CN101470164A - 一种测量无源电路s参数的方法和实施该方法的测量装置 - Google Patents

一种测量无源电路s参数的方法和实施该方法的测量装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101470164A
CN101470164A CNA2007102035753A CN200710203575A CN101470164A CN 101470164 A CN101470164 A CN 101470164A CN A2007102035753 A CNA2007102035753 A CN A2007102035753A CN 200710203575 A CN200710203575 A CN 200710203575A CN 101470164 A CN101470164 A CN 101470164A
Authority
CN
China
Prior art keywords
parameter
matrix
passivity
electric circuit
real
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2007102035753A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101470164B (zh
Inventor
林有旭
吴政达
赵志航
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2007102035753A priority Critical patent/CN101470164B/zh
Priority to US12/124,782 priority patent/US7996169B2/en
Publication of CN101470164A publication Critical patent/CN101470164A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101470164B publication Critical patent/CN101470164B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
    • G01R27/32—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass

Abstract

一种测量无源电路S参数的方法，其用一S参数测量装置测量一无源电路在不同频率的S参数，所述S参数测量装置包括一测量部分和一修正部分，所述测量无源电路的S参数的方法包括以下步骤，所述测量部分测量所述无源电路在某一要求测量的频率的S参数，并判断所述频率对应的S参数是否满足无源性条件，若满足无源性条件，则所述频率对应的S参数满足无源性；若不满足无源性条件，用所述修正部分对所述不符合无源性的S参数进行修正，最后由所述S参数测量装置输出S参数。本发明还包括一可准确测量无源电路S参数的装置。上述测量S参数的方法和装置可准确测量各种无源电路的S参数。

