CN101915091B

CN101915091B - 一种测井频率匹配薄层校正方法与设备

Info

Publication number: CN101915091B
Application number: CN 201010215208
Authority: CN
Inventors: 马建海; 司马立强; 段生盛; 吴丰; 刘新美
Original assignee: China Petroleum and Natural Gas Co Ltd
Current assignee: China Petroleum and Natural Gas Co Ltd
Priority date: 2010-06-22
Filing date: 2010-06-22
Publication date: 2013-03-27
Anticipated expiration: 2030-06-22
Also published as: CN101915091A

Abstract

本发明实施例公开了一种测井频率匹配薄层校正方法及设备。本发明实施例的测井频率匹配薄层校正方法及设备，能够针对目前的薄层、薄气层发育的油气田，储层厚度薄，测井曲线受围岩影响，畸变现象严重的问题，提高测井曲线的纵向分辨率，从而真实反映地层信息。

Description

一种测井频率匹配薄层校正方法与设备

技术领域

本发明涉及测井数据处理领域，尤其涉及一种测井频率匹配薄层校正方法与设备。

背景技术

不同的测井曲线具有不同的纵向分辨率，对于薄层、薄互层发育的油气田，会出现油气层单层厚度小于部分测井曲线的纵向分辨率，这种情况下就会出现测井曲线无法完全真实的反映地层信息。薄层校正方法就是针对这种情况，通过一定的数学处理方法，使得测井曲线的纵向分辨率提高，尽量符合地层真值。

目前的频率匹配法的实现需要一条原始高分辨率曲线和一条原始低分辨率曲线，其目的是通过原始高分辨率曲线来提高原始低分辨率曲线的纵向分辨率。目前的频率匹配法思路是将原始高分辨率曲线降频至与原始低分辨率曲线相同的分辨率，然后两者进行线性或者非线性相关得到关系式，再根据该关系式通过高分辨率曲线数据来计算低分辨率曲线的薄层校正曲线。假设原始低分辨率曲线为CL，原始高分辨率曲线为CH，将原始高分辨率曲线分辨率降低至与原始低分辨率曲线相同得到曲线CHF，选择一定长度的数据，进行线性相关分析得到关系式：CL＝a+b.CHF，由此可以确定系数a，b。然后按照公式CLR＝a+b.CH计算得到原始低分辨率曲线校正后的曲线值CLR。该方法的缺陷是当原始低分辨率曲线和原始高分辨率曲线相关性差时，计算得到的曲线CLR失真现象比较严重。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测井频率匹配薄层校正方法及设备，能够针对目前的薄层、薄气层发育的油气田，储层厚度薄，测井曲线受围岩影响，畸变现象严重的问题，提高测井曲线的纵向分辨率，从而真实反映地层信息。

本发明实施例提供一种测井频率匹配薄层校正方法，包括：获取待校正测井曲线，并从所述的待校正测井曲线中提取待校正测井曲线纵向分辨率；获取纵向分辨率高于所述待校正测井曲线纵向分辨率的一条基准测井曲线；根据所述的待校正测井曲线和基准测井曲线，分别选取相同深度段的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据，生成相同深度点的待校正测井曲线数据与基准测井曲线数据的映射关系；根据所述的映射关系，对各深度点对应的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据进行频域变换，生成对应的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据；将所述的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据进行叠加，生成频率截止值；提取所述基准测井曲线频谱数据中的基准频率最大值，并将所述基准测井曲线频谱数据中位于所述频率截止值至所述基准频率最大值之间的频率段加到所述待校正测井曲线频谱数据中，生成叠加频谱数据；对所述的叠加频谱数据进行时域变换并在时域中进行处理，生成待校正测井曲线校正数据；将所述待校正测井曲线校正数据生成的校正曲线作为频率匹配薄层校正的结果输出。

