CN101834678B - 射频指标测试系统及其控制方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了射频指标测试系统及其控制方法，应用于通信技术领域。本发明实施例的系统中包括基站，基站生成测试控制信号，将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器，这样射频指标测试仪器就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。本发明实施例中射频产品如基站即可控制射频指标测试仪器对该射频产品的测试，而不需要额外的设备来进行控制，简化了对射频指标测试的结构，降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求。

Description

射频指标测试系统及其控制方法

技术领域

本发明涉及通信技术领域，特别涉及射频指标测试系统及其控制方法。

背景技术

如图1所示的自动测试设备(Auto Test Equipment，ATE)系统包括自动测试设备、射频指标测试仪器及射频产品如基站(Base Station，BS)，其中：自动测试设备通过第二控制接口控制基站向射频指标测试仪器提供测试参数；并通过第一控制接口控制射频指标测试仪器对基站的射频指标进行测试；而基站是通过射频信号(Radio Frequency，RF)将被测信号提供给射频标识测试仪器的。

上述测试方法的实现，需要通过自动控制设备与射频指标测试仪器之间的第一控制接口如网口，或串口，或通用接口总线(General Purpose InterfaceBus，GPIB)等接口的通信；且需要通过基站与自动控制设备之间的第二控制接口如网口、串口、快速以太网口(Fast Ethernet，FE)及千兆以太网口(Gigabit Ethernet，GE)等接口的通信，才能实现对基站的射频指标测试。

这样通过ATE系统进行射频指标测试时，在硬件配置和软件配置上都需要有很多接口的配置，整体系统复杂，对于生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求比较高。

发明内容

本发明实施例提供射频指标测试系统及其控制方法，简化对射频产品的射频指标测试结构。

本发明实施例提供一种射频指标测试系统，包括：基站；

所述基站，用于生成测试控制信号，所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器；以便所述射频指标测试仪器根据所述射频信号中的测试控制信号控制对所述被测信号的测试。

本发明实施例提供一种射频指标测试系统，其特征在于，包括：基站和射频测试转换装置；

所述基站，用于生成测试控制信号，所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频测试转化装置；

所述射频测试转换装置，用于将所述射频信号中不同频段的测试控制信号和被测信号分离，将所述测试控制信号通过控制传输接口发送给射频指标测试仪器，并通过被测传输接口将所述被测信号发送给射频指标测试仪器；以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试。

本发明实施例提供一种射频指标测试的控制方法，包括：

生成测试控制信号，所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器；以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试。

本发明实施例提供一种射频指标测试的控制方法，包括：

接收基站发送的射频信号，所述射频信号包括测试控制信号和被测信号；所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

分离所述射频信号得到测试控制信号，根据所述测试控制信号，控制对所述被测信号的测试。

本发明实施例提供一种射频指标测试的控制方法，包括：

接收基站发送的射频信号，所述射频信号包括测试控制信号和被测信号；所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

分离所述射频信号得到测试控制信号，根据所述测试控制信号，确定接收所述测试控制信号的射频指标测试仪器；

将所述测试控制信号发送给所述射频指标测试仪器，以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试。

本发明实施例的系统中包括基站，基站生成测试控制信号，将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器，这样射频指标测试仪器就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。和现有技术中需要通过另外的自动测试设备对射频指标测试仪器的测试进行控制相比，本发明实施例中射频产品如基站即可控制射频指标测试仪器对该射频产品的测试，而不需要额外的设备来进行控制，简化了对射频指标测试的结构，降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是ATE系统进行射频指标测试的结构示意图；

图2是本发明系统实施例一提供的射频指标测试系统的逻辑结构示意图；

图3a是本发明系统实施例中基站的逻辑结构示意图；

图3b是本发明系统实施例中射频指标测试仪器的逻辑结构示意图；

图4是本发明系统实施例中接口桥子模块的逻辑结构示意图；

图5是本发明系统实施例二提供的射频指标测试系统的逻辑结构示意图；

图6是本发明系统实施例中射频测试转换装置的逻辑结构示意图；

图7是本发明系统实施例中另一射频测试转换装置的逻辑结构示意图；

图8a是本发明系统实施例中控制传输接口为串口时接口子模块的逻辑结构示意图；

图8b是本发明系统实施例中控制传输接口为LAN口时接口子模块的逻辑结构示意图；

图8c是本发明系统实施例中控制传输接口为USB口时接口子模块的逻辑结构示意图；

图8d是本发明系统实施例中控制传输接口为GPIB口时接口子模块的逻辑结构示意图；

图9是本发明系统实施例中基站通过射频测试转换装置发送射频信号给射频指标测试仪器的方法流程图；

图10是本发明系统实施例中射频指标测试仪器通过射频测试转换装置发送响应消息给基站的方法流程图；

图11是本发明方法实施例一提供的射频指标测试的控制方法的流程图；

图12是本发明方法实施例二提供的射频指标测试的控制方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

系统实施例一

一种射频指标测试系统，结构示意图如图2所示，包括：基站10，其中：

基站10，用于生成测试控制信号，将被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器20；以便射频指标测试仪器20根据射频信号中的测试控制信号控制对被测信号的测试。

