CN101950228A - 触控点检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种用于电容式触控面板的触控点检测方法,该方法包括借由于水平方向与垂直方向上,扫描电容式触控面板的感测电容,得到对应于各感测电容的第一差异信号与第二差异信号、累计同列感测电容的第一差异信号,以产生对应于各列感测电容的列负载信号、累计同行感测电容的第二差异信号,以产生对应于各行感测电容的行负载信号、比较对应于一感测电容的列负载信号与行负载信号,以据以选择对应于该感测电容的第一差异信号或第二差异信号,以及依据所选择的差异信号与触控阈值,以判断该感测电容是否为一触控点。本发明的触控点检测方法可得到更正确的触控点检测结果。
Description
技术领域
本发明涉及一种触控检测技术,尤其涉及一种用于电容式触控面板的触控点检测方法。
背景技术
于各类消费性电子产品中,触控面板已被广泛使用作为输入装置。使用者透过手指或触控笔等装置在触控面板上的点触、滑动、书写等动作,可对触控面板上所显示的物件或选单直接下指令及操作,以提供更方便的人机操作界面。以不同感测技术来区分,触控面板可分为电容式、电阻式、光学式等。请参考图1,图1为说明现有技术的电容式触控面板100的示意图。电容式触控面板100包括有感测电容C11~CMN、电极X1~XM与Y1~YN,其中感测电容C11~CMN与电极X1~XM以及电极Y1~YN之间的耦接关系如图1所示,故不再赘述。以下将说明在现有技术中,用于电容式触控面板100的触控点检测方法的工作原理。
在电容式触控面板100中,当透过电极Y1~YN扫描各行感测电容时,可透过电极X1~XM读取感测电容C11~CMN所产生的感测信号SSEN1_11~SSEN1_MN。当透过电极X1~XM扫描每列感测电容时,可透过电极Y1~YN读取感测电容C11~CMN所产生的感测信号SSEN2_11~SSEN2_MN。此外,借由平均感测电容C11~CMN于电容式触控面板100尚未被触碰时所产生的感测信号SSEN1_11~SSEN1_MN,可产生一基准值BASE来表示一感测电容于未被触碰时所产生的感测信号。如此,于检测触控点时,可将感测信号SSEN1_11~SSEN1_MN与基准值BASE相减,以得到可反映出感测信号SSEN1_11~SSEN1_MN的变化的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN。举例而言,第A个感测电容的差异信号SDIFF1_A可由下式计算:
SDIFF1_A=abs(SSEN1_A-BASE)...(1);
其中abs表示取绝对值,SSEN1_A表示第A个感测电容所产生的感测信号,BASE表示基准值。同理,依据式(1)将感测信号SSEN2_11~SSEN2_MN与基准值BASE相减,可得到可反映出感测信号SSEN2_11~SSEN2_MN的变化的差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN。此时,借由检测差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN与差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN,可判断感测电容所产生的感测信号的变化的程度,并据以判断触控点的位置。更明确地说,现有技术的触控点检测方法将对应于感测电容CA的差异信号SDIFF1_A以及SDIFF2_A与一触控阈值THTOUCH比较。当差异信号SDIFF1_A与SDIFF2_A皆大于触控阈值THTOUCH时,现有技术的触控点检测方法判断感测电容CA为一触控点。
图2与图3图3为说明现有技术的触控点检测方法于使用者作多点触控时,无法正确地检测到触控点的示意图。图2为当使用者作多点触控时,对应于感测电容C11~CMN的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN的示意图。图3为当使用者作多点触控时,对应于感测电容C11~CMN的差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN的示意图,其中设M、N皆为8,且触控阈值THTOUCH为10。由图2与图3可看出,由于感测电容C32所产生的感测信号SDIFF1_32(21)与SDIFF2_32(20)皆大于触控阈值THTOUCH(10),因此现有技术的触控点检测方法可判断感测电容C32为一触控点。同理,现有技术的触控点检测方法也可判断感测电容C36与C38为触控点。
