负载信号CLD₁～CLD_M与图7的行负载信号RLD₁～RLD_N为例，在列负载信号CLD₁～CLD_M与行负载信号RLD₁～RLD_N中，仅有列负载信号CLD₃(67)与行负载信号RLD₂(20)、RLD₄(18)、RLD₆(22)及RLD₈(16)大于触控阈值TH_TOUCH(10)。因此控制电路510只比较列负载信号CLD₃(67)与行负载信号RLD₂(20)、RLD₄(18)、RLD₆(22)及RLD₈(16)。如此，可减少控制电路510所需的运算资源。

另外，一般而言，当指示物(如使用者的一手指)接触电容式触控面板500时，指示物所接触的面积大于电容式触控面板500的一感测电容所感测的面积。因此单一指示物可能会对应到多个触控点。举例而言，请参考图8与图9。图8与图9为当指示物T₁、T₂与T₃接触电容式触控面板500时，对应于感测电容C₁₁～C_MN的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}与S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}的示意图。由图8与图9可看出，当指示物T₁接触电容式触控面板500时，本发明的触控点检测方法400判断感测电容C₁₁、C₁₂、C₂₁与C₂₂为触控点；当指示物T₂接触电容式触控面板500时，本发明的触控点检测方法400判断感测电容C₄₃、C₄₄、C₅₃与C₅₄为触控点；当指示物T₃接触电容式触控面板500时，本发明的触控点检测方法400判断感测电容C₆₇、C₆₈、C₇₇与C₇₈为触控点。换句话说，当一指示物接触电容式触控面板500时，本发明的触控点检测方法400检测出多个对应于该指示物的触控点，并且记录至触控点检测结果RT。因此，为了更正确地定位指示物T₁～T₃所接触的位置，本发明另提供一触控点检测方法1000(如图10所示)，可根据对应于指示物的多个触控点，计算出指示物所接触的位置。相较于触控点检测方法400，触控点检测方法1000还包括下列步骤：

步骤1060：当触控点检测结果RT指示感测电容C_A系为一触控点时，判断邻近感测电容C_A的至少一感测电容是否也为触控点；以及

步骤1070：当该至少一感测电容也为触控点时，依据感测电容C_A的位置、对应于感测电容C_A的差异信号S_{DIFF1_A}与S_{DIFF2_A}、该至少一感测电容的位置以及对应于该至少一感测电容的差异信号，计算一加权触控坐标。

在步骤1060中，以指示物T₁所对应的触控点作举例说明。由于触控点检测结果RT指示感测电容C₁₁为一触控点，因此控制电路510根据触控点检测结果RT，判断邻近于感测电容C₁₁的感测电容C₁₂、C₂₁、C₂₂是否也为触控点。此时，由于感测电容C₁₂、C₂₁、C₂₂也为触控点，因此在步骤1070中，控制电路510根据感测电容C₁₁、C₁₂、C₂₁、C₂₂的位置，并以差异信号S_{DIFF1_11}、S_{DIFF1_12}、S_{DIFF1_21}、S_{DIFF1_22}与S_{DIFF2_11}、S_{DIFF2_12}、S_{DIFF2_21}、S_{DIFF2_22}作为加权比例，计算一加权触控坐标LOC_W1，以表示指示物T₁所接触的位置。举例而言，在差异信号S_{DIFF1_11}、S_{DIFF1_12}、S_{DIFF1_21}、S_{DIFF1_22}的中，差异信号S_{DIFF1_12}的值最大，且差异信号S_{DIFF1_11}的值最小；在差异信号S_{DIFF2_11}、S_{DIFF2_12}、S_{DIFF2_21}、S_{DIFF2_22}的中，差异信号S_{DIFF2_12}的值最大，且差异信号S_{DIFF2_11}的值最小；因此表示指示物T₁对感测电容C₁₂所产生的感测信号影响较大，且指示物T₁对感测电容C₁₁所产生的感测信号影响较小。换句话说，指示物T₁较靠近感测电容C₁₂的位置，且较远离感测电容C₁₁的位置。因此，控制电路510于计算加权触控坐标LOC_W1时，设定给感测电容C₁₂的位置较高的加权比例，且设定给感测电容C₁₁的位置较低的加权比例。如此，控制电路510所计算出的加权触控坐标LOC_W1可更正确地表示指示物T₁所接触的位置。

