CN101751304B - 电脑开机测试系统及方法 - Google Patents
电脑开机测试系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101751304B CN101751304B CN2008103063933A CN200810306393A CN101751304B CN 101751304 B CN101751304 B CN 101751304B CN 2008103063933 A CN2008103063933 A CN 2008103063933A CN 200810306393 A CN200810306393 A CN 200810306393A CN 101751304 B CN101751304 B CN 101751304B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- computer
- measured
- power supply
- test
- supply unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
一种电脑开机测试系统及方法，该方法包括如下步骤：设置待测电脑开机测试的参数；判断是否需要调整交流电压和环境温度，如果需要则进行相应调整；向待测电脑发送开机信号，并启动电源供应器开始给待测电脑供电；判断待测电脑开机是否成功，并保存开机成功或开机失败的信息；当每次测试结束后，向待测电脑发送关机信号，关闭待测电脑。利用本发明可以自动测试电脑在不同交流电压及环境温度下是否可以成功开机，提高了验证的可靠度及效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种电脑测试系统及方法，尤其是一种电脑开机测试系统及方法。
背景技术
目前，在电脑开机测试中，通常需要在不同电压和环境温度下对其进行测试，然而，传统测试方法不能同时在不同电压和不同环境温度下对电脑进行开机循环测试，即：在特定的电压和环境温度下完成开机测试后，只能通过人工方式调整电压和环境温度后再进行下一次的开机测试。此种测试方法需要耗费大量人力，且测试过程由于人为失误操作容易产生错误。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种电脑开机测试系统，其可自动测试电脑在不同交流电压及环境温度下是否可以成功开机。
鉴于以上内容，还有必要提供一种电脑开机测试方法，其可自动测试电脑在不同交流电压及环境温度下是否可以成功开机。
一种电脑开机测试系统，包括测试主机、电源供应器和恒温控制器，所述恒温控制器中放置有待测电脑，所述测试主机通过USB/GPIB接口转换器和数字I/O控制电路分别与电源供应器和待测电脑相连，所述测试主机包括：参数设置模块，用于设置待测电脑开机测试的参数，该开机测试的参数包括：不同交流电压值和环境温度值、每种交流电压值和环境温度值的测试次数、判断待测电脑开机是否成功的中止时间及控制电源供应器关闭的间隔时间；电压控制模块，用于判断是否需要调整交流电压，及当需要调整交流电压时，通过USB/GPIB接口转换器向电源供应器发送电压控制信号，控制电源供应器输出特定的交流电压；温度控制模块，用于判断是否需要调整环境温度，及当需要调整环境温度时，向恒温控制器发送温度控制信号，控制恒温控制器输出特定温度；测试控制模块，用于通过数字I/O控制电路向待测电脑发送开机信号，并启动电源供应器开始给待测电脑供电；所述测试控制模块，还用于在上述中止时间内判断是否监听到待测电脑返回的测试结果，以判断待测电脑开机是否成功；保存模块，用于当监听到待测电脑返回的测试结果时保存开机成功的信息，及未监听到待测电脑返回的测试结果时保存开机失败的信息；所述测试控制模块，还用于当每次测试结束后，通过数字I/O控制电路向待测电脑发送关机信号，关闭待测电脑，及当设定的间隔时间到达后，通过USB/GPIB接口转换器向电源供应器发送关闭电源信号，关闭电源供应器。
一种电脑开机测试方法，包括如下步骤：设置待测电脑开机测试的参数，该开机测试的参数包括：不同交流电压值和环境温度值、每种交流电压值和环境温度值的测试次数、判断待测电脑开机是否成功的中止时间及控制电源供应器关闭的间隔时间；如果需要调整交流电压，则通过USB/GPIB接口转换器向电源供应器发送电压控制信号，控制电源供应器输出特定的交流电压；如果需要调整环境温度，则向恒温控制器发送温度控制信号，控制恒温控制器输出特定温度；通过数字I/O控制电路向待测电脑发送开机信号，并启动电源供应器开始给待测电脑供电；在上述中止时间内判断是否监听到待测电脑返回的测试结果，以判断待测电脑开机是否成功，并保存开机成功或开机失败的信息；当每次测试结束后，通过数字I/O控制电路向待测电脑发送关机信号，关闭待测电脑，及当设定的间隔时间到达后，通过USB/GPIB接口转换器向电源供应器发送关闭电源信号，关闭电源供应器。