这里，基站10和射频指标测试仪器20通过射频传输线如射频电缆直接连接，测试控制信号用于指示射频指标测试仪器20对该基站10的被测信号进行测试。

可以理解，该系统还包括：射频指标测试仪器20，用于接收基站10发送的射频信号，分离射频信号得到测试控制信号和被测信号，根据测试控制信号控制对被测信号的测试。

该系统中的基站10可以包括：

控制信号生成单元11，用于生成测试控制信号，并将测试控制信号传送给承载发送单元12；

控制信号生成单元11在生成测试控制信号时，可以采用三层协议数据帧的结构：层一为物理层，可以设置为比特(BIT)同步方式传输；层二为链路层，可以设置为高级数据链路控制(High level Data Link Control，HDLC)协议控制；层三为应用层，是自定义数据帧格式，层三数据格式如下表1所示：

表1

源ID	目的ID	帧类型	信息字段
				1字节(BYTE)	1BYTE	CMD/ACK/IND(1BYTE)	128BYTE

可见生成的测试控制信号中包括：源网络地址(ID)、目的ID、帧类型、信息字段，其中源ID指源地址；目的ID指目的地址；帧类型指本帧数据的类型如命令帧(CMD)、结果回应帧(ACK)和中间状态的指示帧(IND)；信息字段为控制测试的实际命令体。

承载发送单元12，用于将被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器20。

该系统中射频指标测试仪器20可以包括：

第一信号分离单元21，用于接收基站10发送射频信号，射频信号包括不同频段的被测信号和测试控制信号，将被测信号和测试控制信号分离；

指标测试单元22，用于获取信号分离单元21分离的测试控制信号，根据测试控制信号控制对被测信号的测试。

需要说明的是，基站10和射频指标测试仪器20之间传输指标测试的控制信号时：

可以采用乒乓通信方式，即在信源(信息的原始发送方)主动发送请求帧，信宿(信息的最终接收方)回应信源的请求帧；信源在发出请求后500ms中内必须收到信宿的响应帧，否则进行重发；信源重发三次后，仍然收不到信宿的响应帧，认为信宿异常，终止测试过程，通过基站10外部指示灯指示错误；对于信宿执行时间较长的，需要在收到信源请求帧500ms内返回正在测试响应，指示信源继续等待，其后每隔200ms内返回一个正在测试响应指示帧，直到信宿执行完成，返回结果响应帧。

可见，本发明实施例的系统中包括基站10，基站10生成测试控制信号，将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器20，这样射频指标测试仪器20就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。和现有技术中需要通过另外的自动测试设备对射频指标测试仪器的测试进行控制相比，本发明实施例中射频产品如基站即可控制射频指标测试仪器对该射频产品的测试，而不需要额外的设备来进行控制，简化了对射频指标测试的结构，降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求。

参考图3a所示，在一个具体的实施例中，基站10中控制信号生成单元11可以通过如下的模块来实现：

中央处理器(Central Processing Unit，CPU)110，用于生成测试控制信号，向接口桥子模块(Interface Bridge)111写入测试控制信号的数据；

中央处理器110可以通过基站10外部的测试启动按钮进行控制，当测试启动按钮开启，则开始生成测试控制信号。

接口桥子模块111，用于将写入的测试控制信号的数据转化成串行信号数据发送给开关键控子模块(ON-OFF Keying Modem，OOK Modem)112；

接口桥子模块111主要将从开关键控子模块112接收的串行数据转换成中央处理器110串行总线或并行总线的接口数据，或将中央处理器110接口数据转换成串行数据输入到开关键控子模块112。

开关键控子模块112，用于接收到接口桥子模块111发送的串行信号数据，将串行信号数据进行调制，并将调制后的信号数据发送给承载发送单元12。

可以理解，射频传输线一般是单线，适合与半双工通信控制机制，即在同一时间，只有一个方向的数据在传输。开关键控子模块112在进行调制时，采用OOK调制的单音信号作为传输信号的载波，通过载波的打开(ON)、关闭(OFF)来指示二进制位0和1，例如一组二进制数据(0100110)，经开关键控子模块112调制后，对应的单音载波状态就是(OFF/ON/OFF/OFF/ON/ON/OFF)。

而承载发送单元12可以通过如下模块来实现：

滤波器(Filter)120，用于对测试控制信号进行滤波，得到第一频段的测试控制信号；

测试控制信号在射频信号线路上不能对被测信号造成干扰，所以在测试控制信号馈入射频线路前，需要通过滤波器120对测试控制信号进行滤波，一般情况下，中央处理器110生成的测试控制信号为低频信号，则滤波器120需要对测试控制信号之外的高频和低频谐波分量及杂散信号进行抑制，得到第一频段即低频段的测试控制信号。