然而,当感测电容CIJ实际上为一触控点时,若第I列(或第J行)感测电容中有其他感测电容同时也为触控点,则感测电容CIJ可能透过电极XI(或YJ)受到同列(或行)感测电容中对应于触控点的感测电容的干扰,而产生不正确的感测信号SSEN1_IJ(或SSEN2_IJ),如此造成现有技术的触控点检测方法的误判。举例而言,在图2中,感测电容C34实际上为一触控点。然而,由于感测电容C34透过电极X3受到同列感测电容中对应于触控点的感测电容(C32、C36与C38)的干扰,因此感测电容C34产生不正确的感测信号SSEN1_34,导致差异信号SDIFF1_34(8)小于触控阈值THTOUCH(10)。此时,虽然对应于感测电容C34的差异信号SDIFF2_34(18)大于触控阈值THTOUCH(10),然而,现有技术的触控点检测方法却依据差异信号SDIFF1_34(8),判断感测电容C34不是触控点。换句话说,在电容式触控面板中,当使用者作多点触控时,现有技术的触控点检测方法可能无法正确地检测到触控点。
发明内容
为克服上述现有技术的缺陷,本发明提供一种触控点检测方法。该触控点检测方法用于一电容式触控面板。该电容式触控面板具有(M×N)个感测电容、M个第一电极与N个第二电极。该(M×N)个感测电容耦接于该M个第一电极与该N个第二电极。该(M×N)个感测电容沿着一第一方向排列成M列感测电容,且沿着相异于该第一方向的一第二方向排列成N行感测电容。该触控点检测方法包括透过该N个第二电极扫描该N行感测电容,以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第一差异信号、针对各列感测电容,相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号,以产生对应于该M列感测电容的M个列负载信号、透过该M个第一电极扫描该M列感测电容,以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第二差异信号、针对各行感测电容,相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的第二差异信号,以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号,以及依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该(M×N)个第一差异信号、该(M×N)个第二差异信号与一触控阈值,产生一触控点检测结果。M、N皆为正整数。
相较于现有技术,本发明的触控点检测方法可得到更正确的触控点检测结果。此外,当一指示物对应于多个触控点时,本发明所提供的触控点检测方法可依据多个触控点所对应的感测电容的位置,以及其所对应的差异信号作为加权比例,计算出加权触控坐标,以更正确地表示指示物所接触的位置。
附图说明
图1为说明现有技术的电容式触控面板的示意图。
图2与图3为说明现有技术的触控点检测方法于使用者作多点触控时,无法正确地检测到触控点的示意图。
图4为说明本发明的触控点检测方法的一实施例的示意图。
图5为说明本发明的触控点检测方法所应用的电容式触控面板的示意图。
图6与图7为说明经重置的差异信号的示意图。
图8与图9为当指示物接触电容式触控面板时,对应于感测电容的差异信号的示意图。
图10为说明本发明的触控点检测方法的另一实施例的示意图。
其中,附图标记说明如下:
1、2 端点
100、500 电容式触控面板
400 方法
410~450、1060~1070 步骤
510 控制电路
520 驱动电路
530 感测电路
540 切换电路
C11~CMN 感测电容
X1~XM、Y1~YN 电极
SDIFF1_11~SDIFF1_MN、SDIFF2_11~SDIFF2_MN 差异信号
T1~T3 指示物
具体实施方式
请参考图4。图4为说明本发明的触控点检测方法400的示意图。触控点检测方法400用于电容式触控面板500(如图5所示)。电容式触控面板500包括有感测电容C11~CMN、电极X1~XM与Y1~YN、控制电路510、驱动电路520、感测电路530,以及切换电路540。感测电容C11~CMN沿着X方向(水平方向)排列成M列感测电容,且沿着Y方向(垂直方向)排列成N行感测电容。每个感测电容C11~CMN皆包括一第一端与一第二端。如图5所示,感测电容CIJ的第一端耦接至电极XI,感测电容CIJ的第二端耦接至电极YJ。依此类推可得其他感测电容、电极X1~XM以及电极Y1~YN之间的耦接关系。驱动电路520用来提供驱动信号,以透过电极Y1~YN(或X1~XM)扫描感测电容C11~CMN。感测电路530用来透过电极X1~XM(或Y1~YN)接收感测电容C11~CMN所产生的感测信号SSEN1_11~SSEN1_MN(或SSEN2_11~SSEN2_MN)。控制电路510用来控制切换电路540,以调整驱动电路520、感测电路530,以及电极X1~XM与Y1~YN之间的耦接关系。更明确地说,当控制电路510控制切换电路540将驱动电路520耦接至电极X1~XM时,控制电路510控制切换电路540将感测电路530耦接至电极Y1~YN;反之,当控制电路510控制切换电路540将驱动电路520耦接至电极Y1~YN时,控制电路510控制切换电路540将感测电路530耦接至电极X1~XM。以下将说明本发明的触控点检测方法400的步骤:
