CN101572907B - 一种td-scdma终端时间开关模板测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及TD-SCDMA终端射频一致性测试应用领域，涉及TD-SCDMA终端测试装置测量TD-SCDMA终端发出射频信号的功率和时间变换的一种TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法。本发明通过控制射频开关闭合/关断状态改变射频信号到达射频前端的功率大小，实现测量TD-SCDMA终端信号功率变化较大的功能，在一个5ms子帧内就能完成TD-SCDMA终端时间开关模板(PVT)的测试，本发明对终端发射信号的重复性要求不高。本发明射频开关闭合/关断状态和接收的射频信号大小相关联，这样很好的保护射频模块，很好解决了其它测试方法对射频通道的高性能的要求。

Description

一种TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法

技术领域

本发明涉及TD-SCDMA终端射频一致性测试应用领域，具体地说涉及TD-SCDMA终端测试装置测量TD-SCDMA终端发出射频信号的功率和时间变换的一种TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法。

背景技术

射频一致性测试是通信行业非常关键的一致性测试之一，TD-SCDMA终端的射频一致性测试在标准3GPP 34.122上有严格的规定，其中时间开关模板(PVT)测试在终端设备研发、生产以及射频故障定位等方面起到非常重要的作用。

由于标准3GPP 34.122规定时间开关模板测试对测试设备要求很高，要求测试设备测量功率动态范围大于112dB/1.28MHz，这一技术指标对测试设备来说，采用传统的功率测量方法很难实现，目前传统的功率测量方法实现的功率动态范围大约为80dB/1.28MHz，因此，如何快速、准确测量出较大范围功率变化成为TD-SCDMA终端时间开关模板(PVT)测试项的技术难点，高效可行的时间开关模板(PVT)测量方法也成为TD-SCDMA终端射频一致性测试领域的研究热点。

已有的TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法主要是改变射频前端衰减器和中频衰减器的衰减量，对TD-SCDMA的信号进行两次采样，然后，对信号进行同步，再拟合，绘出PVT测试图形，判断是否满足3GPP标准的要求。该方法要求TD-SCDMA终端前后两次发送的信号基本一致，不利于TD-SCDMA终端新品的研发测量；另外，它对测试设备射频前端要求很高，因为终端正常发送最大信号为+24dBm，研发时，终端正常发送最大信号可能达到+30dBm，当射频衰减器设置为0时，射频前端长期在大功率冲击下，很难保证仪器的可靠性。

发明内容

本发明的目的是提供一种在一个5ms子帧内完成PVT测试、对TD-SCDMA终端发射信号的重复性没有要求，具有较强的通用性的TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法。

为实现发明目的，本发明提供的TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法按如下步骤进行：

(1)在TD-SCDMA终端测试装置与TD-SCDMA终端间建立12.2kbps的RMC参考测量信道，再配置使TD-SCDMA终端进入回环测试模式，并使TD-SCDMA终端用单码道进行传输，控制TD-SCDMA终端的发射功率到最大，完成测试的准备工作；

(2)置测试设备的射频开关于闭合状态；

(3)控制被测TD-SCDMA终端发送信号；

(4)通过测试设备中的时间延时装置向A/D转换器发出控制信号，确保第一个采样时钟上升沿滞后于射频开关控制信号，A/D转换器在一个码片时间内采样n个点，n≥2，数据处理装置并按下式计算每采样点的信号功率值：

P_ON＝N_sample+P_RF+P_S0

其中P_ON为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S0为射频开关处于闭合状态的功率损耗；

(5)数据处理装置通过对n个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{ON}1}}^2+{P_{\mathrm{ON}2}}^2+...+{P_{\mathrm{ONn}}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_ON1为码片第一个采样点的信号功率值，P_ON2为码片第二个采样点的信号功率值，P_ONn为码片第n个采样点的信号功率值；