滤波器120可以采用5阶椭圆低通或带通滤波器，具有良好的选择性。

偏置器(Bias Tee)121，用于将第一频段的测试控制信号与第二频段的被测信号承载在同一传输通道上发送给射频指标测试仪器。

偏置器121是实现信号合分路的三端口部件，包括射频输入输出、低频输入输出和合路输入输出三个端口，可以将不同频段(高、低频段)的信号合路成同一射频信号，也可以将同一射频信号的不同频段信号分离，可以根据实际的被测信号频段进行选择。

偏置器121在具体实现上，可以通过测试控制信号从低频输入接入，而被测信号从合路输入接入，经过偏置器121将测试控制信号和被测信号合路，从合路输出射频信号发送给射频指标测试仪器20。

可以理解，基站中还可以包括响应接收处理单元，具体地，可以通过上述偏置器121、滤波器120、开关键控子模块112、接口桥子模块111和中央处理器110来实现，且在实现的过程中，偏置器121还用于通过射频的物理通道接收射频指标测试仪器返回的响应信号，并发送给滤波器120；滤波器120还用于对响应信号进行滤波后串行输出给开关键控子模块112；开关键控子模块112还用于对串行输入的响应信号进行解调；而接口桥子模块111还用于将开关键控子模块112解调后的响应信号转换成中央处理器110的接口数据；中央处理器110还用于对该响应进行相应的处理。

参考图3b所示，在一个具体的实施例中，射频指标测试仪器20中第一信号分离单元21可以包括：偏置器210和滤波器211；

偏置器210，用于接收基站发送射频信号，将射频信号中不同频段的被测信号和测试控制信号分离；

一般情况，可以是将射频信号从偏置器210的射频输入接入，偏置器210对射频信号进行分路，将测试控制信号从低频输出，而被测信号从射频输出输出给测试模块。

滤波器211，用于对偏置器210分离后，从低频输出口输出的测试控制信号进行滤波，进一步对测试控制信号之外的高频和杂散频段进行抑制。

指标测试单元22可以通过如下的模块来实现：

开关键控子模块220，用于对第一信号分离单元21分离得到的测试控制信号进行解调，得到解调后串行信号数据，并传送给接口桥子模块221；

接口桥子模块221，用于将解调后串行信号数据转化成中央处理器CPU222接口可接收的测试控制信号；

中央处理器222，用于读取接口桥子模块221转化后的测试控制信号，根据测试控制信号控制测试模块对被测信号的测试。

需要说明的是，基站10和射频指标测试仪器20中的接口桥子模块、开关键控子模块和滤波器可以集成为一个外设组件互连标准(PeripheralComponent Interconnect，PCI)的扩展卡，也可以内置在PCI扩展接口的仪器中。

可以理解，射频指标测试仪器中还可以包括响应返回单元，具体地，可以通过上述中央处理器222、接口桥子模块221、开关键控子模块220、滤波器211和偏置器210来实现，且在实现的过程中，中央处理器222还用于生成响应信号；而接口桥子模块221还用于将中央处理器222的包含相应信号的接口数据转换成开关键控子模块220接口可接收的串行信号；开关键控子模块220还用于对串行输入的响应信号进行调制发送；滤波器211还用于对调制后的响应信号进行滤波；偏置器210还用于通过射频的物理通道向基站返回响应信号。

本发明实施例的系统对基站10的射频指标的测试进行控制时，可以通过如下方法来实现：

基站10中的中央处理器110按照如上表1所示的数据格式，填入源ID、目的ID、帧类型及控制命令字段，生成测试控制信号，并调用HDLC驱动，按照HDLC标准帧格式组帧，并根据设定的波特率发送测试控制信号；测试控制信号经过接口桥子模块111、开关键控子模块112、滤波器120和偏置器121模块的处理，得到射频信号，并馈入射频传输线。

射频指标测试仪器20接收到射频信号后，经过偏置器210的处理得到测试控制信号，测试控制信号经过滤波器211和开关键控子模块220解调出串行数据，并经由接口桥子模块221接入到中央处理器222；中央处理器222通过HDLC驱动，解码HDLC帧数据信息段，判别目的ID是否为本ID，如果是本ID，则按照信息字段命令执行，不是则丢弃本帧数据。

射频指标测试仪器20中的中央处理器222根据测试控制信号进行相应的执行后，交换接收的测试控制信号的数据帧中源ID和目的ID，并将执行结果填入信息字段，生成响应消息，并通过HDLC驱动，组帧HDLC数据帧，并特定的波特率发送该响应消息；响应消息通过接口桥子模块221、开关键控子模块220、滤波器211及偏置器210后，馈入射频传输线。