步骤410:驱动电路520透过电极Y1~YN扫描N行感测电容,以得到对应于感测电容C11~CMN的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN;
步骤420:针对各列感测电容,相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN,以产生对应于M列感测电容的列负载信号CLD1~CLDM;
步骤430:驱动电路520透过电极X1~XM扫描M列感测电容,以得到对应于感测电容C11~CMN的差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN;
步骤440:针对各行感测电容,相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN,以产生对应于N行感测电容的行负载信号RLD1~RLDN;以及
步骤450:依据列负载信号CLD1~CLDM、行负载信号RLD1~RLDN、差异信号SSEN1_11~SSEN1_MN与SSEN2_11~SSEN2_MN与一触控阈值THTOUCH,产生一触控点检测结果RT。
在步骤410中,控制电路510控制切换电路540将驱动电路520耦接至电极Y1~YN,且控制切换电路540将感测电路530耦接至电极X1~XM。此时,控制电路510控制驱动电路520透过电极Y1~YN扫描N行感测电容。举例而言,驱动电路520输入驱动信号至电极Y1,以驱动第一行感测电容C11~CM1,如此感测电路530可透过电极X1~XM接收第一行感测电容C11~CM1所产生的感测信号SSEN1_11~SSEN1_M1。接着,驱动电路520输入驱动信号至电极Y2,如此感测电路530可透过电极X1~XM接收第二行感测电容C12~CM2的感测信号SSEN1_12~SSEN1_M2。依此类推,驱动电路520可依序透过其余电极Y3~YN,扫描第三行感测电容至第N行感测电容。如此一来,感测电路530可得到对应于感测电容C11~CMN的感测信号SSEN1_11~SSEN1_MN,并传送给控制电路510。控制电路510可先借由平均感测电容C11~CMN于电容式触控面板500未被触碰时所产生的感测信号SSEN1_11~SSEN1_MN,以产生一基准值BASE1来表示一感测电容于未被触碰时所产生的感测信号。因此,控制电路510可根据式(1),将步骤410中所得到的感测信号SSEN1_11~SSEN1_MN与基准值BASE1相减,以得到可反映出感测信号SSEN1_11~SSEN1_MN的变化的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN。控制电路510可更进一步地将差异信号SDIFF1_11~SDIFFI_MN与一噪声阈值THNOISE作比较,以判断差异信号是否为环境的背景噪声。当差异信号SDIFF1_A小于噪声阈值THNOISE时,控制电路510判断差异信号SDIFF1_A为环境的背景噪声。此时,控制电路510可选择重置差异信号SDIFF1_A为预定值PRE1(举例而言,PRE1为零)。举例而言,假设原本控制电路510所计算出的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN如图2所示,且设定噪声阈值THNOISE等于5、预定值PRE1等于0,控制电路510将差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN与噪声阈值THNOISE作比较后,可得到如图6所示的经重置的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN。
