CN101666855B - 一种集成电路的通用测试系统和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种集成电路的通用测试系统，包括依次连接的主控模块、测试功能模块和测试资源总线，测试功能模块通过测试资源总线提供给被测集成电路测试资源，主控模块包括MCU和FPGA或者PC和FPGA，MCU或者PC用于测试流程控制，FPGA用于测试功能模块的操作及测试结果数据的处理，MCU和FPGA或者PC和FPGA通过通讯协议总线连接；本发明可使MCU从复杂的测试数据处理及测试功能模块的具体功能控制中解脱，只单一的处理控制流程，可有效降低对MCU的性能要求；FPGA可根据不同集成电路测试要求提供可供二次开发的用户定制测试功能，以达到更好的灵活通用及高效开发的目的，这样可以有效的提高测试的效率。

Description

一种集成电路的通用测试系统和方法
技术领域
本发明涉及集成电路测试领域，特别是一种集成电路的通用测试系统和方法。
背景技术
通用测试解决方法用于各种类型的集成电路的测试。
在集成电路测试中，现有的集成电路的通用测试方法一般使用PC(电脑主机)或MCU(微控器)为主要控制模块，通过PC控制特定的测试功能模块，提供给总线测试资源。这种方法中整个系统的数据处理及具体功能控制全在PC端进行后台处理，其一般结构如图1所示。
现有的测试方法中FPGA(逻辑可编程电路)一般仅使用在测试功能模块中。
现有的测试方法中，测试向量都需要读回PC或MCU保存到后台存储器中，然后再进行数据的比较和处理。这样的方法数据处理速度慢，不能达到实时处理的效果，并且用户定制测试功能的增加完全要依靠测试功能模块的增加，完成周期很长成本高。
发明内容
本发明目的在于提供一种可以提高测试工作效率的通用测试系统和方法，可以实时处理测试结果数据。
本发明的技术方案如下：
一种集成电路的通用测试系统，包括依次连接的主控模块、测试功能模块和测试资源总线，所述测试功能模块通过测试资源总线提供给被测集成电路测试资源，其特征在于：所述主控模块包括MCU和FPGA或者PC和FPGA，MCU或者PC用于测试流程控制，FPGA用于测试功能模块的操作及测试结果数据的处理，MCU和FPGA或者PC和FPGA都是通过通讯协议总线连接。
一种集成电路的通用测试方法，其特征在于工作流程如下：所述PC或MCU根据用户的测试程序发送相关的测试功能模块起动指令给FPGA，再由FPGA通过硬件总线根据测试功能模块的配置要求进行相关的测试功能模块的配置，然后由测试功能模块为被测电路提供测试资源，最后被测电路的测试数据通过测试资源总线返回给FPGA，由FPGA对测试数据通过FPGA内开发的硬件程序对数据进行处理，后将测试对错结果返回给PC或者MCU。
所述PC或MCU只需要根据对错结果控制整个测试流程。由于在控制模块中引入FPGA协调各个测试功能模块工作，所以PC或MCU只需要单一的控制整个测试流程，不需要像现有的测试方法中PC或MCU既需要控制整个测试流程又需要协调各个测试功能模块工作。
本发明在测试时，在每一个测试向量读回时，利用FPGA中的硬件程序可以实现实时的对每一个测试向量与标准向量进行判断比较，这样不需要等测试向量全部发回后在全部保存到后台，然后在进行测试向量与标准向量的判断比较。
本发明的有益效果如下：
本发明可以使PC或者MCU从复杂的测试数据处理及测试功能模块的具体功能控制中解脱，只单一的处理控制流程，这样可以有效降低对PC或者MCU的性能要求；FPGA本身为可编程器件，可以根据不同的集成电路测试要求，提供部分可以供测试工程师二次开发的用户定制测试功能，以达到更好的灵活通用及高效开发的目的；可以使测试向量的每一个数据在读回时就进行实时的比较，不用把测试向量的数据全部读回后再在后台进行比较；这样可以有效的提高测试的效率。
附图说明
图1为背景技术中测试方法所用的结构示意图
图2为本发明系统的结构示意图
具体实施方式
如图2所示，一种集成电路的通用测试系统，包括依次连接的主控模块、测试功能模块和测试资源总线，所述测试功能模块通过测试资源总线提供给被测集成电路测试资源，所述主控模块包括MCU和FPGA或者PC和FPGA，MCU或者PC用于测试流程控制，FPGA用于测试功能模块的操作及测试结果数据的处理，MCU和FPGA或者PC和FPGA都是通过通讯协议总线连接。
一种集成电路的通用测试方法，工作流程如下：
PC或MCU根据用户的测试程序发送相关的测试功能模块起动指令给FPGA，再由FPGA通过硬件总线根据测试功能模块的配置要求进行相关的测试功能模块的配置，然后由测试功能模块为被测电路提供测试资源，最后被测电路的测试数据通过测试资源总线返回给FPGA，由FPGA对测试数据通过FPGA内开发的硬件程序对数据进行处理，后将测试对错结果返回给PC或者MCU。
所述PC或MCU只需要根据对错结果控制整个测试流程。由于在控制模块中引入FPGA协调各个测试功能模块工作，所以PC或MCU只需要单一的控制整个测试流程，不需要像现有的测试方法中PC或MCU既需要控制整个测试流程又需要协调各个测试功能模块工作。
本发明在测试时，在每一个测试向量读回时，利用FPGA中的硬件程序可以实现实时的对每一个测试向量与标准向量进行判断比较，这样不需要等测试向量全部发回后在全部保存到后台，然后在进行测试向量与标准向量的判断比较。
例如，使用嵌入式MCU为控制模块，配合ALTERA的FPGA。测试功能模块提供逻辑高低电平，测试资源总线采用DDK接头与测试产品测试卡相连接，电源我们采用5DC/1A电源。
还例如，同样使用嵌入式MCU为控制模块，配合ALTERA的FPGA。测试功能模块提供电压测试功能，测试资源总线采用DDK接头与测试产品测试卡相连接，电源我们采用5DC/1A电源。

Claims (2)

1.一种集成电路的通用测试系统，包括依次连接的主控模块、测试功能模块和测试资源总线，所述测试功能模块通过测试资源总线提供给被测集成电路测试资源，其特征在于：所述主控模块包括MCU和FPGA或者PC和FPGA，MCU或者PC用于测试流程控制，FPGA用于测试功能模块的操作及测试结果数据的处理，MCU和FPGA或者PC和FPGA通过通讯协议总线连接；所述PC或者MCU根据对错结果控制整个测试流程。
2.一种集成电路的通用测试方法，其特征在于工作流程如下：PC或MCU根据用户的测试程序发送相关的测试功能模块起动指令给FPGA，再由FPGA通过硬件总线根据测试功能模块的配置要求进行相关的测试功能模块的配置，然后由测试功能模块为被测电路提供测试资源，最后被测电路的测试结果数据通过测试资源总线返回给FPGA，由FPGA对测试数据通过FPGA内开发的硬件程序对数据进行处理后将对错结果返回给PC或者MCU；所述PC或者MCU根据对错结果控制整个测试流程。
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