相较于现有技术，所述的电脑开机测试系统及方法，可以自动测试电脑在不同交流电压及环境温度下是否可以成功开机，避免了人工作业的错误发生，提高了验证的可靠度及效率。
附图说明
图1是本发明电脑开机测试系统较佳实施例的硬件架构图。
图2是图1中所示测试主机的功能模块图。
图3是本发明电脑开机测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
如图1所示，是本发明电脑开机测试系统较佳实施例的系统架构图。该系统主要包括测试主机10、电源供应器20、恒温控制器30、USB/GPIB接口转换器40、数字I/O控制电路50和至少一台待测电脑60(本实施例仅示出待测电脑1和待测电脑2)。该待测电脑60置于所述恒温控制器30中。测试主机10和电源供应器20通过USB/GPIB接口转换器40相连，具体而言，所述USB/GPIB接口转换器40的一端连接到测试主机10的USB接口(本实施例还可以采用其它串行接口，如RS-232和IEEE1394)，另一端连接到电源供应器20的通用接口总线(General-Purpose Interface Bus，GPIB)接口。测试主机10与恒温控制器30通过RS-232接口相连，待测电脑60通过网络集线器(LAN Hub)与测试主机10进行网络连接。该待测电脑60的ATX电源插座通过数字I/O控制电路50与测试主机的RS-232接口相连，所述待测电脑60通过电源线连接到电源供应器20的电源接口。
所述测试主机10用于控制电源供应器20和恒温控制器30输出特定的交流电压和温度，自动测试待测电脑60在该特定的交流电压及环境温度下是否可以成功开机。
如图2所示，是图1中所示测试主机10的功能模块图。所述测试主机10包括参数设置模块201、测试控制模块202、电压控制模块203、温度控制模块204及保存模块205。本发明所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段，比程序更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此在本发明以下对软件描述中都以模块描述。
其中，所述参数设置模块201用于设置待测电脑60开机测试的参数。所述开机测试的参数包括：不同交流电压值和环境温度值、每种交流电压值和环境温度值的测试次数、判断待测电脑60开机是否成功的中止时间及控制电源供应器20关闭的间隔时间等。所述控制电源供应器20关闭的间隔时间是指：从测试主机10向待测电脑60发送关机信号到测试主机10再向电源供应器20发送关闭信号的间隔时间。
所述测试控制模块202用于启动测试流程。
所述电压控制模块203用于判断是否需要调整交流电压，及当需要调整交流电压时，通过所述USB/GPIB接口转换器40向电源供应器20发送电压控制信号，控制电源供应器20输出特定的交流电压，从而改变待测电脑60的交流电压值。举例而言，如果设定需要测试的交流电压值依次为110V(伏特)和220V，其中，110V交流电压值的测试次数为10次，220V交流电压值的测试次数为20次，则当测试完10次110V的交流电压值后，需要将交流电压值调整为220V，再对待测电脑60连续测试20次。
所述温度控制模块204用于判断是否需要调整环境温度，及当需要调整环境温度时，通过RS-232接口(或其它串行接口)向恒温控制器30发送温度控制信号，控制恒温控制器30输出特定温度，从而改变待测电脑60的环境温度。举例而言，如果设定需要测试的环境温度依次为40℃(摄氏度)和60℃，其中，40℃环境温度的测试次数为10次，60℃环境温度的测试次数为20次，则当测试完10次40℃的环境温度后，需要将环境温度调整为60℃，再对待测电脑60连续测试20次。
所述测试控制模块202还用于通过数字I/O控制电路50向待测电脑60发送开机信号，同时，启动电源供应器20开始给待测电脑60供电，从而启动待测电脑60。当待测电脑60成功开机后，通过所述LAN Hub将测试结果(即待测电脑60开机成功的信息)传送给测试控制模块202。在本实施例中，所述待测电脑60开机成功是指待测电脑60成功进入操作系统。
所述测试控制模块202还用于每隔一定时间(该一定时间也可以通过参数设置模块201进行设定)，通过LAN Hub向待测电脑60发送监听信号(如心跳包)，以监听待测电脑60是否返回测试结果。如果测试控制模块202监听到待测电脑60返回的测试结果，则判定待测电脑60开机成功，如果在参数设置模块201设定的中止时间内，测试控制模块202没有监听到待测电脑60返回的测试结果，则判定待测电脑60开机失败。举例而言，若设定的判断待测电脑60开机是否成功的中止时间为60秒，则如果在测试开始后60秒内待测电脑60没有返回测试结果，测试控制模块202判定待测电脑60开机失败。