基站10接收到响应消息，通过偏置器121，滤波器120和开关键控子模块112解调出串行数据，并经过接口桥子模块111送入中央处理器110中，经由HDLC驱动解调出HDLC帧数据，并取出其中的信息段；中央处理器110判断信息段中的目的ID是否为本ID，如果不是本ID，则丢弃本帧数据；如果是本ID则判断源ID是否为发送帧目的ID，如果是则判断帧类型是否为ACK帧，如果是，则取出信息字段，判断结果；如果是IND帧，则取出信息字段，根据信息字段执行的操作。

需要说明的是，上述基站10和射频指标测试仪器20中的接口桥子模块是实现开关键控子模块与中央处理器之间的连接，由于开关键控子模块的输入和输出都是串行信号，而中央处理器包括并口总线、串行总线和PCI总线三种信号接口，则需要接口桥子模块进行接口的转换。

参考图4所示，接口桥子模块可以包括：PCI转并串模块、并口切换开关SW2，并串转换模块，串行口切换开关SW1，及PCI转换串口切换开关SW3，并串转换模块支持BIT同步模式，其中：

中央处理器的并口总线、PCI总线和串口总线分别连接到并口切换开关SW2、PCI转并串模块及PCI转换串口切换开关SW3的接入口；PCI转并串模块的串口输出与PCI转换串口切换开关SW3的另一接入口连接，并口输出连接到并口切换开关SW2的另一接入口；串行口切换开关SW1的并口输出连接到并串转换模块的输入口；并串转换模块的输出连接到串行口切换开关SW1的接入口；PCI转换串口切换开关SW3的串口输出连接到串行口切换开关SW1的另一接入口；串行口切换开关SW1的输出通过两个反方向的反向器连接到开关键控子模块。

在传输数据时，可以通过以下4种方式进行传输：

1、通过中央处理器的并口总线传送数据时：

在传送数据前，中央处理器通过控制SW2信号将中央处理器并口的数据通道打到并串转换模块，并通过控制SW1信号将开关键控子模块的串行数据通道打到并串转换模块。

中央处理器通过并口发送数据时：中央处理器向并串转换模块写入发送数据，启动发送后，会按照设定好的波特率信号，将发送数据通过并串转换模块，SW1及一个反向器的射频发送出口(TX)发送给开关键控子模块进行调制，并将调制后信号灌入射频信号通道；

通过中央处理器的并口接收数据时：来自于射频信号通道的信号经过开关键控子模块解调的数据，接入到反向器的射频接收口(RX)，并通过SW1，送入并串转换模块，转换成并口数据，并通过开关SW2，中央处理器通过并口读取数据。

2、通过中央处理器的串口总线传送数据时：

在传送数据前，中央处理器通过控制SW1信号将开关键控子模块的串行数据通道打到串行端口，通过控制SW3信号将串行数据通道打到CPU的串行通信接口。

中央处理器通过串口发送数据时：中央处理器通过串口以一定的波特率发送数据，数据通过SW3，然后通过SW1后经过一个反向器的TX，发送到开关键控子模块进行调制，并将调制后信号灌入射频信号通道；

通过中央处理器的串口接收数据时：来自于射频信号通道的信号经过开关键控子模块解调的数据，通过一个反向器，SW1及SW3，最终将数据送往中央处理器的串口。

3、通过中央处理器的PCI总线传送数据时：

(1)PCI口转并口的传送：

在传送数据前，中央处理器通过控制SW2信号将PCI转并串模块接入到并串转换模块，通过控制SW1信号将并串转换模块串口接入到串行端口上去。

在发送数据时：中央处理器向PCI接口写入数据，数据通过PCI转并串模块，从该模块的并口输出，并通过开关SW2和并串转换模块将数据从串行端口发出，通过SW1和反向器，送入开关键控子模块进行调制，并将调制后信号灌入射频信号通道；

在接收数据时：来自射频信号通道的信号经过开关键控子模块解调的数据，通过一个反向器，SW1及并串转换模块，转换成并口数据，并通过开关SW2和PCI转并串模块，中央处理器通过PCI总线读取数据。

(2)PCI口转串口的传送：

在传送数据前，中央处理器通过控制SW1信号将开关键控子模块串行数据信号打到串行端口，通过控制SW3信号将串行端口数据通过打到PCI转并串模块上。

在发送数据时：中央处理器向PCI接口写入数据，数据通过PCI转并串模块，从串口输出到SW3，并经过SW1及反向器，按照一定的波特率送入开关键控子模块进行调制，并将调制后信号灌入射频信号通道；

