CN101738451A - 寿命测试系统及方法 - Google Patents

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Abstract

一种寿命测试系统包括第一、第二探测装置、处理器、运动模块及存储模块，两探测装置、运动模块及存储模块均与处理器相连，所述运动模块上设置有第一、第二感应物，所述处理器用于控制运动模块的运动及计算两探测装置分别感应到两感应物的次数，所述存储模块用于存储两探测装置分别感应到两感应物的次数，当所述第一探测装置感应到所述第一感应物的次数不等于所述第二探测装置感应到所述第二感应物的次数时，所述第一探测装置寿命不合格。所述寿命测试系统可以精确的测量所述第一探测装置的寿命。本发明还提供了一种利用上述寿命测试系统进行寿命测试的方法。

Description

寿命测试系统及方法
技术领域
本发明涉及一种寿命测试系统及方法，特别涉及一种探测装置的寿命测试系统及方法。
背景技术
金属探测装置一般用于进行金属异物检测，其应用十分广泛。但是，目前的市场上还未发现有对所述金属探测装置的寿命进行检测的寿命测试装置。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种寿命测试系统及方法，可方便、精确的检测所述探测器的寿命。
一种寿命测试系统，用于测试一第一探测装置的寿命，所述寿命测试系统包括一第二探测装置、一处理器、一运动模块及一存储模块，所述第一、第二探测装置、运动模块及存储模块均与所述处理器相连，所述运动模块上设置有一第一感应物及一第二感应物，所述处理器用于控制所述运动模块的运动及计算所述第一及第二探测装置分别感应到所述第一感应物及第二感应物的次数，所述存储模块用于存储所述第一及第二探测装置分别感应到所述第一感应物及第二感应物的次数，当所述第一探测装置感应到所述第一感应物的次数不等于所述第二探测装置感应到所述第二感应物的次数时，所述第一探测装置寿命不合格。
一种寿命测试方法，包括以下步骤：
所述处理器控制所述运动模块开始运动；
当所述第一探测装置每次感应到所述第一感应物时发送一第一信号给所述处理器；
所述处理器计算接收到的第一信号的次数，并将其存储于所述存储模块；
当所述第二探测装置每次感应到所述第二感应物时发送一第二信号给所述处理器；
所述处理器计算接收到的第二信号的次数，并将其存储于所述存储模块；
当所述处理器所接收到的第一信号的次数不等于所接收到的第二信号的次数时，表示所述第一探测装置的寿命不合格。
上述寿命测试系统及方法通过比较测试过程中由所述第一探测装置所探测到所述第一感应物的次数与由所述第二探测装置所探测到的所述第二感应物的次数进行比较，当两者相等时即表明所述第一探测装置在整个测试过程中能正常工作，即可得知所述第一探测装置的寿命。
附图说明
图1为本发明寿命测试系统的较佳实施方式的示意图。
图2为本发明寿命测试系统的较佳实施方式的方框图。
图3为图1中寿命测试系统的电路图。
具体实施方式
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述。
请参考图1及图2，本发明寿命测试系统的较佳实施方式用于测试一金属探测装置10的寿命，所述寿命测试系统包括一处理器1、一光电探测器2、一显示模块3、一运动模块4、一存储模块5及一控制模块6。所述运动模块4包括一转盘41及一电动机42，所述转盘41的侧壁上设置有至少一个第一感应物，本实施方式中所述转盘41的侧壁上设置的第一感应物为四个金属块410，所述转盘41上对应每一第一感应物分别设置一第二感应物，第二感应物在本实施方式中为贯通的圆孔412，其中所述每一金属块410及其对应的圆孔412的连线与所述转盘41的中心在同一直线上。所述金属探测装置10、光电探测器2、显示模块3、运动模块4、存储模块5以及控制模块6均与所述处理器1相连。所述金属探测装置10与所述转盘41设置于同一水平面上，以使得所述金属探测装置10能感应到位于所述转盘41侧壁上的金属块410。所述光电探测器2设置于所述转盘41的下方，以使得所述光电探测器2能感应到位于所述转盘41上的圆孔412。
