CN101650976A - 闪存管理装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种闪存管理装置，包括：用于控制筛选处理的控制器；根据控制器的控制对次片闪存介质分别进行筛选处理，并对筛选得到的至少一次片闪存介质分别进行扫描处理的至少一测试架；和将至少一测试架与控制器连接，建立至少一次片闪存介质与控制器的数据传输通道的USB接口装置。本发明还提出一种闪存管理方法。本发明可从大量次片闪存介质中快速筛选出符合预定标准的次片闪存介质，并将这些次片闪存介质通过扫描处理成可以正常存储数据使用的闪存介质。利用本发明可以提高次片闪存介质的筛选处理，简化生产流程，对生产设备和人力进行高效的利用。

Description

闪存管理装置及方法

技术领域

本发明涉及半导体存储介质领域，特别涉及一种闪存管理装置及方法。

背景技术

闪存介质(Flash)包括多个存储块简称块(Block，擦除闪存介质的基本单位)，每个块包括多个页(Page，读写闪存介质的基本单位)，每个页包括多个位(bit，取值为0或1)。可以实现取值从0到1和从1到0的逆转换的位是可以使用的，称为好位；否则认为是不可使用的坏位。

由于生产工艺和技术的限制，生产大容量闪存介质可能产生大量容量不足或有瑕疵的闪存介质，称为次片闪存介质(CM Flash)。对次片闪存介质进行筛选，取尚可使用的次片闪存介质，屏蔽掉其中不可使用的块即可做为正常闪存介质使用。

现有技术对所有次片闪存介质都进行扫描以实现筛选。由于并非所有次片闪存介质都可以通过屏蔽成为可用的闪存介质，而扫描次片闪存介质需较长时间，如果对所有次片闪存介质都扫描会浪费资源。目前已有的扫描技术判断某块是否好块的做法是将某块擦除，然后写数据到该块，再从每一页中读出数据，与写入的数据相比较。当某页中超过预定数量的位出现写入和读出的数据不相同，则认为该页是坏页；否则认为该页是好页。同理，当某块中超过预定数量的页为坏页，则认为该块是坏块；否则认为该块是好块。对于包含较少坏块的闪存介质，采用上述扫描方法就可以顺利完成识别；而对于次片闪存介质只进行一次扫描不能保证发现所有的坏块，现有技术采用多次扫描的方式找出所有坏块，效率低耗时长。

现有技术同时对多个次片闪存介质进行扫描时，如果发现不可使用的次片闪存介质，操作人员需将其从测试架上取出；为使操作人员找到该不可使用的次片闪存介质，需要对操作人员给出其在测试架上的位置。而在实际生产过程中，由于每个闪存介质扫描所需时间不同，若对多个闪存介质同时扫描就必须等所有闪存介质都扫描完，才能进行下一步操作，可能浪费时间，影响生产效率。

现有扫描技术一个扫描进程只支持单个闪存介质的测试，在进行大批量扫描时会进一步影响生产效率。

随着闪存介质技术和应用的快速发展，闪存介质容量越来越大，对闪存介质扫描效率和闪存介质良率的要求也越来越高。采用上述现有技术能全面准确地完成扫描，但对多个大容量次片闪存介质进行扫描往往需要耗费大量时间，效率较低不适于实际生产应用；现有另一种扫描技术可以提高扫描速度，但无法全面找出坏块，扫描结果准确度和可靠性不强。

发明内容

本发明的目的在于提供一种针对次片闪存介质的闪存管理装置及方法，以实现对次片闪存介质的快速准确筛选和处理。

本发明提出一种闪存管理装置，包括：用于控制筛选处理的控制器；根据控制器的控制对次片闪存介质分别进行筛选处理，并对筛选得到的至少一次片闪存介质分别进行扫描处理的至少一测试架；和将至少一测试架与控制器连接，建立至少一次片闪存介质与控制器的数据传输通道的USB接口装置。

优选地，上述至少一测试架还对经过扫描处理的至少一次片闪存介质判断是否可用。

优选地，上述筛选处理由所述控制器、至少一测试架和USB接口装置配合，通过鉴别从次片闪存介质中读取的识别码实现和/或通过对次片闪存介质读写比较实现。

优选地，上述的闪存管理装置对至少一次片闪存介质分别分配线程，进行筛选过程和/或处理过程。

优选地，上述至少一测试架包括：用于与USB接口装置连接，建立数据传输通道的接口；用于与次片闪存介质连接并交换数据的卡座；用于将测试架与USB接口装置连接导通或切断的开关；和分别与接口、卡座和开关分别连接并交换数据的基板。