综上所述，本发明所提供的触控点检测方法，借由扫描每行感测电容与每列感测电容，得到对应于各感测电容的第一差异信号与第二差异信号。接着，本发明的触控点检测方法累计同列感测电容的第一差异信号，以产生对应于各列感测电容的列负载信号，且累计同行感测电容的第二差异信号，以产生对应于各行感测电容的行负载信号。如此，本发明的触控点检测方法可比较对应于一感测电容的列负载信号与行负载信号，并依据比较结果以选择对应于该感测电容的第一差异信号或是第二差异信号作为判断触控点的依据。更明确地说，本发明的触控点检测方法依据列负载信号与行负载信号的比较结果，可选择较不受干扰的差异信号作为判断依据。因此，相较于现有技术，本发明的触控点检测方法可得到更正确的触控点检测结果。此外，当一指示物对应于多个触控点时，本发明所提供的触控点检测方法可依据多个触控点所对应的感测电容的位置，以及其所对应的差异信号作为加权比例，计算出加权触控坐标，以更正确地表示指示物所接触的位置。

以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (17)

1.一种触控点检测方法，用于一电容式触控面板，该电容式触控面板具有M×N个感测电容、M个第一电极与N个第二电极，该M×N个感测电容耦接于该M个第一电极与该N个第二电极，该M×N个感测电容沿着一第一方向排列成M列感测电容，且沿着相异于该第一方向的一第二方向排列成N行感测电容，该触控点检测方法包括：

透过该N个第二电极扫描该N行感测电容，以得到对应于该M×N个感测电容的M×N个第一差异信号；

针对各列感测电容，相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该M列感测电容的M个列负载信号；

透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以得到对应于该M×N个感测电容的M×N个第二差异信号；

针对各行感测电容，相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的第二差异信号，以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号；以及

依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该M×N个第一差异信号、该M×N个第二差异信号与一触控阈值，产生一触控点检测结果；

其中M、N皆为正整数。

2.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中透过该N个第二电极扫描该N行感测电容，以得到对应于该M×N个感测电容的该M×N个第一差异信号包括：

透过该N个第二电极扫描该N行感测电容，以从该M个第一电极接收M×N个第一感测信号；以及

根据该M×N个第一感测信号与一基准值，产生该M×N个第一差异信号。

3.如权利要求2所述的触控点检测方法，其中根据该M×N个第一感测信号与该基准值，产生该M×N个第一差异信号包括：

以下式计算该M×N个第一差异信号中的一第A个第一差异信号：

S_{DIFF1_A}＝abs(S_{SEN1_A}-BASE)；

其中abs表示取绝对值，S_{DIFF1_A}表示该第A个第一差异信号，S_{SEN1_A}表示该M×N个第一感测信号的一第A个第一感测信号，BASE表示该基准值。

4.如权利要求3所述的触控点检测方法，其中根据该M×N个第一感测信号与该基准值，产生该M×N个第一差异信号还包括：

当该第A个第一差异信号小于一噪声阈值时，重置该第A个第一差异信号为一预定值。

5.如权利要求2所述的触控点检测方法，其中透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以得到对应于该M×N个感测电容的该M×N个第二差异信号包括：

透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以从该N个第二电极接收M×N个第二感测信号；以及

根据该M×N个第二感测信号与该基准值，产生该M×N个第二差异信号。

6.如权利要求5所述的触控点检测方法，其中根据该M×N个第二感测信号与该基准值，产生该M×N个第二差异信号包括：

以下式计算该M×N个第二差异信号中的一第A个第二差异信号：

S_{DIFF2_A}＝abs(S_{SEN2_A}-BASE)；

其中abs表示取绝对值，S_{DIFF2_A}表示该M×N个第二差异信号中的该第A个第二差异信号，S_{SEN2_A}表示该M×N个第二感测信号的一第A个第二感测信号，BASE表示该基准值。

7.如权利要求6所述的触控点检测方法，其中根据该M×N个第二感测信号与该基准值，产生该M×N个第二差异信号还包括：

当该第A个第二差异信号小于一噪声阈值时，重置该第A个第二差异信号为一预定值。

8.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中针对各列感测电容，相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该M列感测电容的该M个列负载信号包括：

相加对应于该M列感测电容的一第I列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该第I列感测电容的一第I个列负载信号；

其中I≤M。

9.如权利要求8所述的触控点检测方法，其中针对各行感测电容，相加对应于同行感测电容中的各个感测电容的第二差异信号，以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号包括：

相加对应于该N行感测电容的一第J行感测电容中的各个感测电容的第二差异信号，以产生对应于该第J行感测电容的一第J个行负载信号；

其中J≤N。

10.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该M×N个第一差异信号、该M×N个第二差异信号与该触控阈值，产生该触控点检测结果包括：

