CN101726233A - 配对且相互垂直孔中心距检具 - Google Patents

配对且相互垂直孔中心距检具 Download PDF

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CN101726233A CN200810195287A CN200810195287A CN101726233A CN 101726233 A CN101726233 A CN 101726233A CN 200810195287 A CN200810195287 A CN 200810195287A CN 200810195287 A CN200810195287 A CN 200810195287A CN 101726233 A CN101726233 A CN 101726233A
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王春宏
刘金芳
李彬
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Abstract

本发明公开了一种配对且相互垂直孔中心距检具,它包括立置在平板工作台上与工件垂直孔相配合的定位芯轴,以及与工件水平孔相配合的芯棒。定位芯轴半径及偏差与芯棒中段半径及偏差之和等于被测工件配对且相互垂直孔中心距的设计值。实测时,定位芯轴与芯棒交叉且以外壁相切情况判断中心距误差。该检具结构简单、制造容易,测量快捷,特别适合作大批量生产现场的在线检测用检具。

Description

配对且相互垂直孔中心距检具
技术领域
本发明涉及一种检具,特别是一种检测配对且相互垂直孔中心距检具。
背景技术
壳体、箱体类零件上常设有配对且相互垂直孔,这些孔相对位置精度要求高,加工难度大,生产过程中此类孔属于必检项目。现有技术中最先进的检测手段是三维座标检测仪,尽管该检测仪测量精确,但检测成本大、工效低,不适合作生产现场的检具。常规生产中使用芯棒加百分表进行对比检测,该检具也能够精确测量,其不足是检具安装繁、检测操作难、效率低,不能满足批量生产在线检测要求。
发明内容
本发明主要针对现有技术的不足,提出一种结构简单、操作容易、检测效率高,能够客观反映实测结果的配对且相互垂直孔中心距检具。
本发明通过下述技术方案实现技术目标。
配对且相互垂直孔中心距检具,它包括立置在平板工作台上与工件垂直孔相配合的定位芯轴,以及与工件水平孔相配合的芯棒。其改进之处在于:所述定位芯轴与芯棒中段外壁相切。
上述结构中,芯棒中段半径及偏差与定位芯轴半径及偏差之和等于被测工件配对且相互垂直孔中心距的设计值。
本发明与现有技术相比,具有以下积极效果:
1、芯棒、定位芯轴结构简单、制造容易、精度高;
2、以定尺的芯棒、定位芯轴配对检测,客观反映实测结果;
3、检测安装容易、快捷,适合作大批量生产现场的在线检测检具。
附图说明
附图是应用本发明作摩托车机油泵泵体中心距检测的示意图。
具体实施方式
下面根据附图并结合实施例,对本发明作进一步说明。
附图所示的配对且相互垂直孔中心距检具,它包括立置在平板工作台1上与工件4垂直孔相配合的定位芯轴3,以及与工件4水平孔相配合的芯棒2。所述定位芯轴3与芯棒2中段外壁相切。本实施例是摩托车机油泵泵体中心距检具,其中定位芯轴3以外径Φ21.4mm轴段与机油泵垂直位置的孔配合,以确定机油泵在平板工作台1上的位置,再从机油泵右侧水平孔中塞入相配合的芯棒2,定位芯轴3与芯棒2交叉且外壁相切。本实施例中,配对且相互垂直孔中心距设计尺寸为15.3mm,定位芯轴3与芯棒2交叉段半径分别为10.7mm和4.6mm,两者之和等于摩托车机油泵配对且相互垂直孔中心距设计尺寸。实测时,芯棒2与定位芯轴3自然相切,表明所测中心距等于设计尺寸。之间若有间隙用塞尺测量,所测量值为误差值,表明实际中心距大于设计中心距。当芯棒2不能顺利插入,则表明实际中心距小于设计中心距。本发明结构简单、安装容易、测量快捷,特别适合作大批量生产现场的在线检测用检具。

Claims (2)

1.一种配对且相互垂直孔中心距检具,它包括立置在平板工作台(1)上与工件(4)垂直孔相配合的定位芯轴(3),以及与工件(4)水平孔相配合的芯棒(2);其特征在于:所述定位芯轴(3)与芯棒(2)中段外壁相切。
2.根据权利要求1所述的配对且相互垂直孔中心距检具,其特征在于:所述芯棒(2)中段半径及偏差与定位芯轴(3)半径及偏差之和等于被测工件(4)配对且相互垂直孔中心距的设计值。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102322783A (zh) * 2011-08-25 2012-01-18 桐乡市易锋机械厂 活塞中心距测量工具

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Date Code Title Description
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20100609