(6)数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数进行比较，当采样码片数大于或等于一个子帧码元数，跳转到步骤(12)；当采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(7)数据比较装置将采样功率值P_ON与参考功率值P₁进行比较，当采样功率值P_ON小于参考功率值P₁时，射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，重复步骤(4)～(7)，当采样功率值P_ON大于、等于参考功率值P₁时，射频开关控制装置置射频开关于关断状态，进入下一步；

(8)A/D转换器在一个码片时间内采样n个点，n≥2，数据处理装置将按下式计算每采样点信号功率值：

P_OFF＝N_sample+P_RF+P_s1

其中P_OFF为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S1为射频开关处于关断状态的功率损耗；

(9)数据处理装置通过对n个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{OFF}1}}^2+{P_{\mathrm{OFF}2}}^2+...+{P_{\mathrm{OFFn}}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_OFF1为码片第一个采样点的信号功率值，P_OFF2为码片第二个采样点的信号功率值，P_OFFn为码片第n个采样点的信号功率值；

(10)将采样码片数与一个子帧码元数进行比较；当采样码片数大于、等于一个子帧码元数，跳转到步骤(12)；当采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(11)将采样功率值P_OFF与参考功率值P₂比较；参考功率值P₂小于参考功率值P₁，当采样功率值P_OFF大于参考功率值P₂时，通过射频开关控制装置置射频开关于关断状态，重复步骤(8)～(11)；当采样功率值P_OFF小于、等于参考功率值P2时，通过射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，跳转到步骤(4)；

(12)PVT绘制和判决装置根据TD-SCDMA标准和用户需求将对应位置的数据显示在对应发射时间开关模板上；

(13)PVT绘制和判决装置判断终端的发射信号功率是否在时间开关模板限定范围内，给出合格或不合格的测量结果。

在进行所述的步骤(4)与步骤(8)时，如在开关转换时间中采样，记录该采样点，采样一个码元以后，利用该采样点前后的采样数据，进行3次样条拟合修正该采样点的信号功率值。

本发明在进行TD-SCDMA终端时间开关模板测试之前，首先利用TD-SCDMA终端测试装置与TD-SCDMA终端建立12.2kbps的RMC参考测量信道，再配置使TD-SCDMA终端进入回环测试模式，并使被测的TD-SCDMA终端使用单码道进行传输，最后将TD-SCDMA终端的发射功率控制到最大，完成PVT测试的准备工作。按照标准3GPP 34.122要求每码片至少两个样点，采样时钟至少为2.56MHz，由于射频开关闭合/关断需要一定的响应时间，为避免射频开关动作对信号采样的影响，本发明的测试方法确保第一个采样时钟上升沿滞后于射频开关控制信号。

本发明通过控制射频开关闭合/关断状态改变射频信号到达射频前端的功率大小，实现测量TD-SCDMA终端信号功率变化较大的功能，在一个5ms子帧内就能完成TD-SCDMA终端时间开关模板(PVT)的测试，本发明对终端发射信号的重复性要求不高。本发明射频开关闭合/关断状态和接收的射频信号大小相关联，这样很好的保护射频模块，很好解决了其它测试方法对射频通道的高性能的要求。

本发明还提供了多种采样时钟，可以根据实际需求，进行改变。随着采样时钟的提高，每码片的采样点也将随着变得很多，这样会提高测试精度，但是，当采样周期大于射频开关闭合/关断的响应时间时，将会出现个别采样点的功率值不正确现象，所以本发明利用出现功率不正确的采样点前后的其它采样点，进行3次样条拟合，修正功率不正确的采样点的功率值，使采样点的功率值趋于正确。

本发明的有益效果是，可以在一个5ms子帧内准确测试TD-SCDMA终端PVT指标的同时，保护了射频接收单元，维护了TD-SCDMA终端测试设备的长期可靠性。同时本发明对终端发射信号的重复性要求不高。

附图说明

图1为本发明所提供TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法的实现框图；

图2为时间开关模板图；

图3为TD-SCDMA的子帧结构图；

图4采用本发明所提供TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法绘制的PVT函数图形(合格)；

图5采用本发明所提供TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法绘制的PVT函数图形(不合格)。