Description

一种测量无源电路S参数的方法和实施该方法的测量装置
技术领域
本发明是关于一种测量S参数的方法和实施这种方法的装置，尤指一种测量无源电路S参数的方法和装置。
背景技术
S参数是表示电路的输入与输出之间关系的参数，从而来反映该电路的电气特性，且当电路的频率不同时，其输入和输出之间的关系也不同，如图1所示的为一带有两个端口的无源电路10，该无源电路10设有端口1和端口2，例如在某一频率下，当从无源电路10的端口1进行输入时，无源电路10的各端口处将出现与特定特征相对应的输出，这些特征是针对端口1的反射和针对端口2的透射；同样，当从无源电路10的端口2进行输入时，无源电路10的各端口处也会出现与特定特征相对应的输出，这些特征是针对端口2的反射和针对端口1的透射。
在此频率下，无源电路10的输入与反射、透射的输出之间的关系可表示为图2中所示的矩阵计算的形式，图2中的矩阵为一复数矩阵，其中的矩阵元素(S11、S12和S21等复数)即为S参数，它们表示了无源电路10在此频率下的输入和输出之间的关系。
由于图1中的电路10为无源电路，则其在此频率下的S参数必须满足无源性条件，即必须满足real(eigenvalue[E-S×S’])≧0，也就是[E-S×S’]这一矩阵的特征值的实部要大于或等于0，其中S’为S的共轭转置矩阵，E为单位矩阵。但通常在测量无源电路在不同频率下的S参数时，有时会因为测量仪器的原因，而使测得的某一频率下的S参数无法满足上述计算式，即无法满足无源性这一条件。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可准确测得无源电路的S参数的方法和装置。
一种测量无源电路S参数的方法，其用一S参数测量装置测量一无源电路在不同频率的S参数，所述S参数测量装置包括一测量部分和一修正部分，所述S参数修正部分包括一矩阵计算模块、一矩阵特征值计算模块、一修正值计算模块及一修正模块，所述测量无源电路的S参数的方法包括以下步骤：
所述测量部分测量所述无源电路在某一要求测量的频率的S参数；
判断所述频率对应的S参数是否满足无源性条件，若满足无源性条件，则所述频率对应的S参数满足无源性；若不满足无源性条件，用所述修正部分对所述不符合无源性的S参数进行修正，修正步骤如下：
所述修正部分提取所述不满足无源性的S参数，并由所述S参数构成一S参数矩阵S；
所述矩阵计算模块得到矩阵S和矩阵S的共轭转置矩阵S’之间的乘积S×S’；
所述矩阵特征值计算模块计算S×S’的特征值，并取出其中实部最大的特征值Ψ的实部real(Ψ)；
所述修正值计算模块根据最大的实部real(Ψ)而得到修正值ξ＝real(Ψ)1/2×(1+ε)，其中ε为一极小的正数；
所述修正模块根据修正值ξ而得到修正后的S参数S*＝S/ξ；
最后由所述S参数测量装置输出S参数。
本发明还包括一可准确测量无源电路S参数的装置，所述装置包括一测量电路的S参数的测量部分和一修正不满足无源性条件的S参数的修正部分，所述修正部分包括一得到S参数矩阵S和矩阵S的共轭转置矩阵S’之间的乘积S×S’的矩阵计算模块、一得到矩阵S×S’的特征值的矩阵特征值计算模块、一根据矩阵S×S’的实部最大的特征值Ψ而得到出一修正值ξ的修正值计算模块、及一根据修正值ξ修正S参数矩阵S的修正模块。
相较于现有技术，本发明无源电路S参数的测量方法和装置可准确得到无源电路的S参数。
附图说明
图1是一具有两个端口的无源电路和一S参数测量装置相连的示意图。
图2是图1中的无源电路的输入和输出之间的关系图。
图3是本发明测量无源电路S参数的方法的流程图。
图4是S参数修正方法的流程图。
图5是图1中S参数测量装置中修正部分的示意图。
具体实施方式
请参阅图1和图3，其为本发明测量无源电路S参数的方法的流程图和实施该方法的S参数测量装置20，该S参数测量装置20包括一测量部分22和一修正部分23，首先由测量部分22测量无源电路在某一要求测量的频率的S参数(步骤201)，并计算该频率对应的S参数是否满足无源性条件(步骤202)，即计算real(eigenvalue[E-S×S’])≧0是否成立，若成立，则满足无源性条件(步骤203)，S参数测量装置20输出S参数(步骤205)；若不成立，则由修正部分23对该S参数进行修正(步骤204)，具体修正步骤如下所述。
请一并参阅图4和图5，其为实施S参数修正步骤的流程图和修正部分23的示意图，该修正部分23包括一矩阵计算模块31、一与矩阵计算模块31相连的矩阵特征值计算模块32、一与矩阵特征值计算模块32相连的修正值计算模块33和一与修正值计算模块33相连的修正模块34。
修正S参数的各步骤为：
步骤301：提取待修正的S参数；
步骤302：由矩阵计算模块31计算出矩阵[S×S’]，并由矩阵特征值计算模块32计算出矩阵[S×S’]的特征值，由于该S参数不满足无源性条件，则矩阵[E-S×S’]的特征值中实部最小的一个特征值λmin的实部必小于0，即real(λmin)<0，且根据公式eigenvalue[E-S×S’]＝1-eigenvalue[S×S’]，所以矩阵[S×S’]的特征值中实部最大的一个特征值Ψmax的实部必大于1，即real(Ψmax)＝1-real(λmin)>1；
步骤303：由修正值计算模块33按照修正公式ξ＝real(Ψmax)1/2×(1+ε)计算出修正值ξ，上述公式中的ε为一极小的正数；
步骤304：由修正模块34按照S参数修正公式S*＝S/ξ计算出修正后的S参数S*，针对修正后的S参数S*的无源性判断式为：