所述测试控制模块202还用于当每次测试结束后，通过数字I/O控制电路50向待测电脑60发送关机信号，从而关闭待测电脑60。同时，当控制电源供应器20关闭的间隔时间到达后，测试控制模块202通过USB/GPIB接口转换器40向电源供应器20发送关闭电源信号，从而使电源供应器20关闭，停止给待测电脑60供电。举例而言，如果设定的控制电源供应器20关闭的间隔时间为30秒，则当测试主机10向待测电脑60发送关机信号30秒后，测试主机10再向电源供应器20发送关闭信号。
所述测试控制模块202还用于当关闭待测电脑60后，判断测试是否结束。如果设定的每种交流电压值和环境温度值的测试次数都已测试完毕，则判断测试结束，如果还有某一交流电压值或环境温度值的测试次数没有达到，则测试控制模块202启动下一个测试流程。
所述保存模块205用于当测试控制模块202监听到待测电脑60返回的测试结果时保存开机成功的信息，及未监听到待测电脑60返回的测试结果时保存开机失败的信息。
如图3所示，是本发明电脑开机测试方法较佳实施例的流程图。首先，步骤S41，参数设置模块201设置待测电脑60开机测试的参数。所述开机测试的参数包括：不同交流电压值和环境温度值、每种交流电压值和环境温度值的测试次数、判断待测电脑60开机是否成功的中止时间及控制电源供应器20关闭的间隔时间等。所述控制电源供应器20关闭的间隔时间是指：从测试主机10向待测电脑60发送关机信号到测试主机10再向电源供应器20发送关闭信号的间隔时间。
步骤S42，测试控制模块202启动测试流程。
步骤S43，电压控制模块203判断是否需要调整交流电压值，如果需要调整，执行步骤S44，如果不需要调整，执行步骤S45。所述调整交流电压值是指：当设定的需要测试的交流电压值有两个以上时，在测试完某一交流电压值后，将交流电压切换到其它数值。
步骤S44，电压控制模块203通过所述USB/GPIB接口转换器40向电源供应器20发送电压控制信号，控制电源供应器20输出特定的交流电压，从而改变待测电脑60的交流电压值。
步骤S45，温度控制模块204判断是否需要调整环境温度，如果需要调整，执行步骤S46，如果不需要调整，执行步骤S47。所述调整环境温度是指：当设定的需要测试的环境温度有两个以上时，在测试完某一温度后，将环境温度切换到其它数值。
步骤S46，温度控制模块204通过RS-232接口(或其它串行接口)向恒温控制器30发送温度控制信号，控制恒温控制器30输出特定温度，从而改变待测电脑60的环境温度。
步骤S47，测试控制模块202通过数字I/O控制电路50向待测电脑60发送开机信号，同时，启动电源供应器20开始给待测电脑60供电，从而启动待测电脑60。当待测电脑60成功开机后，将通过所述LAN Hub将测试结果(即待测电脑60开机成功的信息)传送给测试控制模块202。
步骤S48，测试控制模块202判断待测电脑60开机是否成功。具体而言，测试控制模块202每隔一定时间，通过LAN Hub向待测电脑60发送监听信号(如心跳包)，以监听待测电脑60是否返回测试结果。如果测试控制模块202监听到待测电脑60返回的测试结果，则判定待测电脑60开机成功，然后执行步骤S49；如果在参数设置模块201设定的中止时间内，测试控制模块202没有监听到待测电脑60返回的测试结果，则判定待测电脑60开机失败，然后执行步骤S50。在本实施例中，所述待测电脑60开机成功是指待测电脑60成功进入操作系统。
步骤S49，保存模块205保存开机成功的信息。
步骤S50，保存模块205保存开机失败的信息。
步骤S51，测试控制模块202通过数字I/O控制电路50向待测电脑60发送关机信号，从而关闭待测电脑60。同时，当控制电源供应器20关闭的间隔时间到达后，测试控制模块202通过USB/GPIB接口转换器40向电源供应器20发送关闭电源信号，从而使电源供应器20关闭，停止给待测电脑60供电。
步骤S52，测试控制模块202判断测试是否结束。如果设定的每种交流电压值和环境温度值的测试次数都已测试完毕，则判断测试结束，如果还有某一交流电压值或环境温度值的测试次数没有达到，则流程转到步骤S42，测试控制模块202启动下一个测试流程。
本实施例中是针对交流电压进行测试的，本领域技术人员也可以将该方法应用到直流电压测试中。
最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种电脑开机测试系统，包括测试主机、电源供应器和恒温控制器，所述恒温控制器中放置有待测电脑，其特征在于，所述测试主机通过USB/GPIB接口转换器和数字I/O控制电路分别与电源供应器和待测电脑相连，所述测试主机包括：
参数设置模块，用于设置待测电脑开机测试的参数，该开机测试的参数包括：不同交流电压值和环境温度值、每种交流电压值和环境温度值的测试次数、判断待测电脑开机是否成功的中止时间及控制电源供应器关闭的间隔时间；
电压控制模块，用于判断是否需要调整交流电压，及当需要调整交流电压时，通过USB/GPIB接口转换器向电源供应器发送电压控制信号，控制电源供应器输出特定的交流电压；
温度控制模块，用于判断是否需要调整环境温度，及当需要调整环境温度时，向恒温控制器发送温度控制信号，控制恒温控制器输出特定温度；
