CN101598669A - 一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置 - Google Patents
一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置，包括传动轴、底座、以及设置于传动轴上端的隔热块及原子化器定位座，底座上设有一固定轴套，底座上还设有指示定位块，固定轴套与传动轴套之间设有一对轴承，传动轴套与传动轴之间设有细牙螺纹传动副，传动轴套上设有转轮，传动轴的底部设有限位块，传动轴上设有指针定位块，指针杆位于指针定位块的一侧。本装置在上下调节过程中，属于微调操作，调节过程既简单精确又平稳，对仪器信噪比的提高起着关键的作用，且该装置制造方便，维护和更换简单。其适用于环境保护、临床医学、农业、地质冶金、制药行业、石化行业等行业的原子光谱分析的原子化器的高度调节之用。
Description
技术领域
本发明涉及一种原子荧光光谱仪，具体涉及一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置。
背景技术
原子荧光光谱分析是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术，是原子光谱法中的一个重要分支，它是原子吸收和原子发射光谱的综合与发展，是一种优良的痕量分析技术。
现有技术中，原子荧光光谱仪主要用于检测Hg，As、Se、Te、Bi、Sb、Sn或其他元素的ppt级检测，其被广泛应用于环境保护、临床医学、农业、地质冶金、制药行业、石化行业等行业，其不仅可以测定金属元素，而且也可以被间接用来测定非金属元素和有机化合物。原子荧光光谱分析法(AFS)是利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性及定量分析方法，它的基本原理是原子蒸气吸收特征波长的光辐射之后，原子被激发至高能级，然后回到基态时便发射出一定波长的原子荧光，再依据荧光的强度分析所测元素的含量。原子荧光光谱仪的基本结构包括激发光源、原子化系统、分光工艺及系统、检测器、信号放大器以及数据处理器等部分。
不同元素的原子荧光最佳强度有不同的火焰激发位置，因此要求原子化器与光源之间的相对位置能可调节。而现有原子荧光光谱仪的原子化器高度调节装置，或者位置调节过程不够平稳，或者精度不够好，或者实现方法复杂。
因此对现有的双道原子荧光光谱仪的原子化器高度调节装置进行改进势在必行。
发明内容
本发明的目的在于克服上述技术的不足，提供一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置，其解决了原有原子荧光光谱仪的原子化器的高度调节装置存在的技术缺陷和设计弊端。
本发明为满足上述目的，采用以下技术方案：一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置，包括传动轴、底座、以及设置于所述传动轴上端的原子化器定位座，所述底座上设有一固定轴套，所述传动轴套与所述传动轴之间设有细牙螺纹传动副，所述传动轴套上设有转轮，所述固定轴套与传动轴套之间设有一对轴承。
更进一步：所述传动轴上设有指针定位块，所述底座上设有指示定位块，所述指针杆位于所述指针定位块的一侧。
更进一步，所述原子化器定位座底部设有隔热块。
更进一步，所述传动轴的底部设有限位块。
基于上述设计，本发明的优点在于：整个装置结构简单，布局合理；本装置在上下调节过程中，属于微调操作，调节过程既简单精确又平稳，对仪器信噪比的提高起着关键的作用，且该装置制造方便，维护和更换简单。
本发明的其他目的和优点可以从本发明所揭露的技术特征中得到进一步的了解。为让本发明之上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例并配合所附图式，作详细说明如下。
附图说明
图1是本发明之一实施例的一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置系统结构示意图；
图1中的标号说明：原子化器定位座11、隔热块12、指针定位块13、传动轴14、传动轴套15、固定轴套16、转轮17、限位块18、指针杆19、指示定位块20、轴承21、底座22。
具体实施方案：
请参考图1所示，本发明一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置1，包括传动轴14、底座22、以及设置于传动轴14上端的隔热块12及原子化器定位座11，传动轴14上还设有指针定位块13，底座22上设有一固定轴套16，底座22上还设有指示定位块20，固定轴套16与传动轴套15之间设有一对轴承21，传动轴套15与传动轴14之间设有细牙螺纹传动副，传动轴套15上设有转轮17，指针杆19位于指针定位块13的一侧。
本发明的用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置1的工作原理为：采用双轴承21及细牙螺纹传动副传动，轴承21可使运动平稳，所以调节时传动平稳且可以实现微量调节，通过转轮17带动传动轴套15，传动轴套15与传动轴14之间细牙螺纹传动，其中指针杆19与指示定位块20中的槽之间精密配合用于定向，起到在调节过程中避免传动轴14左右转动，达到调节平稳的要求。隔热块12可隔离原子化器在工作过程中产生的热量，限位块18可限定转轮的调节位置。
Claims (4)
1.一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置，包括传动轴、底座、以及设置于所述传动轴上端的原子化器定位座，其特征在于：所述底座上设有一固定轴套，所述传动轴套与所述传动轴之间设有细牙螺纹传动副，所述传动轴套上设有转轮，所述固定轴套与传动轴套之间设有一对轴承。
2.如权利要求1所述的用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置，其特征在于：所述传动轴上设有指针定位块，所述指针杆位于所述指针定位块的一侧，所述底座上设有指示定位块。
3.如权利要求1所述的用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置，其特征在于：所述原子化器定位座底部设有隔热块。
4.如权利要求1所述的用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置，其特征在于：所述传动轴的底部设有限位块。
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| CNA2009101817659A CN101598669A (zh) | 2009-07-23 | 2009-07-23 | 一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置 |
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| CNA2009101817659A CN101598669A (zh) | 2009-07-23 | 2009-07-23 | 一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置 |
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| CNA2009101817659A Pending CN101598669A (zh) | 2009-07-23 | 2009-07-23 | 一种用于原子荧光光谱仪原子化器的高度调节装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN101598669A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108072644A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-05-25 | 浙江福立分析仪器股份有限公司 | 一种自动调节原子荧光光谱仪原子化器高度的装置及方法 |
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2009
- 2009-07-23 CN CNA2009101817659A patent/CN101598669A/zh active Pending
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|---|---|---|---|---|
| CN108072644A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-05-25 | 浙江福立分析仪器股份有限公司 | 一种自动调节原子荧光光谱仪原子化器高度的装置及方法 |
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Legal Events
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| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
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Open date: 20091209 |