优选地，上述至少一测试架还包括：设置在基板上，根据对次片闪存介质的筛选结果发出提示信号的提示单元。

本发明还提出一种闪存管理方法，包括：分别对至少一次片闪存介质进行筛选处理步骤；和对筛选得到的至少一次片闪存介质分别进行扫描处理的步骤。

优选地，上述的闪存管理方法还包括：对经过扫描处理的次片闪存介质判断是否可用的步骤。

优选地，上述筛选处理包括：读取次片闪存介质的闪存介质识别码的步骤；鉴别所述闪存介质识别码，根据鉴别结果筛选或剔除次片闪存介质的步骤。

优选地，上述筛选处理包括：选取次片闪存介质中的一块，写入预设数据的步骤；从所述块读取数据的步骤；比较写入的数据和读取的数据是否相同，根据比较结果筛选或剔除次片闪存介质的步骤。

优选地，上述的闪存管理方法对至少一次片闪存介质分别分配线程，进行筛选过程和/或处理过程。

本发明提供的闪存管理装置及方法可从大量次片闪存介质中快速筛选出符合预定标准的次片闪存介质，并将这些次片闪存介质通过扫描处理成可以正常存储数据使用的闪存介质。利用本发明可以提高次片闪存介质的筛选处理，简化生产流程，对生产设备和人力进行高效的利用。

附图说明

图1本发明第一实施例闪存管理装置结构示意图；

图2本发明第一实施例闪存管理流程示意图；

图3本发明第二实施例测试架结构示意图；

图4本发明第二实施例测试架工作过程示意图；

图5本发明第三、第七实施例第一筛选过程示意图；

图6本发明第三、第七实施例第二筛选过程示意图；

图7本发明第三实施例发出提示信号的具体过程示意图；

图8本发明第四、第八实施例标记坏块的流程示意图；

图9本发明第四、第八实施例线程管理流程示意图；

图10本发明第四、第八实施例控制器工作流程示意图；

图11本发明第五、第十实施例格式化过程的流程示意图；

图12本发明第五、第十实施例测试格式化后闪存介质的流程示意图；

图13本发明第六实施例闪存管理方法的流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

本发明提出第一实施例，闪存管理装置，采用测试架分别对多个次片闪存介质进行筛选，对筛选出的次片闪存介质进行处理，使其成为可使用的正常闪存介质。

如图1所示，本实施例的闪存管理装置包括：用于控制筛选处理的控制器1、根据控制器1的控制，对次片闪存介质分别进行筛选处理的至少一测试架3和将至少一测试架3与控制器1连接，建立数据传输通道的USB接口装置2。

本实施例对闪存管理的流程如图2所示：

步骤S1、至少一测试架3分别与至少一次片闪存介质连接，通过USB接口装置2建立至少一次片闪存介质与控制器1的数据传输通道；

步骤S2、至少一测试架3根据控制器1的控制，分别对至少一次片闪存介质进行筛选；

步骤S3，判断至少一次片闪存介质是否符合预定标准，不符合预定标准则进行步骤S4，否则进行步骤S5；

步骤S4，发出提示信号，以便剔除至少一次片闪存介质；

步骤S5、对通过上述步骤S3筛选得到的至少一次片闪存介质分别进行扫描处理；

步骤S6，判断次片闪存介质是否可用，若不可用则进行步骤S4，否则进行步骤S7；

步骤S7，将至少一次片闪存介质作为正常闪存介质，流程结束。

上述步骤S3中的预定标准是默认或由操作人员预先设定的允许次片闪存介质中存在的坏块数或坏块所占比例，超过该预设标准则认为次片闪存介质不可使用，将其筛除。

上述步骤S6中判断次片闪存介质是否可用是根据扫描产生的好坏块信息表和对闪存介质进行文件读写测试进行判断。

基于上述实施例，本发明提出第二实施例。参照图3，闪存管理装置的至少一测试架3包括用于与USB接口装置2连接，建立数据传输通道的接口301、用于与次片闪存介质连接并交换数据的卡座302、根据对次片闪存介质的筛选结果发出提示信号的提示单元303、用于将测试架3与USB接口装置2连接导通或切断的开关304和分别与接口301、卡座302、提示单元303和开关304连接并交换数据，实现对次片闪存介质筛选处理的基板305。至少一测试架3向与其连接的次片闪存介质进行基本的数据操作，包括读、写、擦除等。

