CN101741578A - 用于测试监控单元的测试方法及其服务器与测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于测试监控单元的测试方法及其服务器与测试系统，适用于在具有监控单元与至少一个门槛传感器的服务器中自动地测试此监控单元与此门槛传感器。此测试方法包括搜寻该服务器中的该门槛传感器；从门槛传感器中读取目前所传感的读值；依据所读取的读值来更改对应此门槛传感器的至少一传感功能的门槛值；判断此监控单元是否驱动对应事件并且更新门槛传感器的对应状态；以及将此判断的结果储存成一测试报告文件。基此，可自动地完成门槛传感器与监控单元的测试以提升测试的效率。
Description
技术领域
本发明是有关于一种测试方法及其服务器与测试系统，且特别是有关于一种用于测试监控单元及其传感器是否可正常地运作的测试方法及其服务器与测试系统。
背景技术
随着计算机技术的快速普及，人们对服务器系统的要求也越来越高。顺应市场的需求，业界的一些厂商推出了智能平台管理接口(Intelligent PlatformManagement Interface，IPMI)。IPMI是使硬件管理具备智能化的新一代通用接口标准，用户可以利用IPMI监视服务器的物理健康特征，如温度、电压、电扇工作状态、电源供应以及机箱入侵等，为系统管理、恢复以及资产管理提供信息。
在IPMI管理平台中，基板管理控制器(Baseboard Management Controller，BMC)是其核心控制器。系统管理软件对各个被管理器件的管理，都是通过BMC通信实现的。BMC可以用来提供控制系统的管理软件和平台管理硬件之间的接口，提供自主监视、事件记录和恢复控制功能，并可作为系统管理软件与智能平台管理总线(Intelligent Platform Management Bus，IPMB)以及智能机箱管理总线(Intelligent Chassis Management Bus，ICMB)接口间的网关使用。BMC自备电源，并自动监控系统健康状况。
传统上，当制造商在生产具有上述IPMI的服务器之后都会对其中所配置的门槛传感器(Threshold Sensor)进行传感功能的测试。例如，检测员会依据本身的判断来设定传感功能的门槛值并且判断BMC是否有触发对应的事件并且更改门槛传感器目前所处的状态。然而，上述以人工方式更改门槛值并进行测试是非常费时费力，并且在测试的过程中可能因为人为的操作错误而造成误判。因此，有其需要发展一套有效率且精确的测试方法。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种测试方法，其能够自动地测试一服务器中所配置的监控单元与门槛传感器。
本发明提供一种服务器，其能执行上述测试方法以自动地测试本身所配置的监控单元与门槛传感器。
本发明提供一种测试系统，其能执行上述测试方法以自动地测试一服务器所配置的监控单元与门槛传感器。
本发明提出一种测试方法，适用于在具有监控单元与至少一个门槛传感器的服务器中自动地测试此监控单元与此门槛传感器。此测试方法包括(a)搜寻此服务器中的门槛传感器；(b)从门槛传感器中读取目前所传感的读值；(c)依据所读取的读值来更改对应此门槛传感器的至少一传感功能的门槛值；(d)判断此监控单元是否驱动对应事件并且更新门槛传感器的对应状态；以及(e)将此判断的结果储存成一测试报告文件。
在本发明的一实施例中，上述的监控单元符合智能平台管理接口(IntelligentPlatform Management Bus，IPMB)标准并且包括基板管理控制器(BaseboardManagement Controller，BMC)、传感器数据记录(Sensor Data Record，SDR)与系统事件日志(System Event Log，SEL)，并且步骤(d)包括确认此基板管理控制器是否在此传感器数据记录中更新上述对应状态以及确认此基板管理控制器是否在此系统事件日志中记录上述对应事件。
在本发明的一实施例中，上述的步骤(d)还包括确认在此传感器数据记录中所更新的对应状态是否为反映此门槛传感器的读值通过此传感功能的门槛值的状态以及确认在此系统事件日志中所记录的对应事件是否为反映此门槛传感器的读值通过此传感功能的门槛值的事件。
本发明提出一种服务器，其包括中央处理单元、监控单元、至少一个门槛传感器与储存单元。监控单元是电性连接至中央处理单元，门槛传感器是电性连接至监控单元并且储存单元是电性连接至中央处理单元，其中储存单元储存一测试程序且此测试程序可由中央处理单元执行以在此服务器上实施上述测试方法。
本发明亦提出一种测试系统，其包括具有监控单元与至少一个门槛传感器的服务器以及透过一网络与此服务器连接的远程装置。此远程装置具有中央处理单元以及电性连接至此中央处理单元的储存单元，其中储存单元储存一测试程序且此测试程序可由中央处理单元执行以对此服务器实施上述测试方法。
本发明因采用自动地依据目前门槛传感器的读值来更改传感功能中驱动对应事件的门槛值，因此可有效地提升测试监控单元与门槛传感器的效率。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。
附图说明
图1根据本发明实施例绘示服务器的方块图。