请继续参考图3，所述处理器1为一单片机，其包括六个输入引脚P11-P16、三个输出引脚P17-P19、一电源引脚Vcc1及一接地引脚GND1。所述光电探测器2包括一输出引脚P21、一接地引脚GND2及一电源引脚Vcc2。所述显示模块3包括一输入引脚P31、一电源引脚Vcc3及一接地引脚GND3。所述运动模块4还包括一驱动芯片43，所述驱动芯片43包括一输入引脚P41、一输出引脚P42及一接地引脚GND4。所述存储模块5包括一输入引脚P51、一电源引脚Vcc5及一接地引脚GND5。所述控制模块6包一启动开关S1、一复位开关S2、一增加开关S3及一减小开关S4。所述金属探测装置10包括一输出引脚P101、一接地引脚GND10及一电源引脚Vcc10。
所述处理器1的输入引脚P11与所述金属探测装置10的输出引脚P101相连，所述处理器1的输入引脚P12与所述光电探测器2的输出引脚P21相连，所述处理器1的输入引脚P13-P16分别与所述启动开关S1、复位开关S2、增加开关S3以及减小开关S4的第一端相连，所述处理器1的输出引脚P17-P19分别与所述驱动芯片43的输入引脚P41、所述存储模块5的输入引脚P51以及所述显示模块3的输入引脚P31相连。所述启动开关S1、复位开关S2、增加开关S3以及减小开关S4的第二端均与所述光电探测器2的接地引脚GND2相连。所述驱动芯片43的输出引脚P42与所述电动机42相连。所述处理器1的电源引脚Vcc1、所述光电探测器2的电源引脚Vcc2、所述显示模块3的电源引脚Vcc3、所述存储模块5的电源引脚Vcc5以及所述金属探测装置10的电源引脚Vcc10均与一5V电压源相连。所述处理器1的接地引脚GND1、所述光电探测器2的接地引脚GND2、所述显示模块3的接地引脚GND3、所述驱动芯片43的接地引脚GND4、所述存储模块5的接地引脚GND5以及所述金属探测装置10的接地引脚GND10均接地。所述电动机42还与一12V电压源相连。本实施方式中，所述处理器1可以为一ATMEL8515单片机，所述显示模块3可以为一JHD162G液晶显示屏，所述驱动芯片43可以为一ULN2803驱动芯片，所述存储模块5可以为一AT93C46存储芯片。
下面对本发明寿命测试系统的工作原理进行说明。
启动所述寿命测试系统时，所述处理器1从所述存储模块5读取所述电动机42的运动循环预设次数(即所述电动机42的转动圈数，一般默认为50万次)。如果测试者需要更改默认的预设次数，则先按下所述复位开关S2，然后根据所需预设次数通过所述增加开关S3或减小开关S4对应增加或较小预设次数，设定完成之后，测试者再次按下所述复位开关S2即可将预设次数存储至所述存储模块5中。
按下所述启动开关S1，所述寿命测试系统即开始工作，此时，所述处理器1的输入引脚P13接收一低电平信号，其输出引脚P17即输出一高电平信号给所述驱动芯片43，从而使得所述电动机42开始工作，以带动所述转盘41开始转动。当所述金属探测装置10第一次探测到位于所述转盘41侧壁上的金属块410时，所述金属探测装置10的输出引脚P101输出一低电平信号给所述处理器1的输入引脚P11，此时，所述处理器1开始计数。同时，由于所述金属块410与所述圆孔412对应设置于所述转盘41上，因此，在所述金属探测装置10探测到金属块410时，所述光电探测器2也同时探测到位于所述转盘41上的圆孔412，所述光电探测器2的输出引脚P21输出一低电平信号给所述处理器1的输入引脚P12，此时，所述处理器1将所述金属探测装置10探测到金属块410的次数“1”(记为N1)以及所述光电探测器2探测到圆孔412的次数“1”(记为N2)通过其输出引脚P18分别存储于所述存储模块5内，并通过其输出引脚P19传送给所述显示模块3，以分别显示该次数给测试者。如此，第一次计数完成。