现有技术的测试架与USB接口装置的连接或断开是通过插、拔USB接口的方式实现的，操作人员在使用现有技术时需反复插拔USB接口，工作量大且易损伤USB接口。本实施例提出采用开关304实现将测试架3与USB接口装置2的连接导通或切断，较现有技术降低测试人员工作量，保护USB接口。本实施例的USB接口装置2可采用USB Hub实现。

卡座302固定次片闪存介质，分别与次片闪存介质和基板305连接，与次片闪存介质交换数据。卡座302易于拆、装次片闪存介质，便于操作人员迅速更换次片闪存介质。

提示单元303采用LED指示灯，根据基板305的控制发出提示信号。基板305对与其连接的次片闪存介质筛选过程中，提示单元303恒亮或熄灭；当筛选结果为该次片闪存介质不符合预定标准，该次片闪存介质不可使用，则基板305控制提示单元303熄灭或发光，为测试人员发出提示信息，供测试人员快速找到不可使用的次片闪存介质，提高人工操作准确度，节省时间。

本实施例的工作过程如图4所示：

步骤S201、卡座302分别固定至少一次片闪存介质，开关304将次片闪存介质与基板305的连接导通；基板305、接口301和USB接口装置2建立至少一次片闪存介质与控制器1的数据传输通道；

步骤S202、控制器1经USB接口装置2分别向至少一次片闪存介质发出筛选指令进行筛选；

步骤S203，基板305分别经USB接口装置2接收所述筛选指令，根据筛选指令对与其连接的次片闪存介质进行筛选，向控制器1返回筛选数据；

步骤S204，控制器1根据筛选数据判断相应次片闪存介质是否符合预定标准，产生筛选结果；筛选结果为不符合预定标准则进行步骤S205，否则进行步骤S207；

步骤S205，控制器1向相应基板305发出剔除指令；

步骤S206，基板305根据剔除指令控制提示单元303发出提示信号，指示操作人员移除相应至少一次片闪存介质；开关304将次片闪存介质与基板305的连接切断，以便操作人员将至少一次片闪存介质从卡座302取下；

步骤S207、控制器1分别发出扫描指令，对至少一次片闪存介质进行扫描；

步骤S208，基板305分别经USB接口装置2接收所述扫描指令，根据扫描指令对与其连接的次片闪存介质进行扫描，向控制器1返回扫描数据；

步骤S209，控制器1根据扫描数据判断相应次片闪存介质是否可用，若不可用则进行步骤S205，否则进行步骤S210；

步骤S210，将至少一次片闪存介质作为正常闪存介质，流程结束。

本实施例提出，为便于操作人员使用闪存管理装置，本实施例还包括制具，制具为框架结构，固定至少一测试架3，使其整齐稳固排列在制具上，方便操作人员的操作。

本实施例只需要花费毫秒级的时间就可以判断一次片闪存介质有没有扫描处理的必要，避免对不符合预定标准的次片闪存介质进行扫描，节约时间。

本发明提出第三实施例，提出调用筛选过程实现筛选，调用扫描过程实现扫描。

本实施例提出利用闪存介质识别码(Flash ID)的第一筛选过程。每种型号的闪存介质分别对应一个固定的识别码，该识别码分别记录在这种闪存介质的规格说明书和闪存介质中。第一筛选过程由由所述控制器、至少一测试架和USB接口装置配合，根据对该识别码的鉴别进行：正常情况下从闪存介质中读取的识别码与规格说明书中的识别码是相符的；而如果从闪存介质中读取的识别码与规格说明书中的识别码是不符，则认为该闪存介质不可用。

参照图5，第一筛选过程具体包括：

步骤S301，控制器1经USB接口装置2分别发出读取闪存介质识别码的指令；

步骤S302，至少一基板305根据接收到的指令分别读取次片闪存介质的闪存介质识别码并返回给控制器1；

步骤S303，控制器1将返回的闪存介质识别码与规格说明书中的闪存介质识别码比较，若两者不符则进行步骤S304，否则进行步骤S305；

步骤S304，得出相应次片闪存介质不符合预定标准的筛选结果，筛选过程结束；

步骤S305，得出相应次片闪存介质符合预定标准的筛选结果，筛选过程结束。

本实施例提出，为适应不同种类、型号的次片闪存介质，实现同时筛选多种次片闪存介质，可预先建立识别码库，将各种类、型号的次片闪存介质的识别码读出并存储在识别码库中。在上述筛选过程的步骤S303，在识别码库中查找是否有与返回的闪存介质识别码相符的识别码，如果没有找到则认为筛选结果为不符合预定标准，如果找到相符的则认为符合预定标准。

