CN101666866A - 高压开关特性测试仪校验装置 - Google Patents

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牛滨
卢伟
王艳芳
胡敏
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Abstract

高压开关特性测试仪校验装置,我国电力工业的高速发展,使相关的测试技术和测试设备有了长足进步,汇集单片机、自动测试等先进技术的智能型高压开关特性测试仪器不断出新,但对应的校验技术和设备仍比较落后,存在着功能简单,自动化程度不高,校验接线复杂,附加误差不确定,工作效率低等不足,影响了其发展和应用。本发明组成包括:机箱(1),所述的机箱(1)中装有输入单元(3),所述的机箱(1)中装有输出单元(4)和电源电路(5),所述的输入单元(3)、输出单元(4)和电源电路(5)分别与主控板(2)连接。本发明用于对高压开关特性测试仪主要技术参数的校验和调整。

Description

高压开关特性测试仪校验装置
技术领域:
本发明涉及一种高压开关特性测试仪校验装置。
背景技术:
我国电力工业的高速发展,使相关的测试技术和测试设备有了长足进步,汇集单片机、自动测试等先进技术的智能型高压开关特性测试仪器不断出新,但对应的校验技术和设备仍比较落后,存在着功能简单,自动化程度不高,校验接线复杂,附加误差不确定,工作效率低等不足,影响了其发展和应用。
发明内容:
本发明的目的是提供一种高压开关特性测试仪校验装置,对高压开关特性测试仪主要技术参数进行校验和调整,具有智能化设计和一体化便携结构,体积小,功能强,操作简单,自动化程度高。
上述的目的通过以下的技术方案实现:
高压开关特性测试仪校验装置,其组成包括:机箱,所述的机箱中装有输入单元,所述的机箱中装有输出单元和电源电路,所述的输入单元、输出单元、电源电路分别与主控板连接。
所述的高压开关特性测试仪校验装置,所述的主控板包括微处理器、A/D转换电路、显示模块、时基电路、键盘电路,其各组成部分间具有电路连接关系。
所述的高压开关特性测试仪校验装置,所述的输入单元包括采样电路和AD536AK单片真有效值(rms)交/直流转换电路。
所述的高压开关特性测试仪校验装置,所述的A/D转换电路采用ICL7135单片模数转换器,所述的微处理器为ATmega128单片机或嵌入式系统,所述的时基电路使用恒温晶体振荡器OC2012C-D17,所述的显示模块选用LCD图形液晶显示屏或LED高亮度数码管。
这个技术方案有以下有益效果:
1、本发明是一种完全符合中华人们共和国国家标准GB3309-89《高压开关设备常温下的机械试验》要求的新型智能化专用设备,其测控技术先进、设计思路成熟、整体结构合理、电磁兼容措施完善、功能强、稳定性好、抗干扰性强,适用于计量、检定部门、工矿企业及科研院所对各种高压开关特性测试仪的主要技术参数进行校验和调整。
2、本发明借助微处理器强大的实时控制功能和数据处理功能,使本产品的校验项目扩展到50余种:可以对:交(直)流电压输出幅值的可调范围、可调细度、准确度;1-8个断口的合闸参数(各断口合闸时间、合闸总时间、合闸顺序、合闸三相不同期时间、合闸同相不同期时间、合闸弹跳时间)共六组十五项;1-8个断口的分闸参数(各断口分闸时间、分闸总时间、分闸顺序、分闸三相不同期时间、分闸同相不同期时间、分闸弹跳时间)共六组十五项;1-8个断口的重合闸参数(各断口重合闸时间、重合闸总时间、重合闸顺序、重合闸三相不同期时间、重合闸同相不同期时间、重合闸弹跳时间)共六组十八项的测量范围、准确度及开关速度、弹跳幅度等高压开关特性测试仪的主要技术参数进行校验。
3、本发明的微处理器是高压开关特性测试仪校验装置的核心部件,采用高性能AVR单片机ATmega128,为系统提供了硬件载体,且使稳定性得以提高;在单片机中嵌入控制、管理及数据处理软件,更有利于智能控制的实现和应用功能的扩展。
4、本发明采用了单片真有效值(rms)交/直流转换电路AD 536AK、单片A/D转换器ICL7135和带有恒温槽的基准电压源LM 199(温度漂移:±1PPM/C),确保交(直)流电量测量的准确度和稳定性。本产品在准确度方面完全符合GB3309-89标准要求。
5、本发明采用了OC2012C-D17型恒温晶体振荡器(长期稳定性:±0.5PPM/年),保证了本产品对时间量测量的长期稳定性。
6、本发明显示采用图形液晶显示屏,本产品具有字迹清晰、信息量大的汉字化人机界面。
7、本发明应用了先进的测控技术,引入了智能设计,使本产品操作简单、使用方便,并实现了校验过程的自动化。
8、本发明采用了一体化便携铝合金箱式外形结构、体积小、重量轻、特别适合携带到现场进行校验和调整。
附图说明:
附图1是本发明的机箱结构示意图。
附图2是本发明的硬件连接示意图。
附图3是本发明的输入单元及A/D转换电路原理图。
附图4是本发明的微处理器及外围电路原理图。
附图5是本发明的输出单元电路原理图。
附图6是本发明的电源电路原理图。
根据电子线路制图规范,上述电路原理图中相同的引脚标号具有连接关系。
本发明的具体实施方式:
实施例1:
高压开关特性测试仪校验装置,其组成包括:机箱1,所述的机箱1中装有输入单元3,所述的机箱1中装有输出单元4和电源电路5,所述的输入单元3、输出单元4和电源电路5分别与主控板2连接,所述的主控板2包括微处理器7、A/D转换电路8、显示模块9、时基电路10、键盘电路11,其各组成部分间具有电路连接关系。
所述高压开关特性测试仪校验装置,所述的输入单元包括采样电路和AD536AK单片真有效值(rms)交/直流转换电路,所述的A/D转换电路采用单片模数转换器ICL7135,所述的微处理器为ATMEL公司的ATmega128单片机,所述的时基电路使用恒温晶体振荡器OC2012C-D17,所述的显示模块选用LCD图形液晶显示屏。
实施例2:
高压开关特性测试仪校验装置,其组成包括:机箱1,所述的机箱1中装有输入单元3,所述的输入单元3包括采样电路3-1和单片真有效值转换电路3-2,所述的输入单元3与A/D转换电路8连接,所述的A/D转换电路8通过光电耦合器与微处理器7连接;所述的机箱1中装有输出单元4和电源电路5,所述的输出单元4和电源电路5分别与主控板2连接,所述的主控板2包括微处理器7、A/D转换电路8、显示模块9、时基电路10、键盘电路11,所述的A/D转换电路8、显示模块9、时基电路10、键盘电路11分别与微处理器7连接。
所述高压开关特性测试仪校验装置,所述的真有效值转换电路3-2采用美国模拟器件公司的AD 536AK,所述的微处理器7也可以选择带有内部A/D转换电路的嵌入式系统,所述的A/D转换电路8也可以采用嵌入式系统内部的A/D转换电路和软件程序来实现,所述的显示模块9为LED高亮度数码管,所述的时基电路10使用长期稳定性好的恒温晶体振荡器OC2012C-D17。
结合附图对本发明的工作过程作进一步描述:
由附图1、2可知,本发明的硬件包括机箱、输入单元、输出单元、主控板、电源电路及微处理器、A/D转换电路、显示模块、时基电路、键盘电路等,其各组成部分间具有电路连接关系。
输入信号经采样电路、AC/DC电路接入A/D转换电路,变为数字信号,然后经光电耦合器接入微处理器进行识别和运算,经微处理器处理、加工后的数据、信号以程序代码的形式分别传送到显示模块和输出单元;由液晶显示器进行汉字化显示,由输出电路去控制被校高压开关特性测试仪的运行,进而自动完成校验工作。

