CN101373181A - 实时计算逐点变迹系数的方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种实时计算用于波束合成的逐点变迹系数的方法和装置。所述方法包括存储步骤,用于将预先计算的接收聚焦点的变迹系数存储到存储器中;计算步骤,用于计算阵元到接收点的矢量与阵元法向量的夹角或夹角的三角函数值;寻址步骤,将计算步骤中得到的夹角或夹角的三角函数值量化后作为变迹系数存储器的寻址地址,读出变迹系数;以及插值步骤,对每个接收通道,预先计算两个接收聚焦点的变迹系数,通过插值得到这两个接收聚焦点之间的点的变迹系数。所述装置包括变迹曲线存储器,存储单元,定时控制单元,通道计数器,计算单元,地址处理单元,以及插值单元。采取本发明的技术方案,可以实现波束合成过程中变迹参数的实时逐点计算。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于超声成像的变迹系数的计算方法及装置,更具体地说,涉及一种用于波束合成的变迹系数的实时计算方法及装置。
背景技术
在超声成像设备中,变迹系数是波束合成不可缺少的一个参数。在波束接收系统中,常用的方法是将波束合成所需要的变迹系数计算好后存入存储器中,在接收合成的时候再读出来使用。为了节约存储器资源,一般都是计算在一些固定接收位置的变迹系数,与其相邻的接收位置使用的是同一参数,不能实现逐点变迹。
专利文献CN200610061969.5提出了一种实时计算接收聚焦点的变迹系数的方法,该方法将一组计算好的变迹系数预先存入存储器中,然后在不同的接收深度对这组预置曲线进行不同的抽取,从而得到不同深度的变迹曲线。
波束合成系统常用的方法是在多个接收位置都保留一根完整的变迹系数曲线,存储器资源耗费大,而且也没有实现逐点变迹。专利文献CN200610061969.5提出的方法只需要存储一根变迹系数曲线,极大地节省了存储器资源。但是,其受限于存储的变迹系数的点数,也未能实现逐点变迹。
发明内容
本发明旨在节省存储器资源的同时,提供一种实时计算变迹系数的方法,并且可以通过硬件实时生成波束合成所需的变迹系数,在波束合成逐点聚焦的同时实现逐点变迹。为了实现这一目的,本发明所采取的技术方案如下所述。
按照本发明的第一方面,提供一种实时计算用于波束合成的逐点变迹系数的方法,包括:存储步骤,用于将预先计算的接收聚焦点的变迹系数存储到存储器中;计算步骤,用于计算阵元到接收点的矢量与阵元法向量之间的夹角或者夹角的三角函数值;以及寻址步骤,将计算步骤中得到的夹角或者夹角的三角函数值量化后作为变迹系数存储器的寻址地址,读出变迹系数。其中所述夹角的三角函数值包括正弦、余弦、正切、余切值等。
优选的是,按照本发明第一方面的实时计算用于波束合成的逐点变迹系数的方法还包括插值步骤,对每个接收通道,预先计算作为插值起始点的接收聚焦和作为插值终止点的接收聚焦的变迹系数,通过插值得到这两个接收聚焦点之间的点的变迹系数。其中按照下式插值计算变迹系数Apod:
Apod(j,m)=Apod(j,i)+Δ*m/N;
其中,Δ=Apod(j,i+N)-Apod(j,i),j表示接收阵元号,m是从i到i+N-1的接收聚焦点,N是插值起始点和插值终止点之间的变迹系数的数目。优选的是,将插值起始点和插值终止点之间的变迹系数的数目N取为2的幂,从而除以N的运算可通过移位操作进行。
再优选的是,对计算步骤中得到的夹角的三角函数值取绝对值,然后再量化后作为变迹系数存储器的寻址地址,读出变迹系数。
还优选的是,当阵元到接收点的矢量与阵元法向量的夹角或者夹角的三角函数值的绝对值大于预定门限值时,变迹系数都为零。
还优选的是,在所述存储步骤中,按照由小到大的顺序将预先计算的接收聚焦点的变迹系数存储到存储器中。