本实施例还提出由所述控制器、至少一测试架和USB接口装置配合，比较读写数据实现筛选的第二筛选过程。

基于闪存介质的特性，对闪存介质的一个好块写入数据再读取，得到的两数据应该是相同的；如果向一个块写入的数据与读取得到的数据不同，则认为该块为坏块。对次片闪存介质的一块写入预设数据再读取，然后比较读取数据与预设数据是否相同以判断该块是否坏块的做法简称为读写比较。若次片闪存介质中坏块个数或在所有块数中所占的比例超出预定标准所容许的限度，则认为该次片闪存介质不符合预定标准。参照图6，为快速估计次片闪存介质中坏块个数或所占比例，第二筛选过程包括步骤：

步骤S311，控制器选取在基板上的次片闪存介质中的一块；

步骤S312，向选中块写入预设数据；

步骤S313，从选中块读取数据；

步骤S314比较写入的数据和读取的数据是否相同；若不同则进行步骤S315，否则进行步骤S316；

步骤S315，认为选中块为坏块；

步骤S316，认为选中块为好块；

步骤S317，判断是否退出第二筛选过程，若不退出则进行步骤S311，否则第二筛选过程结束。

上述筛选过程中，选取次片闪存介质中的一块进行读写比较是采用二分筛选方法，即对次片闪存介质中的首、尾两块分别进行读写比较，再对闪存介质中部的块进行读写比较；再分别对这三块中相邻两块区间中位于中部的块进行读写比较。设一次片闪存介质有A+1个块，块号从0到A。先分别读写比较0块、A块和(0+A)/2块；再读写比较以0块和(0+A)/2块为端点的区间中部的(0+(0+A)/2)/2块、和以(0+A)/2块和A块为端点的区间中部的((0+A)/2+A)/2块；再分别读写比较以0块和(0+(0+A)/2)/2块为端点的区间中部的(0+(0+(0+A)/2)/2)/2块、以(0+(0+A)/2)/2块和(0+A)/2块为端点的区间中部的((0+(0+A)/2)/2+(0+A)/2)/2块、以(0+A)/2和((0+A)/2+A)/2块为端点的区间中部的((0+A)/2+((0+A)/2+A)/2)/2块，以及以((0+A)/2+A)/2和A块为端点的区间中部的(((0+A)/2+A)/2+A)/2块......依此类推，直到对次片闪存介质中的所有块都完成读写比较，或者根据操作人员指令停止筛选。

本实施例提出提示单元303根据对次片闪存介质的筛选结果发出提示信号，参照图7，具体包括步骤：

步骤S41，控制器1根据操作人员发出的剔除指令或根据对次片闪存介质的筛选结果向指定剔除的次片闪存介质所在的基板305发出剔除指令；

步骤S42，基板305根据接收到的剔除指令，对与其连接的次片闪存介质执行弹出操作，开关304将次片闪存介质与基板305的连接切断；

步骤S43，待弹出操作完成，基板305控制提示单元303发出提示信号。

通过上述步骤，本实施例利用与次片闪存介质对应的基板305和提示单元303，向操作人员发出简明清楚的提示信号，便于操作人员简便快捷地找到、弹出并取下不符合预定标准的次片闪存介质。

本实施例只需花费几秒就可估算一次片闪存介质中坏块的数量，进而估算其有效容量，从而确定是否对该次片闪存介质进行扫描以及扫描次数和精度，还可筛除坏块过多，无扫描必要的次片闪存介质。提高处理效率。

本发明为进一步提高处理次片闪存介质的效率，适应工业生产，提出改进的第四实施例。

采用上述实施例对筛选得到的次片闪存介质进行扫描处理，通过一次扫描只能发现次片闪存介质中大部分坏块，重复多次扫描所需时间较长；而如果降低扫描精度或次数，可能找不出所有的坏块，产生存储数据损坏或丢失的隐患。为此分析次片闪存介质中坏块的分布规律，发现大部分坏块都呈连续集中分布，而非单个零散分布。基于这一规律，本实施例提出对扫描产生的好坏块信息表进行处理，将其中坏块的前块和/或后块标记为坏块的方案，可以发现大部分未扫描出的坏块，有效提高扫描后的良率，减少遗漏坏块造成的隐患。