具体实施方式

下面结合附图并结合优选实施例来说明本发明所提供TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法。图1为本发明所提供TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法的实现框图。图2为时间开关模板图。由于射频开关器件的不一致性，因此射频开关闭合/关断状态下接收TD-SCDMA射频信号的差损对于每台TD-SCDMA终端测试装置，可能都会不一样，因此，仪器生产后，需要对射频开关闭合和关断的两种状态下接收TD-SCDMA射频信号的差损进行校准，将校准数据保存在寄存器中。在TD-SCDMA终端时间开关模板PVT测试时，接收TD-SCDMA射频信号功率实际大小等于采集的数据加上射频开关闭合/关断相应状态下的差损，得到一个动态范围较大的功率变化图形。3GPP标准规定PVT测试项可以由用户选定测试目标在时间上观察发射机的传输特性，可以观察特定的业务时隙、UpPTS、DwPTS、GP等完整5ms子帧(如图3所示)对应时间/功率值。因此，在TD-SCDMA终端时间开关模板PVT测试时，需要提供一个发射时间开关模板的函数来快速确定信号是否完全处于标准规定的模版范围之内，给用户一个明确的PASS/FAIL的结果，图4、图5为采用本发明所提供TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法绘制的PVT函数图形。

本方法采用了根据接收TD-SCDMA终端射频信号的功率大小控制射频开关的闭合/关断的方法来达到标准规定的动态范围要求。通过提高采样时钟来实现高精度测试。下面结合图1具体描述采样时钟为2.56MHz和76.8MHz两种情况下PVT测试方法，其它采样时钟点可以分别划分到这两种情况下。

实施例一：采样时钟为2.56MHz，步骤如下：

(1)在TD-SCDMA终端测试装置与TD-SCDMA终端间建立12.2kbps的RMC参考测量信道，再配置使TD-SCDMA终端进入回环测试模式，并使TD-SCDMA终端用单码道进行传输，控制TD-SCDMA终端的发射功率到最大，完成测试的准备工作；

(2)置测试设备的射频开关于闭合状态；

(3)控制被测TD-SCDMA终端发送信号；

(4)通过测试设备中的时间延时装置向A/D转换器发出控制信号，确保第一个采样时钟上升沿滞后于射频开关控制信号，A/D转换器在一个码片时间内采样2个点，并将采样数据送入数据处理装置按下式计算每采样点的信号功率值：P_ON＝N_sample+P_RF+P_s0

其中P_ON为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S0为射频开关处于闭合状态的功率损耗，并由数据处理装置将测试数据送入数据比较装置与数据存储装置；

(5)由数据处理装置对2个采样点做RMS检波，并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{ON}1}}^2+{P_{\mathrm{ON}2}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_ON1为码片第一个采样点的信号功率值，P_ON2为码片第二个采样点的信号功率值，并由数据处理装置将测试数据送入数据比较装置与数据存储装置；

(6)数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数相比较，确认采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(7)数据比较装置将采样功率值P_ON与参考功率值P₁进行比较，当采样功率值P_ON小于参考功率值P₁时，射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，不断重复步骤(4)～(7)，当采样功率值P_ON大于或等于参考功率值P₁时，射频开关控制装置置射频开关于关断状态，进入下一步；

(8)A/D转换器在一个码片时间内采样2个点，数据处理装置将按下式计算每采样点信号功率值：

P_OFF＝N_sample+P_RF+P_s1

其中P_OFF为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S1为射频开关处于关断状态的功率损耗；

(9)数据处理装置通过对2个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{OFF}1}}^2+{P_{\mathrm{OFF}2}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_OFF1为码片第一个采样点的信号功率值，P_OFF2为码片第二个采样点的信号功率值；