在步骤420中,控制电路510针对各列感测电容,相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN,以产生对应于M列感测电容的列负载信号CLD1~CLDM。举例而言,假设列负载信号为该列感测电容的所有的感测电容所产生的差异信号的总和。如此,对应于第一列感测电容的列负载信号CLD1等于(SDIFF1_11+SDIFF1_12+...+SDIFF1_1N);对应于第二列感测电容的列负载信号CLD2等于(SDIFF1_21+SDIFF1_22+...+SDIFF1_2N);依此类推,对应于第M列感测电容的列负载信号CLDM等于(SDIFF1_M1+SDIFF1_M2+...+SDIFF1_MN)。以图6所示的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN为例,依据步骤420可得对应于M列感测电容的列负载信号CLD1~CLDM等于[0,0,67,0,0,0,0,0]。
在步骤430中,控制电路510控制切换电路540将驱动电路520耦接至电极X1~XM,且控制切换电路540将感测电路530耦接至电极Y1~YN。此时,控制电路510控制驱动电路520透过电极X1~XM扫描M列感测电容。举例而言,驱动电路520输入驱动信号至电极X1,以驱动第一列感测电容C11~C1N,如此感测电路530可透过电极Y1~YN接收第一列感测电容C11~C1N所产生的感测信号SSEN2_11~SSEN2_1N。接着,驱动电路520输入驱动信号至电极X2,如此感测电路530可透过电极Y1~YN接收第二列感测电容C21~C2N的感测信号SSEN2_21~SSEN2_2N。依此类推,驱动电路520可依序透过电极X3~XM,扫描第三列感测电容至第M列感测电容。如此一来,感测电路530可得到对应于感测电容C11~CMN的感测信号SSEN2_11~SSEN2_MN,并传送给控制电路510。同理,控制电路510可先借由平均感测电容C11~CMN于电容式触控面板500未被触碰时所产生的感测信号SSEN2_11~SSEN2_MN,以产生一基准值BASE2来表示一感测电容于未被触碰时所产生的感测信号。因此,控制电路510可根据式(1),将步骤430中所得到的感测信号SSEN2_11~SSEN2_MN与基准值BASE2相减,以得到可反映出感测信号SSEN2_11~SSEN2_MN的变化的差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN。然而,为了减少运算量,控制电路510也可选择不计算基准值BASE2,而是选择直接将感测信号SSEN2_11~SSEN2_MN与步骤410中所说明的基准值BASE1相减,以得到差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN。此外,控制电路510可更进一步地将差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN与噪声阈值THNOISE作比较,以判断差异信号是否为环境的背景噪声。当差异信号SDIFF2_A小于噪声阈值THNOISE时,控制电路510判断差异信号SDIFF2_A为环境的背景噪声。此时,控制电路510可选择重置差异信号SDIFF2_A为预定值PRE2(举例而言,PRE2为零)。举例而言,假设原本控制电路510所计算出的差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN如图3所示,且设定噪声阈值THNOISE等于5、预定值PRE2等于0。此时控制电路510将差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN与噪声阈值THNOISE作比较后,可得到如图7所示的经重置的差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN。
在步骤440中,控制电路510针对各行感测电容,相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的差异信号SDIFF2_11~SDIFF2_MN,以产生对应于N行感测电容的行负载信号RLD1~RLDN。举例而言,假设行负载信号为该行感测电容的所有感测电容所产生的差异信号的总和。如此,对应于第一行感测电容的行负载信号RLD1等于(SDIFF2_11+SDIFF2_21+...+SDIFF2_M1);对应于第二行感测电容的行负载信号RLD2等于(SDIFF2_12+SDIFF2_22+...+SDIFF2_M2);依此类推,对应于第N行感测电容的行负载信号RLDN等于(SDIFF2_1N+SDIFF2_2N+...+SDIFF2_MN)。以图7所示的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN为例,依据步骤440可得对应于N行感测电容的行负载信号RLD1~RLDN等于[0,20,0,18,0,22,0,16]。
