CN101471736B - 一种无源互调测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种无源互调测试系统，包括两个信号发生器、三工器一、三工器二、两个大功率负载、频谱仪、N型匹配负载，所述的两个信号发生器分别通过一个功放与三工器一的Tx口连接，所述的两个大功率负载分别与三工器二的Tx口连接，所述的三工器一、三工器二的天线口均与待测产品连接，所述的频谱仪在测试传输模式时与三工器二的Rx口连接，所述的N型匹配负载在测试传输模式时与三工器一的Rx口连接，所述的频谱仪在测试反射模式时与三工器一的Rx口连接，所述的N型匹配负载在测试反射模式时与三工器二的Rx口连接。本发明既可测试无源互调的传输又可测试反射模式，并且具有测试性能稳定，设计成本低等优点，对无源器件厂商而言这是一套性价比极高的无源互调测试系统。

Description

一种无源互调测试系统
技术领域
本发明涉及无源互调测试技术，特别是涉及一种无源互调测试系统。
背景技术
无源互调失真是由通信系统中的非线性因素产生，将对其他通信设备产生严重干扰，尤其是三阶互调失真(IMD3)。三阶互调失真(IMD3)是由两个频率而产生的的，是窄带通信系统中普遍存在的问题，当系统中存在两个或更多的信号时，通常会产生很强的互调产物。两个信号f1和f2的二次谐波2f1和2f2会进一步产生互调失真，其最大的互调产物就是三阶交调(2f1-f2和2f2-f1)。这些互调产物通常是发射频段的三阶交调产物落到接收通道中，对接收灵敏度产生干扰，甚至造成接收机无法正常工作。不管是有源还是无源器件如放大器滤波器等都会产生三阶交调产物。
随着频率资源的日渐紧张，为使不同通信系统间互调产物不相互影响，所以对产品的互调要求也更苛刻。但是对三阶互调尤其是无源器件(系统)的三阶互调产物IMD3的测试方法还未有非常权威和准确的测试方法，同时目前无源互调测试系统价格非常昂贵，是一些中小型企业无法承受的。另外目前虽然也有一些厂商推出了简易IMD测试系统，但这些小型测试系统的测试方法仅停留在测无源互调的传输或者反射，而且内部结构连接繁琐，带来了更多的测试不确定因素，使得测试可靠性降低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供
本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：一种无源互调测试系统，其特征在于，包括两个信号发生器、三工器一、三工器二、两个大功率负载、频谱仪、N型匹配负载，所述的两个信号发生器分别通过一个功放与三工器一的Tx口连接，所述的两个大功率负载分别与三工器二的Tx口连接，所述的三工器一、三工器二的天线口均与待测产品连接，所述的频谱仪在测试传输模式时与三工器二的Rx口连接，所述的N型匹配负载在测试传输模式时与三工器一的Rx口连接，所述的频谱仪在测试反射模式时与三工器一的Rx口连接，所述的N型匹配负载在测试反射模式时与三工器二的Rx口连接。
所述的三工器一、三工器二均通过低互调电缆与待测产品连接。
与现有技术相比，本发明既可测试无源互调的传输又可测试反射模式，并且具有测试性能稳定，设计成本低等优点，对无源器件厂商而言这是一套性价比极高的无源互调测试系统。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步说明。
如图1所示，一种无源互调测试系统，包括两个信号发生器1、2、三工器一3、三工器二4、两个大功率负载5、6、频谱仪7、N型匹配负载8，所述的两个信号发生器1、2分别通过一个功放9、10与三工器一3的Tx口连接，所述的两个大功率负载5、6分别与三工器二4的Tx口连接，所述的三工器一3、三工器二4的天线口均与待测产品连接，所述的频谱仪7在测试传输模式时与三工器二4的Rx口连接，所述的N型匹配负载8在测试传输模式时与三工器一3的Rx口连接，所述的频谱仪7在测试反射模式时与三工器一3的Rx口连接，所述的N型匹配负载8在测试反射模式时与三工器二4的Rx口连接。
所述的三工器一3、三工器二4均通过低互调电缆与待测产品连接。其他部件之间通过普通测试电缆连接线连接。该测试系统采用两个三工器作为标准件，可以测试传输和反射两个模式，系统三阶互调IMD测试值可以达到122dBm以上。

Claims (2)

1.一种无源互调测试系统，其特征在于，包括两个信号发生器、三工器一、三工器二、两个大功率负载、频谱仪、N型匹配负载，所述的两个信号发生器各自通过一个功放与三工器一的Tx口连接，所述的两个大功率负载分别与三工器二的Tx口连接，所述的三工器一、三工器二的天线口均与待测产品连接，所述的频谱仪在测试传输模式时与三工器二的Rx口连接，所述的N型匹配负载在测试传输模式时与三工器一的Rx口连接，所述的频谱仪在测试反射模式时与三工器一的Rx口连接，所述的N型匹配负载在测试反射模式时与三工器二的Rx口连接。
2.根据权利要求1所述的一种无源互调测试系统，其特征在于，所述的三工器一、三工器二均通过低互调电缆与待测产品连接。
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