real(eigenvalue[E-S*×S*’])＝1-real(eigenvalue[S*×S*’])＝1-real(eigenvalue[S/ξ×S’/ξ])＝1-real(eigenvalue[S×S’])/[real(Ψmax)×(1+ε)2]；
因为real(Ψmax)大于1，ε为一极小的正数，所以real(Ψmax)×(1+ε)2大于real(Ψmax)，由于矩阵[S×S’]的特征值中实部最大的一个特征值为Ψmax，因此real(eigenvalue[S×S’])/[real(Ψmax)×(1+ε)2]<1，所以real(eigenvalue[E-S*×S*’])>0而使修正后的S参数满足无源性条件。
而后实施步骤205，由S参数测量装置20输出修正后的S参数。
请参阅图1至图5，现以测量具有两个端口的无源电路10的S参数为例来说明本发明S参数测量方法，首先由测量部分22测量无源电路10在某一要求测量的频率的S参数(步骤201)，并计算该频率对应的S参数是否满足无源性条件(步骤202)，即计算real(eigenvalue[E-S×S’])≧0是否成立，若成立，则满足无源性条件(步骤203)，S参数测量装置20输出S参数(步骤205)；若不成立，则由修正部分23对该S参数进行修正(步骤204)，具体修正步骤如下文所述。
由于无源电路10为一两端口相互对称的电路，所以图2的S参数矩阵中S11＝S22，S12＝S21，从而可将图2中的S参数矩阵简化为S＝[(S11，S12)，(S12，S11)]，然后按照图5中的步骤来修正S参数。
步骤301：提取待修正的S参数，并构成S参数矩阵S＝[(S11，S12)，(S12，S11)]，设S11＝R11+I11i，S12＝R12+I12i；
步骤302：由矩阵计算模块31计算出矩阵[S×S’]＝[(R11 2+R12 2+I11 2+I12 2，2×R11×R12+2×I11×I12)，(2×R11×R12+2×I11×I12，R11 2+R12 2+I11 2+I12 2)]，再由矩阵特征值计算模块32计算出矩阵[S×S’]的特征值：
Ψ1＝(I11+I12)2+(R11+R12)2，Ψ2＝(I11-I12)2+(R11-R12)2；由于两特征值都为实数，所以其实部即为特征值本身；比较两特征值的大小，得出其中较大的特征值Ψmax；
步骤303：修正值计算模块33按照修正公式ξ＝real(Ψmax)1/2×(1+ε)计算出修正值ξ，上述公式中的ε为一极小的正数；
步骤304：由修正模块34按照S参数修正公式S*＝S/ξ计算出修正后的S参数S*，即为所得
而后实施步骤205，由S参数测量装置20输出修正后的S参数S*。
现以一实例来说明本测量方法的有效性，如测量一电路板上的一段信号线在不同频率处的S参数，当频率为4.6372G赫兹时，测量部分22测得的S参数矩阵
S＝[(-0.2608352337196621+0.3476273125912422i，
0.7203853298827190+0.5405228611018837i)，
(0.7203853298827190+0.5405228611018837i，
-0.2608352337196621+0.3476273125912422i)]；(步骤201)
计算上述S参数的无源性判断式为eigenvalue[E-S*S’]＝[2.978085395288764×10-6，-2.487071395607110×10-6]，其中有一特征值的实部小于0，所以该S参数不满足无源性条件(步骤202)，对该S参数进行修正(步骤204)。
步骤301：提取待修正的S参数，并构成S参数矩阵
S＝[(-0.2608352337196621+0.3476273125912422i，
0.7203853298827190+0.5405228611018837i)，
(0.7203853298827190+0.5405228611018837i，
-0.2608352337196621+0.3476273125912422i)]；
步骤302：由矩阵计算模块31计算出矩阵[S×S’]，并由矩阵特征值计算模块32计算出矩阵[S×S’]的两特征值，由于两特征值都为实数，所以其实部即为特征值本身；比较两特征值的大小，得出其中较大的特征值
Ψmax＝1.000002487071396；
步骤303：由修正值计算模块33按照修正公式计算出修正值
ξ＝real(Ψmax)1/2×(1+ε)＝＝1.000001243535925，在本处取ε＝1×10-12；
步骤304：由修正模块34按照S参数修正公式计算出修正后的S参数矩阵
S*＝S/ξ＝[(-0.2608349093620819+0.3476268803047282，
0.7203844340587956+0.5405221889431238i)，
(0.7203844340587956+0.5405221889431238I，
-0.2608349093620819+0.3476268803047282)]；
修正后的S参数S*的无源性判断式为eigenvalue(E-S*×S*’)＝(5.465145198668697×10-6，2.000122290161193×10-12)，其两个特征值均大于0，所以修正后的S参数S*满足无源性条件。
而后实施步骤205，由S参数测量装置20输出修正后的S参数S*。
本发明测量无源电路S参数的方法可以适用于具有不同端口的电路，并能准确测量电路的S参数。