其中,X=Fx-Ex,Y=Fy-Ey;Ex、Ey是探头坐标,Fx、Fy是接收聚焦点坐标。
按照本发明的第二方面,提供一种实时计算用于波束合成的逐点变迹系数的装置,包括:变迹曲线存储器,用于存储变迹系数;存储单元,用于存储阵元坐标Ex和Ey、以及K值,其中 是接收阵元的法向量与Y轴的夹角,给定探头参数后,即可确定定时控制单元,用于产生接收聚焦点坐标Fx、Fy;通道计数器,用于顺序从存储单元读出每个接收通道对应的阵元坐标Ex和Ey、以及阵元法向量与Y轴夹角的正切值K;计算单元,基于阵元坐标Ex和Ey、阵元法向量与Y轴夹角的正切值K、以及接收聚焦点坐标Fx和Fy,计算阵元到接收点的矢量与阵元法向量的夹角或者夹角的三角函数值;以及地址处理单元,用于将计算的阵元到接收点的矢量与阵元法向量的夹角量化后的值作为变迹曲线存储器的寻址地址,读出变迹系数Apod(j,i);或者将计算的阵元到接收点的矢量与阵元法向量夹角的三角函数值取绝对值,然后再量化后的值作为变迹曲线存储器的寻址地址,读出变迹系数Apod(j,i)。
优选的是,所述夹角的三角函数值为所述计算单元包括:第一减法器,用于计算X=Fx-Ex;第二减法器,用于计算Y=Fy-Ey;第一乘法器,用于计算KX;第二乘法器,用于计算KY;第三减法器,用于计算X-KY;第一加法器,用于计算Y+KX;以及除法器,用于计算(X-KY)/(Y+KX)。
再优选的是,按照本发明第二方面的实时计算用于波束合成的逐点变迹系数的装置还包括插值单元,用于根据每个接收通道计算的作为插值起始点的接收聚焦和作为插值终止点的接收聚焦的变迹系数,插值得到这两个接收聚焦点之间的点的变迹系数。其中所述插值单元的数量与接收通道的数量相同,所述插值单元执行下式所表示的插值运算:
Apod(j,m)=Apod(j,i)+Δ*m/N;
其中,Δ=Apod(j,i+N)-Apod(j,i),j表示接收阵元号,m是从i到i+N-1的接收聚焦点,N是两个接收聚焦点之间的变迹系数的数目。
还优选的是,所述插值单元包括:第一寄存器、第二寄存器和第三寄存器,其中第一寄存器用于存储从变迹系数存储器中读出的变迹系数,并且在第一数据使能信号的控制下将所述变迹系数转存到第二寄存器,其中第二寄存器在第二数据使能信号的控制下再将所述变迹系数转存到第三寄存器;第四减法器,用于计算Δ=Apod(j,i+N)-Apod(j,i);累加器,用于对第四减法器计算的Δ值进行累加,并在复位信号的控制下输出当前的Δ值;移位器,用于将累加器的输出右移log2N位;以及第二加法器,用于将移位器的输出和第三寄存器中的变迹系数相加,并输出插值得到的变迹系数;其中两个插值点之间的间隔N取为2的幂。
还优选的是,所述第一数据使能信号、第二数据使能信号、以及累加器复位信号由所述定时控制单元产生。采取本发明技术方案的方法和装置,可以实现波束合成过程中变迹参数的实时逐点计算。
附图说明
图1是超声成像系统的框图;
图4示出了接收聚焦点在接收孔径中心时求得的变迹系数曲线簇;
图5示出了接收聚焦点在接收孔径中心时通过插值得到的变迹系数曲线簇;
图6示出了插值前第6通道变迹系数随接收深度变化曲线;
图7示出了插值后得到的第6通道变迹系数随接收深度变化曲线;
图8示出了按照本发明实施例的实时计算逐点变迹系数的装置的结构;
图9示出了按照本发明实施例的实时计算逐点变迹系数的装置的插值单元的结构。
具体实施方式
图1是典型的B型超声成像系统。下面主要以64通道单波束系统为例说明,本发明的方法和装置可适用于其它通道数(如32、64、128或其它)及多波束的情况。
1.实时计算逐点变迹系数的方法