在接收数据时：来自射频信号通道的信号经过开关键控子模块解调的数据通过一个反向器，SW1，SW3，通过串口送入PCI转并串模块，中央处理器通过PCI接口读取数据。

可以理解，可以把PCI接口模式的电路制成PCI卡，通过PCI插槽作为PCI扩展卡使用。且可以配置中央处理器传送数据的接口，则：

如果配置中央处理器通过并口总线传送数据时，接口桥子模块可以包括并串转换模块，只需在中央处理器与开关键控子模块之间连接并串转换模块和一个反向器；如果配置中央处理器通过串口总线传送数据时，则只需在中央处理器与开关键控子模块之间连接一个反向器即可；如果配置终端处理器通过PCI转并口传送数据时，接口桥子模块可以包括PCI转并串模块、并口切换开关SW2及并串转换模块；如果配置终端处理器通过PCI转串口传送数据时，接口桥子模块可以包括PCI转并串模块、PCI转换串口切换开关SW3。

通过对中央处理器传送数据接口的配置，可以简化接口桥子模块的结构。从而降低对设备的要求。

系统实施例二

一种射频指标测试系统，结构示意图如图5所示，包括：基站10和射频测试转换装置30；其中：射频测试转换装置30通过控制传输接口和被测传输接口与射频指标测试仪器40连接，通过射频传输线如射频电缆直接连接与基站10连接；

基站10，用于生成测试控制信号，测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；将被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频测试转化装置30；

基站10的具体结构如系统实施例一所述，在此不再赘述。

射频测试转换装置30，用于将射频信号中不同频段的测试控制信号和被测信号分离，将测试控制信号通过控制传输接口发送给射频指标测试仪器40，并通过被测传输接口将被测信号发送给射频指标测试仪器40；以便射频指标测试仪器40根据测试控制信号控制对被测信号的测试。

可以理解，射频测试转换装置30可以包括多个控制传输接口和被测传输接口，这样就可以连接多个射频指标测试仪器和基站，对不同基站的射频指标进行测试。

射频测试转换装置30从射频信号输入口(RFIN)1接收射频信号，经过将被测信号和测试控制控制信号的分离，将被测信号从被测传输接口如射频输出口(RFOUT)1发送给射频指标测试仪器20；将测试控制信号通过控制传输接口如局域网络(Local Area Network，LAN)口发送给射频指标测试仪器20。

可以理解，控制传输接口还可以是串口、GPIB口、通用串行总线口(Universal Serial Bus，USB)口等接口。

该系统还可以包括：射频指标测试仪器40，用于接收测试控制信号和被测信号，根据测试控制信号控制对被测信号进行测试。

射频指标测试仪器40中的LAN口，或串口，或USB口，或GPIB口接收测试控制信号后，传送给中央处理器，控制测试模块对被测信号的测试。

参考图6，射频测试转换装置30可以通过如下的单元来实现：第二信号分离单元31、控制传送单元32和被测传送单元33；控制传送单元32包括一个以上控制传输接口，其中：

第二信号分离单元31，用于将射频信号中不同频段的测试控制信号和被测信号分离；

控制传送单元32，用于获取第二信号分离单元31分离的测试控制信号，确定发送测试控制信号的控制传输接口，并通过确定的控制传输接口发送测试控制信号给射频指标测试仪器20；

被测传送单元33，用于通过被测传输接口将第二信号分离单元31分离的被测信号发送给射频指标测试仪器20。

可见，本发明实施例的系统中包括基站10和射频测试转换装置30，基站10生成测试控制信号，将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频测试转换装置30，射频测试转换装置30将测试控制信号和被测信号分离出来，由射频指标测试仪器40就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。本发明实施例中通过射频测试转换装置30将基站10的测试控制信号和被测信号发送给射频指标测试仪器40，不需要额外的设备来产生控制信号，且一个射频测试转换装置可以连接多个基站和射频指标测试仪器，对多个基站的射频指标进行测试，简化了对射频指标测试的结构，降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求；另外，本实施例中的系统中射频指标测试仪器40的结构简单，可以不需要对现有的仪器结构进行改变。

参考图7所示，在一个具体的实施例中，射频测试转换装置30中的第二信号分离单元31可以包括：偏置器310和滤波器311，其中：

偏置器310，用于接收基站10发送射频信号，将射频信号中不同频段的被测信号和测试控制信号分离；

一般情况，主要是将射频信号从偏置器310的射频输入(RFIN)接入，经过偏置器310对射频信号的分路，将测试控制信号从低频输出给滤波器311，而测试信号从被测传输接口如图中的射频输出(RFOUT)传送给射频指标测试装置40。

滤波器311，用于对偏置器310分离后，从低频输出口输出的测试控制信号进行滤波，进一步对测试控制信号之外的高频和杂散频段进行抑制。

控制传送单元32可以包括：开关键控子模块320、中央处理器321和一个以上接口子模块322，其中：

开关键控子模块320，用于对第二信号分离单元31中偏置器310分离，并由滤波器311滤波得到的测试控制信号进行解调，将解调后的测试控制信号通过一个反相器传送给中央处理器321；