本发明实施例还提供一种测井频率匹配薄层校正设备，包括：待校正测井曲线获取装置，用于获取待校正测井曲线，并从所述的待校正测井曲线中提取待校正测井曲线纵向分辨率；基准测井曲线获取装置，用于获取纵向分辨率高于所述待校正测井曲线纵向分辨率的一条基准测井曲线；映射关系生成装置，用于根据所述的待校正测井曲线和基准测井曲线，分别选取相同深度段的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据，生成相同深度点的待校正测井曲线数据与基准测井曲线数据的映射关系；频谱数据生成装置，用于根据所述的映射关系，对各深度点对应的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据进行频域变换，生成对应的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据；频率截止值生成装置，用于将所述的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据进行叠加，生成频率截止值；叠加频谱数据生成装置，用于提取所述基准测井曲线频谱数据中的基准频率最大值，并将所述基准测井曲线频谱数据中位于所述频率截止值至所述基准频率最大值之间的频率段加到所述待校正测井曲线频谱数据中，生成叠加频谱数据；校正数据生成装置，用于对所述的叠加频谱数据进行时域变换并在时域中进行处理，生成待校正测井曲线校正数据；校正曲线输出装置，用于将所述待校正测井曲线校正数据生成的校正曲线作为频率匹配薄层校正的结果输出。

本发明实施例的测井频率匹配薄层校正方法及设备，能在频率域提高测井曲线的频率，以有效提高测井曲线的纵向分辨率。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明的限定。在附图中：

图1为本发明实施例的测井频率匹配薄层校正方法的方法流程图；

图2为本发明实施例的测井频率匹配薄层校正设备的结构示意图；

图3为图2所示校正设备实施例的频率数据生成装置的结构示意图；

图4为图2所示校正设备实施例的频率截止值生成装置的结构示意图；

图5为图2所示校正设备实施例的校正数据生成装置的结构示意图；

图6为本发明实施例一的测井频率匹配薄层校正方法对自然电位曲线SP进行频率匹配薄层校正，分别在GR曲线和SP曲线上选取连续的128个数据点的数据对照表，以及校正后得到的SPR曲线数据；

图7为本发明实施例一的测井曲线进行频率匹配薄层校正前后的对比图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图对本发明实施例做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定。

图1为本发明实施例的测井频率匹配薄层校正方法的方法流程图，如图所示，本发明实施例的测井频率匹配薄层校正方法包括：

S101，获取待校正测井曲线，并从所述的待校正测井曲线中提取待校正测井曲线纵向分辨率。在薄层、薄互层发育的油气田，有些测井曲线的纵向分辨率较低，不能真实的反映地层信息，需要对这些测井曲线进行频率匹配薄层校正，即提高这些曲线的纵向分辨率，而这些曲线在本实施例中作为待校正曲线。这些待校正曲线是已经通过测井获取的实际曲线，其可以储存在测井曲线数据库中，因此待校正测井曲线及其纵向分辨率的大小，测井人员能够直接获取到。

S102，获取纵向分辨率高于所述待校正测井曲线纵向分辨率的一条基准测井曲线。本发明的原理即是应用纵向分辨率较高的曲线的纵向分层能力，来提高原始低分辨率曲线的纵向分辨率。因此，对于基准测井曲线的选取是相对的，只要选择的基准测井曲线的纵向分辨率大于待校正测井曲线的纵向分辨率，就可以利用本发明实现对第二分辨率曲线的频率匹配薄层校正。

S103，根据所述的待校正测井曲线和基准测井曲线，分别选取相同深度段的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据，生成相同深度点的待校正测井曲线数据与基准测井曲线数据的映射关系。本实施例中，选取曲线数据及生成映射关系具体是指：在所述的待校正测井曲线和基准测井曲线上选取相同的深度段；在相同深度段的待校正测井曲线和基准测井曲线上选取相同的深度点；根据所述的深度点分别获取所述待校正测井曲线上的一组待校正测井曲线数据，和所述基准测井曲线上的一组基准测井曲线数据。

本实施例中，相同深度段是指：选取待校正测井曲线和基准测井曲线上相同的深度段，例如都选取每个曲线上2235.000m～2251.000m的共16m的深度段，在这个深度段上分别取2ⁿ个数据点，例如可在16m的深度段上等距(或等时间)间隔取离散的128个点，每隔0.125m取一数据，生成的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据分别包括128个数据。但是本发明实施例不限于此，也可以不做离散等距间隔选取。

S104，根据所述的映射关系，对各深度点对应的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据进行频域变换，生成对应的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据。本实施例中，步骤S104包括以下步骤：

1)根据所述的映射关系，生成所述待校正测井曲线数据的待校正数据平均值和所述基准测井曲线数据的基准数据平均值。此步是对S103获取的两组数据，即对待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据做平均值求解计算；