变迹系数的作用在于给不同通道的回波以不同的权重。一般情况下,各通道权重分配的原则是越靠近接收线的阵元权重越大,并且随深度变化而变化。基于这个原则,可以通过计算阵元到接收点矢量和阵元法向量夹角的大小来决定变迹系数的值。显然,值越大,变迹系数Apod的值应该越小。因此,通过求取可以达到确定变迹系数的目的,而求取可以通过先计算的三角函数值,然后再求反三角函数得到。为了简化计算,可以依据与其相应的三角函数值的对应关系,直接用的三角函数值(例如正弦、余弦、正切、余切值等等)确定Apod的值。在本实施例中,依据与的对应关系,通过计算得到的值后确定Apod的值,越大,Apod的值越小。图2给出了使用凸阵时计算的方法,因为接收线可以不在接收孔径的中心,为不失一般性,图中所示的接收点处于接收孔径的右侧。是接收阵元的法向量与Y轴的夹角,给定探头参数后,也就确定了;是接收阵元到接收聚焦点矢量与Y轴的夹角,其中Ex、Ey是探头坐标,为已知量,Fx、Fy是在接收过程中实时变化的接收聚焦点坐标。在图2中,定义的方向为负方向,的方向为正方向,于是可得:
整理后可得:
越大,也就是值越大时,对应的接收阵元所接收到的信号能量就越小。当大到一定程度时,对应接收阵元接收到的信号能量足够小,以至该阵元可以不参加信号的接收,因此设定其变迹系数为零。此时,将对应的值设定为一个门限值|tan(ψ)|,当大于|tan(ψ)|时,变迹系数都为零。图3给出了与变迹系数的对应关系,图中设定的门限值为1。图4给出了接收聚焦点坐标为(0,11.232)、(0,23.552)、(0,35.872)、(0,48.192)、(0,60.512)、(0,72.832)、(0,85.152)(单位为mm)时,采用上述方法得到的各接收阵元的变迹系数曲线簇,图中横坐标表示阵元序号,与通道号相对应,纵坐标表示变迹系数值,Y坐标最小的接收聚焦点对应最下方的曲线,Y坐标最大的接收聚焦点对应最上方的曲线。
对于线阵和相控阵,计算接收聚焦点与接收阵元夹角的正切值就是:
其中,X=Fx-Ex,Y=Fy-Ey。
实际上,式(2)包含于式(1)中,因为线阵和相控阵阵元的法向量平行于Y轴,所以K恒为零。
因此,一旦给定了阵元类型及其相关参数,就可以通过式(1)计算值,然后确定变迹系数值。
在式(1)中,计算一个值,要进行两次乘法,两次加法,一次除法。对于64个接收通道来说,每一个通道都要进行这样的计算。如果单用这种方法来实时计算各个接收聚焦点的变迹系数,一方面是计算量太大,另一方面各通道都要独立地访问存储器以读取变迹系数值,硬件的开销很大,因此需要寻找更为简便的计算方法。对于同一个接收通道的变迹系数,可以用式(1)先计算好两个接收聚焦点(即作为插值起始点的接收聚焦和作为插值终止点的接收聚焦)上的变迹系数,位于这两个点之间的N个变迹系数通过插值得到,间距N选择的原则是使得用这两个焦点位置处的变迹系数插值得到的中间位置的变迹系数与理想变迹系数的误差最小。插值的算法如式(3)所示。
Apod(j,m)=Apod(j,i)+Δ*m/N (3)
其中,Δ=Apod(j,i+N)-Apod(j,i),j表示的是接收阵元号,m是从i到i+N-1的接收聚焦点。
当N取值为2的幂时,除以N在硬件实现上可以简化为移位操作,且Δ*m可以通过累加的方式实现。通过式(1)计算出Apod(j,i+N)和Apod(j,i)后,对于每一个通道,在实时计算各个接收点的变迹系数时只需要一个累加器,一个加法器,一次移位操作就可以了。与直接用式(1)相比,硬件开销大为减少。
通过插值计算得到各个接收聚焦点变迹系数的最大好处在于,避免了同一接收通道多个相邻接收点共用一个变迹系数所产生的变迹系数突变对图象的影响。