参照图8，本实施例标记坏块的流程包括：

步骤S501，读取扫描次片闪存介质得到的好坏块信息表；

步骤S502，设指针k，其初始值为k＝1；

步骤S503，读取好坏块信息表中指针k指向块的好坏信息，判断其是否为坏块，若是坏块则进行步骤S504，否则进行步骤S505；

步骤S504，在好坏块信息表中将指针k指向块的前一块，即k-1块标为坏块；

步骤S505，k+1，指针k指向下一块；

步骤S506，判断指针k是否小于次片闪存介质的总块数，若小于则进行步骤S503，否则进行步骤S507；

步骤S507，指针k取值设为0；

步骤S508，读取好坏块信息表中指针k指向块的好坏信息，判断其是否为坏块，若是坏块则进行步骤S509，否则进行步骤S510；

步骤S509，在好坏块信息表中将指针k指向块的后一块，即k+1块标为坏块；

步骤S510，k+1，指针k指向下一块；

步骤S511，判断指针k是否小于次片闪存介质的总块数-1，若小于则进行步骤S508，否则流程结束。

本实施例还提出，在对次片闪存介质筛选和扫描过程中使用控制器多线程管理技术，对每个待筛选或扫描的次片闪存介质分配一个线程，实现对一个或多个次片闪存介质分别进行筛选和/或处理，充分利用控制器处理能力，大大提高筛选和扫描效率。参照图9所示，线程管理流程包括：

步骤S61，与次片闪存介质连接，建立数据传输通道；

步骤S62，创建一对应该次片闪存介质的线程；

步骤S63，在该线程中对次片闪存介质进行筛选和/或扫描处理；

步骤S64，待完成对该次片闪存介质的筛选和/或扫描处理，关闭该线程；

步骤S65，断开与次片闪存介质的连接。

本实施例还提出控制器工作机制，分别检测是否与次片闪存介质连接并建立数据传输通道，对次片闪存介质创建一线程，用该线程对次片闪存介质进行读写测试。如果控制器分别与多个次片闪存介质连接则创建多线程，各线程分别对相应次片闪存介质进行筛选和/或扫描处理，线程间互不影响。

参照图10所示，控制器工作流程包括：

步骤S71，获取一次片闪存介质信息，具体做法是获取一个盘符；

步骤S72，判断该次片闪存介质连接是否正常，具体做法是根据获取的盘符判断该盘是否闪存盘，即是否对应次片闪存介质；如果正常则进行步骤S73，否则进行步骤S74；

步骤S73，创建线程对该次片闪存介质进行筛选和/或扫描处理；

步骤S74，判断是否已遍历完所有次片闪存介质，即判断是否已对所有次片闪存介质都分配线程，若已遍历完则进行步骤S75，否则进行步骤S71；

步骤S75，等待各线程的筛选和/或扫描处理结束，回收已完成筛选和/或扫描处理的线程，流程结束。

基于上述实施例，本发明提出第五实施例，对于已通过筛选和扫描的次片闪存介质分别按其好坏块信息表计算好块容量总和，将该容量总和与闪存介质标准容量比较，取能够达到的最大标准容量对次片闪存介质进行格式化，使其成为可使用的闪存介质并具有标准容量，在后续生产工序中直接贴片即可使用，提高生产效率。

参照图11，格式化过程包括：

步骤S81，获取次片闪存介质对应的好坏块信息表；

步骤S82，根据好坏块信息表中好块的总数计算好块容量总和；

步骤S83，获取次片闪存介质在没有坏块的情况下能达到的标准容量；

步骤S84，把好块容量总和与上述获取到的标准容量比较，如果好块容量总和达到标准容量，则进行步骤S85；否则进行步骤S86；

步骤S85，按照当前标准容量格式化次片闪存介质，过程结束；

步骤S86，判断当前标准容量是否是该类次片闪存介质的最低标准容量，若是则过程结束，格式化失败；否则进行步骤S87；

步骤S87，获取次片闪存介质低一级的容量标准，进行步骤S84。

本实施例提出格式化后进行测试的过程，通过多文件分别读写比较测试格式化后的闪存介质是否可用。参照图12所示，具体过程包括：

步骤S91，获取次片闪存介质的容量；

步骤S92，把次片闪存介质的容量分为M份，每份容量为N；

步骤S93，生成或取得大小等于N的预设数据；

步骤S94，在次片闪存介质中创建M个文件；

步骤S95，发送命令清空控制器缓冲区，模拟次片闪存介质的弹出和连接，使缓冲区中大小为N的预设数据分别写入到次片闪存介质的M个文件中，使各文件的大小均等于次片闪存介质容量的M分之一；

