CN101915544A - 长跨度微孔阵列通孔检测仪 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种长跨度微孔阵列通孔检测仪,包括基座、第一壳体、第二壳体、用于产生定向光源的射光仪、凸透镜、用于固定待测物的定位座和用于与计算机连接并采集通孔状态的摄像仪,所述第一壳体、定位座和第二壳体固定在基座上,所述射光仪固定在第一壳体内,所述摄像仪固定在第二壳体内,所述用于将射光仪射出的光线转换为平行光的凸透镜、定位座依次位于射光仪和摄像仪之间。有益效果是:本发明的长跨度微孔阵列通孔检测仪能够快速测定通孔是否贯通,采用与摄像机连接的计算机进行处理,能够智能化对待测物内密集排布的通孔阵列进行检测,由于通孔具有光通性,检测的可靠性高,且本发明操作简单,自动化程度高,能够显著节省人力成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种通孔检测仪,尤其涉及一种长跨度微孔阵列通孔检测仪。
背景技术
汽车尾气的大量排放,其中夹杂着多种有害气体,这些有害气体直接排放到空气中会直接污染大气,给人们的生活带来伤害。因此,对汽车尾气的处理与转化是近年来环保领域的一项重要内容。
汽车尾气转化处理装置是汽车尾气转化的重要设备之一,一般采用的是在陶瓷载体内设置多个通孔阵列,并在这些通孔阵列的每个通孔内壁上涂覆一层催化剂,以催化通过该通孔的汽车尾气进行化学反应,使得有害物质被处理掉,或者转换成无害物质直接排放到大气中。
由于陶瓷载体内的通孔阵列具有密集排布的特点,因此,在制造具有高密度通孔阵列的陶瓷载体时,在涂覆完化学物质后,对这些通孔是否贯通的检测就显得十分必要。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种长跨度微孔阵列通孔检测仪,能够检测陶瓷载体内密集排布的通孔阵列是否贯通。
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种长跨度微孔阵列通孔检测仪,包括基座、第一壳体、第二壳体、用于产生定向光源的射光仪、凸透镜、用于固定待测物的定位座、和用于与计算机连接并采集通孔状态的摄像仪,所述第一壳体、定位座和第二壳体固定在基座上,所述射光仪固定在第一壳体内,所述摄像仪固定在第二壳体内,所述用于将射光仪射出的光线转换为平行光的凸透镜、定位座依次位于射光仪和摄像仪之间。
其中,所述检测仪还包括磨砂成像透镜,所述磨砂成像透镜位于定位座和摄像仪之间。
其中,所述磨砂成像透镜的透光率为20%~60%。
其中,所述定位座包括用于调节待测物上下方向的调节机构、用于调节待测物左右方向的调节机构和用于调节待测物前后方向的调节机构。
其中,所述凸透镜为高倍凸透镜。
为解决上述技术问题,本发明采用的另一个技术方案是:一种长跨度微孔阵列通孔检测仪,所述包括基座、第一壳体、第二壳体、射光仪、定位座和摄像仪,所述第一壳体、定位座和第二壳体固定在基座上,所述射光仪固定在第一壳体内,所述摄像仪固定在第二壳体内,所述用于固定待测物的定位座位于用于产生定向平行光源的射光仪和用于与计算机连接并采集通孔状态的摄像仪之间。
其中,所述检测仪还包括磨砂成像透镜,所述磨砂成像透镜位于定位座和摄像仪之间。
其中,所述磨砂成像透镜的透光率为20%~60%。
其中,所述定位座包括用于调节待测物上下方向的调节机构、用于调节待测物左右方向的调节机构和用于调节待测物前后方向的调节机构。
本发明的有益效果是:本发明的长跨度微孔阵列通孔检测仪能够快速测定通孔是否贯通,采用与摄像机连接的计算机进行处理,能够自动化对待测物内密集排布的通孔阵列进行检测,由于通孔具有光通性,检测的可靠性高,且本发明操作简单,自动化程度高,能够显著节省人力成本。
另外,本发明设置可调节前后、左右和上下方向的调节机构,能够针对各种形状的待测物进行快速调节固定,使得待测物内部的通孔与第一壳体内射光仪经凸透镜变成的平行光平行,提高抗误检能力。
第三,本发明设置磨砂成像透镜,能够使得位于第二壳体内的摄像机能够准确接收到检测光,抗反射以保证检测的准确性。
附图说明
图1是本发明第一实施例的机构示意图;
图2是本发明第二实施例的机构示意图。
其中,1:基座,2:第一壳体,3:第二壳体,4:射光仪,5:凸透镜,6:定位座,7:磨砂成像透镜,8:摄像仪,9:待测物,61:左右调节机构,62:上下调节机构,63:前后调节机构。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图详予说明。
请参阅图1,本发明第一实施例的长跨度微孔阵列通孔检测仪,包括基座1、第一壳体2、第二壳体3、用于产生定向光源的射光仪4、凸透镜5、用于固定待测物的定位座6和用于与计算机连接并采集通孔状态的摄像仪8,第一壳体2、定位座6和第二壳体3固定在基座1上,射光仪4固定在第一壳体2内,摄像仪8固定在第二壳体3内,用于将射光仪4射出的光线转换为平行光的凸透镜5、定位座6依次位于射光仪4和摄像仪8之间。
长跨度微孔阵列通孔检测仪能够快速测定通孔是否贯通,采用与摄像机8连接的计算机进行处理,能够智能化对待测物9内密集排布的通孔阵列进行检测,由于通孔具有光通性,检测的可靠性高,且本发明操作简单,自动化程度高,能够显著节省人力成本。