2)将所述待校正测井曲线数据减去所述待校正数据平均值，生成待校正均值数据，将所述基准测井曲线数据减去所述基准数据平均值，生成基准均值数据；

3)分别对所述待校正均值数据和基准均值数据进行傅里叶变换：

生成待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据。基准测井曲线频谱数据中的最高频率一定高于待校正测井曲线频谱数据中的最高频率。

S105，将所述的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据进行叠加，生成频率截止值。频率截止值的生成是本发明的关键，频率截止值调整的是否合适，关系到对低分辨率曲线的拓频是否精确以及曲线薄层校正的精度高低。本发明实施例中，此步骤中生成频率截止值的步骤包括：

1)将所述的基准测井曲线频谱数据从低频部分开始，每次去掉一个频率，得到多组基准测井曲线删减频谱数据。此步骤中，如果基准测井曲线频谱数据有64个，则每次去掉最低的那个频率，可以生成63组新的频谱数据。

2)将所述多组基准测井曲线删减频谱数据分别加上所述待校正测井曲线频谱数据，得到多组叠加删减频谱数据。此步骤具体是指将频率相同的两个频谱数据进行相加，即相同频率的频谱数据的实部与虚部相加。

3)将所述的多组叠加删减频谱数据进行反傅里叶变换，

生成时域中的多组叠加删减数据。此步骤中，如果频率是对称的，则生成N/2组叠加删减数据。

4)分别求取每一组叠加删减数据与对应的基准测井曲线数据的差平方和，生成多个对应的差平方和数据；

5)提取所述差平方和数据中的最小值，所述最小值对应的所述基准测井曲线频谱数据中去掉的频率即为所述的频率截止值。此步骤得到最小值后，可以对应到叠加删减数据，在对应到叠加删减数据的频域内，从而能够得到基准测井曲线删减频谱数据，在得到的基准测井曲线删减频谱数据中可以得到去掉的频率，此频率即为频率截止值。

S106，提取所述基准测井曲线频谱数据中的基准频率最大值，并将所述基准测井曲线频谱数据中位于所述频率截止值至所述基准频率最大值之间的频率段加到所述待校正测井曲线频谱数据中，生成叠加频谱数据。

S107，对所述的叠加频谱数据进行时域变换并在时域中进行处理，生成待校正测井曲线校正数据。步骤S107包括以下步骤：

将所述的叠加频谱数据进行反傅里叶变换：

生成时域中的一组叠加数据；

将所述的叠加数据分别加上所述待校正均值数据，生成待校正测井曲线校正数据。此处的待校正均值数据即为步骤S104中生成的待校正测井曲线数据的平均值。

S108，将所述待校正测井曲线校正数据生成的校正曲线作为频率匹配薄层校正的结果输出。根据步骤S107的待校正测井曲线校正数据生成的校正曲线比原始的待校正测井曲线的纵向分辨率有了较大的提高。此步骤生成的校正曲线可以直接显示，或者通过发射装置输出给外部进行显示。

图2为本发明实施例的测井频率匹配薄层校正设备的结构示意图，如图所示，本发明实施例的测井频率匹配薄层校正设备包括：

待校正测井曲线获取装置101，用于获取待校正测井曲线，并从所述的待校正测井曲线中提取待校正测井曲线纵向分辨率。基准测井曲线获取装置102，用于获取纵向分辨率高于所述待校正测井曲线纵向分辨率的一条基准测井曲线。本发明的原理即是应用纵向分辨率较高的曲线的纵向分层能力，来提高原始低分辨率曲线的纵向分辨率。因此，对于基准测井曲线的选取是相对的，只要选择的基准测井曲线的纵向分辨率大于待校正测井曲线的纵向分辨率，就可以利用本发明实现对第二分辨率曲线的频率匹配薄层校正。

映射关系生成装置103，用于根据所述的待校正测井曲线和基准测井曲线，分别选取相同深度段的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据，生成相同深度点的待校正测井曲线数据与基准测井曲线数据的映射关系。所述的映射关系生成装置103还用于：在所述的待校正测井曲线和基准测井曲线上选取相同的深度段；在相同深度段的待校正测井曲线和基准测井曲线上选取相同的深度点；根据所述的深度点分别获取所述待校正测井曲线上的一组待校正测井曲线数据，和所述基准测井曲线上的一组基准测井曲线数据。

频谱数据生成装置104，用于根据所述的映射关系，对各深度点对应的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据进行频域变换，生成对应的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据。本实施例中，如图3所示，频谱数据生成装置104包括：