Claims (5)

  1. 【权利要求1】一种测量无源电路S参数的方法，其用一S参数测量装置测量一无源电路在不同频率的S参数，所述S参数测量装置包括一测量部分和一修正部分，所述S参数修正部分包括一矩阵计算模块、一矩阵特征值计算模块、一修正值计算模块及一修正模块，所述测量无源电路的S参数的方法包括以下步骤：
    所述测量部分测量所述无源电路在某一要求测量的频率的S参数；
    判断所述频率对应的S参数是否满足无源性条件，若满足无源性条件，则所述频率对应的S参数满足无源性；若不满足无源性条件，用所述修正部分对所述不符合无源性的S参数进行修正，修正步骤如下：
    所述修正部分提取所述不满足无源性的S参数，并由所述S参数构成一S参数矩阵S；
    所述矩阵计算模块得到矩阵S和矩阵S的共轭转置矩阵S’之间的乘积S×S’；
    所述矩阵特征值计算模块计算S×S’的特征值，并取出其中实部最大的特征值Ψ的实部real(Ψ)；
    所述修正值计算模块根据实部最大的特征值Ψ的实部real(Ψ)而得到修正值ξ＝real(Ψ)1/2×(1+ε)，其中ε为一极小的正数；
    所述修正模块根据修正值ξ而得到修正后的S参数S*＝S/ξ；
    最后由所述S参数测量装置输出S参数。
  2. 【权利要求2】如权利要求1所述的测量无源电路S参数的方法，其特征在于：通过一无源性判断式real(eigenvalue[E-S×S’])≧0判断S参数是否满足无源性，其中S’为S的共轭转置矩阵，E为单位矩阵，若[E-S×S’]这一矩阵的特征值的实部大于或等于0，则满足无源性，否则不满足。
  3. 【权利要求3】一种测量无源电路S参数的装置，所述装置包括一测量无源电路的S参数的测量部分，其特征在于：所述装置还包括一修正不满足无源性条件的S参数的修正部分，所述修正部分包括一得到S参数矩阵S和矩阵S的共轭转置矩阵S’之间的乘积S×S’的矩阵计算模块、一得到矩阵S×S’的特征值的矩阵特征值计算模块、一根据矩阵S×S’的实部最大的特征值Ψ而得到出一修正值ξ的修正值计算模块、及一根据修正值ξ修正S参数矩阵S的修正模块。
  4. 【权利要求4】如权利要求3所述的测量无源电路S参数的装置，其特征在于：所述修正值计算模块根据式子ξ＝real(Ψ)1/2×(1+6)得到修正值ξ，其中real(Ψ)表示实部最大的特征值Ψ的实部，ε为一极小的正数。
  5. 【权利要求5】如权利要求3所述的测量无源电路S参数的装置，其特征在于：所述修正模块按照式子S*＝S/ξ得到修正后S参数。
CN2007102035753A 2007-12-29 2007-12-29 一种测量无源电路s参数的方法和实施该方法的测量装置 Expired - Fee Related CN101470164B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007102035753A CN101470164B (zh) 2007-12-29 2007-12-29 一种测量无源电路s参数的方法和实施该方法的测量装置
US12/124,782 US7996169B2 (en) 2007-12-29 2008-05-21 Method and apparatus for compensating S-parameters of passive circuits

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007102035753A CN101470164B (zh) 2007-12-29 2007-12-29 一种测量无源电路s参数的方法和实施该方法的测量装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101470164A true CN101470164A (zh) 2009-07-01
CN101470164B CN101470164B (zh) 2012-03-14

Family

ID=40799512

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007102035753A Expired - Fee Related CN101470164B (zh) 2007-12-29 2007-12-29 一种测量无源电路s参数的方法和实施该方法的测量装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7996169B2 (zh)
CN (1) CN101470164B (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102270248A (zh) * 2010-06-04 2011-12-07 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 通用spice等效电路仿真系统及方法
CN102279896A (zh) * 2010-06-10 2011-12-14 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Hspice兼容等效电路仿真系统及方法
CN102346233A (zh) * 2010-07-30 2012-02-08 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 散射参数无源性分析系统及方法
CN102437981A (zh) * 2011-09-09 2012-05-02 京信通信系统（中国）有限公司 校正提取信号方法、装置及基站系统
CN102486810A (zh) * 2010-12-04 2012-06-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 散射参数等效电路无源性修正系统及方法
CN103809056A (zh) * 2014-02-14 2014-05-21 南京捷希科技有限公司 S参数和无源互调综合测试系统

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201145061A (en) * 2010-06-07 2011-12-16 Hon Hai Prec Ind Co Ltd System and method for simulating Hspice compatible equivalent circuits
TWI467186B (zh) * 2010-07-29 2015-01-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 散射參數無源性分析系統及方法
TW201224471A (en) * 2010-12-03 2012-06-16 Hon Hai Prec Ind Co Ltd System and method of analyzing and correcting passivity of scattering parameter