(10)数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数进行比较；当采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(11)数据比较装置将采样功率值P_OFF与参考功率值P₂进行比较；参考功率值P₂小于参考功率值P₁，当采样功率值P_OFF大于参考功率值P₂时，经射频开关控制装置置射频开关于关断状态，重复步骤(8)～(11)；当进行步骤(11)时，将采样功率值P_OFF与参考功率值P₂进行比较时；采样功率值P_OFF小于或等于参考功率值P₂时，经射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，跳转到步骤(4)；再重复步骤(4)～(7)，在进行步骤(6)时，数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数进行比较，当采样码片数大于或等于一个子帧码元数，直接跳转到步骤(12)；

(12)由PVT图形绘制和判断装置根据TD-SCDMA标准和用户需求将对应位置的数据显示在对应发射时间开关模板上，绘制PVT图形，如图4所示；

(13)由PVT图形绘制和判断装置判断终端的发射信号功率在图2中的模板限定范围内，给出PASS的测量结果。

实施例二：采样时钟为76.8MHz，步骤如下：

(1)在TD-SCDMA终端测试装置与TD-SCDMA终端间建立12.2kbps的RMC参考测量信道，再配置使TD-SCDMA终端进入回环测试模式，并使TD-SCDMA终端用单码道进行传输，控制TD-SCDMA终端的发射功率到最大，完成测试的准备工作；

(2)置测试设备的射频开关于闭合状态；

(3)控制被测TD-SCDMA终端发送信号；

(4)通过测试设备中的时间延时装置向A/D转换器发出控制信号，确保第一个采样时钟上升沿滞后于射频开关控制信号，A/D转换器在一个码片时间内采样60个点，并将采样数据送入数据处理装置按下式计算每采样点的信号功率值：

P_ON＝N_sample+P_RF+P_S0

其中P_ON为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S0为射频开关处于闭合状态的功率损耗，并由数据处理装置将测试数据送入数据比较装置与数据存储装置；

(5)如果信号在开关转换时间中采样(参见图3中所示)，则信号功率值不正确，记录该采样点，采样一个码元以后，利用该采样点前后的采样数据，进行3次样条拟合，修正该采样点的信号功率值；

(6)由数据处理装置对60个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{ON}1}}^2+{P_{\mathrm{ON}2}}^2+\·\·\·+{P_{\mathrm{ON}60}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_ON1为码片第1个采样点的信号功率值，P_ON2为码片第2个采样点的信号功率值，P_ON60为码片第60个采样点的信号功率值，并由数据处理装置将测试数据送入数据比较装置与数据存储装置；

(7)数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数相比较，确认采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(8)由数据比较装置将采样功率值P_ON与参考功率值P₁(如-25dBm)相比较，当采样功率值P_ON小于参考功率P₁时，数据比较装置向射频开关控制装置发出信号，置射频开关于闭合状态，重复步骤(4)～(8)，当采样功率值P_ON大于或等于参考功率值P₁时，射频开关控制装置置射频开关于关断状态，进入下一步；

(9)A/D转换器在一个码片时间内采样60个点，并按下式计算每采样点的信号功率值：

P_OFF＝N_sample+P_RF+P_s1

其中P_OFF为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S1为射频开关处于关断状态的功率损耗；

(10)如果信号在开关转换时间中采样(参见图3中所示)，则信号功率值不正确，记录该采样点。采样一个码元以后，利用该采样点前后的采样数据，进行3次样条拟合，修正该采样点的信号功率值；

(11)通过对60个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{OFF}1}}^2+{P_{\mathrm{OFF}2}}^2+\·\·\·+{P_{\mathrm{OFF}60}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_OFF1为码片第1个采样点的信号功率值，P_OFF2为码片第2个采样点的信号功率值，P_OFF60为码片第60个采样点的信号功率值；

(12)数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数相比较，确认采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(13)数据比较装置将采样功率值P_OFF与参考功率值P₂相比较(参考功率值P₂应小于参考功率值P₁，如-30dBm)，当采样功率值P_OFF大于参考功率值P₂时，数据比较装置向射频开关控制装置发出信号，置射频开关于关断状态，不断重复步骤(9)～(13)；当数据比较装置将采样功率值P_OFF与参考功率值P₂进行比较时；采样功率值P_OFF小于或等于参考功率值P₂时，通过射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，跳转到步骤(4)；重复步骤(4)～(8)，在进行步骤(7)时，数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数进行比较，当采样码片数大于或等于一个子帧码元数，直接跳转到步骤(14)；