均值计算模块1041，用于根据所述的映射关系，生成所述待校正测井曲线数据的待校正数据平均值和所述基准测井曲线数据的基准数据平均值；

均值数据生成模块1042，用于将所述待校正测井曲线数据减去所述待校正数据平均值，生成待校正均值数据，将所述基准测井曲线数据减去所述基准数据平均值，生成基准均值数据；

傅里叶变换模块1043，用于分别对所述待校正均值数据和基准均值数据进行傅里叶变换：生成待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据。

频率截止值生成装置105，用于将所述的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据进行叠加，生成频率截止值。本实施例中，如图4所示，频率截止值生成装置105包括：

基准删减频谱数据生成模块1051，用于将所述的基准测井曲线频谱数据从低频部分开始，每次去掉一个频率，得到多组基准测井曲线删减频谱数据；

叠加删减频谱数据生成模块1052，用于将所述多组基准测井曲线删减频谱数据分别加上所述待校正测井曲线频谱数据，得到多组叠加删减频谱数据；

反傅里叶变换模块1053，用于将所述的多组叠加删减频谱数据进行反傅里叶变换，

生成时域中的多组叠加删减数据；

差平方和计算模块1054，用于分别求取每一组叠加删减数据与对应的基准测井曲线数据的差平方和，生成多个对应的差平方和数据；

频率截止值获取模块1055，用于提取所述差平方和数据中的最小值，所述最小值对应的所述基准测井曲线频谱数据中去掉的频率即为所述的频率截止值。

叠加频谱数据生成装置106，用于提取所述基准测井曲线频谱数据中的基准频率最大值，并将所述基准测井曲线频谱数据中位于所述频率截止值至所述基准频率最大值之间的频率段加到所述待校正测井曲线频谱数据中，生成叠加频谱数据。

校正数据生成装置107，用于对所述的叠加频谱数据进行时域变换并在时域中进行处理，生成待校正测井曲线校正数据。本实施例中，如图5所示，校正数据生成装置107包括：

反傅里叶变换模块1071，用于将所述的叠加频谱数据进行反傅里叶变换：

生成时域中的一组叠加数据；

校正数据生成模块1072，用于将所述的叠加数据分别加上所述待校正均值数据，生成待校正测井曲线校正数据。

校正曲线输出装置108，用于将所述待校正测井曲线校正数据生成的校正曲线作为频率匹配薄层校正的结果输出。校正曲线可以直接显示，或者通过发射装置输出给外部进行显示。

实施例一：

以自然电位SP曲线的频率匹配薄层校正为实施例，详细说明本发明的校正方法及校正设备。同时参考图6和图7。图6为本实施例的测井频率匹配薄层校正方法对自然电位曲线SP进行频率匹配薄层校正，分别在GR曲线和SP曲线上选取连续的128个数据点的数据对照表，以及校正后得到的SPR曲线数据。图7为本发明实施例的测井曲线进行频率匹配薄层校正前后的对比图。

1、如图5所示，实线①代表校正前的SP曲线，实线②为选取的高分辨率曲线，即基准测井曲线为GR，可以看出GR曲线的纵向分辨率比SP曲线的纵向分辨率高。测井数据可以看成是离散等时间间隔的数据，本实施例中，在相同的深度范围内，并且在相同深度上，对GR曲线和SP曲线分别选取连续的128个数据点，生成第一组数据：(GR1，GR2，…，GR128)和第二组数据：(SP1，SP2，…，SP128)(数据选取如图4所示)。本实施例中，实现此步骤的程序为：

void FFTtransform128(double high[]，double low[]，double out[]，int pointCount，double k)

{

const int FFTPOINT＝128；

double grh[FFTPOINT]，spl[FFTPOINT]；

int i＝0；

for(i＝0；i＜FFTPOINT；i++) //复制两组数据

{

grh[i]＝high[i]*k；

spl[i]＝low[i]；

}

2、对这两组数据进行求均值处理，分别计算得到这两组数据的平均值为GRp，SPp。本实施例中，实现此步骤的程序为：

double avg_grh，avg_spl；

double sum_grh＝0，sum_spl＝0；

for(i＝0；i＜FFTPOINT；i++) //求两组数据各自的和

{

sum_grh+＝grh[i]；

sum_spl+＝spl[i]；

}

avg_grh＝sum_grh/pointCount； //求grh的平均值

avg_spl＝sum_spl/pointCount； //求spl的平均值

3、用这两组数据分别减去各自的平均值得到两组新的数据，即第一组平均数据：(GR1-GRp，GR2-GRp，...，GR128-GRp)和第二组平均数据：(SP1-SPp，SP2-SPp，...，SP128-SPp)。