图2是根据本发明实施例绘示针对第一门槛传感器的传感运作示意图。
图3是根据本发明实施例绘示测试方法的流程图
图4是根据本发明另一实施例绘示测试系统的方块图。
具体实施方式
图1根据本发明实施例绘示服务器的方块图。
请参照图1，服务器100包括中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)102、储存单元104、监控单元110、第一门槛传感器122与第二门槛传感器124。
中央处理单元102是用以解释与在服务器100上所执行指令以控制服务器100的整体运作。
储存单元104是电性连接至中央处理单元102，并且是用以储存数据。特别是，储存单元104储存根据本发明实施例的测试程序104a，其可由中央处理单元102来执行以完成多个测试步骤(如图3所示)。在本实施例中储存单元104为使用磁性原理的传统硬盘。然而，本发明不限于此，在本发明其它实施例中储存单元104可以是任何非易失性的储存媒体，例如固态硬盘(Solid State Disk，SSD)、光盘等。
监控单元110、第一门槛传感器122与第二门槛传感器124是一起协同运作以对服务器100进行监控。具体来说，配置在服务器110的特定位置的第一门槛传感器122与第二门槛传感器124会传感所处环境的相关传感参数，例如温度、电压、电流或散热风扇转速等。在本实施例中，第一门槛传感器122是用以传感中央处理单元102的温度并且第二门槛传感器124是用以传感服务器100的散热风扇(未绘示)的转速。同时，监控单元110会收集第一门槛传感器122与第二门槛传感器124所传感的读值并且监控此些读值以适时地发出警告信号给系统管理员或者执行相对应的适应机制。
在本实施例中，监控单元110是兼容于智能平台管理接口(Intelligent PlatformManagement Bus，IPMB)标准，因此监控单元110包括基板管理控制器(BaseboardManagement Controller，BMC)112、传感器数据记录(Sensor Data Record，SDR)114与系统事件日志(System Event Log，SEL)116。值得一提的是，本实施例是以符合IPMB架构的监控单元110来进行说明，然而本发明不限于此，在本发明亦可应用于其它架构的监控单元。
在监控单元110中基板管理控制器112是用以控制各式监控工作，例如基板管理控制器112可用以设定触发监控事件的门槛值、收集第一门槛传感器122与第二门槛传感器124所传感的读值、记录所收集的读值、记录第一门槛传感器122与第二门槛传感器124的状态等。
在本实施例中，基板管理控制器112可分别地对第一门槛传感器122与第二门槛传感器124设定多个传感功能的门槛值，并且依据所收集到的读值来驱动对应事件与记录第一门槛传感器122与第二门槛传感器124的状态。
图2是根据本发明实施例绘示针对第一门槛传感器122的传感运作示意图。
请参照图2，基板管理控制器112可针对用以传感中央处理单元102的温度的第一门槛传感器122设定上限非关键(Upper non-critical)传感门槛值、上限关键(Upper critical)传感门槛值、上限非可复原(Upper non-recoverable)传感门槛值、下限非关键(Lower non-critical)传感门槛值、下限关键(Lower critical)传感门槛值与下限非可复原(Lower non-recoverable)传感门槛值。
例如，如图2所示的范例中，对于第一门槛传感器122来说，上限非关键传感门槛值是设定为40度、上限关键传感门槛值是设定为50度、上限非可复原传感门槛值是设定为60度、下限非关键传感门槛值是设定为20、下限关键传感门槛值是设定为10度与下限非可复原传感门槛值是设定为0度。假设服务器100正常运作时第一门槛传感器122所传感到中央处理单元102之温度的读值是介于正常范围值(例如，20度至40度之间)的30度(即，标号A的位置)。倘若在服务器100运作期间，第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值升高达40度时(即，标号B的位置)，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的一上限非关键事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于大于上限非关键传感门槛值的状态。之后，倘若第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值到升高超过50度时(即，标号C的位置)，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的一上限关键事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于大于上限非关键传感门槛值且大于上限关键传感门槛值的状态。接着，倘若第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值升高超过60度时(即，标号D的位置)，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的一上限非可复原事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于一大于上限非关键传感门槛值、大于上限关键传感门槛值并且大于上限非可复原传感门槛值的状态。
