CN101807411B - 记录介质、地址生成和检测方法、再现和记录装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及记录介质、地址生成和检测方法、再现和记录装置。其目的在于不改变填入摆动的地址的比特数，获得扩展后的地址。生成根据被填入摆动地址的一部分或者全部的信息的有无或规则的差异表示的不记录在盘片的虚拟比特。

Description

记录介质、地址生成和检测方法、再现和记录装置
技术领域
本发明涉及记录地址的记录介质例如光盘、光盘的地址生成和检测、从记录介质进行数据的记录再现的再现装置、记录装置。
背景技术
专利文献1的图6中，表示了蓝光光盘的地址信息的关联信息，表示了段落[0010]的记载“如图6所示，地址单元编号(AUN)，与物理扇区(区)编号相关，并且与物理ADIP(Address In Pre-groove：预刻槽地址)地址相关，所以作为用于探索记录位置的参照信息能够有效地使用。”。根据图，在对扇区单位的数据分配一个地址的物理扇区编号(Physical Sector Number，PSN)和被填入(嵌入：埋ぁ込む)摆动(Wobble)的物理ADIP地址(Physical ADIP Address，PAA)的关系中，为32*PSN＝3*PAA的关系，从PSN的比特3 1至比特27的5比特没有分配与PAA对应的比特。
专利文献1的比特分配中，PSN多于用现有的27比特表现的数据量的情况下，应该填入摆动的PAA的比特数变得不足。此外，扩展PAA的比特数的情况下，需要摆动地址结构的大幅度的改造。
专利文献1：日本特开2008-41243号公报
发明内容
本发明的目的在于：提供一种不实施大幅度的摆动结构改造就能够扩展摆动地址的记录介质、地址生成和检测方法、再现和记录装置。
为了解决上述问题，生成由填入摆动地址的一部分或者全部中的信息的有无或规则的差异表示的不记录在盘片中的虚拟比特。
本发明的涉及一种记录介质，其具有记录多个数据的区域和与上述数据对应地表示物理记录位置的地址，该记录介质中，将用于切换有无对上述地址的加扰或规则性的虚拟比特作为上述地址的扩展比特使用；记录有上述加扰后的地址。
本发明还涉及一种具有记录多个数据的区域和与上述数据对应地表示物理记录位置的地址的记录介质中的地址生成方法，其中，将用于切换有无对上述地址的加扰或规则性的虚拟比特作为上述地址的扩展比特使用；将上述加扰后的地址记录在记录介质。
本发明还涉及一种具有记录多个数据的区域和与上述数据对应地表示物理记录位置的地址的记录介质中的地址检测方法，该地址检测方法是，将用于切换有无对上述地址的加扰或规则性的虚拟比特作为上述地址的扩展比特使用，将上述加扰后的地址记录在记录介质中的地址的检测方法，根据记录在上述记录介质的上述地址的有无加扰或规则性的检测生成虚拟比特，根据上述生成的虚拟比特和将加扰后记录在上述记录介质上的地址解扰后的地址，检测数据位置。
本发明还涉及一种再现装置，其对具有记录多个数据的区域和与上述数据对应地表示物理记录位置的地址的记录介质的数据进行再现，上述再现装置中，将用于切换有无对上述地址的加扰或规则性的虚拟比特作为上述地址的扩展比特使用，从记录有上述加扰后的地址的记录介质再现数据，根据记录在上述记录介质的上述地址的有无加扰或规则性的检测生成虚拟比特，根据上述生成的虚拟比特和将加扰后记录在上述记录介质上的地址解扰后的地址，检测出数据的再现位置并再现数据。
本发明还涉及一种记录装置，其在具有记录多个数据的区域和与上述数据对应地表示物理记录位置的地址的记录介质记录数据，该记录装置中，将用于切换有无对上述地址的加扰或规则性的虚拟比特作为上述地址的扩展比特使用，在记录有上述加扰后的地址的记录介质记录数据，根据记录在上述记录介质的上述地址的有无加扰或规则性的检测生成虚拟比特，根据上述生成的虚拟比特和将加扰后记录在上述记录介质上的地址解扰后的地址，检测出数据的记录位置并记录数据。