在步骤450中,控制电路510可依序将每个列负载信号CLD1~CLDM,与每个行负载信号RLD1~RLDN作比较,以检测感测电容C11~CMN中的触控点。以检测第I列感测电容CI1~CIN中的触控点作为举例说明,控制电路510将列负载信号CLDI与行负载信号RLD1~RLDN作比较。当行负载信号RLD1~RLDN中有一行负载信号RLDJ大于列负载信号CLDI时,表示于第J行感测电容上可能比第I列感测电容上具有更多的触控点。此时,相较于从电极XI扫描感测电容CIJ所得到的感测信号SSEN2_IJ,透过电极YJ扫描感测电容CIJ所得到的感测信号SSEN1_IJ较不容易受到其他的触控点的干扰。换句话说,相较于差异信号SDIFF2_IJ,差异信号SDIFF1_IJ较不受到其他的触控点的干扰。因此,控制电路510依据较不受干扰的差异信号SDIFF1_IJ与触控阈值THTOUCH,判断感测电容CIJ是否为一触控点。当差异信号SDIFF1_IJ大于触控阈值THTOUCH时,控制电路510即判断感测电容CIJ为触控点,并记录至一触控点检测结果RT。反之,当列负载信号CLDI大于行负载信号RLDJ时,表示于第I列感测电容上可能比第J行感测电容上具有更多的触控点。此时,相较于从电极YJ扫描感测电容CIJ所得到的感测信号SSEN1_IJ,透过电极XI扫描感测电容CIJ所得到的感测信号SSEN2_IJ较不受到其他的触控点的干扰。换句话说,与差异信号SDIFF1_IJ相较,差异信号SDIFF2_IJ较不受到其他的触控点的干扰。因此,控制电路510依据较不受干扰的差异信号SDIFF2_IJ与触控阈值THTOUCH,判断感测电容CIJ是否为一触控点。当差异信号SDIFF2_IJ大于触控阈值THTOUCH时,控制电路510即判断感测电容CIJ为触控点,并记录至触控点检测结果RT。此外,当列负载信号CLDI等于行负载信号RLDJ时,控制电路510可任意地选择差异信号SDIFF1_IJ或SDIFF2_IJ其中的一,与触控阈值THTOUCH作比较,以判断感测电容CIJ是否为一触控点。
为了更清楚的说明触控点检测方法400的步骤450,以下以图6的列负载信号CLD1~CLDM与图7的行负载信号RLD1~RLDN作举例说明,列负载信号CLD3(67)大于行负载信号RLD1(0),因此表示于第三列感测电容上比第一行感测电容上具有更多的触控点。如此,控制电路510依据感测信号SDIFF2_31(0)与触控阈值(10),判断感测电容C31不为触控点。列负载信号CLD3(67)大于行负载信号RLD2(20),因此表示于第三列感测电容上比第二行感测电容上具有更多的触控点。如此,控制电路510依据感测信号SDIFF2_32(20)与触控阈值THTOUCH(10),判断感测电容C32为触控点。列负载信号CLD3(67)大于行负载信号RLD3(0),因此表示于第三列感测电容上比第三行感测电容上具有更多的触控点。如此,控制电路510依据感测信号SDIFF2_33(0)与触控阈值THTOUCH(10),判断感测电容C33不为触控点。列负载信号CLD3(67)大于行负载信号RLD4(18),因此表示于第三列感测电容上比第四行感测电容上具有更多的触控点。如此,控制电路510依据感测信号SDIFF2_34(20)与触控阈值THTOUCH(10),判断感测电容C34为触控点。依此类推,控制电路510依据感测信号SDIFF2_36(22)、SDIFF2_38(16)与触控阈值THTOUCH(10),可判断感测电容C36与C38也为触控点。由上述说明可知,相较于现有技术,即使对应于感测电容C34的差异信号SDIFF1_34(8)因受其他触控点的干扰而小于触控阈值THTOUCH(10),本发明的触控点检测方法仍可依据较不受干扰的差异信号SDIFF2_34(18),正确地判断感测电容C34为一触控点。
此外,在前述的步骤450中,控制电路510将每个列负载信号CLD1~CLDM,与每个行负载信号RLD1~RLDN作比较,以检测感测电容C11~CMN中的触控点。然而,为了减少运算量,控制电路510可选择只比较大于触控阈值THTOUCH的列负载信号CLD1~CLDM与大于触控阈值THTOUCH的行负载信号RLD1~RLDN。以图6的列负载信号CLD1~CLDM与图7的行负载信号RLD1~RLDN为例,在列负载信号CLD1~CLDM与行负载信号RLD1~RLDN中,仅有列负载信号CLD3(67)与行负载信号RLD2(20)、RLD4(18)、RLD6(22)及RLD8(16)大于触控阈值THTOUCH(10)。因此控制电路510只比较列负载信号CLD3(67)与行负载信号RLD2(20)、RLD4(18)、RLD6(22)及RLD8(16)。如此,可减少控制电路510所需的运算资源。