4、对上步得到的第一组平均数据和第二组平均数据分别进行离散傅里叶变换：

得到两个不同的频率谱。GR曲线频率谱的最高频率为fgr，SP曲线频率谱的最高频率为fsp。

本实施例中，实现步骤3、4的程序为：

double

high_real[FFTPOINT]，high_img[FFTPOINT]，low_real[FFTPOINT]，low_img[FFTPOINT]；

double sub_grh[FFTPOINT]，sub_spl[FFTPOINT]；

double grh_img[FFTPOINT]＝{0}；

double spl_img[FFTPOINT]＝{0}；

double

high_real_copy[FFTPOINT]，high_img_copy[FFTPOINT]，low_real_copy[FFTPOINT]，low_img

_copy[FFTPOINT]；

for(i＝0；i＜pointCount；i++)

{

sub_grh[i]＝grh[i]-avg_grh；

sub_spl[i]＝spl[i]-avg_spl；

}

kbfft(sub_grh，grh_img， FFTPOINT，(int)(log(FFTPOINT)/log(2))，

high_real，high_img，1，0)； //调用傅里叶变换

kbfft(sub_spl，spl_img， FFTPOINT，(int)(log(FFTPOINT)/log(2))，

low_real，low_img，1，0)； //调用傅里叶变换

5、从低频部分开始，对GR曲线的频率谱每次去掉一个频率，得到多组频率幅值数据。

如：GR曲线的频率谱为(fgr1，fgr2，...，fgr)，最低频频率为fgr1，则第一次去掉fgr1，生成一组频幅数据(fgr2，fgr3，...，fgr)；第二次去掉fgr2，生成第二组频幅数据(fgr3，fgr4，...，fgr)，依次去掉最低的频率，从而生成多组频率幅值数据。

6、用上步生成的多组频率幅值数据分别加上SP曲线的原始频率幅值数据，得到多组新的SP曲线频率谱。

7、将这多组新的SP曲线频率谱进行离散反傅里叶变换：

得到多组新数据(x1(1)，x1(2)...x1(128))，(x2(1)，x2(2)...x2(128))，...，(xi(1)，xi(2)...xi(128))(其中i＝1...m)。

8、求取上步得到的每一组新数据(xi(1)，xi(2)...xi(128))与GR曲线数据(GR1，GR2，…，GR128)的差平方和，即：

根据公式

计算得到一组数据(Z1，Z2...Zi)，求出其中的最小值。那么这个最小值对应的去掉的频率即为频率截止值fcut。

本实施例中，步骤5、6、7、8都是获取频率截止值的步骤，其实现的程序为：

for(i＝0；i＜FFTPOINT；i++)

{

high_real_copy[i]＝high_real[i]；

high_img_copy[i]＝high_img[i]；

low_real_copy[i]＝low_real[i]；

low_img_copy[i]＝low_img[i]；

}

double temp_real[FFTPOINT]，temp_img[FFTPOINT]；

double aa_real[FFTPOINT]，aa_img[FFTPOINT]；

double sum，d[FFTPOINT]；

for(i＝0；i＜FFTPOINT；i++)

{

high_real[i]＝0；

high_img[i]＝0；

for(int j＝0；j＜FFTPOINT；j++)

{

temp_real[j]＝low_real[j]+high_real[j]；

temp_img[j]＝low_img[j]+high_img[j]；

}

kbfft(temp_real，temp_img， FFTPOINT，(int)(log(FFTPOINT)/log(2))，

aa_real，aa_img，0，0)； //调用逆傅里叶变换

sum＝0；

for(j＝0；j＜FFTPOINT；j++)

{

sum+＝pow((aa_real[j]-grh[j])，2)；

}

d[i]＝sum/FFTPOINT；

}

double min_d＝999999999999；

int result＝-1；

for(i＝0；i＜FFTPOINT；i++)

{

if(d[i]＜min_d)

