CN101657733B - 校验适配器 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种校验适配器，该校验适配器具有用于连接到待校验装置的同轴连接器特别是连接到矢量网络分析仪(VNA)的测量端口的同轴连接器(10)、特别是同轴插头或同轴插座或同轴耦合器，其中，同轴连接器(10)具有：内导体部(12)；与内导体部(12)同轴配置的外导体部(14)；以及能够被连接到待校验装置的同轴连接器的阳端子(16)。根据本发明，校验适配器具有筒(26)，在该筒(26)中配置至少两个校验标准部(38，40，42，44)，其中，所述筒(26)被可转动地配置在销(32)上，该销(32)以使销(32)的纵向轴线与第一罩(22)的纵向轴线对齐的方式被中心连接到第一罩(22)，其中，利用与阳端子(16)相反的第二端子(18)将同轴连接器(10)以与第一罩(22)的纵向轴线偏心的方式连接到第一罩(22)，校验标准部(38，40，42，44)以如下方式被配置在所述筒(26)中：通过筒(26)相对于第一罩(22)的转动，能够使与同轴连接器(10)的阳端子(16)相反的第二端子(18)可选地与校验标准部(38，40，42，44)中的一个校验标准部连接。

Description

校验适配器
技术领域
本发明涉及一种校验适配器，该校验适配器具有用于连接到待校验装置的同轴连接器特别是连接到矢量网络分析仪(VNA)的测量端口的同轴连接器、特别是同轴插头或同轴插座或同轴耦合器，其中，同轴连接器具有：内导体部；与内导体部同轴配置的外导体部；以及能够连接到待校验装置的同轴连接器的阳端子。
背景技术
矢量网络分析仪(VNA)的高精度基于如下事实：在实际测量复合反射系数的大小和相位之前，通过将校验标准部连接到网络分析仪的测量端口来校验网络分析仪。此外，现在存在多种不同的校验方法。大多数的校验方法使用断路(open-circuit)、短路(short-circuit)和适配校验标准部进行系统校验。通过将这些校验标准部连接到网络分析仪的测量端口，能够确定出现在网络分析仪中的使测量值偏离真实值的错误，并且在随后的目标测量期间用于数值错误校正。这例如从DE 39 12 795 A1中获知。
例如从DE 20 2004 013 305获知具有短路部的精密空气管路(air line)的典型校验标准部。借助于与调节机构结合的在内导体部和外导体部之间的可拆卸的短路部，可获得用于校验标准部的同轴耦合器的内导体部和基准平面(外导体的接触面)之间的可精确地调节的位移量的高品质精度测量部件，该测量部件能够应用于待校验装置的同轴耦合器上的外导体的接触面和内导体的接触面之间的任何给定的位移量并且还将平衡位移量中的任何成分误差。
发明内容
本发明基于改进上述种类的校验适配器的需求。
根据本发明，通过具有权利要求1中限定的如下特征的上述种类的校验适配器来满足该需求。在其它权利要求中说明本发明的其它有利的改进。
利用上述种类的校验适配器，本发明提供一种校验适配器，该校验适配器具有筒(drum)，在该筒中配置至少两个校验标准部，其中，筒被可转动地配置在销上，该销以使销的纵向轴线与第一罩的纵向轴线对齐的方式与第一罩中心连接，其中，利用与阳端子相反的第二端子将同轴连接器以与第一罩的纵向轴线偏心的方式连接到第一罩，校验标准部被以如下方式配置在筒中：通过使筒相对于第一罩转动，可以使与同轴连接器的阳端子相反的第二端子可选地连接到其中一个校验标准部。
这样的优点在于：利用校验适配器与待校验装置的同轴连接器的单个连接，不必将用于每个校验适配器的新的部分插入到待校验装置的同轴连接器上就可以获得几个不同的校验标准部。由此，利用同一个不变的插入连接能够采用不同的校验标准部，这提高了校验的精度。同时，该校验适配器的结构在机械上易于实现且不昂贵并且该校验适配器的操作容易。另外，改进了电特性。
在有利的实施方式中，筒包括四个不同的校验标准部。