步骤S96，分别读取次片闪存介质中各文件中的数据，与步骤S93生成的预设数据分别比较；

步骤S97，判断从次片闪存介质中读取的数据是否与预设数据相同，若相同则进行步骤S98，否则进行步骤S99；

步骤S98，判断是否已完成对次片闪存介质中各文件的读写比较，若已经完成则进行步骤S99，否则执行步骤S96；

步骤S99，删除次片闪存介质中的多个文件，根据读写比较的结果生成筛选结果。

上述M、N均为自然数，取值根据次片闪存介质的容量及实际情况确定。

本发明提出第六实施例，如图13所示，一种闪存管理方法包括：

步骤S11、分别对至少一次片闪存介质进行筛选处理；

步骤S12，判断至少一次片闪存介质是否符合预定标准，不符合预定标准则进行步骤S13，否则进行步骤S14；

步骤S13，剔除至少一次片闪存介质；

步骤S14、对至少一次片闪存介质分别进行扫描处理；

步骤S15，判断次片闪存介质是否可用，若不可用则进行步骤S13，否则进行步骤S16；

步骤S16，将至少一次片闪存介质作为正常闪存介质。

上述步骤S12中的预定标准是默认或由操作人员预先设定的允许次片闪存介质中存在的坏块数或坏块所占比例，超过该预设标准则认为次片闪存介质不可使用，将其筛除。

上述步骤S15中判断次片闪存介质是否可用是根据扫描产生的好坏块信息表进行判断。

本发明提出第七实施例，提出调用筛选过程实现筛选，调用扫描过程实现扫描。

本实施例提出利用闪存介质识别码(Flash ID)的第一筛选过程。每种型号的闪存介质分别对应一个固定的识别码，该识别码分别记录在这种闪存介质的规格说明书和闪存介质中。正常情况下从闪存介质中读取的识别码与规格说明书中的识别码是相符的；而如果从闪存介质中读取的识别码与规格说明书中的识别码是不符，则认为该闪存介质不可用。

参照图5，第一筛选过程具体包括：

步骤S301，发出读取闪存介质识别码的指令；

步骤S302，根据所述指令读取次片闪存介质的闪存介质识别码；

步骤S303，将闪存介质识别码与规格说明书中的闪存介质识别码比较，若两者不符则进行步骤S304，否则进行步骤S305；

步骤S304，得出相应次片闪存介质不符合预定标准的筛选结果，筛选过程结束；

步骤S305，得出相应次片闪存介质符合预定标准的筛选结果，筛选过程结束。

本实施例提出，为适应不同种类、型号的次片闪存介质，实现同时筛选多种次片闪存介质，可预先建立识别码库，将各种类、型号的次片闪存介质的识别码读出并存储在识别码库中。在上述筛选过程的步骤S303，在识别码库中查找是否有与返回的闪存介质识别码相符的识别码，如果没有找到则认为筛选结果为不符合预定标准，如果找到相符的则认为符合预定标准。

本实施例还提出比较读写数据实现筛选的第二筛选过程。

基于闪存介质的特性，对闪存介质的一个好块写入数据再读取，得到的两数据应该是相同的；如果向一个块写入的数据与读取得到的数据不同，则认为该块为坏块。对次片闪存介质的一块写入预设数据再读取，然后比较读取数据与预设数据是否相同以判断该块是否坏块的做法简称为读写比较。若次片闪存介质中坏块个数或在所有块数中所占的比例超出预定标准所容许的限度，则认为该次片闪存介质不符合预定标准。参照图6，为快速估计次片闪存介质中坏块个数或所占比例，第二筛选过程包括步骤：

步骤S311，选取次片闪存介质中的一块；

步骤S312，向选中块写入预设数据；

步骤S313，从选中块读取数据；

步骤S314比较写入的数据和读取的数据是否相同；若不同则进行步骤S315，否则进行步骤S316；

步骤S315，认为选中块为坏块；

步骤S316，认为选中块为好块；

步骤S317，判断是否退出第二筛选过程，若不退出则进行步骤S311，否则第二筛选过程结束。

上述筛选过程中，选取次片闪存介质中的一块进行读写比较是采用二分筛选方法，即对次片闪存介质中的首、尾两块分别进行读写比较，再对闪存介质中部的块进行读写比较；再分别对这三块中相邻两块区间中位于中部的块进行读写比较。设一次片闪存介质有A+1个块，块号从0到A。先分别读写比较0块、A块和(0+A)/2块；再读写比较以0块和(0+A)/2块为端点的区间中部的(0+(0+A)/2)/2块、和以(0+A)/2块和A块为端点的区间中部的((0+A)/2+A)/2块；再分别读写比较以0块和(0+(0+A)/2)/2块为端点的区间中部的(0+(0+(0+A)/2)/2)/2块、以(0+(0+A)/2)/2块和(0+A)/2块为端点的区间中部的((0+(0+A)/2)/2+(0+A)/2)/2块、以(0+A)/2和((0+A)/2+A)/2块为端点的区间中部的((0+A)/2+((0+A)/2+A)/2)/2块，以及以((0+A)/2+A)/2和A块为端点的区间中部的(((0+A)/2+A)/2+A)/2块......依此类推，直到对次片闪存介质中的所有块都完成读写比较，或者根据操作人员指令停止筛选。