中央处理器321，用于根据开关键控子模块320进行解调后的测试控制信号，确定发送测试控制信号的接口子模块322，并将测试控制信号发送给确定的接口子模块322；

接口子模块322，用于将测试控制信号转换成控制传输接口可接收的信号数据，将测试控制信号通过控制传输接口发送给射频指标测试仪器40。

控制传输接口可以是串口，或USB口，或GPIB口，或LAN口等，则接口子模块322分别通过相应接口转换模块和相应接口连接器实现：

1、参考图8a所示，如果是串口，接口子模块322包括串口转换模块和串口连接器DB9，而串口转换模块具体可以为RS232接口电平转换芯片，连接于中央处理器的串行接口上。

2、参考图8b所示，如果是LAN口，接口子模块322包括LAN转换模块和LAN口连接器RJ45，而LAN转换模块具体可以为物理(PHY)芯片和变压器；

其中，物理芯片通过媒体接入控制层(MAC)接口与中央处理器连接，完成以太网物理层协议处理；而中央处理器通过数据输入输出管理接口(MDIO)管理物理芯片；物理芯片对外出口信号接入变压器，再连接LAN口连接器。

3、参考图8c所示，如果是USB口，接口子模块322包括USB转换模块和USB口连接器，而USB转换模块具体可以为瞬态二极管和限流芯片；

其中，中央处理器的USB接口通过瞬态抑制二极管接入到外部USB连接器；USB限流接口接入到限流芯片；限流芯片的电源输出端接入到USB连接器。

4、参考图8d所示，如果是GPIB口，接口子模块322包括GPIB转换模块和GPIB口连接器，而GPIB转换模块具体可以为GPIB控制逻辑和场效应管(MOS)驱动；

其中中央处理器的本地总线(Local Bus)连接到GPIB总线控制逻辑模块，该模块是一个逻辑芯片，实现GPIB控制接口的协议处理，其总线为负逻辑，总线电平低于0.8V定义为“1”，高于2V定义为“0”，其总线逻辑在逻辑芯片中处理，逻辑中完成一个数据帧后，通过MOS驱动发送到外部GPIB接口连接器；相反地在接收完成数据后，通过中断信号通知中央处理器读取数据；而MOS驱动可以增强驱动能力。

需要说明的是，本实施例中的射频测试转换装置30中可以有多个测试通道，即有多套对应的RFOUT和RFIN接口，这样可以对多个基站的射频指标进行控制测试。

如图7中的射频测试转换装置30还包括供电系统，供电电源可以为外接电源，也可以从内部直接获取的，还可是从射频线路上的直流馈电直接获取的，这三种电源之间通过二极管隔离来选择，能防止电流反灌，只要其中一种有电源馈入，射频测试转换装置30即可上电。

本实施例的射频测试转换装置30还可以包括网络地址(ID)配置接口，配置本地装置的ID，作为主从装置级联识别使用，测试系统中此ID配置为射频测试转换装置30的唯一标识，中间转接ID号。

参考图9和图10所示，本实施例的系统在对射频指标的测试进行控制时，通过如下方法来实现：

如图9所示，基站10通过射频测试转换装置30发送射频信号给射频指标测试仪器40：

A1、基站发送射频信号，包括测试控制信号和被测信号；

B1、测试控制信号可通过RFIN1或RFIN2接入射频测试转换装置30，通过其中包括的偏置器310将被测信号与低频测试控制信号分离，测试控制信号通过滤波器311后，由开关键控子模块320解调出数字信号，并通过反向器接入到中央处理器321的串口，在CPU321内进行组帧转发给其他接口；

中央处理器321会按照HDLC协议解码，并解析层3协议字段，记录测试控制信号中的源ID，目的ID和信息字段；

C1、中央处理器321判断目的地址ID的类型；

D1、中央处理器321根据目的ID类型查询相应接口的资源是否在使用，如果目的ID在使用中，则交换该测试控制信号中的源ID与目的ID，并按照层3协议帧结构填入，并加入消息为指示等待消息帧，返回给基站10，指示基站10等待回应。在200ms内重复本步骤，重复超过30次，向基站返回失败响应帧；如果目的ID未使用，执行步骤E1；

E1、中央处理器321根据目的ID的类型，组成对应接口的通信帧，通过对应接口子模块322向射频指标测试仪器20发送信息字段内容，并接收射频指标测试仪器40返回的响应。

例如接口为网口，则按照socket建立规程，将目的地址转换为目的网络协议(IP)，建立本机与射频指标测试仪器40的连接，并按照目的IP数据组帧，置该接口资源再用，其它请求不提供；

如果接口是开关键控(OOK)口，则按照HDLC格式透传数据，并置该资源再用，其它请求暂不提供；如果为USB口，则按照仪器USB接口通信格式组帧，并置该接口资源再用，其它请求不提供；如果为GPIB口，则按照仪器GPIB接口通信格式组帧，并置该接口资源再用，其它请求不提供；如果为串口，则按照仪器串口通信格式组帧，并置该接口资源再用，其它请求不提供。