如通常那样，校验标准部包括：短路部，该短路部使同轴连接器的内导体部与同轴连接器的外导体部电短路；断路部；端子阻抗；和/或失配部(mismatch)。
方便地，校验标准部沿周向彼此等间距地配置在筒中。
在优选实施方式中，外导体部被螺纹连接到第一罩。
方便地，第一罩被螺纹连接到销。
在本发明的另一优选实施方式中，销在背向第一罩的一端被螺纹连接到第二罩。
为了沿朝向第一罩的方向对筒施压并且由此使校验标准部压靠同轴连接器的第二端子，设置弹性弹簧装置，该弹簧装置在第二罩和筒上作用使二者分开的推力。该弹簧装置是例如与销同轴配置的螺旋弹簧。
为了引导筒，该筒优选包括沿轴向延伸并且接合在第二罩中的插座状延伸部。
为了在筒相对于销和第二罩的转动期间尽可能地实现无摩擦滑动，第二滑动部被配置在筒的插座状延伸部与第二罩之间，并且第一滑动部被配置在筒和销之间。
由于如下事实：弹簧元件以与销沿径向间隔开的方式被配置在第一罩和筒之间，该弹簧元件在筒和第一罩上作用使二者分开的推力，结果产生了相对于销非对称地作用在筒上的力，该力使筒倾斜而脱离相对于销和第一罩的非对齐位置，由此增加了配置在筒内的其中一个校验标准部与同轴连接器的第二端子之间的接触压力。利用该配置，如果弹簧元件被配置成在径向上位于与同轴连接器相反的位置并且被固定到第一罩是特别有利的。
通过使至少一个校验标准部与筒形成为一件来实现特别不昂贵且可靠的校验适配器。
方便地，同轴连接器以使同轴连接器的纵向轴线与第一罩的纵向轴线平行地延伸的方式与第一罩连接。
为了防止内导体部在筒相对于第一罩的转动期间横向撞击用于校验标准部的一个凹部的边缘从而可能被切掉，环状槽形成在筒的面对第一罩的一侧，该环状槽使筒中的用于校验标准部的凹部彼此连接并且产生了可用于内导体部的自由空间。
附图说明
现在将参考附图详细说明本发明，在附图中：
图1示出了根据本发明的校验适配器的优选实施方式的分解图，
图2示出了图1中的校验适配器的剖视图，
图3示出了图1和图2中的校验适配器的筒的立体图，
图4示出了图3中的筒的俯视图，
图5示出了图3中的筒的剖视图，
图6示出了具有端子形式的校验标准部的图1和图2中的校验适配器的剖视图，
图7示出了具有失配部形式的校验标准部的图1和图2中的校验适配器的剖视图，
图8示出了具有短路部形式的校验标准部的图1和图2中的校验适配器的剖视图，
图9示出了具有断路部形式的校验标准部的图1和图2中的校验适配器的剖视图。
具体实施方式
图1和图2所示的根据本发明的校验适配器的优选实施方式包括：同轴连接器10，该同轴连接器10具有内导体部12、外导体部14、阳端子16以及与阳端子16相反的第二端子18；接触销20；第一罩22；校验标准部用元件24；筒26，在该筒26中配置四个校验标准部；第一滑动部28；压力弹簧30；销32；第二滑动部34；以及第二罩36。
销32以销32的纵向轴线与第一罩22的纵向轴线对齐的方式与第一罩22中心连接。筒26被可转动地配置在销32上。利用第二端子18使同轴连接器10与第一罩22偏心连接，即，使同轴连接器10与第一罩22的纵向轴线沿径向间隔开。利用第二端子18使同轴连接器10螺纹连接到第一罩22。
如可以在图3至图5中看到的那样，特别地，四个不同的校验标准部、即短路部38、断路部40、端子电阻42和失配部44沿周向彼此等间距地配置并且沿径向与销32等间距地间隔开，使得取决于筒26的位置，校验标准部38、40、42、44中总有一个校验标准部接触同轴连接器10的第二端子18。通过使筒26绕销32相对于第一罩22转动，可以分别使一个期望的校验标准部38、40、42、44与同轴连接器10连接。
筒26具有延伸到第二罩36中的轴向延伸的插座状延伸部(elevation)46。第一滑动部28被配置在销32和筒26之间。第二滑动部34被配置在第二罩36和筒26的插座状延伸部46之间。两个滑动部28、34尽可能地确保了筒26相对于销32和相对于第二罩36的无摩擦的相对运动。
