CN101383178A - 一种硬盘损耗的获取方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种硬盘损耗的获取方法和装置,该方法包括以下步骤:监测硬盘的擦除操作并获取所述擦除操作的次数;根据所述获取到的擦除操作的次数获取硬盘的损耗。本发明实施例通过统计硬盘的擦除次数,得到硬盘的损耗情况,实施简单有效。
Description
技术领域
本发明实施例涉及通信领域,尤其涉及一种硬盘损耗的获取方法和装置。
背景技术
随着计算机的快速发展,外部存储设备的响应速度制约越发成为计算机技术发展的瓶颈之一。一方面,利用新技术、新器件,提高存储设备的运行速率、响应时间,以提高整体性能;另一方面,可以利用器件或软件上的某些特性,有效缩短命令执行时间。SSD(Solid State Disk,固态硬盘)作为外部存储设备的一种,有巨大的应用价值。
在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术中大多数的SSD不具备损耗计算功能,用户无法得知SSD有效使用期限,造成安全使用隐患。
发明内容
本发明实施例提供一种硬盘损耗的获取方法和装置,以实现对固态硬盘损耗情况的有效判断。
本发明实施例提供一种硬盘损耗的获取方法,包括以下步骤:
监测硬盘的擦除操作并获取所述擦除操作的次数;
根据所述获取到的擦除操作的次数获取硬盘的损耗。
本发明实施例提供一种硬盘损耗的获取装置,包括:
监测单元,用于监测硬盘的擦除操作;
次数获取单元,用于获取所述擦除操作的次数;
损耗获取单元,用于根据所述次数获取单元获取到的擦除操作的次数获取硬盘的损耗。
与现有技术相比,本发明实施例至少具有以下优点:
通过统计硬盘的擦除次数,得到硬盘的损耗情况,实施简单有效。
附图说明
图1为本发明实施例提供的方法的流程示意图;
图2为本发明另一实施例提供的方法的流程示意图;
图3为本发明实施例提供的装置的结构示意图;
图4为本发明另一实施例提供的装置的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明进行进一步介绍。
本发明实施例提供一种硬盘损耗的获取方法,如图1所示,包括以下步骤:
步骤s101,监测硬盘的擦除操作并获取该擦除操作的次数;
步骤s102,根据获取到的擦除操作的次数获取硬盘的损耗。
通过采用本发明实施例提供的方法,统计硬盘的擦除次数,得到硬盘的损耗情况,实施简单有效。
下面结合具体应用场景对本发明进行进一步介绍。
本发明实施例提供一种硬盘损耗的获取方法,如图2所示,包括以下步骤:
步骤s201,设置擦除统计变量。
该变量在硬盘启动时从硬盘的非易失存储介质读取,当硬盘断电时写回变量的值到该非易失存储介质;也可以根据预先设置的时间,例如定时写回变量值到该非易失存储介质。
该擦除统计变量与硬盘擦除次数之间存在对应关系,当监测到硬盘的擦除操作时,根据该对应关系改变擦除统计变量的值。
具体方法可以为:擦除统计变量设置为一64位的变量EraseCnt。设置变量EraseCnt启动时从非易失的存储介质中读出,掉电时或定时写回该变量值;当对一数据块进行擦除操作时,EraseCnt加1。
步骤s202,获取硬盘擦除次数。
读取擦除统计变量的值,根据擦除统计变量与硬盘擦除次数之间存在对应关系得到硬盘的擦除次数。
当采用上述步骤中的变量EraseCnt时,该变量的值即为硬盘总的擦除次数。读取该变量,即得到硬盘总的擦除次数。可选的,固态硬盘每块存储介质的擦除次数都可以反映到擦除统计变量上,擦除统计变量用于反映固态硬盘总的块的擦除次数。
步骤s203,根据硬盘擦除次数计算硬盘的平均擦除操作的次数;
本发明的实施例中,平均擦除操作的次数的一计算公式可以为:
AverEraseCnt=EraseCnt/BlockCnt
其中,AverEraseCnt表示平均擦除操作的次数,BlockCnt指数据块总数。当然还可以根据需要使用其它公式计算平均擦除操作的次数。
步骤s204,计算硬盘的损耗。
可以利用平均擦除操作的次数、预先设置的硬盘最大擦除次数以及预先设置的硬盘最长使用时间计算硬盘的损耗。
以硬盘的使用寿命以百分计算为例,设最大寿命为100,则硬盘损耗可以根据下式计算:
Retention=AverEraseCnt*100/BlockEraseCnt(每一数据块的最大擦除次数)
由于需求资源很少、计算速度很快,所以损耗计算的触发可以设置为:在查询损耗时计算寿命或定时计算损耗。
通过采用本发明实施例提供的方法,统计硬盘的擦除次数,得到硬盘的损耗情况,实施简单有效。
本发明实施例提供一种硬盘损耗的获取装置,如图3所示,包括:
监测单元31,用于监测硬盘的擦除操作;
次数获取单元32,用于获取擦除操作的次数;
损耗获取单元33,用于根据次数获取单元32获取到的擦除操作的次数获取硬盘的损耗。
本发明的又一实施例中,如图4所示,上述获取装置中,次数获取单元32包括:
变量读入子单元321,用于读入擦除统计变量;具体用于当硬盘启动时从硬盘的非易失存储介质中读入擦除统计变量;
变量值改变子单元322,用于当监测到硬盘的擦除操作时,改变擦除统计变量的值;
次数获得子单元323,用于根据擦除统计变量的值得到擦除操作的次数;
变量写入子单元324,用于当硬盘断电时或到达预先设置的时间时,将擦除统计变量的值写入到非易失存储介质。
损耗获取单元33包括:
平均获取子单元331,用于根据获取到的擦除操作的次数获取硬盘的平均擦除操作的次数;