根据本发明，能够保持现有的摆动地址结构的比特结构进行地址扩展。
附图说明
图1是本发明的第1实施例的多层光盘的地址的关联图。
图2是本发明的第1实施例的地址检测的时序图。
图3是本发明的第1实施例的地址检测的检测电路图。
图4是本发明的第2实施例的多层光盘的地址的关联图。
图5是本发明的第2实施例的地址检测的时序图。
图6是本发明的第2实施例的地址检测的检测电路图。
图7是本发明的第3实施例的多层光盘的地址的关联图。
图8是本发明的第3实施例的加扰电路的一例。
图9是本发明的第3实施例的地址检测的时序图。
图10是本发明的第3实施例的地址检测的检测电路图。
图11是本发明的第4实施例的光盘的地址的关联图。
图12是本发明的第1实施例的光盘记录再现装置。
符号的说明
101：Physical Sector Number(PSN)：物理扇区编号；
102：Address Unit Number(AUN)：地址单元编号；
103：Physical ADIPAddress(PAA)：物理ADIP地址；
104：Physical ADIPAddress(PAAW)：物理ADIP地址的摆动地址；
105：加扰电路；106：“异”门；301：解扰电路；
302：层编号检测电路；303：高位连续性检测电路；
304：低位连续性检测电路；305：PAA地址生成电路；
401：Physical ADIPAddress(PAA)：物理ADIP地址；
402：Physical ADIP Address(PAAW)：物理ADIP地址的摆动地址；
701：Physical ADIPAddress(PAA)：物理ADIP地址；
702：Physical ADIPAddress(PAAW)：物理ADIP地址的摆动地址；
703：加扰电路；801：“异”门；
1101：Physical ADIPAddress(PAA)：物理ADIP地址；
1102：Physical ADIPAddress(PAAW)：物理ADIP地址的摆动地址；
1103：加扰电路；1201：光盘；1202：光拾取器；
1203：主轴马达；1204：地址再现电路；
1205：数据记录再现电路；1206：主机；1207：微型计算机。
具体实施方式
以下，参照附图对于本发明的实施例进行说明。
图1是本发明的第1实施例的多层光盘的地址的关联图。101为扇区的物理扇区编号即Physical Sector Number(以下称为PSN)，102为被填入簇单位的数据的地址即Address Unit Number(以下称为AUN)，103为摆动的物理ADIP地址即Physical ADIPAddress的实际的地址(以下称为PAA)，104为物理ADIP地址的实际填入摆动的地址(以下称为PAAW)，105为加扰电路，106表示“异”门(Ex-OR)。表示将PAA103的高位3bit分配给层编号，由现有的PAA24比特扩展1bit的地址的情况的示例。此外，地址扩展的虚拟比特即PAA比特24的比特信息，与PAA的低位2比特关联填入摆动(wobble)。现有的PAA24比特结构中，按照3比特的层编号、19比特的簇编号、2比特的簇内计数值进行分配的情况下，能够对于到8层的层编号和各层各32GB(64KB×219)的数据容量的数据分配地址。但是，各层超过32GB的高密度的光盘的情况下，虽然通过将簇编号扩展为20比特能够对于各层各64GB(64KB×220)的数据容量的数据分配地址，但是因为层编号的比特减少为2比特，无法进行5层以上的地址生成。于是，作为层编号扩展1比特，用与现有技术相同的3比特生成到8层的地址。