本实施例只需花费几秒就可估算一次片闪存介质中坏块的数量，进而估算其有效容量，从而确定是否对该次片闪存介质进行扫描以及扫描次数和精度，还可筛除坏块过多，无扫描必要的次片闪存介质。提高处理效率。

本发明为进一步提高处理次片闪存介质的效率，适应工业生产，提出改进的第八实施例。

采用上述实施例对筛选得到的次片闪存介质进行扫描处理，通过一次扫描只能发现次片闪存介质中大部分坏块，重复多次扫描所需时间较长；而如果降低扫描精度或次数，可能找不出所有的坏块，产生存储数据损坏或丢失的隐患。为此分析次片闪存介质中坏块的分布规律，发现大部分坏块都呈连续集中分布，而非单个零散分布。基于这一规律，本实施例提出对扫描产生的好坏块信息表进行处理，将其中坏块的前块和/或后块标记为坏块的方案，可以发现大部分未扫描出的坏块，有效提高扫描后的良率，减少遗漏坏块造成的隐患。

参照图8，本实施例标记坏块的流程包括：

步骤S501，读取扫描次片闪存介质得到的好坏块信息表；

步骤S502，设指针k，其初始值为k＝1；

步骤S503，读取好坏块信息表中指针k指向块的好坏信息，判断其是否为坏块，若是坏块则进行步骤S504，否则进行步骤S505；

步骤S504，在好坏块信息表中将指针k指向块的前一块，即k-1块标为坏块；

步骤S505，k+1，指针k指向下一块；

步骤S506，判断指针k是否小于次片闪存介质的总块数，若小于则进行步骤S503，否则进行步骤S507；

步骤S507，指针k取值设为0；

步骤S508，读取好坏块信息表中指针k指向块的好坏信息，判断其是否为坏块，若是坏块则进行步骤S509，否则进行步骤S510；

步骤S509，在好坏块信息表中将指针k指向块的后一块，即k+1块标为坏块；

步骤S510，k+1，指针k指向下一块；

步骤S511，判断指针k是否小于次片闪存介质的总块数-1，若小于则进行步骤S508，否则流程结束。

本实施例还提出，在对次片闪存介质筛选和扫描过程中使用多线程管理技术，对每个待筛选或扫描的次片闪存介质分配一个线程，实现对一个或多个次片闪存介质分别进行筛选和/或处理，提高筛选和扫描效率。参照图9所示，线程管理流程包括：

步骤S61，与次片闪存介质连接；

步骤S62，创建一对应该次片闪存介质的线程；

步骤S63，在该线程中对次片闪存介质进行筛选和/或扫描处理；

步骤S64，待完成对该次片闪存介质的筛选和/或扫描处理，关闭该线程；

步骤S65，断开与次片闪存介质的连接。

本实施例对多线程管理技术进行改进，提出分别检测次片闪存介质，对次片闪存介质创建一线程，用该线程对次片闪存介质进行读写测试。如果有多个次片闪存介质，各线程分别对相应次片闪存介质进行筛选和/或扫描处理，线程间互不影响。

参照图10所示，多线程管理流程包括：

步骤S71，获取一次片闪存介质信息；

步骤S72，判断该次片闪存介质连接是否正常，如果正常则进行步骤S73，否则进行步骤S74；

步骤S73，创建线程对该次片闪存介质进行筛选和/或扫描处理；

步骤S74，判断是否已遍历完所有次片闪存介质，即判断是否已对所有次片闪存介质都分配线程，若已遍历完则进行步骤S75，否则进行步骤S71；

步骤S75，等待各线程的筛选和/或扫描处理结束，回收已完成筛选和/或扫描处理的线程，流程结束。

基于上述实施例，本发明提出第十实施例，对于已通过筛选和扫描的次片闪存介质分别按其好坏块信息表计算好块容量总和，将该容量总和与闪存介质标准容量比较，取能够达到的最大标准容量对次片闪存介质进行格式化，使其成为可使用的闪存介质并具有标准容量，在后续生产工序中直接贴片即可使用，提高生产效率。参照图11，本实施例格式化过程包括：