为了保持将第一罩22、筒26和第二罩36配置在一起，销32的一端被螺纹连接到第一罩22并且销32的另一端被螺纹连接到第二罩36。
同轴地围绕销32的螺旋弹簧30被预张紧地配置在筒26和第二罩36之间，由此沿朝向第一罩22的方向对筒26施压并且使筒26撞击同轴连接器10的外导体部14。这使得校验标准部38、40、42、44中的一个校验标准部压靠同轴连接器10的第二端子18，由此建立同轴连接器10的第二端子18与对应的校验标准部38、40、42、44之间的良好的电接触。为了使筒26转动，手动地使筒在销32上沿轴向且沿朝向第二罩36的方向移位离开第一罩22并且被保持在该轴向移位的位置，与此同时，使筒相对于第一罩22转动直到一个期望的校验标准部38、40、42、44与同轴连接器10的第二端子18对齐。在释放筒26之后，筒26由于弹簧30的力返回到原始位置，在该原始位置，校验标准部38、40、42、44中的一个校验标准部撞击同轴连接器10的第二端子18的表面并且由于弹簧30而压靠该表面。
另外，如图2所示，弹簧元件48以沿径向与同轴连接器10的第二端子18间隔开并且在径向上位于与同轴连接器10的第二端子18相反的位置的方式被配置在第一罩22上。该弹簧元件48将力非对称地作用在筒26上，由此使筒26倾斜而脱离相对于第一罩的非对齐位置并且产生同轴连接器10的第二端子18与对应的校验标准部38、40、42、44之间的接触压力。筒26相对于第一罩22的该初始未对齐位置起因于如下事实：筒26撞击同轴连接器10的外导体部14而不撞击第一罩22。
图6至图9示出了四个不同的校验标准部以及与同轴连接器10的第二端子18进行接触的方式。在同轴连接器10的第二端子18处，在图6至图9中未详细示出其它方面的内导体部的接触销20上，以沿轴向弹簧加载的方式配置接触螺栓50，由此使任何公差均匀。图6示出了端子42，图7示出了失配部44，图8示出了短路部38，图9示出了断路部40。端子42和失配部44形成为用于筒26中的对应凹部的插座。断路部40形成为筒26中的空凹部。短路部38与筒26形成为一件。
在筒26的面对第一罩22的一侧，形成如图3和图4所示的环状槽52，该环状槽使筒26中的用于校验标准部38、40、42、44的凹部彼此连接。在筒26相对于第一罩22的转动期间，该环状槽52被用作弹簧加载的接触螺栓50用的自由空间，由此防止了接触螺栓50横向撞击用于校验标准部38、40、42、44的凹部中的一个凹部的边缘并且可以防止接触螺栓50被切断。

Claims (20)

1.一种校验适配器，该校验适配器具有用于连接到待校验装置的同轴连接器的同轴连接器(10)，其中，所述校验适配器的同轴连接器(10)具有：内导体部(12)；与所述内导体部(12)同轴配置的外导体部(14)；以及能够被连接到待校验装置的同轴连接器的阳端子(16)，其特征在于：所述校验适配器具有筒(26)，在所述筒(26)中配置至少两个校验标准部(38，40，42，44)，其中，所述筒(26)被可转动地配置在销(32)上，所述销(32)以使所述销(32)的纵向轴线与第一罩(22)的纵向轴线对齐的方式被在中心连接到所述第一罩(22)，其中，利用与所述阳端子(16)相反的第二端子(18)将所述校验适配器的同轴连接器(10)以与所述第一罩(22)的纵向轴线偏心的方式连接到所述第一罩(22)，所述校验标准部(38，40，42，44)以如下方式被配置在所述筒(26)中：通过所述筒(26)相对于所述第一罩(22)的转动，能够使与所述校验适配器的同轴连接器(10)的所述阳端子(16)相反的所述第二端子(18)可选地与所述校验标准部(38，40，42，44)中的一个校验标准部连接。
2.根据权利要求1所述的校验适配器，其特征在于，所述筒(26)具有四个不同的校验标准部(38，40，42，44)。