测试控制模块，用于通过数字I/O控制电路向待测电脑发送开机信号，并启动电源供应器开始给待测电脑供电；
所述测试控制模块，还用于在上述中止时间内判断是否监听到待测电脑返回的测试结果，以判断待测电脑开机是否成功；
保存模块，用于当监听到待测电脑返回的测试结果时保存开机成功的信息，及未监听到待测电脑返回的测试结果时保存开机失败的信息；及
所述测试控制模块，还用于当每次测试结束后，通过数字I/O控制电路向待测电脑发送关机信号，关闭待测电脑，及当设定的间隔时间到达后，通过USB/GPIB接口转换器向电源供应器发送关闭电源信号，关闭电源供应器。
2.如权利要求1所述的电脑开机测试系统，其特征在于，所述控制电源供应器关闭的间隔时间是指：从测试主机向待测电脑发送关机信号到测试主机再向电源供应器发送关闭信号的间隔时间。
3.如权利要求1所述的电脑开机测试系统，其特征在于，待测电脑开机成功是指待测电脑成功进入操作系统。
4.如权利要求3所述的电脑开机测试系统，其特征在于，所述测试控制模块还用于启动测试流程。
5.如权利要求1所述的电脑开机测试系统，其特征在于，所述测试控制模块监听待测电脑返回的测试结果是指：通过网络向待测电脑发送心跳包，以监听待测电脑是否返回测试结果。
6.一种电脑开机测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
设置待测电脑开机测试的参数，该开机测试的参数包括：不同交流电压值和环境温度值、每种交流电压值和环境温度值的测试次数、判断待测电脑开机是否成功的中止时间及控制电源供应器关闭的间隔时间；
如果需要调整交流电压，则通过USB/GPIB接口转换器向电源供应器发送电压控制信号，控制电源供应器输出特定的交流电压；
如果需要调整环境温度，则向恒温控制器发送温度控制信号，控制恒温控制器输出特定温度；
通过数字I/O控制电路向待测电脑发送开机信号，并启动电源供应器开始给待测电脑供电；
在上述中止时间内判断是否监听到待测电脑返回的测试结果，以判断待测电脑开机是否成功，并保存开机成功或开机失败的信息；及
当每次测试结束后，通过数字I/O控制电路向待测电脑发送关机信号，关闭待测电脑，及当设定的间隔时间到达后，通过USB/GPIB接口转换器向电源供应器发送关闭电源信号，关闭电源供应器。
7.如权利要求6所述的电脑开机测试方法，其特征在于，所述控制电源供应器关闭的间隔时间是指：从测试主机向待测电脑发送关机信号到测试主机再向电源供应器发送关闭信号的间隔时间。
8.如权利要求6所述的电脑开机测试方法，其特征在于，待测电脑开机成功是指待测电脑成功进入操作系统。
9.如权利要求8所述的电脑开机测试方法，其特征在于，所述方法还包括启动测试流程的步骤。
10.如权利要求6所述的电脑开机测试方法，其特征在于，监听待测电脑返回的测试结果是指：通过网络向待测电脑发送心跳包，以监听待测电脑是否返回测试结果。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2008103063933A CN101751304B (zh) | 2008-12-19 | 2008-12-19 | 电脑开机测试系统及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2008103063933A CN101751304B (zh) | 2008-12-19 | 2008-12-19 | 电脑开机测试系统及方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101751304A CN101751304A (zh) | 2010-06-23 |
| CN101751304B true CN101751304B (zh) | 2012-06-13 |
Family
ID=42478316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2008103063933A Active CN101751304B (zh) | 2008-12-19 | 2008-12-19 | 电脑开机测试系统及方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN101751304B (zh) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103176071B (zh) * | 2011-12-26 | 2016-06-29 | 比亚迪股份有限公司 | 一种测试电子产品关机温度的系统和方法 |
| CN104422898A (zh) * | 2013-09-03 | 2015-03-18 | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 | 自动测试装置及其测试方法 |
| CN105260276A (zh) * | 2015-10-27 | 2016-01-20 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种针对服务器施加多应力的可靠性测试方法 |