图5给出了当N=6时,以图4中的七根变迹曲线分别作为起点和终点,插值后得到的六组(每组6根曲线)变迹系数曲线簇。由图5可见,每一组插值得到的变迹系数曲线都均匀地分布在起点曲线与终点曲线之间。由此可以预见,当减小用于插值的起点曲线与终点曲线之间的距离,同时增大N至可以实时计算出每一个接收聚焦点变迹系数为止,将得到分布更为密集的变迹系数曲线簇,从而有效地减小接收过程中变迹系数的突变。
通过比较插值前后某接收通道的变迹系数随接收深度变化曲线的异同,能够更直观地认识到插值后系数变化对图象质量提高的帮助。图6是插值前第6通道变迹系数随接收深度变化曲线,图7是插值后得到的第6通道变迹系数随接收深度变化曲线。通过对比可见,在未插值前,随着接收深度的变化,变迹曲线呈现明显的阶梯状变化,在接收深度较浅时,这种变化尤其明显;而插值后的曲线明显地变得平滑,随着接收深度的增加,各个接收点的变迹系数呈现平滑的递加形态,消除了系数突变的情况。对比其他通道的情况可以得到相同的结论。
2.实时计算逐点变迹系数的装置
以一个64通道单波束的超声成像系统为例,在进行波束合成时需要进行最多64通道的变迹系数计算。
如图8所示,按照本发明实施例的实时计算逐点变迹系数的装置包括定时控制单元800、通道计数器802、存储单元804、计算单元806、地址处理单元808、变迹曲线存储器810、以及插值单元812,其中插值单元812是可选地。当包括插值单元812时,只需计算出每个通道起点和终点的变迹系数,通过插值单元812计算出作为插值起始点的接收聚焦和作为插值终止点的接收聚焦之间的点的变迹系数;当不包括插值单元812时,按照本发明实施例的装置也可以计算出每个通道所有点的变迹系数。在本实施例中,优选地包括插值单元812。下面对组成按照本发明实施例的装置的各单元进行详细说明。
其中存储单元804包括阵元坐标Ex存储器、Ey存储器、以及K值存储器。计算单元806包括第一减法器、第二减法器、第一乘法器、第二乘法器、第三减法器、第一加法器、以及除法器。当然,计算单元806也可以采用能够完成式(1)的计算的其他结构。
定时控制单元800控制产生Fx、Fy值,通道计数器802开始计数,顺序从存储单元804中的各存储器读出每个接收通道对应的阵元坐标Ex、Ey、以及阵元法向量的正切值K(对于线阵和相控阵,K值为0)。第一减法器计算出X,第二减法器计算出Y值,第一乘法器计算出KX,第二乘法器计算出KY,第三减法器计算出(X-KY),第一加法器计算出(Y+KX),除法器计算出(X-KY)/(Y+KX)。地址处理单元808将计算出的tan(φ)值取绝对值,按预定的门限值|tan(ψ)|处理|tan(φ)|。当|tan(φ)|>|tan(ψ)|时,都按|tan(ψ)|输出。将|tan(φ)|量化后的值作为变迹曲线存储器的寻址地址,读出变迹系数值Apod(j,i)并输出。
在接收开始前,先计算好64个通道在两个接收聚焦点上的变迹系数:Apod(j,0),Apod(j,N),(0≤j<64);然后,将每一个通道对应的两个接收点的变迹系数送入插值单元812中。插值单元812的数量与通道数相对应,对于64个通道,需要64个插值单元。
按照本发明实施例的插值单元812的结构如图9所示,插值单元812完成式(3)的计算。上述读出的变迹系数Apod(j,i)在第一数据使能信号(该信号可由前述定时控制单元800产生,每个插值单元对应一个)的控制下首先输入j通道对应的插值单元的第一寄存器900中。当Apod(0,i)到Apod(63,i)都计算完毕并存入到64个插值单元中的第一寄存器900后,前述定时控制单元800产生第二数据使能信号使得Apod(j,i)存入第二寄存器902。前述电路继续读出Apod(j,i+N),并在第一数据使能信号的控制下存入各个通道插值单元的第一寄存器900中。当Apod(0,i+N)到Apod(63,i+N)都存入到64个插值单元中的第一寄存器900后,定时控制单元800再次产生第二数据使能信号使得Apod(j,i+N)存入第二寄存器902,同时Apod(j,i)存入第三寄存器904。继续读出Apod(j,i+2*N),并保存在各通道插值单元的第一寄存器900中以备更新。