类似地，之后，倘若第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值降到59度时，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的上限非可复原事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于小于上限非可复原传感门槛值并且大于上限关键传感门槛值且大于上限非关键传感门槛值的状态。接着，倘若第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值降到49度时，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的上限关键事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于小于上限关键传感门槛值且大于上限非关键传感门槛值的状态。
同样地，倘若在服务器100运作期间，第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值降到20度之下时，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的一下限非关键事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于小于下限非关键传感门槛值状态。之后，倘若第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值更降到10度之下时，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的一下限关键事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于小于下限非关键传感门槛值且小于下限关键传感门槛值的状态。接着，倘若第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值更降到0度之下时，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的一下限非可复原事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于小于下限非关键传感门槛值、小于下限关键传感门槛值且小于下限非可复原传感门槛值的状态。
类似地，之后，倘若第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值升达1度时，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的下限非可复原事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于大于下限非可复原状态传感门槛值、小于下限非关键传感门槛值与小于下限关键传感门槛值的状态。接着，倘若第一门槛传感器122传感到中央处理单元102的温度的读值升达到11度时，基板管理控制器112会驱动关于第一门槛传感器122的下限关键事件并且记录第一门槛传感器122目前是处于大于下限关键传感门槛值且小于下限关键传感门槛值的状态。
针对第二门槛传感器124所进行的传感功能的门槛值的设定以及事件响应方式是相同于针对第一门槛传感器122所进行的操作，在此不再赘述。值得一提的是，上述传感功能并不一定要全部开启，也就是说，使用者可依据需求开启部分的传感功能，并且基板管理控制器112仅会对所开启的传感功能进行对应事件的驱动以及状态的记录。例如，针对第一门槛传感器122仅开启上限非关键传感，并且基板管理控制器112仅会在所接收到的温度在上限非关键传感的门槛值上下变动时才会驱动相对应的事件与记录第一门槛传感器122的状态。
传感器数据记录114是用以记录上述第一门槛传感器122与第二门槛传感器124所处的状态，例如大/小于上限非关键传感门槛值的状态、大/小于上限关键传感门槛值的状态、大/小于上限非可复原传感门槛值的状态、大/小于下限非关键传感门槛值的状态或大/小于下限关键传感门槛值的状态等。另外，系统事件日志116是用以储存基板管理控制器112所驱动的相对应事件，例如上限非关键事件、上限关键事件、上限非可复原事件、下限非关键事件或下限关键事件等事件。在本实施例中，传感器数据记录114与系统事件日志116是一非易失性内存。
从上述可知，第一门槛传感器122与第二门槛传感器124的传感以及基板管理控制器112的相对应运作是监控单元110是否正常地运作的关键。以下将配合图式详细说明本发明实施例自动地测试第一门槛传感器122、第二门槛传感器124与基板管理控制器112的程序。
图3是根据本发明实施例绘示测试方法的流程图，其中此些测试步骤是经由程序语言撰写成测试程序并且储存在储存单元104中。此外，此测试程序是由中央处理单元102加载后执行以完成对第一门槛传感器122、第二门槛传感器124与基板管理控制器112的测试。以下将以针对第一门槛传感器122的上限非关键传感为例来说明图3中的步骤。