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4713778A (en) * 1984-03-27 1987-12-15 Exxon Research And Engineering Company Speech recognition method
US4982164A (en) * 1988-04-22 1991-01-01 Rhode & Schwarz Gmbh & Co. K.G. Method of calibrating a network analyzer
US6826506B2 (en) * 2000-09-18 2004-11-30 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for calibrating a multiport test system for measurement of a DUT
US20030088394A1 (en) * 2001-10-17 2003-05-08 Min Sung-Hwan Efficient construction of passive macromodels for resonant networks
US6836743B1 (en) * 2002-10-15 2004-12-28 Agilent Technologies, Inc. Compensating for unequal load and source match in vector network analyzer calibration
US6998833B2 (en) * 2003-11-05 2006-02-14 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for determining S-parameters using a load

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102270248A (zh) * 2010-06-04 2011-12-07 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 通用spice等效电路仿真系统及方法
CN102270248B (zh) * 2010-06-04 2015-04-22 淮南恒天生物科技有限公司 通用spice等效电路仿真系统及方法
CN102279896A (zh) * 2010-06-10 2011-12-14 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Hspice兼容等效电路仿真系统及方法
CN102279896B (zh) * 2010-06-10 2015-03-25 赛恩倍吉科技顾问（深圳）有限公司 Hspice兼容等效电路仿真系统及方法
CN102346233A (zh) * 2010-07-30 2012-02-08 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 散射参数无源性分析系统及方法
CN102346233B (zh) * 2010-07-30 2014-08-20 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 散射参数无源性分析系统及方法
CN102486810A (zh) * 2010-12-04 2012-06-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 散射参数等效电路无源性修正系统及方法
CN102486810B (zh) * 2010-12-04 2016-03-30 张新峰 散射参数等效电路无源性修正系统
CN102437981A (zh) * 2011-09-09 2012-05-02 京信通信系统（中国）有限公司 校正提取信号方法、装置及基站系统
CN102437981B (zh) * 2011-09-09 2015-04-08 京信通信系统（中国）有限公司 校正提取信号方法、装置及基站系统
CN103809056A (zh) * 2014-02-14 2014-05-21 南京捷希科技有限公司 S参数和无源互调综合测试系统
CN103809056B (zh) * 2014-02-14 2016-08-24 南京捷希科技有限公司 S参数和无源互调综合测试系统

Also Published As

Publication number Publication date
US7996169B2 (en) 2011-08-09
CN101470164B (zh) 2012-03-14
US20090171604A1 (en) 2009-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101470164B (zh) 一种测量无源电路s参数的方法和实施该方法的测量装置
CN102981135B (zh) 非线性矢量网络分析仪双端口校准方法
CN102998525B (zh) 单相多功能电能计量电路及其电表自动校准方法
CN103399286B (zh) 一种多特性阻抗网络的测量校准方法
TWI438450B (zh) Correction method of measurement error and electronic component characteristic measuring device
US7885779B2 (en) Measurement error correcting method and electronic component characteristic measurement device
GB2421803A (en) Multi-port vector neywork analyzer calibration using the &#34;unknown thru&#34; method
CN109444547B (zh) 基于二端口网络的rfid芯片阻抗测量方法及装置
US20130317767A1 (en) Measurement error correction method and electronic component characteristic measurement apparatus
CN103760509A (zh) 引入开关补偿误差的多端口矢量网络分析仪校准方法
CN111256802A (zh) 称重装置的校准方法及称重装置
CN113849958A (zh) 在片s参数测量系统串扰误差修正方法及电子设备
CN110716120B (zh) 芯片自动测试设备的通道延时偏差的校准方法
CN104181392A (zh) 基于矢量网络分析仪的二端口网络相移测试方法
CN103542965A (zh) 涡轴发动机输出轴的扭矩测量系统及扭矩校准方法
CN100514083C (zh) 利用非正弦测量信号测量被测多端口设备散射参数的方法
CN110988785A (zh) 一种数字量输入式电能表远程在线校验方法
CN109946607A (zh) 一种直流充电机检定装置的校准系统及方法
TWI407115B (zh) 一種測量無源電路ｓ參數之方法和實施該方法之測量裝置
CN101726373B (zh) 一种红外方式智能热量表校准装置和方法
TW201826998A (zh) 身體年齡計算方法及體脂量測系統
CN105182076B (zh) 基于矢量网络分析仪的二端口网络相移实时测试方法
KR101831824B1 (ko) 측정 오차의 보정 방법 및 전자부품 특성 측정 장치
US11428770B2 (en) Method of calibrating a setup
US10345420B2 (en) Method, a calibration unit and a system for determining system errors and power values for the calibration of a network analyser

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20120314

Termination date: 20141229

EXPY Termination of patent right or utility model