| CN107632219B (zh) * | 2017-10-11 | 2019-12-27 | 四川九州电子科技股份有限公司 | 一种自动开关机测试系统及其测试方法 |
| CN107843839A (zh) * | 2017-10-31 | 2018-03-27 | 深圳市路畅科技股份有限公司 | 基于电压的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质 |
| CN109992521A (zh) * | 2019-04-19 | 2019-07-09 | 北京金山云网络技术有限公司 | 一种测试结果通知方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN115729754A (zh) * | 2021-09-01 | 2023-03-03 | 龙芯中科(成都)技术有限公司 | 一种设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1712999A2 (en) * | 2005-04-15 | 2006-10-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for testing a computer system |
| CN1904849A (zh) * | 2005-07-29 | 2007-01-31 | 英业达股份有限公司 | 测试系统以及方法 |
| CN101206600A (zh) * | 2006-12-22 | 2008-06-25 | 华硕电脑股份有限公司 | 测试装置与计算机系统开关机测试方法 |
-
2008
- 2008-12-19 CN CN2008103063933A patent/CN101751304B/zh active Active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1712999A2 (en) * | 2005-04-15 | 2006-10-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for testing a computer system |
| CN1904849A (zh) * | 2005-07-29 | 2007-01-31 | 英业达股份有限公司 | 测试系统以及方法 |
| CN101206600A (zh) * | 2006-12-22 | 2008-06-25 | 华硕电脑股份有限公司 | 测试装置与计算机系统开关机测试方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN101751304A (zh) | 2010-06-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101751304B (zh) | 电脑开机测试系统及方法 | |
| CN108180599B (zh) | 调试方法和调试装置及计算机可读存储介质 | |
| CN101882085A (zh) | 系统启动方法以及嵌入式设备 | |
| CN106155885A (zh) | 一种全自动测试系统及测试方法 | |
| CN110762769A (zh) | 机组调试方法、装置、调试设备、介质及空调系统 | |
| CN109857000B (zh) | 一种自动开机控制方法、装置及遥控器 | |
| CN107576518A (zh) | 一种风机测试方法、装置及系统 | |
| CN115022163B (zh) | 日志收集方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
| CN104699215A (zh) | 电源保护系统及方法 | |
| CN113590401B (zh) | Cpe设备多功能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
| CN107870840B (zh) | 基于ipmi的服务器多个测试指令自动执行方法 | |
| CN114584498B (zh) | 网关设备上下电测试方法、装置、设备、系统及产品 | |
| CN102654845B (zh) | 电源测试系统及方法 | |
| CN111414306A (zh) | 测试报告的批量化生成发送方法、装置和计算机设备 | |
| CN116185737A (zh) | 基于笔记本的dc异常掉电测试方法、装置和计算机设备 | |
| CN110658478A (zh) | 基于电源平衡信号稳定性的测试方法、装置及存储介质 | |
| CN115729756A (zh) | 陪测硬盘、基于陪测硬盘陪测服务器的方法及系统 | |