请参照图3，在步骤S301中会搜寻服务器100内所有的门槛传感器。接着，在步骤S303中会判断是否所有门槛传感器都已测试完毕，倘若所有门槛传感器皆已测试完毕则会结束图3的流程。
倘若尚有未测试的门槛传感器(例如，第一传感器122)时，则在步骤S305中会从欲测试的门槛传感器中读取目前的读值。例如，第一门槛传感器122所传感的读值可通过使用IPMI指令来读取。
接着，在步骤S307中会依据所读取的读值来更改欲测试的传感功能的门槛值，例如，依据第一门槛传感器122的目前读值来设定对应第一门槛传感器122的上限非关键传感的门槛值。然后，在步骤S309中会判断监控单元110是否驱动对应事件并且更新所测试的门槛传感器(例如，第一门槛传感器112)的对应状态。
例如，本实施例要确认当第一门槛传感器122的读值通过上限非关键传感的门槛值时监控单元110是否会正常地触发对应的事件。因此在本实施例中是所提出的方法是将上限非关键传感的门槛值设定为可导致由第一门槛传感器122的目前读值所通过的值而尝试使基板管理控制器112触发上限非关键事件。例如，在本实施例中会参考目前读值并将属于上限门槛值的上限非关键传感的门槛值设定为可设定的最小值。在此，上限门槛值是指高于此门槛传感器预设的正常范围的门槛值。例如，在本实施例中，假设第一门槛传感器122的读值为30度并且上限非关键传感的门槛值的设定范围为0度至100度时，由于可设定最小值为0度并且0度是低于目前读值的30度，因此在步骤S307中会将第一门槛传感器122的上限非关键传感的门槛值更改为0度。在此，设定或更改上限非关键传感的门槛值可通过使用IPMI指令来完成。接着，在步骤S309就可通过确认基板管理控制器112的对应运作来判断监控单元110是否正常地运作。
值得一提的是，在本发明另一实施例中倘若欲测试的传感功能的传感值是属于下限传感值时，则会参考目前读值并将属于下限门槛值的门槛值设定为可设定的最大值。在此，下限门槛值是指低于此门槛传感器预设的正常范围的门槛值。
例如，根据本发明一实施例，在步骤S309中会确认基板管理控制器112是否在传感器数据记录114中更新第一门槛传感器122的状态(步骤S309-1)，并且确认基板管理控制器112是否在系统事件日志114中记录关于第一门槛传感器122的对应事件(步骤S309-2)，由此确认基板管理控制器112是否正常地根据步骤S307中的变更而驱动一事件。
此外，根据本发明一实施例在步骤S309中还会确认在传感器数据记录114中所更新的状态是否为反映第一门槛传感器122的读值通过传感功能(即，上限非关键传感)的门槛值的状态(步骤S309-3)，并且确认在系统事件日志116中所记录的对应事件是否为反映第一门槛传感器112的读值通过传感功能(即，上限非关键传感)的门槛值的事件(步骤S309-4)，由此确认基板管理控制器112是否正确地更改门槛传感器的状态以及记录所发生的事件。
具体来说，在步骤S309-1与S309-2中会透过IPMI指令读取传感器数据记录114与系统事件日志116中的记录来确认基板管理控制器112是否有驱动对应的事件，并且在步骤S309-3与S309-4中会通过比对所读取的数据与预期应产生的结果是否相符来确认基板管理控制器112是否正确地反映所发生的事件。
在步骤S311中会将比对的结果输出至测试报告文件中，并且执行步骤S303。例如，此测试报告文件会储存在储存单元104中，以方便系统管理者检视测试结果。然后，在步骤S313中会判断第一门槛传感器112是否仍有待测的传感功能未进行测试。倘若第一门槛传感器112仍有待测的传感功能未进行测试时，流程会执行步骤S305并且倘若第一门槛传感器112的所有传感功能都已测试时，流程会执行步骤S303。
此外，在进行步骤307之前，图3所示的流程可还包括比对门槛传感器(例如，第一门槛传感器122)的传感功能的门测值的目前设定是否与IPMI标准的规格书所规范的值相同。
值得一提的是，在本实施例中是由服务器100来执行本身的测试程序。然而，在本发明另一实施例中亦可由一远程装置透过网络来对服务器100执行图3所示的测试步骤。
图4是根据本发明另一实施例绘示测试系统的方块图。
请参照图4，测试系统400包括远程装置402、网络404与服务器406。
远程装置402包括中央处理单元402-1与储存单元402-2。储存单元402-2是电性连接至中央处理单元102并且储存根据本发明实施例的测试程序，其可由中央处理单元402来执行以完成图3所示的测试步骤。在本实施例中储存单元402-2为使用磁性原理的传统硬盘。在本实施例中，远程装置402为一远程服务器。
网络404是用以连接远程装置402与服务器406。在本实施例中，网络404是使用传输控制/网际网络协议(Transmission Control Protocol/Internet Protocol，TCP/IP)的网络。然而，必须了解的是本发明不限于此，本发明亦可应用于使用其它传输协议的网络中。