随着所述转盘41的转动，当所述金属探测装置10第二次探测到所述金属块410时，所述金属探测装置10的输出引脚P101继续输出低电平信号给所述处理器1的输入引脚P11，此时，所述处理器1将存储于所述存储模块5内部的N1加1。同理，当所述光电探测器2第二次探测到所述圆孔412时，所述处理器1将存储于所述存储模块5内部的N2加1，并将处理后的N1及N2存储于所述存储模块5中，还通过所述显示模块3显示经处理后的N1及N2。如此，第二次计数完成。当预设次数完成时，所述处理器1的输出引脚P17输出一低电平信号，从而使得所述电动机42停止转动，此时，所述存储模块5内存储有整个测试过程中所述金属探测装置10探测到所述金属块410的次数N1以及所述光电探测器2探测到所述圆孔412的次数N2、所述显示模块3显示整个测试过程所述金属探测装置10探测到所述金属块410的次数N1以及所述光电探测器2探测到所述圆孔412的次数N2。
本实施方式中假设所述光电探测器2在整个测试过程中能正常工作。如果整个测试过程中所述金属探测装置10探测到所述金属块410的次数N1与所述光电探测器2探测到所述圆孔412的次数N2相等，则表明所述金属探测装置10在整个测试过程中工作正常。相反，如果整个测试过程中所述金属探测装置10探测到所述金属块410的次数N1与所述光电探测器2探测到所述圆孔412的次数N2不相等，则表明所述金属探测装置10在整个测试过程中工作不正常，从而即可得知所述金属探测装置10的寿命。
本实施方式以测试所述金属探测装置10的寿命为例进行说明，本发明寿命测试系统还可以用于测试其他探测装置的寿命，比如用于测试所述光电探测器2的寿命(此时则需要以所述金属探测装置10能在整个测试过程中正常工作为前提)，如果整个测试过程中所述光电探测器2探测到所述圆孔412的次数N2与所述金属探测装置10探测到所述金属块410的次数N1相等，则表明所述光电探测器2在整个测试过程中工作正常。相反，如果整个测试过程中所述光电探测器2探测到所述圆孔412的次数N2与所述金属探测装置10探测到所述金属块410的次数N1不相等，则表明所述光电探测器2在整个测试过程中工作不正常，从而即可得知所述光电探测器2的寿命。如果所述寿命测试系统用于测试其他探测装置的寿命，所述金属块410和圆孔412则对应为其他能被该其他探测装置所检测到的感应物。
本发明寿命测试系统及方法通过将测试过程中由所述金属探测装置10所探测到所述金属块410的次数N1与由所述光电探测器2所探测到的所述圆孔412的次数N2进行比较，当两者相等时即表明所述金属探测装置10在整个测试过程中能正常工作，从而得知所述金属探测装置10的寿命。

Claims (10)

1.一种寿命测试系统，用于测试一第一探测装置的寿命，所述寿命测试系统包括一第二探测装置、一处理器、一运动模块及一存储模块，所述第一、第二探测装置、运动模块及存储模块均与所述处理器相连，所述运动模块上设置有一第一感应物及一第二感应物，所述处理器用于控制所述运动模块的运动及计算所述第一及第二探测装置分别感应到所述第一感应物及第二感应物的次数，所述存储模块用于存储所述第一及第二探测装置分别感应到所述第一感应物及第二感应物的次数，当所述第一探测装置感应到所述第一感应物的次数不等于所述第二探测装置感应到所述第二感应物的次数时，所述第一探测装置寿命不合格。
2.如权利要求1所述的寿命测试系统，其特征在于：所述存储模块内存储有所述运动模块的运动循环预设次数，所述处理器读取所述运动循环预设次数，并根据所述运动循环预设次数控制所述运动模块的运动。