以下，对于图1所示的地址的生成方法进行说明。PSN28比特(剩余4比特为未使用)的地址范围中，作为摆动上的地址范围分配PAA25比特。但由于使用摆动填入盘片的地址的比特数只有24比特，最高位的PAA比特24，作为虚拟地址比特向其他比特填入信息。本实施例的情况下，将PAA比特24作为决定加扰电路105的加扰处理ON/OFF的控制比特进行输入，对于低位2比特的PAA比特1-0施加加扰处理填入摆动。作为加扰处理的一例，通过利用使用“异”门106的方法，PAA比特24为“0”的情况下，PAA比特1-0与现有技术相同地计数为0，1，2，0，1，2，……，PAA比特24为“1”的情况下，因为是“异”运算后的值，计数为3，2，1，3，2，1，……。于是，通过将来自加扰电路105的输出即PAAW比特1-0实际地填入摆动，可以不用将虚拟比特PAA比特24填入摆动而完成。
而后，关于被填入摆动的地址PAAW的检测方法，使用图2的时序图和图3的检测电路图的一例进行说明。作为摆动地址的检测方法，考虑到误检测和未检测到，通过连续地检测地址进行保护而生成地址。检查PAAW比特1-0的低位地址的连续性，进行虚拟比特即PAA比特24的复原。在图3的低位连续性检测电路304中，输入从摆动检测到的地址PAAW比特1-0和由解扰电路301解扰的地址比特1-0。在解扰电路301中，由于地址生成时被“异”门106加扰，将“1”与PAAW比特1-0的“异”门的结果在解扰运算后而进行输出。由于虚拟比特PAA比特24被分配给层编号的第3比特，与层编号0～3的情况(201)和层编号4～7的情况(202)相应地，检测结果变得不同。层编号0～3的情况(201)下，由于PAAW比特1-0作为0，1，2，0，1，2，……被输入低位连续性检测电路304，PAA比特24输出“0”，PAA比特1-0保持PAAW比特1-0的状态输出。另一方面，层编号4～7的情况(202)下，PAAW比特1-0作为3，2，1，3，2，1，……被输入低位连续性检测电路304。在此，通过检测出地址的检测值“3”和检测连续性的减量，检测到存在地址生成时的加扰处理，将PAA比特24作为“1”输出。此外，关于低位的PAA比特1-0，输出PAAW比特1-0的解扰处理后的值即0，1，2，0，1，2，……。由此，根据作为低位连续性检测电路304的输出的簇内计数值(PAA比特1-0)的检测，进而根据生成的PAA比特24和从摆动检测到的PAAW比特23-22，在层编号检测电路302，进行层编号地址(PAA比特24-22)的生成、层编号的检测。此外，根据从摆动检测到的PAAW比特21-2在高位地址检测电路303，进行簇编号地址(PAA比特21-2)的生成、簇编号的检测。由此，将由各个检测电路302、303、304获得的地址输入PAA地址生成电路305，能够变换为PAA比特24-0的地址。
如上所述，通过将虚拟比特作为信息填入其他比特而生成地址，在检测到时复原地址，能够不改变摆动的地址结构，不增加填入摆动的地址的比特数，而扩展表示物理位置的地址的比特数。蓝光光盘的物理ADIP地址中，作为2比特的层编号和20比特的簇编号的地址分配，如果使用虚拟比特扩展层编号的地址，则能够适用于到8层为止的层编号和到64GB为止的盘片。同样，用于按照现有的3比特的层编号和19比特的簇编号的地址分配而扩展层编号的地址的情况时，还能够适用于到16层为止的层编号和各层各32GB的盘片。其中，如本实施例所示，在层编号0～3的情况下，由于作为加扰处理OFF而控制虚拟比特，作为结果，PAA比特23-0和PAAW比特23-0成为相同的值，还能够维持与现有的光盘的互换。
此外，图12表示了从通过本实施例说明的地址生成制成的光盘再现数据、记录数据的记录再现装置的一例。1201表示光盘，1202表示光拾取器，1203表示主轴马达，1204表示地址再现电路，1205表示数据记录再现电路，1206表示外部主机，1207表示控制系统整体的微型计算机。由使用图1所示的地址生成方法制成的光盘1201经由光拾取器1202读取的摆动信号(ゥォブル信号)，被输入地址再现电路1204进行地址信息的检测。由此通过使用图3说明的地址检测电路的结构，能够进行记录再现数据的位置的检测，能够将经由光拾取器1202和数据记录再现电路1205获得的数据向主机1206进行输入输出，能够进行数据的记录再现。