Claims (5)

1.一种高压开关特性测试仪校验装置,其组成包括:机箱,其特征是:所述的机箱中装有输入单元,所述的机箱中装有输出单元和电源电路,所述的输入单元、输出单元、电源电路分别与主控板连接。
2、根据权利要求1所述的高压开关特性测试仪校验装置,其特征是:所述的主控板包括微处理器、A/D转换电路、显示模块、时基电路,其各组成部分间具有电路连接关系。
3、根据权利要求1或2所述的高压开关特性测试仪校验装置,其特征是:所述的输入单元包括采样电路和AD 536 AK单片真有效值(rms)交/直流转换电路。
4、根据权利要求2所述的高压开关特性测试仪校验装置,其特征是:所述的A/D转换电路采用ICL7135单片模数转换器,所述的微处理器为ATmega128单片机或嵌入式系统,所述的时基电路使用恒温晶体振荡器OC2012C-D17,所述的显示模块选用LCD图形液晶显示屏或LED高亮度数码管。
5、根据权利要求3所述的高压开关特性测试仪校验装置,其特征是:所述的A/D转换电路采用ICL7135单片模数转换器,所述的微处理器为ATmega128单片或嵌入式系统,所述的时基电路使用恒温晶体振荡器OC2012C-D17,所述的显示模块选用LCD图形液晶显示屏或LED高亮度数码管。
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C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
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