如图10所示，射频指标测试仪器40通过射频测试转换装置30发送响应消息给基站10：

A2、射频指标测试仪器40发送测试控制信号的响应消息；

B2、射频测试转换装置30中的接口子模块322通过控制传输接口如串口、USB口等接口接收响应消息，置该接口空闲；

C2、中央处理器321根据端口确定返回响应消息的源ID；

D2、中央处理器321将接收的响应消息中的信息填入约定层3的信息字段，并填入源ID和目的ID，响应帧类型，生成返回给基站的信号，以一定的波特率通过串行端口经过反向器后送入开关键控子模块320中进行调制，再经过滤波器311选频，对调制载波频段一定范围之外的杂散进行抑制，再经过偏置器310将信号灌入射频信号线上。

可以理解，如果射频指标测试仪器40超过200ms未能返回响应消息，则像基站10返回失败响应帧。

方法实施例一

一种射频指标测试控制方法，本发明实施例的方法适用于如系统实施例一所述的射频指标测试系统，基站和射频指标测试仪器通过射频传输线如射频电缆直接连接，流程图如图11所示，包括：

步骤101、基站生成测试控制信号，测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

基站在生成测试控制信号时，可以采用三层协议数据帧的结构：层一为物理层，可以设置为BIT同步方式传输；层二为链路层，可以设置为HDLC协议控制；层三为应用层，是自定义数据帧格式，层三数据格式如上述表1所示。

在生成的测试控制信号中包括：源ID、目的ID、帧类型、信息字段，而测试控制信号具体内容可以为对某个被测信号进行测试等。

步骤102、基站将被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器；

由于生成的测试控制信号为低频段信号，而被测信号为高频段信号，则基站可以通过偏置器将高、低频段信号合路成一个射频信号，并馈入射频信道。

对于射频指标测试仪器：

步骤103、射频指标测试仪器接收基站发送的射频信号，在射频信号中包括测试控制信号和被测信号；其中测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

步骤104、射频指标测试仪器分离射频信号得到测试控制信号，根据测试控制信号，控制对被测信号的测试。

可以理解，射频指标测试仪器在根据测试控制信号进行相应操作后，可以向基站返回响应消息。

可见，本发明实施例中基站生成测试控制信号，将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器，这样射频指标测试仪器就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。和现有技术中需要通过另外的自动测试设备对射频指标测试仪器的测试进行控制相比，本发明实施例中射频产品如基站即可控制射频指标测试仪器对该射频产品的测试，而不需要额外的设备来进行控制，简化了对射频指标测试的结构，降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求。

方法实施例二

一种射频指标测试的控制方法，本发明实施例的方法适用于如系统实施例二所述的射频指标测试系统，基站通过射频测试转换装置与射频指标测试仪器连接，基站生成测试控制信号，射频流程图如图12所示，包括：

步骤201、射频测试转换装置接收基站发送的射频信号，射频信号包括测试控制信号和被测信号；测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

步骤202、射频测试转换装置分离射频信号得到测试控制信号，根据测试控制信号，确定接收测试控制信号的射频指标测试仪器；

步骤203、射频测试转换装置将测试控制信号发送给射频指标测试仪器，以便射频指标测试仪器根据测试控制信号控制对被测信号的测试。

可见，本发明实施例的系统中基站生成测试控制信号，将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频测试转换装置，射频测试转换装置将测试控制信号和被测信号分离出来，由射频指标测试仪器就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。本发明实施例中通过射频测试转换装置将基站的测试控制信号和被测信号发送给射频指标测试仪器，不需要额外的设备来产生控制信号，且一个射频测试转换装置可以连接多个基站和射频指标测试仪器，对多个基站的射频指标进行测试，简化了对射频指标测试的结构，降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求。

可以理解，上述方法实施例一和二中，基站与射频指标测试仪器之间进行测试控制通信时：

可以采用乒乓通信方式，即在信源(信息的原始发送方)主动发送请求帧，信宿(信息的最终接收方)回应信源的请求帧；信源在发出请求后500ms中内必须收到信宿的响应帧，否则进行重发；信源重发三次后，仍然收不到信宿的响应帧，认为信宿异常，终止测试过程，通过基站10外部指示灯指示错误；对于信宿执行时间较长的，需要在收到信源请求帧500ms内返回正在测试响应，指示信源继续等待，其后每隔200ms内返回一个正在测试响应指示帧，直到信宿执行完成，返回结果响应帧。

可见，本发明实施例的系统中包括基站，基站生成测试控制信号，将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器，这样射频指标测试仪器就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。和现有技术中需要通过另外的自动测试设备对射频指标测试仪器的测试进行控制相比，本发明实施例中射频产品如基站即可控制射频指标测试仪器对该射频产品的测试，而不需要额外的设备来进行控制，简化了对射频指标测试的结构，降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求。

本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、磁盘或光盘等。

以上对本发明实施例所提供的射频指标测试系统及其控制方法，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (11)