3.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，所述校验标准部包括：短路部(38)，该短路部(38)使所述校验适配器的同轴连接器(10)的所述内导体部(12)与所述校验适配器的同轴连接器(10)的所述外导体部(14)电短路；断路部(40)；端子阻抗(42)；和/或失配部(44)。
4.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，所述校验标准部(38，40，42，44)沿周向彼此等间距地配置在所述筒(26)中。
5.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，所述外导体部(14)被螺纹连接到所述第一罩(22)。
6.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，所述第一罩(22)被螺纹连接到所述销(32)。
7.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，所述销(32)在所述销(32)的背向所述第一罩(22)的端部被螺纹连接到第二罩(36)。
8.根据权利要求7所述的校验适配器，其特征在于，设置弹性弹簧装置(30)，所述弹簧装置(30)沿轴向在所述第二罩(36)和所述筒(26)上作用使所述第二罩(36)和所述筒(26)分开的推力。
9.根据权利要求8所述的校验适配器，其特征在于，所述弹簧装置是与所述销(32)同轴配置的螺旋弹簧(30)。
10.根据权利要求7所述的校验适配器，其特征在于，所述筒(26)具有沿轴向延伸并且接合在所述第二罩(36)中的插座状延伸部(46)。
11.根据权利要求10所述的校验适配器，其特征在于，第二滑动部(34)被配置在所述第二罩(36)和所述筒(26)的所述插座状延伸部(46)之间。
12.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，第一滑动部(28)被配置在所述筒(26)与所述销(32)之间。
13.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，弹簧元件(48)以沿径向与所述销(32)间隔开的方式被配置在所述第一罩(22)和所述筒(26)之间，所述弹簧元件(48)在所述筒(26)和所述第一罩(22)上作用使所述筒(26)和所述第一罩(22)分开的推力。
14.根据权利要求13所述的校验适配器，其特征在于，所述弹簧元件(48)被配置成在径向上位于与所述校验适配器的同轴连接器(10)相反的位置。
15.根据权利要求13所述的校验适配器，其特征在于，所述弹簧元件(48)被固定到所述第一罩(22)。
16.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，所述校验标准部(38，40，42，44)中的至少一个校验标准部与所述筒(26)形成为一件。
17.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，所述校验适配器的同轴连接器(10)以所述校验适配器的同轴连接器(10)的纵向轴线与所述第一罩(22)的纵向轴线平行地延伸的方式与所述第一罩(22)连接。
18.根据权利要求1或2所述的校验适配器，其特征在于，环状槽(52)形成在所述筒(26)的面对所述第一罩(22)的一侧，所述环状槽(52)使所述筒(26)的用于所述校验标准部(38，40，42，44)的凹部彼此连接。
19.根据权利要求1所述的校验适配器，其特征在于，所述待校验装置的同轴连接器是矢量网络分析仪(VNA)的测量端口。
20.根据权利要求1所述的校验适配器，其特征在于，所述校验适配器的同轴连接器(10)是同轴插头或同轴插座或同轴耦合器。
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