损耗获取子单元332,用于利用平均获取子单元331获取的硬盘的平均擦除操作的次数乘以预先设置的硬盘最长使用时间、并除以预先设置的硬盘最大擦除次数,进而得到硬盘的损耗。
通过采用本发明实施例提供的装置,统计硬盘的擦除次数,得到硬盘的损耗情况,实施简单有效。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可以通过硬件实现,也可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本发明的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM,U盘,移动硬盘等)中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
总之,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1、一种硬盘损耗的获取方法,其特征在于,包括:
监测硬盘的擦除操作并获取所述擦除操作的次数;
根据所述获取到的擦除操作的次数获取硬盘的损耗。
2、如权利要求1所述的方法,其特征在于,获取所述擦除操作的次数包括:
读入擦除统计变量;
当监测到硬盘的擦除操作时,改变所述擦除统计变量的值;
根据所述擦除统计变量的值得到所述擦除操作的次数。
3、如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述读入擦除统计变量包括:
当所述硬盘启动时从所述硬盘的非易失存储介质中读入所述擦除统计变量;
所述读入擦除统计变量后还包括:
当所述硬盘断电时或到达预先设置的时间时,将所述擦除统计变量的值写入到所述非易失存储介质。
4、如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述当监测到硬盘发生擦除操作时,改变所述擦除统计变量的值包括:
当监测到硬盘发生擦除操作时,增加所述擦除统计变量的值。
5、如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述获取到的擦除操作的次数获取硬盘的损耗包括:
根据所述获取到的擦除操作的次数获取硬盘的平均擦除操作的次数;
利用所述硬盘的平均擦除操作的次数乘以预先设置的硬盘最长使用时间、并除以预先设置的硬盘最大擦除次数,进而得到硬盘的损耗。
6、一种硬盘损耗的获取装置,其特征在于,包括:
监测单元,用于监测硬盘的擦除操作;
次数获取单元,用于获取所述擦除操作的次数;
损耗获取单元,用于根据所述次数获取单元获取到的擦除操作的次数获取硬盘的损耗。
7、如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述次数获取单元包括:
变量读入子单元,用于读入擦除统计变量;
变量值改变子单元,用于当监测到硬盘的擦除操作时,改变所述擦除统计变量的值;
次数获得子单元,用于根据所述擦除统计变量的值得到所述擦除操作的次数。
8、如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述变量读入子单元具体用于,当所述硬盘启动时从所述硬盘的非易失存储介质中读入所述擦除统计变量;
所述次数获取单元还包括:变量写入子单元,用于当所述硬盘断电时或到达预先设置的时间时,将所述擦除统计变量的值写入到所述非易失存储介质。
9、如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述损耗获取单元包括:
平均获取子单元,用于根据所述获取到的擦除操作的次数获取硬盘的平均擦除操作的次数;
损耗获取子单元,用于利用所述平均获取子单元获取的硬盘的平均擦除操作的次数乘以预先设置的硬盘最长使用时间、并除以预先设置的硬盘最大擦除次数,进而得到硬盘的损耗。
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CNA2008101715788A CN101383178A (zh) | 2008-10-27 | 2008-10-27 | 一种硬盘损耗的获取方法和装置 |
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CN (1) | CN101383178A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112181316A (zh) * | 2020-11-04 | 2021-01-05 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | 数据块信息继承方法、装置、存储介质及电子设备 |
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2008
- 2008-10-27 CN CNA2008101715788A patent/CN101383178A/zh active Pending
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C12 | Rejection of a patent application after its publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
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