| CN114911656A (zh) | 一种ipmi指令的自动化测试方法、单片机及相关装置 | |
| CN111752782B (zh) | 稳定性测试方法、系统、装置及存储介质 | |
| CN211148837U (zh) | 一种空调外机测试装置 | |
| CN107179911A (zh) | 一种重启管理引擎的方法和设备 | |
| US10677841B2 (en) | Composite product testing system and testing method | |
| CN110795293B (zh) | 一种服务器软关机的测试方法、系统及装置 | |
| CN114095409A (zh) | 终端设备故障的远程检测方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN113746693A (zh) | 一种白盒交换机老化测试定时上下电控制装置和方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: BEIJING ZHONGCAI WYSE EDUCATION TECHNOLOGY CO., LT Free format text: FORMER OWNER: HONGFUJIN PRECISE INDUSTRY (SHENZHEN) CO., LTD. Effective date: 20141211 Free format text: FORMER OWNER: HONGFUJIN PRECISE INDUSTRY CO., LTD. Effective date: 20141211 Owner name: JIANGSU DAHAI INTELLIGENT SYSTEM CO., LTD. Free format text: FORMER OWNER: BEIJING ZHONGCAI WYSE EDUCATION TECHNOLOGY CO., LTD. Effective date: 20141211 |
|
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| COR | Change of bibliographic data |
Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 100083 HAIDIAN, BEIJING TO: 226351 NANTONG, JIANGSU PROVINCE Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 518109 SHENZHEN, GUANGDONG PROVINCE TO: 100083 HAIDIAN, BEIJING |
|
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20141211 Address after: 226351, No. 999, Century Avenue, 6, Jiangsu, Nantong Province, Tongzhou District Patentee after: JIANGSU DAHAI INTELLIGENT SYSTEM Co.,Ltd. Address before: 100083 Beijing City, Haidian District Zhongguancun Road No. 18 smartfortune International Building B706 Patentee before: Beijing Zhongcai Wyse Education Technology Co.,Ltd. Effective date of registration: 20141211 Address after: 100083 Beijing City, Haidian District Zhongguancun Road No. 18 smartfortune International Building B706 Patentee after: Beijing Zhongcai Wyse Education Technology Co.,Ltd. Address before: 518109 Guangdong city of Shenzhen province Baoan District Longhua Town Industrial Zone tabulaeformis tenth East Ring Road No. 2 two Patentee before: HONG FU JIN PRECISION INDUSTRY (SHENZHEN) Co.,Ltd. Patentee before: HON HAI PRECISION INDUSTRY Co.,Ltd. |