1.一种射频指标测试系统，其特征在于，包括：基站；

所述基站，用于生成测试控制信号，所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器；以便所述射频指标测试仪器根据所述射频信号中的测试控制信号控制对所述被测信号的测试，简化了对射频指标测试的结构；

所述系统还包括：射频指标测试仪器，用于接收所述基站发送的射频信号，分离所述射频信号得到测试控制信号和被测信号，根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述基站包括：

控制信号生成单元，用于生成测试控制信号，并将所述测试控制信号传送给承载发送单元，所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

承载发送单元，用于将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给所述射频指标测试仪器。

3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述基站中的承载发送单元包括：

滤波器，用于对所述测试控制信号进行滤波，得到第一频段的测试控制信号；

偏置器，用于将所述第一频段的测试控制信号与第二频段的被测信号承载在同一传输通道上发送给所述射频指标测试测试仪器。

4.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述基站中的控制信号生成单元包括：

中央处理器CPU，用于生成测试控制信号，向接口桥子模块写入所述测试控制信号的数据；

接口桥子模块，用于将写入的所述测试控制信号的数据转化成串行信号数据发送给开关键控子模块；

开关键控子模块，用于接收到所述接口桥子模块发送的串行信号数据，将所述串行信号数据进行调制，并将调制后的信号数据发送给所述承载发送单元。

5.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述射频指标测试仪器包括：

第一信号分离单元，用于接收基站发送的射频信号，所述射频信号包括不同频段的被测信号和测试控制信号，将所述被测信号和测试控制信号分离；

指标测试单元，用于获取所述第一信号分离单元分离的测试控制信号，根据所述测试控制信号控制对被测信号的测试。

6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述射频指标测试仪器中的指标测试单元包括：

开关键控子模块，用于对所述第一信号分离单元分离得到的测试控制信号进行解调，得到解调后串行信号数据，并传送给接口桥子模块；

接口桥子模块，用于将解调后串行信号数据转化成中央处理器CPU接口可接收的测试控制信号；

中央处理器CPU，用于读取所述接口桥子模块转化后的测试控制信号，根据所述测试控制信号控制对被测信号的测试。

7.一种射频指标测试系统，其特征在于，包括：基站和射频测试转换装置；

所述基站，用于生成测试控制信号，所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频测试转化装置；

所述射频测试转换装置，用于将所述射频信号中不同频段的测试控制信号和被测信号分离，将所述测试控制信号通过控制传输接口发送给射频指标测试仪器，并通过被测传输接口将所述被测信号发送给射频指标测试仪器；以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试，简化了对射频指标测试的结构；

所述系统还包括：射频指标测试仪器，用于接收测试控制信号和被测信号，根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试。

8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述射频测试转换装置包括：第二信号分离单元、控制传送单元和被测传送单元；所述控制传送单元包括一个以上控制传输接口；

第二信号分离单元，用于将所述射频信号中不同频段的测试控制信号和被测信号分离；

控制传送单元，用于获取所述第二信号分离单元分离的测试控制信号，确定发送测试控制信号的控制传输接口，并通过确定的控制传输接口发送所述测试控制信号给所述射频指标测试仪器；

被测传送单元，用于通过被测传输接口将所述第二信号分离单元分离的被测信号发送给射频指标测试仪器。

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述射频测试转换装置中的控制传送单元包括：开关键控子模块、中央处理器CPU和一个以上接口子模块；

所述开关键控子模块，用于对所述第二信号分离单元分离得到的测试控制信号进行解调，将解调后的测试控制信号传送给中央处理器CPU；

所述中央处理器CPU，用于根据所述开关键控子模块进行解调后的测试控制信号，确定发送所述测试控制信号的接口子模块，并将所述测试控制信号发送给确定的接口子模块；

所述接口子模块，用于将所述测试控制信号转换成控制传输接口可接收的信号数据，将所述测试控制信号通过所述控制传输接口发送给射频指标测试仪器。

10.一种射频指标测试的控制方法，其特征在于，包括：

基站生成测试控制信号，所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

所述基站将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器；以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试，简化了对射频指标测试的结构；

射频指标测试仪器接收基站发送的射频信号，所述射频信号包括测试控制信号和被测信号；所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

所述射频指标测试仪器分离所述射频信号得到测试控制信号，根据所述测试控制信号，控制对所述被测信号的测试，简化了对射频指标测试的结构。

11.一种射频指标测试的控制方法，其特征在于，包括：

基站生成测试控制信号，所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

所述基站将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段，并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器；以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试，简化了对射频指标测试的结构；

射频测试转换装置接收基站发送的射频信号，所述射频信号包括测试控制信号和被测信号；所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试；

所述射频测试转换装置分离所述射频信号得到测试控制信号，根据所述测试控制信号，确定接收所述测试控制信号的射频指标测试仪器；

所述射频测试转换装置将所述测试控制信号发送给所述射频指标测试仪器，以便所述射频指标测试仪器根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试，简化了对射频指标测试的结构。

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