图4是本发明的第2实施例的多层光盘的地址的关联图。与图1的不同在于，虚拟比特不是分配到PAA比特24而是比特21。401作为物理ADIP地址的实际的地址(以下称为PAA)，402作为物理ADIP地址的摆动填入地址(以下称为PAAW)，与图1相同，只有比特分配不同，其他方面相同。作为地址的生成方法，与第1实施例相同，将PAA比特21作为决定加扰电路105的加扰处理ON/OFF的控制比特而被输入，对于低位2比特的PAA比特1-0施加加扰处理而填入摆动。
对于被填入摆动的地址PAAW的检测方法，使用图5的时序图和图6的检测电路图的一例进行说明。本实施例的情况下，由于虚拟比特PAA比特21不是被分配为层编号地址，而是被分配为簇编号地址，在各层会发生地址生成的切换。此外，由于作为加扰方法也是对低位2比特的PAA比特1-0用“异”门106进行了加扰，与上述同样地在低位连续性检测电路304进行加扰处理有无的检测，进行虚拟比特PAA比特21的生成、PAA1-0的检测。由此，作为低位连续性检测电路304的输出进行簇内计数值(PAA比特1-0)的检测、进而使用低位连续性检测电路304检测到的PAA比特21和由摆动检测到的PAAW比特20-2，在高位地址检测电路303，进行簇编号地址(PAA比特21-2)的生成和簇编号的检测，使用由摆动检测到的PAAW比特23-22进行层编号地址(PAA比特24-22)的检测。因此，将由各个检测电路302、303、304获得的地址输入PAA地址生成电路305，能够变换为PAA比特24-0的地址。
如上所述，通过将虚拟比特作为信息填入其他比特而生成地址，在检测到时复原地址，能够不改变摆动的地址结构，不增加填入摆动的地址的比特数，扩展表示物理位置的地址的比特数。与第1实施例不同，即使不将虚拟比特分配为层编号而是分配为各层的簇编号地址，也能够同样地进行生成、检测。此外，与图12相同，本实施例说明的从通过地址生成制成的光盘再现数据的再现装置和在光盘记录数据的记录装置中，通过使用图6说明的地址检测电路，能够检测出记录再现数据的位置。
图7是本发明的第3实施例的多层光盘的地址的关联图。与图1的不同在于，作为加扰的方法，不仅对低位2比特的PAA比特1-0施加，还对比特整体的PAA23-0施加。701为物理ADIP地址的实际的地址(以下称为PAA)，702为物理ADIP地址的摆动填入地址(以下称为PAAW)，703作为加扰电路与图1相同，只有比特分配不同，其他是相同的。作为地址的生成方法，作为加扰电路703的一例如图8所示。图8的情况下，对于与簇编号地址对应的PAA比特21-2的各比特，使用与PAA比特24的“异”门106，对其他比特保持其状态输入输出。因此，当PAA比特24为“0”的情况下，PAA比特21-2与现有相同，增量为0，1，2，3，4，5，……，FFFFFh，当PAA比特24为“1”的情况下，由于成为加扰处理后的值，减量为FFFFFh，FFFFEh，FFFFDh，……，0。
对于被填入摆动的地址PAAW的检测方法，使用图9的时序图和图10的检测电路图的一例进行说明。本实施例的情况下，作为虚拟比特的PAA比特24检查PAAW比特21-2的高位地址的连续性，进行复原。此外，作为加扰方法也是对高位20比特的PAA比特21-2用“异”门106进行了加扰，在高位连续性检测电路303进行有无加扰(在本示例中，为增量和减量的连续性的不同)的检测，进行虚拟比特PAA比特24的生成、PAA21-2的检测。层编号0～3的情况(901)下，由于对高位连续性检测电路303，PAAW比特21-2被输入为0，1，2，3，4，5，……，FFFFFh，PAA比特24输出为“0”，PAA比特21-2保持其状态输出PAAW比特21-2。另一方面，层编号4～7的情况(902)下，由于对高位连续性检测电路303，PAAW比特21-2被输入为FFFFFh，FFFFEh，FFFFDh，……，0，检测缩减量，PAA比特24输出为“1”，输出解扰处理后(在本示例中为“1”和PAAW比特21-2的“异”门)的值即0，1，2，3，4，5，……，FFFFFh。