步骤S81，获取次片闪存介质对应的好坏块信息表；

步骤S82，根据好坏块信息表中好块的总数计算好块容量总和；

步骤S83，获取次片闪存介质在没有坏块的情况下能达到的标准容量；

步骤S84，把好块容量总和与上述获取到的标准容量比较，如果好块容量总和达到标准容量，则进行步骤S85；否则进行步骤S86；

步骤S85，按照当前标准容量格式化次片闪存介质，过程结束；

步骤S86，判断当前标准容量是否是该类次片闪存介质的最低标准容量，若是则过程结束，格式化失败；否则进行步骤S87；

步骤S87，获取次片闪存介质低一级的容量标准，进行步骤S84。

本实施例提出格式化后进行测试的过程，通过多文件分别读写比较测试格式化后的闪存介质是否可用。参照图12所示，具体过程包括：

步骤S91，获取次片闪存介质的容量；

步骤S92，把次片闪存介质的容量分为M份，每份容量为N；

步骤S93，生成或取得大小等于N的预设数据；

步骤S94，在次片闪存介质中创建M个文件；

步骤S95，发送命令清空控制器缓冲区，模拟次片闪存介质的弹出和连接，使缓冲区中大小为N的预设数据分别写入到次片闪存介质的M个文件中，使各文件的大小均等于次片闪存介质容量的M分之一；

步骤S96，分别读取次片闪存介质中各文件中的数据，与步骤S93生成的预设数据分别比较；

步骤S97，判断从次片闪存介质中读取的数据是否与预设数据相同，若相同则进行步骤S98，否则进行步骤S99；

步骤S98，判断是否已完成对次片闪存介质中各文件的读写比较，若已经完成则进行步骤S99，否则执行步骤S96；

步骤S99，删除次片闪存介质中的多个文件，根据读写比较的结果生成筛选结果。

上述M、N均为自然数，取值根据次片闪存介质的容量及实际情况确定。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (11)

1.一种闪存管理装置，包括：

用于控制筛选处理的控制器；

根据控制器的控制对次片闪存介质分别进行筛选处理，并对筛选得到的至少一次片闪存介质分别进行扫描处理的至少一测试架；和

将至少一测试架与控制器连接，建立至少一次片闪存介质与控制器的数据传输通道的USB接口装置。

2.如权利要求1所述的闪存管理装置，其特征在于：

所述至少一测试架还对经过扫描处理的至少一次片闪存介质判断是否可用。

3.如权利要求1所述的闪存管理装置，其特征在于：

所述筛选处理由所述控制器、至少一测试架和USB接口装置配合，通过鉴别从次片闪存介质中读取的识别码实现和/或通过对次片闪存介质读写比较实现。

4.如权利要求1所述的闪存管理装置，其特征在于：

对至少一次片闪存介质分别分配线程，进行筛选过程和/或处理过程。

5.如权利要求1至4任意一项所述的闪存管理装置，其特征在于，所述至少一测试架包括：

用于与USB接口装置连接，建立数据传输通道的接口；

用于与次片闪存介质连接并交换数据的卡座；

用于将测试架与USB接口装置连接导通或切断的开关；和

分别与接口、卡座和开关分别连接并交换数据的基板。

6.如权利要求5所述的闪存管理装置，其特征在于，所述至少一测试架还包括：

设置在基板上，根据对次片闪存介质的筛选结果发出提示信号的提示单元。

7.一种闪存管理方法，包括：

分别对至少一次片闪存介质进行筛选处理步骤；和

对筛选得到的至少一次片闪存介质分别进行扫描处理的步骤。

8.如权利要求7所述的闪存管理方法，其特征在于，还包括：

对经过扫描处理的次片闪存介质判断是否可用的步骤。

9.如权利要求7或8所述的闪存管理方法，其特征在于，所述筛选处理包括：

读取次片闪存介质的闪存介质识别码的步骤；

鉴别所述闪存介质识别码，根据鉴别结果筛选或剔除次片闪存介质的步骤。

10.如权利要求7或8所述的闪存管理方法，其特征在于，所述筛选处理包括：

选取次片闪存介质中的一块，写入预设数据的步骤；

从所述块读取数据的步骤；

比较写入的数据和读取的数据是否相同，根据比较结果筛选或剔除次片闪存介质的步骤。

11、如权利要求7或8所述的闪存管理方法，其特征在于：对至少一次片闪存介质分别分配线程，进行筛选过程和/或处理过程。

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