另外,一般而言,当指示物(如使用者的一手指)接触电容式触控面板500时,指示物所接触的面积大于电容式触控面板500的一感测电容所感测的面积。因此单一指示物可能会对应到多个触控点。举例而言,请参考图8与图9。图8与图9为当指示物T1、T2与T3接触电容式触控面板500时,对应于感测电容C11~CMN的差异信号SDIFF1_11~SDIFF1_MN与SDIFF2_11~SDIFF2_MN的示意图。由图8与图9可看出,当指示物T1接触电容式触控面板500时,本发明的触控点检测方法400判断感测电容C11、C12、C21与C22为触控点;当指示物T2接触电容式触控面板500时,本发明的触控点检测方法400判断感测电容C43、C44、C53与C54为触控点;当指示物T3接触电容式触控面板500时,本发明的触控点检测方法400判断感测电容C67、C68、C77与C78为触控点。换句话说,当一指示物接触电容式触控面板500时,本发明的触控点检测方法400检测出多个对应于该指示物的触控点,并且记录至触控点检测结果RT。因此,为了更正确地定位指示物T1~T3所接触的位置,本发明另提供一触控点检测方法1000(如图10所示),可根据对应于指示物的多个触控点,计算出指示物所接触的位置。相较于触控点检测方法400,触控点检测方法1000还包括下列步骤:
步骤1060:当触控点检测结果RT指示感测电容CA系为一触控点时,判断邻近感测电容CA的至少一感测电容是否也为触控点;以及
步骤1070:当该至少一感测电容也为触控点时,依据感测电容CA的位置、对应于感测电容CA的差异信号SDIFF1_A与SDIFF2_A、该至少一感测电容的位置以及对应于该至少一感测电容的差异信号,计算一加权触控坐标。
在步骤1060中,以指示物T1所对应的触控点作举例说明。由于触控点检测结果RT指示感测电容C11为一触控点,因此控制电路510根据触控点检测结果RT,判断邻近于感测电容C11的感测电容C12、C21、C22是否也为触控点。此时,由于感测电容C12、C21、C22也为触控点,因此在步骤1070中,控制电路510根据感测电容C11、C12、C21、C22的位置,并以差异信号SDIFF1_11、SDIFF1_12、SDIFF1_21、SDIFF1_22与SDIFF2_11、SDIFF2_12、SDIFF2_21、SDIFF2_22作为加权比例,计算一加权触控坐标LOCW1,以表示指示物T1所接触的位置。举例而言,在差异信号SDIFF1_11、SDIFF1_12、SDIFF1_21、SDIFF1_22的中,差异信号SDIFF1_12的值最大,且差异信号SDIFF1_11的值最小;在差异信号SDIFF2_11、SDIFF2_12、SDIFF2_21、SDIFF2_22的中,差异信号SDIFF2_12的值最大,且差异信号SDIFF2_11的值最小;因此表示指示物T1对感测电容C12所产生的感测信号影响较大,且指示物T1对感测电容C11所产生的感测信号影响较小。换句话说,指示物T1较靠近感测电容C12的位置,且较远离感测电容C11的位置。因此,控制电路510于计算加权触控坐标LOCW1时,设定给感测电容C12的位置较高的加权比例,且设定给感测电容C11的位置较低的加权比例。如此,控制电路510所计算出的加权触控坐标LOCW1可更正确地表示指示物T1所接触的位置。
综上所述,本发明所提供的触控点检测方法,借由扫描每行感测电容与每列感测电容,得到对应于各感测电容的第一差异信号与第二差异信号。接着,本发明的触控点检测方法累计同列感测电容的第一差异信号,以产生对应于各列感测电容的列负载信号,且累计同行感测电容的第二差异信号,以产生对应于各行感测电容的行负载信号。如此,本发明的触控点检测方法可比较对应于一感测电容的列负载信号与行负载信号,并依据比较结果以选择对应于该感测电容的第一差异信号或是第二差异信号作为判断触控点的依据。更明确地说,本发明的触控点检测方法依据列负载信号与行负载信号的比较结果,可选择较不受干扰的差异信号作为判断依据。因此,相较于现有技术,本发明的触控点检测方法可得到更正确的触控点检测结果。此外,当一指示物对应于多个触控点时,本发明所提供的触控点检测方法可依据多个触控点所对应的感测电容的位置,以及其所对应的差异信号作为加权比例,计算出加权触控坐标,以更正确地表示指示物所接触的位置。
以上所述仅为本发明的优选实施例,凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰,皆应属本发明的涵盖范围。
Claims (17)
1.一种触控点检测方法,用于一电容式触控面板,该电容式触控面板具有(M×N)个感测电容、M个第一电极与N个第二电极,该(M×N)个感测电容耦接于该M个第一电极与该N个第二电极,该(M×N)个感测电容沿着一第一方向排列成M列感测电容,且沿着相异于该第一方向的一第二方向排列成N行感测电容,该触控点检测方法包括:
透过该N个第二电极扫描该N行感测电容,以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第一差异信号;
针对各列感测电容,相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号,以产生对应于该M列感测电容的M个列负载信号;
透过该M个第一电极扫描该M列感测电容,以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第二差异信号;
针对各行感测电容,相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的第二差异信号,以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号;以及
依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该(M×N)个第一差异信号、该(M×N)个第二差异信号与一触控阈值,产生一触控点检测结果;
其中M、N皆为正整数。
2.如权利要求1所述的触控点检测方法,其中透过该N个第二电极扫描该N行感测电容,以得到对应于该(M×N)个感测电容的该(M×N)个第一差异信号包括:
透过该N个第二电极扫描该N行感测电容,以从该M个第一电极接收(M×N)个第一感测信号;以及
根据该(M×N)个第一感测信号与一基准值,产生该(M×N)个第一差异信号。
3.如权利要求2所述的触控点检测方法,其中根据该(M×N)个第一感测信号与该基准值,产生该(M×N)个第一差异信号包括:
以下式计算该(M×N)个第一差异信号中的一第A个第一差异信号:
SDIFF1_A=abs(SSEN1_A-BASE);
其中abs表示取绝对值,SDIFF1_A表示该第A个第一差异信号,SSEN1_A表示该(M×N)个第一感测信号的一第A个第一感测信号,BASE表示该基准值。
4.如权利要求3所述的触控点检测方法,其中根据该(M×N)个第一感测信号与该基准值,产生该(M×N)个第一差异信号还包括:
当该第A个第一差异信号小于一噪声阈值时,重置该第A个第一差异信号为一预定值。
5.如权利要求2所述的触控点检测方法,其中透过该M个第一电极扫描该M列感测电容,以得到对应于该(M×N)个感测电容的该(M×N)个第二差异信号包括:
透过该M个第一电极扫描该M列感测电容,以从该N个第二电极接收(M×N)个第二感测信号;以及
根据该(M×N)个第二感测信号与该基准值,产生该(M×N)个第二差异信号。
6.如权利要求5所述的触控点检测方法,其中根据该(M×N)个第二感测信号与该基准值,产生该(M×N)个第二差异信号包括:
以下式计算该(M×N)个第二差异信号中的一第A个第二差异信号:
SDIFF2_A=abs(SSEN2_A-BASE);
其中abs表示取绝对值,SDIFF2_A表示该(M×N)个第二差异信号中的该第A个第二差异信号,SSEN2_A表示该(M×N)个第二感测信号的一第A个第二感测信号,BASE表示该基准值。
7.如权利要求6所述的触控点检测方法,其中根据该(M×N)个第二感测信号与该基准值,产生该(M×N)个第二差异信号还包括:
当该第A个第二差异信号小于一噪声阈值时,重置该第A个第二差异信号为一预定值。
8.如权利要求1所述的触控点检测方法,其中针对各列感测电容,相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号,以产生对应于该M列感测电容的该M个列负载信号包括:
相加对应于该M列感测电容的一第I列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号,以产生对应于该第I列感测电容的一第I个列负载信号;
其中I≤M。
9.如权利要求8所述的触控点检测方法,其中针对各行感测电容,相加对应于同行感测电容中的各个感测电容的第二差异信号,以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号包括:
相加对应于该N行感测电容的一第J行感测电容中的各个感测电容的第二差异信号,以产生对应于该第J行感测电容的一第J个行负载信号;
其中J≤N。
10.如权利要求1所述的触控点检测方法,其中依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该(M×N)个第一差异信号、该(M×N)个第二差异信号与该触控阈值,产生该触控点检测结果包括:
将该M个列负载信号的每个列负载信号,与该N个行负载信号的每个行负载信号作比较;