(14)由PVT图形绘制和判断装置根据TD-SCDMA标准和用户需求将对应位置的数据显示在对应发射时间开关模板上，绘制PVT图形；

(15)由PVT图形绘制和判断装置判断终端的发射信号功率在图2中的模板限定范围内，给出PASS测量结果。

实施例三采样时钟为76.8MHz，步骤如下：

(1)在TD-SCDMA终端测试装置与TD-SCDMA终端间建立12.2kbps的RMC参考测量信道，再配置使TD-SCDMA终端进入回环测试模式，并使TD-SCDMA终端用单码道进行传输，控制TD-SCDMA终端的发射功率到最大，完成测试的准备工作；

(2)置测试设备的射频开关于闭合状态；

(3)控制被测TD-SCDMA终端发送信号；

(4)通过测试设备中的时间延时装置向A/D转换器发出控制信号，确保第一个采样时钟上升沿滞后于射频开关控制信号，A/D转换器在一个码片时间内采样60个点，并将采样数据送入数据处理装置按下式计算每采样点的信号功率值：

P_ON＝N_sample+P_RF+P_S0

其中P_ON为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S0为射频开关处于闭合状态的功率损耗，并由数据处理装置将测试数据送入数据比较装置与数据存储装置；

(5)如果信号在开关转换时间中采样，则信号功率值不正确，记录该采样点，采样一个码元以后，利用该采样点前后的采样数据，进行3次样条拟合，修正该采样点的信号功率值；

(6)由数据处理装置对60个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{ON}1}}^2+{P_{\mathrm{ON}2}}^2+\·\·\·+{P_{\mathrm{ON}60}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_ON1为码片第1个采样点的信号功率值，P_ON2为码片第2个采样点的信号功率值，P_ON60为码片第60个采样点的信号功率值，并由数据处理装置将测试数据送入数据比较装置与数据存储装置；

(7)数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数相比较，确认采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(8)由数据比较装置将采样功率值P_ON与参考功率值P₁(如-25dBm)相比较，当采样功率值P_ON小于参考功率P₁时，数据比较装置向射频开关控制装置发出信号，置射频开关于闭合状态，重复步骤(4)～(8)，当采样功率值P_ON大于或等于参考功率值P₁时，射频开关控制装置置射频开关于关断状态，进入下一步；

(9)在一个码片时间内采样60个点，并按下式计算每采样点的信号功率值：

P_OFF＝N_sample+P_RF+P_s1

其中P_OFF为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S1为射频开关处于关断状态的功率损耗；

(10)如果信号在开关转换时间中采样，则信号功率值不正确，记录该采样点。采样一个码元以后，利用该采样点前后的采样数据，进行3次样条拟合，修正该采样点的信号功率值；

(11)通过对60个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{OFF}1}}^2+{P_{\mathrm{OFF}2}}^2+\·\·\·+{P_{\mathrm{OFF}60}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_OFF1为码片第1个采样点的信号功率值，P_OFF2为码片第2个采样点的信号功率值，P_OFF60为码片第60个采样点的信号功率值；

(12)数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数相比较，确认采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(13)将采样功率值P_OFF与参考功率值P₂相比较(参考功率值P₂应小于参考功率值P₁，如-30dBm)，当采样功率值P_OFF大于参考功率值P₂时，数据比较装置向射频开关控制装置发出信号，置射频开关于关断状态，不断重复步骤(9)～(13)；当数据比较装置将采样功率值P_OFF与参考功率值P₂相比较时；采样功率值P_OFF小于或等于参考功率值P₂时，通过射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，跳转到步骤(4)；再重复步骤(4)～(8)，在进行上述步骤(7)时，数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数进行比较，当采样码片数大于或等于一个子帧码元数，直接跳转到步骤(14)；