图4所示的服务器406的结构是相同于图1所示的服务器100，其不同之处在于服务器406未储存可由中央处理器执行以完成图3所示测试步骤的测试程序104a。也就是说，在图4所示的实施例中是由远程装置402来执行测试程序104a以对服务器406中的监控单元406-1与门槛传感器406-2进行测试。在此，监控单元406-1是相同于图1的监控单元110且门槛传感器406-2是相同于图1的第一门槛传感器122，在此不再重复描述。
综上所述，本发明是自动地透过指令读取门槛传感器的读值并且依据所读取的读值来更改监控单元中触发传感事件的门槛值，并且通过确认监控单元是否有正确地执行对应的动作来判断监控单元是否正常地运作。此外，本发明是自动地过搜寻所有门槛传感器并且找出所有可设定的门槛值并逐一进行测试，由此可提升测试的效率并且减少测试错误的发生。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当以权利要求所界定的为准。
Claims (10)
1.一种测试方法，适用于在具有一监控单元与至少一个门槛传感器的一服务器中测试该监控单元与该门槛传感器，该测试方法包括：
(a)搜寻该服务器中的该门槛传感器；
(b)从该门槛传感器中读取一目前读值；
(c)依据该目前读值更改对应该门槛传感器的至少一传感功能的门槛值；
(d)判断该监控单元是否驱动一对应事件并且更新该门槛传感器的一对应状态；以及
(e)将该判断的结果储存成一测试报告文件。
2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该传感功能的门槛值为一上限门槛值，并且更改对应该门槛传感器的该传感功能的门槛值的步骤包括：
设定该传感功能的门槛值为一可设定最小值。
3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该传感功能的门槛值为一下限门槛值，并且更改对应该门槛传感器的该传感功能的门槛值的步骤包括：
设定该传感功能的门槛值为一可设定最大值。
4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该监控单元符合一智能平台管理接口标准并且包括一基板管理控制器、一传感器数据记录与一系统事件日志，并且步骤(d)包括：
确认该基板管理控制器是否在该传感器数据记录中更新该对应状态；以及
确认该基板管理控制器是否在该系统事件日志中记录该对应事件。
5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，步骤(d)还包括：
确认在该传感器数据记录中所更新的该对应状态是否为反映该门槛传感器的读值通过该传感功能的门槛值的一状态；以及
确认在该系统事件日志中所记录的该对应事件是否为反映该门槛传感器的读值通过该传感功能的门槛值的一事件。
6.一种服务器，包括：
一中央处理单元；
一监控单元，电性连接至该中央处理单元；
至少一个门槛传感器，电性连接至该监控单元；
一储存单元，电性连接至该中央处理单元并且具有储存一测试程序，其中该测试程序可由该中央处理单元执行以完成多个测试步骤，该些测试步骤包括：
(a)搜寻该服务器中的该门槛传感器；
(b)从该门槛传感器中读取一目前读值；
(c)依据该目前读值更改对应该门槛传感器的至少一传感功能的门槛值；
(d)判断该监控单元是否驱动一对应事件并且更新该门槛传感器的一对应状态；以及
(e)将该判断的结果储存成一测试报告文件。
7.如权利要求6所述的服务器，其特征在于，该监控单元符合一智能平台管理接口标准并且包括一基板管理控制器、一传感器数据记录与一系统事件日志，并且步骤(d)包括：
确认该基板管理控制器是否在该传感器数据记录中更新该对应状态；以及
确认该基板管理控制器是否在该系统事件日志中记录该对应事件。
8.如权利要求7所述的服务器，其特征在于，步骤(d)还包括：
确认在该传感器数据记录中所更新的对应状态是否为反映该门槛传感器的读值通过该传感功能的门槛值的一状态；以及
确认在该系统事件日志中所记录的对应事件是否为反映该门槛传感器的读值通过该传感功能的门槛值的一事件。
9.一种测试系统，包括：
一服务器，包括一监控单元与至少一个门槛传感器；
一网络；
一远程装置，透过该网络连接至该服务器并且包括：
一中央处理单元；
一储存单元，电性连接至该中央处理单元并且具有储存一测试程序，其中该测试程序可由该中央处理单元执行以完成多个测试步骤，该些测试步骤包括：
(a)搜寻该服务器中的该门槛传感器；
(b)从该门槛传感器中读取一目前读值；
(c)依据该目前读值更改对应该门槛传感器的至少一传感功能的门槛值；
(d)判断该监控单元是否驱动一对应事件并且更新该门槛传感器的一对应状态；以及
(e)将该判断的结果储存成一测试报告文件。
10.如权利要求9所述的测试系统，其特征在于，该监控单元符合一智能平台管理接口标准并且包括一基板管理控制器、一传感器数据记录与一系统事件日志，并且步骤(d)包括：
确认该基板管理控制器是否在该传感器数据记录中更新该对应状态；
确认该基板管理控制器是否在该系统事件日志中记录该对应事件；
确认在该传感器数据记录中所更新的对应状态是否为反映该门槛传感器的读值通过该传感功能的门槛值的一状态；以及
确认在该系统事件日志中所记录的对应事件是否为反映该门槛传感器的读值通过该传感功能的门槛值的一事件。
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