将该M个列负载信号的每个列负载信号，与该N个行负载信号的每个行负载信号作比较；

当该M个列负载信号的一第I个列负载信号小于该N个行负载信号的一第J个行负载信号时，依据该触控阈值以及在该M×N个第一差异信号中，对应于该M×N个感测电容的一第I×J个感测电容的一第I×J个第一差异信号，判断该第I×J个感测电容是否为一触控点，并记录至该触控点检测结果；以及

当该M个列负载信号的该第I个列负载信号大于或等于该N个行负载信号的该第J个行负载信号时，依据该触控阈值以及在该M×N个第二差异信号中，对应于该第I×J个感测电容的一第I×J个第二差异信号，判断该第I×J个感测电容是否为一触控点，并记录至该触控点检测结果；

其中I≤M，且J≤N。

11.如权利要求10所述的触控点检测方法，其中当该M个列负载信号的该第I个列负载信号小于该N个行负载信号的该第J个行负载信号时，依据该触控阈值以及在该M×N个第一差异信号中，对应于该M×N个感测电容的该第I×J个感测电容的该第I×J个第一差异信号，判断该第I×J个感测电容是否为一触控点，并记录至该触控点检测结果包括：

当该第I×J个第一差异信号大于该触控阈值时，判断该第I×J个感测电容系为一触控点，并记录至该触控点检测结果。

12.如权利要求10所述的触控点检测方法，其中当该M个列负载信号的该第I个列负载信号大于或等于该N个行负载信号的该第J个行负载信号时，依据该触控阈值以及在该M×N个第二差异信号中，对应于该M×N个感测电容的该第I×J个感测电容的一第I×J个第二差异信号，判断该第I×J个感测电容是否为一触控点，并记录至该触控点检测结果包括：

当该第I×J个第二差异信号大于该触控阈值时，判断该第I×J个感测电容系为一触控点，并记录至该触控点检测结果。

13.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该M×N个第一差异信号、该M×N个第二差异信号与该触控阈值，产生该触控点检测结果包括：

当该M个列负载信号的一第I个列负载信号与该N个行负载信号的一第J个行负载信号皆大于该触控阈值时，比较该第I个列负载信号与该第J个行负载信号；

当该第I个列负载信号小于该第J个行负载信号时，依据该触控阈值以及在该M×N个第一差异信号中，对应于该M×N个感测电容的一第I×J个感测电容的一第I×J个第一差异信号，判断该第I×J个感测电容是否为一触控点，并记录至该触控点检测结果；以及

当该第I个列负载信号大于或等于该第J个行负载信号时，依据该触控阈值以及在该M×N个第二差异信号中，对应于该第I×J个感测电容的一第I×J个第二差异信号，判断该第I×J个感测电容是否为一触控点，并记录至该触控点检测结果；

其中I≤M，且J≤N。

14.如权利要求13所述的触控点检测方法，其中当该第I个列负载信号小于该第J个行负载信号时，依据该触控阈值以及在该M×N个第一差异信号中，对应于该M×N个感测电容的该第I×J个感测电容的该第I×J个第一差异信号，判断该第I×J个感测电容是否为一触控点，并记录至该触控点检测结果包括：

当该第I×J个第一差异信号大于该触控阈值时，判断该第I×J个感测电容系为一触控点，并记录至该触控点检测结果。

15.如权利要求14所述的触控点检测方法，其中当该第I个列负载信号大于或等于该第J个行负载信号时，依据该触控阈值以及在该M×N个第二差异信号中，对应于该M×N个感测电容的该第I×J个感测电容的一第I×J个第二差异信号，判断该第I×J个感测电容是否为一该触控点，并记录至该触控点检测结果包括：

当该第I×J个第二差异信号大于该触控阈值时，判断该第I×J个感测电容系为一该触控点，并记录至该触控点检测结果。

16.如权利要求1所述的触控点检测方法，还包括：

当该触控点检测结果指示该M×N个感测电容的一第A个感测电容系为一触控点时，判断邻近该第A个感测电容的至少一感测电容是否也为触控点；以及

当该至少一感测电容也为触控点时，依据该第A个感测电容的位置、对应于该第A个感测电容的第一差异信号与第二差异信号、该至少一感测电容的位置以及对应于该至少一感测电容的第一差异信号与第二差异信号，计算一加权触控坐标。

17.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中该M×N个感测电容的每个感测电容皆包括一第一端与一第二端，该M×N个感测电容的一第I×J个感测电容的第一端耦接至该M个第一电极的一第I个第一电极，该M×N个感测电容的该第I×J个感测电容的第二端耦接至该N个第二电极的一第J个第二电极。

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