CN101900675B - 增强型光信号检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种增强型光信号检测系统，由探测器、检测腔体，位于检测腔体一侧的光源组成，所述检测腔体的与光源的光线传播方向相垂直的两侧分别具有散射颗粒进口和散射颗粒出口，所述检测腔体的相对光源一侧设有光阱，所述探测器设置在检测腔体内并位置偏离光源的光线传播路线，所述检测腔体内还设有将散射光会聚到探测器的光束会聚装置。该增强型光信号检测系统克服了由于探测器尺寸固定导致很难接收到全部散射光信号的缺陷，具有能够充分会聚散射光，提高探测器接收的测探信号强度的优点。

Description

增强型光信号检测系统
技术领域
本发明属于光学检测设备技术领域，尤其涉及在液相检测器中应用的增强型光信号检测系统。
背景技术
当一束光线通过一间充满细小颗粒的腔体就会产生光散射现象。由于散射光的方向性比较离散，同时散射颗粒也比较容易扩散，而探测器的尺寸一般是固定的，总是很难接收到全部的散射光信号，因此，探测器接受到的探测信号的强度不是足够强，检测精度受到很大的限制。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种能够充分会聚散射光，提高探测器接收的测探信号强度的增强型光信号检测系统，以克服现有技术存在的不足。
为了解决上述技术问题，本发明采用如下的技术方案：
一种增强型光信号检测系统，由探测器、检测腔体，位于检测腔体一侧的光源组成，所述检测腔体的与光源的光线传播方向相垂直的两侧分别具有散射颗粒进口和散射颗粒出口，其特征在于：所述检测腔体的相对光源一侧设有光阱，所述探测器设置在检测腔体内并位置偏离光源的光线传播路线，所述检测腔体内还设有将散射光会聚到探测器的光束会聚装置。
所述光束会聚装置为布置在检测腔体内壁四周的凹聚光球面镜。
所述凹聚光球面镜由两个凹聚光球面镜构成，该两个凹聚光球面镜的主轴共线；其中一个凹聚光球面镜的聚光焦距大，另一个凹聚光球面镜的聚光焦距小，并且两者的焦点重合在探测器处。
所述光源和光阱布置在同一水平直线上。
采用上述的技术方案，本发明的增强型光信号检测系统工作时，光源以固定的形式入射到检测腔体内，光源同一直线对面有光阱进行吸光，检测腔体内有待检测的散射颗粒流过，光源发出的光子被流过的颗粒“撞击“后产生散射光，散射光被分布在检测腔体上的光束会聚装置充分收集并会聚到焦点处，光信号则被位于焦点处的探测器接收到了。由于散射光都被光束会聚装置会聚到探测器上，这样探测器接收到的探测信号就加强了，有利于设备检测精度的提高。这样的增强型光信号检测系统具体具有如下优点：
1、光束会聚装置充分布置在检测腔体的四周，用于收集散射光的面积大，可以充分收集不规则发散的散射光；
2、采用球面内侧表面聚光，聚光效果好，可以增强接收到的信号强度。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明进行说明：
图1为本发明的结构示意图；
图2为图1的A-A结构示意图。
图中：
1-光源，2-检测腔体，21-散射颗粒进口  22-散射颗粒出口，3-光束会聚装置，31、32-凹聚光球面镜，4-探测器，5-光阱，6-散射颗粒，7-散射光。
具体实施方式
如图1和图2所示，本发明的增强型光信号检测系统包括光源1、检测腔体2、光束会聚装置3、探测器4以及光阱5。
其中，光源1安装在检测腔体2的左侧(为叙述简便，所述及位置方位以附图所示)，光阱5安装在检测腔体2的右侧，光源1和光阱5布置在同一水平直线上。探测器4安装在检测腔体2的内部，位置偏离光源1的光线传播路径。光束会聚装置3布置在检测腔体2内壁四周，有两个凹聚光球面镜31、32组成，该两个凹聚光球面镜31、32的主轴共线，上方的凹聚光球面镜31的聚光焦距大，下方的凹聚光球面镜32的聚光焦距小，但是两者的焦点都重合在探测器4处。
再结合图2所示，检测腔体2的与光源1的光线传播方向相垂直的前后方向两侧分别具有散射颗粒进口21和散射颗粒出口22。散射颗粒6就是从该散射颗粒进口21流入检测腔体2内，并从散射颗粒出口22流出检测腔体2。
本发明的增强型光信号检测系统的工作方式为：
光源1以固定的形式入射到检测腔体2内，光源2同一直线对面有光阱5进行吸光，检测腔体2内有待检测的散射颗粒6流过，光源1发出的光子被流过的散射颗粒6“撞击“后产生散射光7，散射光7被分布在检测腔体2上的光束会聚装置3充分收集并会聚到焦点处，光信号则被位于焦点处的探测器4接收到了。
由于散射光7能够都被光束会聚装置3会聚到探测器4上，这样探测器4接收到的探测信号就加强了，有利于设备检测精度的提高。
通过上述的详细介绍，可以发现，本发明的增强型光信号检测系统克服了由于探测器尺寸固定导致很难接收到全部散射光信号的缺陷，具有能够充分会聚散射光，提高探测器接收的测探信号强度的优点。
但是，本领域技术人员应该认识到，上述的具体实施方式只是示例性的，是为了更好的使本领域技术人员能够理解本专利，不能理解为是对本专利包括范围的限制，只要是根据本专利所揭示精神的所作的任何等同变更或修饰，均落入本专利包括的范围。