由此，作为高位连续性检测电路303的输出能够进行簇编号地址(PAA比特21-2)的生成、簇编号的检测。进而根据生成的PAA比特24和从摆动检测到的PAAW比特23-22，在层编号检测电路302，进行层编号地址(PAA比特24-22)的生成、层编号的检测。此外，根据从摆动检测到的PAAW比特1-0，在低位地址检测电路304，进行簇内计数值(PAA比特1-0)的检测。由此，将由各个检测电路302、303、304获得的地址输入PAA地址生成电路305，能够变换为PAA比特24-0的地址。
如上所述，通过将虚拟比特作为信息填入其他比特而生成地址，在检测到时复原地址，能够不改变摆动的地址结构，不增加填入摆动的地址的比特数，而扩展表示物理位置的地址的比特数。与第1实施例不同，作为填入虚拟比特的信息的位置，不只是地址的一部分，即使填入其整体，也能够同样地进行生成、检测。此外，与图12相同，在从通过本实施例说明的地址生成而制成的光盘再现数据的再现装置和在光盘记录数据的记录装置中，通过使用图10说明的地址检测电路，能够检测出记录再现数据的位置。
图11是本发明的第4实施例的光盘的地址的关联图。与图7的不同在于，与PSN比特31-27对应将PAA比特28-24的5比特作为虚拟比特使用，作为PAA103的结构将PAA比特28-2分配为簇编号，将PAA比特1-0分配为簇内计数值。1101为物理ADIP地址的实际的地址(以下称为PAA)，1102为物理ADIP地址的摆动填入地址(以下称为PAAW)，1103作为加扰电路，以上与图7相同，只有比特分配不同，其他都是相同的。作为加扰电路1103的加扰规则按照多种方式填入信息，通过检测出各个加扰规则(本实施例的情况下，由于追加了5比特的虚拟比特，相当于25＝32种)并进行切换，同样能够进行多比特的虚拟比特的生成、检测。
如上所述，通过将虚拟比特作为信息填入其他比特而生成地址，在检测到时复原地址，能够不改变摆动的地址结构，不增加填入摆动的地址的比特数，而扩展表示物理位置的地址的比特数。与第1～3实施例不同，作为虚拟比特不只扩展1比特而是扩展多比特的情况下也同样能够进行生成和检测。此外，第1～3实施例中，对于由层编号和簇编号构成的地址，在本实施例中使用仅由簇编号构成的地址进行说明，也同样能够进行生成、检测。此外，与图12相同，在从通过本实施例说明的地址生成而制成的光盘再现数据的再现装置和在光盘记录数据的记录装置中，同样能够检测出对数据进行记录再现的位置。
在到此为止的实施例中，作为信息的填入方法使用加扰，作为加扰电路使用一例(图1的105，图4的105，图7和图8的703)进行了说明，但是不限定于本电路，只要是使用基于有无加扰或加扰规则性的不同等而决定的比特操作能够进行信息的填入、信息的检测的电路和方法，同样能够应用。
此外，关于虚拟比特的比特数、配置虚拟比特的比特的位置、填入加扰信息等的信息的比特位置、地址的比特结构，也不限定于本实施例。但是，作为配置虚拟比特自身的位置，考虑到检测稳定性，地址变化的频度越少越好，填入加扰信息等的信息的比特位置考虑到检测时间，地址变换的频度越多越好。
此外，本实施例中作为记录的介质使用光盘，作为地址使用被填入摆动的地址进行说明，但不限定于本实施例，如果相对于生成的地址读入的地址的比特数减少地削减比特的方案能够适用，同样能够应用。进而，作为不将虚拟比特填入摆动的地址进行了说明，也可以将其填入与读入的地址的区域不同的区域，在地址检测时使用。

Claims (4)

1.一种具有多个记录层和记录多个簇结构的数据的区域的记录介质中的地址生成方法，其特征在于：
表示记录介质中的物理记录位置的物理地址，由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成，