当第二寄存器902和第三寄存器904的内容都更新完后,前述定时控制单元800还将产生累加器复位信号,将累加器9908的输出复位到当前Δ值。第四减法器906计算Δ=Apod(j,i+N)-Apod(j,i);累加器908对第四减法器906计算的Δ值进行累加。
接收开始时i=0,在0到N-1个接收点的接收过程中,插值单元通过Apod(j,0)和Apod(j,N)的输入计算得到0到N-1个变迹系数。当接收点变化到N点后,Apod(j,N)被存入第三寄存器904,Apod(j,2*N)被存入第二寄存器902,于是N到2*N-1点的变迹系数可以通过Apod(j,N)和Apod(j,2*N)插值求得。
在接收过程中,假设第三寄存器904中存放的变迹系数是Apod(j,i),则第二寄存器902中存放的变迹系数是Apod(j,i+N)。通过计算出的|tan(φ)|不断地提前读出变迹系数Apod(j,i+2*N),并依次存入各个通道插值单元的第一寄存器900。当N个接收点的变迹系数计算完后,定时控制单元800先产生第二数据使能信号,使得第二寄存器902中的值存入第三寄存器904,第一寄存器900中的值存入第二寄存器902,然后产生累加器复位信号将累加器908的输出复位为更新后的Δ值。如此循环,就可以不断地得到各个接收聚焦点的变迹系数值。
在本实施例的装置中,为了节省资源,两个插值点之间的间隔N取为2的幂,因而式(3)中的除法可以用移位操作来代替,即通过移位器910将累加器908的输出右移log2N位,来实现式(3)中的除法运算。在Δ*m的计算中,因为Δ在0到N-1点内为一定值,所以用一个累加器908来代替乘法电路。第二加法器912将移位器910的输出和第三寄存器904中的变迹系数相加,并输出插值得到的变迹系数。
以上通过64通道单波束系统为例对按照本发明实施例的方法和装置进行了说明,但本发明并不限于这些具体的实施例。按照本发明实施例的方法和装置还可以适用于其他系统,例如,对于其他通道的情况,本装置需要更改的是与通道数对应的插值电路个数;当采用多波束时,每一个波束都需要一套本装置的电路。因此,对本发明做的任何修改、替换等,只要未背离本发明的精神,都应在本发明的保护范围之内。
Claims (18)
1.一种实时计算用于波束合成的逐点变迹系数的方法,包括:
存储步骤,用于将预先计算的接收聚焦点的变迹系数存储到存储器中;
其特征在于,还包括:
计算步骤,用于计算阵元到接收点的矢量与阵元法向量之间的夹角或者夹角的三角函数值;以及
寻址步骤,将计算步骤中得到的夹角或者夹角的三角函数值量化后作为变迹系数存储器的寻址地址,读出变迹系数。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
插值步骤,对每个接收通道,预先计算作为插值起始点的接收聚焦和作为插值终止点的接收聚焦的变迹系数,通过插值得到这两个接收聚焦点之间的点的变迹系数。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,按照下式插值计算变迹系数Apod:
Apod(j,m)=Apod(j,i)+Δ*m/N;
其中,Δ=Apod(j,i+N)-Apod(j,i),j表示接收阵元号,m是从i到i+N-1的接收聚焦点,N是插值起始点和插值终止点之间的变迹系数的数目。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于:
将插值起始点和插值终止点之间的变迹系数的数目N取为2的幂,从而除以N的运算可通过移位操作进行。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
对计算步骤中得到的夹角的三角函数值取绝对值,然后再量化后作为变迹系数存储器的寻址地址,读出变迹系数。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于:
当阵元到接收点的矢量与阵元法向量的夹角或者夹角的三角函数值的绝对值大于预定门限值时,变迹系数都为零。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于:
所述夹角的三角函数值包括正弦、余弦、正切、余切值。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于:
在所述存储步骤中,按照由小到大的顺序将预先计算的接收聚焦点的变迹系数存储到存储器中。
11.一种实时计算用于波束合成的逐点变迹系数的装置,包括:
变迹曲线存储器,用于存储变迹系数;
其特征在于,还包括:
定时控制单元,用于产生接收聚焦点坐标Fx、Fy;
通道计数器,用于顺序从存储单元读出每个接收通道对应的阵元坐标Ex和Ey、以及阵元法向量与Y轴夹角的正切值K;
计算单元,基于阵元坐标Ex和Ey、阵元法向量与Y轴夹角的正切值K、以及接收聚焦点坐标Fx和Fy,计算阵元到接收点的矢量与阵元法向量的夹角或者夹角的三角函数值;以及
13.如权利要求12所述的装置,其特征在于,所述计算单元包括:
第一减法器,用于计算X=Fx-Ex;
第二减法器,用于计算Y=Fy-Ey;
第一乘法器,用于计算KX;
第二乘法器,用于计算KY;
第三减法器,用于计算X-KY;
第一加法器,用于计算Y+KX;以及
除法器,用于计算(X-KY)/(Y+KX)。
14.如权利要求11所述的装置,其特征在于,还包括:
插值单元,用于根据每个接收通道计算的作为插值起始点的接收聚焦和作为插值终止点的接收聚焦的变迹系数,插值得到这两个接收聚焦点之间的点的变迹系数。
15.如权利要求14所述的装置,其特征在于,所述插值单元执行下式所表示的插值运算:
Apod(j,m)=Apod(j,i)+Δ*m/N;
其中,Δ=Apod(j,i+N)-Apod(j,i),j表示接收阵元号,m是从i到i+N-1的接收聚焦点,N是两个接收聚焦点之间的变迹系数的数目。
16.如权利要求14或15所述的装置,其特征在于,所述插值单元包括:
第一寄存器、第二寄存器和第三寄存器;其中第一寄存器用于存储从变迹系数存储器中读出的变迹系数,并且在第一数据使能信号的控制下将所述变迹系数转存到第二寄存器;其中第二寄存器在第二数据使能信号的控制下再将所述变迹系数转存到第三寄存器;
第四减法器,用于计算Δ=Apod(j,i+N)-Apod(j,i);
累加器,用于对第四减法器计算的Δ值进行累加,并在复位信号的控制下输出当前的Δ值;
移位器,用于将累加器的输出右移log2N位;以及
第二加法器,用于将移位器的输出和第三寄存器中的变迹系数相加,并输出插值得到的变迹系数;
其中两个插值点之间的间隔N取为2的幂。
17.如权利要求16所述的装置,其特征在于:
所述第一数据使能信号、第二数据使能信号、以及累加器复位信号由所述定时控制单元产生。
18.如权利要求14或15所述的装置,其特征在于:所述插值单元的数量与接收通道的数量相同。
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