Claims (2)

1.一种增强型光信号检测系统，由探测器、检测腔体，位于检测腔体一侧的光源组成，所述检测腔体的与光源的光线传播方向相垂直的两侧分别具有散射颗粒进口和散射颗粒出口，所述检测腔体的相对光源一侧设有光阱，所述探测器设置在检测腔体内并位置偏离光源的光线传播路线，所述检测腔体内还设有将散射光会聚到探测器的光束会聚装置；所述光束会聚装置为布置在检测腔体内壁四周的凹聚光球面镜；其特征在于：所述凹聚光球面镜由两个凹聚光球面镜构成，该两个凹聚光球面镜的主轴共线；其中一个凹聚光球面镜的聚光焦距大，另一个凹聚光球面镜的聚光焦距小，并且两者的焦点重合在探测器处。
2.根据权利要求1所述的增强型光信号检测系统，其特征在于：所述光源和光阱布置在同一水平直线上。 
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105806807A (zh) * 2016-03-25 2016-07-27 中国人民解放军理工大学 自然海水体散射函数现地测量装置及方法
CN116793907B (zh) * 2022-03-16 2024-05-14 上海勘测设计研究院有限公司 一种多方位衍射散射式粒度仪及颗分检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0196532A (ja) 1987-10-07 1989-04-14 Nippon Kagaku Kogyo Kk 光散乱方式による微粒子検出装置
CN1309289A (zh) * 2001-03-30 2001-08-22 中国科学院上海光学精密机械研究所 光学尘埃粒子计数器的光学探头
CN2729694Y (zh) * 2004-07-30 2005-09-28 中国科学院上海光学精密机械研究所 光散射式尘埃粒子测量仪的光学装置
CN101162194A (zh) * 2007-11-16 2008-04-16 苏州华达仪器设备有限公司 测量尘埃粒子的光学传感器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0196532A (ja) 1987-10-07 1989-04-14 Nippon Kagaku Kogyo Kk 光散乱方式による微粒子検出装置
CN1309289A (zh) * 2001-03-30 2001-08-22 中国科学院上海光学精密机械研究所 光学尘埃粒子计数器的光学探头
CN2729694Y (zh) * 2004-07-30 2005-09-28 中国科学院上海光学精密机械研究所 光散射式尘埃粒子测量仪的光学装置
CN101162194A (zh) * 2007-11-16 2008-04-16 苏州华达仪器设备有限公司 测量尘埃粒子的光学传感器

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张敏.基于光散射原理的尘埃粒子检测仪.《仪器仪表学报》.2005,第26卷(第12期),1298-1301. *
高永锋.尘埃粒子光散射测量技术及微型光学传感器的研究.《中国优秀博硕士学位论文全文数据库(硕士) 信息科技辑》.2006,(第5期),I140-51:31-44. *
黄惠杰,等.尘埃粒子的半导体激光散射测量.《中国激光》.2002,第29卷(第12期),1117-1121. *

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