3.如权利要求1所述的寿命测试系统，其特征在于：当所述第一及第二探测装置每次分别感应到所述第一及第二感应物时，所述第一及第二探测装置均分别向所述处理器发送一第一信号及一第二信号，所述处理器根据所接收到的第一信号及第二信号的次数计算所述第一及第二探测装置感应到第一感应物及第二感应物的次数。
4.如权利要求1所述的寿命测试系统，其特征在于：所述第一探测装置为一金属探测装置，所述第二探测装置为一光电探测器，所述第一感应物为一金属块，所述第二感应物为一设置于所述运动模块的圆孔。
5.如权利要求1所述的寿命测试系统，其特征在于：所述运动模块包括一转盘、一电动机及一驱动芯片，所述驱动芯片连接于所述处理器与电动机之间，用于根据所述处理器的指令控制所述电动机，所述电动机用于带动所述转盘运动，所述第一感应物及第二感应物设置于所述转盘。
6.如权利要求1所述的寿命测试系统，其特征在于：所述寿命测试系统还包括一显示模块，所述显示模块与所述处理器相连，用于实时显示所述处理器所计算的第一及第二探测装置分别感应到所述第一感应物及第二感应物的次数。
7.如权利要求1所述的寿命测试系统，其特征在于：所述寿命测试系统还包括一控制模块，所述控制模块与所述处理器相连，用于设定所述运动模块的运动循环次数，当所述运动模块运动的次数达到设定的运动循环次数时，所述处理器控制所述运动模块停止运动。
8.一种寿命测试系统，用于测试一金属探测装置的寿命，所述寿命测试系统包括一光电探测器、一处理器、一运动模块及一存储模块，所述运动模块包括一转盘、一驱动芯片及一电动机，所述转盘的侧壁上设置有一金属块，所述转盘上还设置有一贯穿整个转盘的圆孔；所述金属探测装置、光电探测器、驱动芯片及存储模块均与所述处理器相连，所述驱动芯片还与所述电动机相连；所述存储模块内存储有所述电动机的运动循环预设次数，所述处理器用于读取所述运动循环预设次数并控制所述电动机的运动；所述金属探测装置及光电探测器每次分别感应到所述金属块及圆孔时，所述金属探测装置及光电探测器向所述处理器分别发送一第一信号及一第二信号，所述处理器根据接收到的第一信号及第二信号的次数分别计算所述金属探测装置及光电探测器感应到所述金属块及圆孔的次数，并将所述金属探测装置及光电探测器感应到的金属块及圆孔的次数存储于所述存储模块中，当所述处理器所接收到的第一信号的次数不等于所接收到的第二信号的次数时，表示所述金属探测装置的寿命不合格。
9.一种应用如权利要求1中所述寿命测试系统进行测试的方法，包括以下步骤：
所述处理器控制所述运动模块开始运动；
当所述第一探测装置每次感应到所述第一感应物时发送一第一信号给所述处理器；
所述处理器计算接收到的第一信号的次数，并将其存储于所述存储模块；
当所述第二探测装置每次感应到所述第二感应物时发送一第二信号给所述处理器；
所述处理器计算接收到的第二信号的次数，并将其存储于所述存储模块；
当所述处理器所接收到的第一信号的次数不等于所接收到的第二信号的次数时，表示所述第一探测装置的寿命不合格。
10.一种运用如权利要求8所述的寿命测试系统进行测试的方法，包括以下步骤：
所述处理器读取所述存储模块内部的运动循环预设次数；
所述处理器根据所述运动循环预设次数控制所述电动机开始运动；
当所述金属探测装置每次感应到所述金属块时发送一第一信号给所述处理器；
所述处理器计算接收到的第一信号的次数，并将其存储于所述存储模块；
当所述光电探测器每次感应到所述圆孔时发送一第二信号给所述处理器；
所述处理器计算接收到的第二信号的次数，并将其存储于所述存储模块；
当所述处理器所接收到的第一信号的次数不等于所接收到的第二信号的次数时，表示所述金属探测装置的寿命不合格。
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