发明内容
本发明克服了现有技术的不足,提供解决反映烟用BOPP膜的整体质量的检测方法。
为解决上述的技术问题,本发明采用以下技术方案:
一种烟用BOPP膜的检测方法,其特征在于按照如下步骤:
(一)建立待测烟用BOPP膜样品的紫外指纹图谱主成份分析模型
步骤1 采集待测烟用BOPP膜样品的紫外吸收光谱图;
步骤2 将采集到的待测样品的紫外光谱图采用S-G平滑结合一阶导数进行重构BOPP膜紫外指纹图谱;
(二)准备合格数据
步骤3 选择不少于7个合格的样品;
步骤4 用化学计量学多变量分析中的主成份分析法建立合格BOPP膜样品的紫外指纹图谱主成份分析模型,获得SIMCA分类模型;
步骤5 计算各合格样品到SIMCA分类模型的距离Si和合格样品到SIMCA分类模型中心的距离Hi,并由各Si和Hi值在显著性水平为5%的条件下计算Si和Hi控制上限,控制下限为0;
(三)判断比较
步骤6 用步骤4中所获得的SIMCA分类模型对待测样品在步骤2中获得的重构的光谱图进行SIMCA分类判别,显著性水平设定为5%;同时小于两个控制上限指标时则该待测的BOPP膜样品合格,否则该待测的BOPP膜样品为不合格样品。
更进一步的技术方案是采集待测BOPP膜样品紫外吸收光谱图时的紫外扫描的波长范围:190~450nm,波长间隔1nm;每个样品扫描7次。
更进一步的技术方案是步骤5各合格BOPP膜样品到合格样品SIMCA分类模型的距离Si和合格BOPP膜样品到合格样品SIMCA分类模型中心的距离Hi从数据库中直接获得。
更进一步的技术方案是步骤6之后,将测试合格的待测BOPP膜样品到合格样品SIMCA分类模型的距离Si和合格样品SIMCA分类模型中心的距离Hi加入到数据库中。
更进一步的技术方案是数据库中的初始数据是选用多批合格的样品,按照以下步骤进行:
步骤7 采集合格BOPP膜样品的紫外吸收谱图;
步骤8 将采集到合格BOPP膜样品的光谱图采用S-G平滑结合一阶导数进行重构BOPP膜紫外指纹图谱;
步骤9 用化学计量学多变量分析中的主成份分析法建立待测BOPP膜样品的紫外指纹图谱主成份分析模型,获得SIMCA分类模型;
步骤10 计算各合格样品到SIMCA分类模型的距离Si和合格样品到SIMCA分类模型中心的距离Hi,并由各Si和Hi值在显著性水平为5%的条件下计算Si和Hi控制上限,控制下限为0;
步骤11 将各合格样品到合格样品SIMCA分类模型距离Si和各合格样品到合格样品SIMCA分类模型中心的距离Hi存入数据库。
更进一步的技术方案是步骤5控制上限UCL是从合格样品的SIMCA分类模型中按照步骤获得:
步骤12 采集合格BOPP膜样品的紫外吸收光谱图;
步骤13 将采集到合格BOPP膜样品的光谱图采用S-G平滑结合一阶导数进行重构BOPP膜紫外指纹图谱;
步骤14 用化学计量学多变量分析中的主成份分析法建立合格BOPP膜样品的紫外指纹图谱主成份分析模型,获得SIMCA分类模型;
步骤15 计算各合格样品到SIMCA分类模型的距离Si和合格样品到SIMCA分类模型中心的距离Hi,并由各Si和Hi值在显著性水平为5%的条件下计算Si和Hi控制上限,控制下限为0。
与现有技术相比,本发明的有益效果是检测反映了烟用BOPP膜的整体质量特征,使用的检测仪器少,方法简单,能够现场快速检测。
具体实施方式
下面对本发明作进一步阐述。
选用7个不同批次经检验合格样品的BOPP膜样品建立标准数据库,按照步骤7至步骤11进行测算,获得所有合格BOPP膜样品到合格样品SIMCA分类模型距离Si和各合格样品到合格样品SIMCA分类模型中心的距离Hi,并由各Si和Hi值在显著性水平为5%的条件下计算Si和Hi控制上限,计算结果见表1:
样品序号 | S1 | S2 | S3 | S4 | S5 | S6 | S7 |
Si | 0.000091 | 0.00014 | 0.00017 | 0.00015 | 0.00023 | 0.00073 | 0.00018 |
Hi | 0.0014 | 0.0017 | 0.0051 | 0.0011 | 0.0069 | 0.0085 | 0.0028 |
表1
合格样品到合格样品SIMCA分类模型的距离Si最大值的3倍作为控制上限UCL0.00219,合格样品到合格样品SIMCA分类模型中心的距离Hi的最大值的3倍作为控制上限UCL0.0255。
将待测的5个批次样品1#~5#,按照步骤1至步骤3进行测量,获得烟用BOPP膜紫外指纹图谱SIMCA分类模型,再按照步骤6计算与数据库中所有样品的SIMCA分类模型的Si和Hi值,计算结果见表2:
样品序号 | #1 | #2 | #3 | #4 | #5 |
Si | 0.00119 | 0.00032 | 0.00024 | 0.00065 | 0.00289 |
Hi | 0.0122 | 0.0192 | 0.0176 | 0.0241 | 0.0266 |
表2
按照步骤6进行判决,1#~4#样品的Si均小于控制上限UCL0.00219,Hi均小于控制上限UCL0.0255,1#~4#的BOPP膜合格。5#样品的BOPP膜不合格。
将1#~4#样品到SIMCA分类模型的Si和Hi值存入到数据库,完成新的数据库,用于今后检测时使用,新的数据库见表3:
样品序号 | S1 | S2 | S3 | S4 | S5 | S6 | S7 |
Si | 0.000091 | 0.00014 | 0.00017 | 0.00015 | 0.00023 | 0.00073 | 0.00018 |
Hi | 0.0014 | 0.0017 | 0.0051 | 0.0011 | 0.0069 | 0.0085 | 0.0028 |
样品序号 | S8 | S9 | S10 | S11 | | | |
Si | 0.00119 | 0.00032 | 0.00024 | 0.00065 | | | |
Hi | 0.0122 | 0.0192 | 0.0176 | 0.0241 | | | |
表3