(14)由PVT图形绘制和判断装置根据TD-SCDMA标准和用户需求将对应位置的数据显示在对应发射时间开关模板上，绘制PVT图形，如图5所示；

(15)由PVT图形绘制和判断装置判断终端的发射信号功率不在图2中的模板限定范围内，给出FALL测量结果。

Claims (2)

1.一种TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法，其特征是按照如下步骤进行：

(1)在TD-SCDMA终端测试装置与TD-SCDMA终端间建立12.2kbps的RMC参考测量信道，再配置使TD-SCDMA终端进入回环测试模式，并使TD-SCDMA终端用单码道进行传输，控制TD-SCDMA终端的发射功率到最大，完成测试的准备工作；

(2)置所述的测试装置的射频开关于闭合状态；

(3)控制被测TD-SCDMA终端发送信号；

(4)通过所述的测试装置中的时间延时装置向A/D转换器发出控制信号，确保第一个采样时钟上升沿滞后于射频开关控制信号，A/D转换器在一个码片时间内采样n个点，n≥2，数据处理装置并按下式计算每采样点的信号功率值：

P_ON＝N_sample+P_RF+P_S0

其中P_ON为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S0为射频开关处于闭合状态的功率损耗；

(5)数据处理装置通过对n个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{ON}1}}^2+{P_{\mathrm{ON}2}}^2+...+{P_{\mathrm{ONn}}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_ON1为码片第一个采样点的信号功率值，P_ON2为码片第二个采样点的信号功率值，P_ONn为码片第n个采样点的信号功率值；

(6)数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数进行比较，当采样码片数大于或等于一个子帧码元数，跳转到步骤(12)；当采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(7)数据比较装置将采样功率值P_ON与参考功率值P₁进行比较，当所有的采样功率值P_ON都小于参考功率值P₁时，射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，重复步骤(4)～(7)，当只要有一个采样功率值P_ON大于、等于参考功率值P₁时，射频开关控制装置置射频开关于关断状态，进入下一步；

(8)A/D转换器在一个码片时间内采样n个点，n≥2，数据处理装置将按下式计算每采样点信号功率值：

P_OFF＝N_sample+P_RF+P_s1

其中P_OFF为采样点的信号功率值，N_sample为采样数据，P_RF为射频通道的差损，P_S1为射频开关处于关断状态的功率损耗；

(9)数据处理装置通过对n个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：

$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{OFF}1}}^2+{P_{\mathrm{OFF}2}}^2+...+{P_{\mathrm{OFFn}}}^2}$

其中P_RMS为码片功率值，P_OFF1为码片第一个采样点的信号功率值，P_OFF2为码片第二个采样点的信号功率值，P_OFFn为码片第n个采样点的信号功率值；

(10)将采样码片数与一个子帧码元数进行比较；当采样码片数大于等于一个子帧码元数，跳转到步骤(12)；当采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；

(11)将采样功率值P_OFF与参考功率值P₂进行比较；参考功率值P₂小于参考功率值P₁，当只要有一个采样功率值P_OFF大于参考功率值P₂时，通过射频开关控制装置置射频开关于关断状态，重复步骤(8)～(11)；当所有的采样功率值P_OFF都小于、等于参考功率值P₂时，通过射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，跳转到步骤(4)；

(12)时间开关模板PVT绘制和判决装置根据TD-SCDMA标准和用户需求将对应位置的数据显示在对应发射时间开关模板上；

(13)时间开关模板PVT绘制和判决装置判断终端的发射信号功率是否在时间开关模板限定范围内，给出合格或不合格的测量结果。

2.根据权利要求1所述的TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法，其特征是在进行所述的步骤(4)与步骤(8)时，如果在开关转换时间中采样，记录该采样点，采样一个码元以后，利用该采样点前后的采样数据，进行3次样条拟合修正该采样点的信号功率值。

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