{

min_d＝d[i]；

result＝i； //计算得到频率截止值

}

9、将GR曲线频率谱中位于fcut～fgr之间的频率段加入SP曲线的频率谱中，生成一个新的频率谱。

10、对上步得到的新的频率谱进行离散反傅里叶变换，生成一组新的数据。

11、将上步得到的新的数据加上SP曲线原始数据的平均值SPp，即生成SP曲线进行频率匹配薄层校正后的数据：(SPR1，SPR2...SPR128)，这些数据点在图5所示的对比图中即构成了校正后的SPR曲线，即虚线③。

本实施例中，实现步骤9、10、11的程序为：

for(i＝0；i＜FFTPOINT；i++)

{

high_real[i]＝high_real_copy[i]；

high_img[i]＝high_img_copy[i]；

low_real[i]＝low_real_copy[i]；

low_img[i]＝low_img_copy[i]；

}

if(result＜100)

result＝100；

for(i＝0；i＜result；i++)

{

high_real[i]＝0；

high_img[i]＝0；

}

double bb_real[FFTPOINT]，bb_img[FFTPOINT]；

for(i＝0；i＜FFTPOINT；i++)

{

bb_real[i]＝high_real[i]+low_real[i]；

bb_img[i]＝high_img[i]+low_img[i]；

}

kbfft(bb_real，bb_img，FFTPOINT，(int)(log(FFTPOINT)/log(2))，aa_real，aa_img，

0，1)； //调用逆傅里叶变换

for(i＝0；i＜pointCount；i++)

{

aa_real[i]+＝(avg_spl)；

out[i]＝aa_real[i]；

}

}；

从图5中可以看出使用本发明进行频率匹配薄层校正处理后的SPR曲线明显比原始的SP曲线的纵向分辨率有了较大提高。

本发明实施例的测井频率匹配薄层校正方法及设备，能够针对目前的薄层、薄气层发育的油气田，储层厚度薄，测井曲线受围岩影响，畸变现象严重的问题，提高测井曲线的纵向分辨率，从而真实反映地层信息。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-OnlyMemory，ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)等。

以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims

1.一种测井频率匹配薄层校正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待校正测井曲线，并从所述的待校正测井曲线中提取待校正测井曲线纵向分辨率；

获取纵向分辨率高于所述待校正测井曲线纵向分辨率的一条基准测井曲线；

根据所述的待校正测井曲线和基准测井曲线，分别选取相同深度段的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据，生成相同深度点的待校正测井曲线数据与基准测井曲线数据的映射关系；

根据所述的映射关系，对各深度点对应的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据进行频域变换，生成对应的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据；

将所述的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据进行叠加，生成频率截止值；

提取所述基准测井曲线频谱数据中的基准频率最大值，并将所述基准测井曲线频谱数据中位于所述频率截止值至所述基准频率最大值之间的频率段加到所述待校正测井曲线频谱数据中，生成叠加频谱数据；

对所述的叠加频谱数据进行时域变换并在时域中进行处理，生成待校正测井曲线校正数据；

将所述待校正测井曲线校正数据生成的校正曲线作为频率匹配薄层校正的结果输出；

其中，所述分别选取相同深度段的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据，生成相同深度点的待校正测井曲线数据与基准测井曲线数据的映射关系，包括：

在所述的待校正测井曲线和基准测井曲线上选取相同的深度段；

在相同深度段的待校正测井曲线和基准测井曲线上选取相同的深度点；

根据所述的深度点分别获取所述待校正测井曲线上的一组待校正测井曲线数据，和所述基准测井曲线上的一组基准测井曲线数据；

其中，所述根据所述的映射关系，对各深度点对应的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据进行频域变换，包括：

根据所述的映射关系，生成所述待校正测井曲线数据的待校正数据平均值和所述基准测井曲线数据的基准数据平均值；

将所述待校正测井曲线数据减去所述待校正数据平均值，生成待校正均值数据，将所述基准测井曲线数据减去所述基准数据平均值，生成基准均值数据；

分别对所述待校正均值数据和基准均值数据进行傅里叶变换：

生成待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据。

2.如权利要求1所述的测井频率匹配薄层校正方法，其特征在于，所述将待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据进行叠加，生成频率截止值，包括：