将用于切换配置所述簇内计数值的比特的加扰处理的有无或规则性的虚拟比特作为所述簇编号地址的扩展比特使用，
通过使用所述虚拟比特而不改变填入所述记录介质的摆动的物理摆动地址的地址比特的数量，来扩展所述物理地址的比特数，
所述物理地址中，除了所述虚拟比特，将所述层编号地址、所述簇编号地址和实施了用于切换所述规则性的加扰处理后的簇内计数值作为物理摆动地址记录在记录介质的摆动中。
2.一种具有多个记录层和记录多个簇结构的数据的区域的记录介质中的地址检测方法，其特征在于：
表示记录介质中的物理记录位置的物理地址，由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成，
将用于切换配置所述簇内计数值的比特的加扰处理的有无或规则性的虚拟比特作为所述簇编号地址的扩展比特使用，
通过使用所述虚拟比特而不改变填入所述记录介质的摆动的物理摆动地址的地址比特的数量，来扩展所述物理地址的比特数，
所述物理地址中，除了所述虚拟比特，所述层编号地址、所述簇编号地址和实施了用于切换所述规则性的加扰处理后的簇内计数值被作为物理摆动地址记录在记录介质的摆动中，
根据记录在所述记录介质的配置所述簇内计数值的比特的加扰处理的有无或规则性的检测生成虚拟比特，
根据所述生成的虚拟比特和从所述记录介质检测到的簇编号地址检测出簇的数据位置，
根据从所述记录介质检测到的层编号地址检测出记录层的编号，
对于实施了加扰处理或规则性的切换处理而记录在所述记录介质的簇内计数值，基于解扰或规则性的不同来检测该簇内计数值。
3.一种再现方法，其再现具有多个记录层和记录多个簇结构的数据的区域的记录介质的数据，其特征在于：
表示记录介质中的物理记录位置的物理地址，由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成，
将用于切换配置所述簇内计数值的比特的加扰处理的有无或规则性的虚拟比特作为所述簇编号地址的扩展比特使用，
通过使用所述虚拟比特而不改变填入所述记录介质的摆动的物理摆动地址的地址比特的数量，来扩展所述物理地址的比特数，
所述物理地址中，除了所述虚拟比特，所述层编号地址、所述簇编号地址和实施了用于切换所述规则性的加扰处理后的簇内计数值被作为物理摆动地址记录在记录介质的摆动中，
根据记录在所述记录介质的配置所述簇内计数值的比特的加扰处理的有无或规则性的检测生成虚拟比特，
根据所述生成的虚拟比特和从所述记录介质检测到的簇编号地址检测出簇的数据位置，
根据从所述记录介质检测到的层编号地址检测出记录层的编号，
对于实施了加扰处理或规则性的切换处理而记录在所述记录介质的簇内计数值，基于解扰或规则性的不同来检测该簇内计数值，再现数据。
4.一种记录方法，其在具有多个记录层和记录多个簇结构的数据的区域的记录介质记录数据，其特征在于：
表示记录介质中的物理记录位置的物理地址，由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成，
将用于切换配置所述簇内计数值的比特的加扰处理的有无或规则性的虚拟比特作为所述簇编号地址的扩展比特使用，
通过使用所述虚拟比特而不改变填入所述记录介质的摆动的物理摆动地址的地址比特的数量，来扩展所述物理地址的比特数，
所述物理地址中，除了所述虚拟比特，所述层编号地址、所述簇编号地址和实施了用于切换所述规则性的加扰处理后的簇内计数值被作为物理摆动地址记录在记录介质的摆动中，
根据记录在所述记录介质的配置所述簇内计数值的比特的加扰处理的有无或规则性的检测生成虚拟比特，
根据所述生成的虚拟比特和从所述记录介质检测到的簇编号地址检测出簇的数据位置，
根据从所述记录介质检测到的层编号地址检测出记录层的编号，
对于实施了加扰处理或规则性的切换处理而记录在所述记录介质的簇内计数值，基于解扰或规则性的不同来检测该簇内计数值，记录数据。
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