上述的检测仪还包括磨砂成像透镜7,磨砂成像透镜7位于定位座6和摄像仪8之间。磨砂成像透镜7的透光率为20%~60%。设置磨砂成像透镜7,能够使得位于第二壳体内3的摄像机8能够准确接收到检测光,抗反射以保证检测的准确性。
定位座6包括用于调节待测物上下方向的调节机构62、用于调节待测物左右方向的调节机构61和用于调节待测物前后方向的调节机构63。设置可调节前后、左右和上下方向的调节机构,能够针对各种形状的陶瓷载体进行快速调节固定,使得陶瓷载体内部的通孔与第一壳体内射光仪经凸透镜变成的平行光平行,提高抗误检能力。
上述的凸透镜5为高倍凸透镜,高倍凸透镜的设置可以提高微孔阵列通孔检测仪的跨度值。
请参阅图2,在第二实施例中,本发明的长跨度微孔阵列通孔检测仪,包括基座1、第一壳体2、第二壳体3、射光仪4、定位座6、磨砂成像透镜7和摄像仪8,第一壳体2、定位座6和第二壳体3固定在基座1上,射光仪4固定在第一壳体2内,摄像仪8固定在第二壳体3内,用于固定待测物的定位座6位于用于产生定向平行光源的射光仪4和用于与计算机连接并采集通孔状态的摄像仪8之间。
上述的检测仪还包括磨砂成像透镜7,磨砂成像透镜7位于定位座6和摄像仪8之间。如果成像镜为透明玻璃或者其它透明材料制作,会因为反射作用降低本检测仪的性能,因而可以通过设置磨砂成像透镜的透光率提高本仪器的抗干扰能力。磨砂成像透镜7的透光率一般设置为20%~60%。
上述的定位座6包括用于调节待测物上下方向的调节机构62、用于调节待测物左右方向61的调节机构和用于调节待测物前后方向的调节机构63。设置可调节前后、左右和上下方向的调节机构,能够针对各种形状的待测物9进行快速调节固定,使得待测物9内部的通孔与第一壳体2内射光仪4经凸透镜5变成的平行光平行,提高抗误检能力。
本发明的工作原理是这样实现的:在实际监测中,待测物为陶瓷载体。根据生产流水线针对各种品种的陶瓷载体的高低、左右和前后位置,开始工作时,生产流水线上的夹手把陶瓷载体置放在定位座上,通孔检测仪感应到陶瓷载体后自动进入工作状态。如果设置有透镜时,仅需射光仪射出定向光源,通过凸透镜变为平行光源后,如果没有设置透镜,那么射光仪必需自己射出平行光源。这样,如果穿过陶瓷载体上的微孔阵列后经过磨砂成像透镜成像后,堵孔状态图像由精密摄像仪摄像后传输给计算机进行处理,判定堵孔数量及其产品合格与否。
在实际的生产线工作时,还可以在生产线附近设置机械手,在上述堵孔数量判定完成后,机械手自动将陶瓷载体自行夹离到下一工序或不合格区,完成陶瓷载体的通孔监测。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:包括基座、第一壳体、第二壳体、用于产生定向光源的射光仪、凸透镜、用于固定待测物的定位座、和用于与计算机连接并采集通孔状态的摄像仪,所述第一壳体、定位座和第二壳体固定在基座上,所述射光仪固定在第一壳体内,所述摄像仪固定在第二壳体内,所述用于将射光仪射出的光线转换为平行光的凸透镜、定位座依次位于射光仪和摄像仪之间。
2.根据权利要求1所述的长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:所述检测仪还包括磨砂成像透镜,所述磨砂成像透镜位于定位座和摄像仪之间。
3.根据权利要求2所述的长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:所述磨砂成像透镜的透光率为20%~60%。
4.根据权利要求1或2所述的长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:所述定位座包括用于调节待测物上下方向的调节机构、用于调节待测物左右方向的调节机构和用于调节待测物前后方向的调节机构。
5.根据权利要求1所述的长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:所述凸透镜为高倍凸透镜。
6.一种长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:所述包括基座、第一壳体、第二壳体、射光仪、定位座和摄像仪,所述第一壳体、定位座和第二壳体固定在基座上,所述射光仪固定在第一壳体内,所述摄像仪固定在第二壳体内,所述用于固定待测物的定位座位于用于产生定向平行光源的射光仪和用于与计算机连接并采集通孔状态的摄像仪之间。
7.根据权利要求6所述的长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:所述检测仪还包括磨砂成像透镜,所述磨砂成像透镜位于定位座和摄像仪之间。
8.根据权利要求7所述的长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:所述磨砂成像透镜的透光率为20%~60%。
9.根据权利要求6或7所述的长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:所述定位座包括用于调节待测物上下方向的调节机构、用于调节待测物左右方向的调节机构和用于调节待测物前后方向的调节机构。
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