将所述的基准测井曲线频谱数据从低频部分开始，每次去掉一个频率，得到多组基准测井曲线删减频谱数据；

将所述多组基准测井曲线删减频谱数据分别加上所述待校正测井曲线频谱数据，得到多组叠加删减频谱数据；

将所述的多组叠加删减频谱数据进行反傅里叶变换，

生成时域中的多组叠加删减数据；

分别求取每一组叠加删减数据与对应的基准测井曲线数据的差平方和，生成多个对应的差平方和数据；

提取所述差平方和数据中的最小值，所述最小值对应的所述基准测井曲线频谱数据中去掉的频率即为所述的频率截止值。

3.如权利要求2所述的测井频率匹配薄层校正方法，其特征在于，所述对所述的叠加频谱数据进行时域变换并在时域中进行处理，生成待校正测井曲线校正数据，包括：

将所述的叠加频谱数据进行反傅里叶变换：

生成时域中的一组叠加数据；

将所述的叠加数据分别加上所述待校正均值数据，生成待校正测井曲线校正数据。

4.一种测井频率匹配薄层校正设备，其特征在于，所述设备包括：

待校正测井曲线获取装置，用于获取待校正测井曲线，并从所述的待校正测井曲线中提取待校正测井曲线纵向分辨率；

基准测井曲线获取装置，用于获取纵向分辨率高于所述待校正测井曲线纵向分辨率的一条基准测井曲线；

映射关系生成装置，用于根据所述的待校正测井曲线和基准测井曲线，分别选取相同深度段的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据，生成相同深度点的待校正测井曲线数据与基准测井曲线数据的映射关系；

频谱数据生成装置，用于根据所述的映射关系，对各深度点对应的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据进行频域变换，生成对应的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据；

频率截止值生成装置，用于将所述的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据进行叠加，生成频率截止值；

叠加频谱数据生成装置，用于提取所述基准测井曲线频谱数据中的基准频率最大值，并将所述基准测井曲线频谱数据中位于所述频率截止值至所述基准频率最大值之间的频率段加到所述待校正测井曲线频谱数据中，生成叠加频谱数据；

校正数据生成装置，用于对所述的叠加频谱数据进行时域变换并在时域中进行处理，生成待校正测井曲线校正数据；

校正曲线输出装置，用于将所述待校正测井曲线校正数据生成的校正曲线作为频率匹配薄层校正的结果输出。

5.如权利要求4所述的测井频率匹配薄层校正设备，其特征在于，所述的映射关系生成装置还用于：

根据所述的深度点分别获取所述待校正测井曲线上的一组待校正测井曲线数据，和所述基准测井曲线上的一组基准测井曲线数据。

6.如权利要求5所述的测井频率匹配薄层校正设备，其特征在于，所述的频谱数据生成装置，包括：

均值计算模块，用于根据所述的映射关系，生成所述待校正测井曲线数据的待校正数据平均值和所述基准测井曲线数据的基准数据平均值；

均值数据生成模块，用于将所述待校正测井曲线数据减去所述待校正数据平均值，生成待校正均值数据，将所述基准测井曲线数据减去所述基准数据平均值，生成基准均值数据；

傅里叶变换模块，用于分别对所述待校正均值数据和基准均值数据进行傅里叶变换：

生成待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据。

7.如权利要求6所述的测井频率匹配薄层校正设备，其特征在于，所述的频率截止值生成装置，包括：

基准删减频谱数据生成模块，用于将所述的基准测井曲线频谱数据从低频部分开始，每次去掉一个频率，得到多组基准测井曲线删减频谱数据；

叠加删减频谱数据生成模块，用于将所述多组基准测井曲线删减频谱数据分别加上所述待校正测井曲线频谱数据，得到多组叠加删减频谱数据；

反傅里叶变换模块，用于将所述的多组叠加删减频谱数据进行反傅里叶变换，

生成时域中的多组叠加删减数据；

差平方和计算模块，用于分别求取每一组叠加删减数据与对应的基准测井曲线数据的差平方和，生成多个对应的差平方和数据；

频率截止值获取模块，用于提取所述差平方和数据中的最小值，所述最小值对应的所述基准测井曲线频谱数据中去掉的频率即为所述的频率截止值。

8.如权利要求7所述的测井频率匹配薄层校正设备，其特征在于，所述的校正数据生成装置，包括：

反傅里叶变换模块，用于将所述的叠加频谱数据进行反傅里叶变换：

生成时域中的一组叠加数据；

校正数据生成模块，用于将所述的叠加数据分别加上所述待校正均值数据，生成待校正测井曲线校正数据。