当该M个列负载信号的一第I个列负载信号小于该N个行负载信号的一第J个行负载信号时,依据该触控阈值以及在该(M×N)个第一差异信号中,对应于该(M×N)个感测电容的一第(I×J)个感测电容的一第(I×J)个第一差异信号,判断该第(I×J)个感测电容是否为一触控点,并记录至该触控点检测结果;以及
当该M个列负载信号的该第I个列负载信号大于或等于该N个行负载信号的该第J个行负载信号时,依据该触控阈值以及在该(M×N)个第二差异信号中,对应于该第(I×J)个感测电容的一第(I×J)个第二差异信号,判断该第(I×J)个感测电容是否为一触控点,并记录至该触控点检测结果;
其中I≤M,且J≤N。
11.如权利要求10所述的触控点检测方法,其中当该M个列负载信号的该第I个列负载信号小于该N个行负载信号的该第J个行负载信号时,依据该触控阈值以及在该(M×N)个第一差异信号中,对应于该(M×N)个感测电容的该第(I×J)个感测电容的该第(I×J)个第一差异信号,判断该第(I×J)个感测电容是否为一触控点,并记录至该触控点检测结果包括:
当该第(I×J)个第一差异信号大于该触控阈值时,判断该第(I×J)个感测电容系为一触控点,并记录至该触控点检测结果。
12.如权利要求10所述的触控点检测方法,其中当该M个列负载信号的该第I个列负载信号大于或等于该N个行负载信号的该第J个行负载信号时,依据该触控阈值以及在该(M×N)个第二差异信号中,对应于该(M×N)个感测电容的该第(I×J)个感测电容的一第(I×J)个第二差异信号,判断该第(I×J)个感测电容是否为一触控点,并记录至该触控点检测结果包括:
当该第(I×J)个第二差异信号大于该触控阈值时,判断该第(I×J)个感测电容系为一触控点,并记录至该触控点检测结果。
13.如权利要求1所述的触控点检测方法,其中依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该(M×N)个第一差异信号、该(M×N)个第二差异信号与该触控阈值,产生该触控点检测结果包括:
当该M个列负载信号的一第I个列负载信号与该N个行负载信号的一第J个行负载信号皆大于该触控阈值时,比较该第I个列负载信号与该第J个行负载信号;
当该第I个列负载信号小于该第J个行负载信号时,依据该触控阈值以及在该(M×N)个第一差异信号中,对应于该(M×N)个感测电容的一第(I×J)个感测电容的一第(I×J)个第一差异信号,判断该第(I×J)个感测电容是否为一触控点,并记录至该触控点检测结果;以及
当该第I个列负载信号大于或等于该第J个行负载信号时,依据该触控阈值以及在该(M×N)个第二差异信号中,对应于该第(I×J)个感测电容的一第(I×J)个第二差异信号,判断该第(I×J)个感测电容是否为一触控点,并记录至该触控点检测结果;
其中I≤M,且J≤N。
14.如权利要求13所述的触控点检测方法,其中当该第I个列负载信号小于该第J个行负载信号时,依据该触控阈值以及在该(M×N)个第一差异信号中,对应于该(M×N)个感测电容的该第(I×J)个感测电容的该第(I×J)个第一差异信号,判断该第(I×J)个感测电容是否为一触控点,并记录至该触控点检测结果包括(图1的步骤132):
当该第(I×J)个第一差异信号大于该触控阈值时,判断该第(I×J)个感测电容系为一触控点,并记录至该触控点检测结果。
15.如权利要求14所述的触控点检测方法,其中当该第I个列负载信号大于或等于该第J个行负载信号时,依据该触控阈值以及在该(M×N)个第二差异信号中,对应于该(M×N)个感测电容的该第(I×J)个感测电容的一第(I×J)个第二差异信号,判断该第(I×J)个感测电容是否为一该触控点,并记录至该触控点检测结果包括:
当该第(I×J)个第二差异信号大于该触控阈值时,判断该第(I×J)个感测电容系为一该触控点,并记录至该触控点检测结果。
16.如权利要求1所述的触控点检测方法,还包括:
当该触控点检测结果指示该(M×N)个感测电容的一第A个感测电容系为一触控点时,判断邻近该第A个感测电容的至少一感测电容是否也为触控点;以及
当该至少一感测电容也为触控点时,依据该第A个感测电容的位置、对应于该第A个感测电容的第一差异信号与第二差异信号、该至少一感测电容的位置以及对应于该至少一感测电容的第一差异信号与第二差异信号,计算一加权触控坐标。
17.如权利要求1所述的触控点检测方法,其中该(M×N)个感测电容的每个感测电容皆包括一第一端与一第二端,该(M×N)个感测电容的一第(I×J)个感测电容的第一端耦接至该M个第一电极的一第I个第一电极,该(M×N)个感测电容的该第(I×J)个感测电容的第二端耦接至该N个第二电极的一第J个第二电极。
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