CN101329900A - 控制动态随机存取存储器的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种控制一动态随机存取存储器的方法，所述方法包含检测所述动态随机存取存储器中损坏的存储单元、纪录损坏的存储单元所对应的列地址、接收一控制指令以存取所述动态随机存取存储器中第X行、第Y列的存储单元、检测所述第Y列是否属于所纪录损坏的存储单元所对应的列地址，若当所述第Y列属于所纪录损坏的存储单元所对应的列地址中之一，将所欲存取的存储单元改为第X行、第Z列的存储单元，而Z不等于Y。本发明提供的控制动态随机存取存储器的方法，不仅能够提升动态随机存取存储器的寿命，对使用者来说，也节省了许多成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种控制存储器的方法，尤其涉及一种控制动态随机存取存储器的方法。
背景技术
请参考图1，图1是现有技术的控制动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)的方法100的流程图。步骤说明如下：
步骤110：开始；
步骤120：根据一控制指令，对一动态随机存取存储器的存储单元进行存取操作；
步骤130：所述动态随机存取存储器根据所述控制指令，将被存取的存储单元所储存的数据读出、或将一外部数据写入被存取的存储单元；
步骤140：结束。
在步骤120中，所述控制指令包含了读取、写入以及所述被存取的存储单元的地址。一般来说，一动态随机存取存储器包含了M行×N列个存储单元。因此，所述被存取的存储单元的地址便指明是在所述M行×N列个存储单元中的第几行第几列存储单元，如此才能成数据的存取。
然而，当动态随机存取存储器使用过一段时间之后，会有产生存储器损坏的现象(defect)。而当外部的控制指令要存取的存储单元，刚好是损坏的时候，则所存取到的数据，便也会是坏的。而现有技术的做法，是将整个动态随机存取存储器视为损坏而丢弃。如此一来，虽然还有其他存储单元是未损坏的，以先前技术的方法，仍无法正确控制已含有损坏存储单元的动态随机存取存储器，造成存储器的浪费。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种控制动态随机存取存储器的方法，能有效地利用动态随机存取存储器，在动态随机存取存储器部分存储单元损坏之后，仍能够正常运作而不需将整个动态随机存取存储器视为完全损坏。
为达到上述目的，本发明提供一种控制动态随机存取存储器的方法，所述动态随机存储器包含M行×N列个存储单元，所述方法包含以下步骤：
检测所述动态随机存取存储器中损坏的存储单元；
纪录损坏的存储单元所对应的列地址；
接收一控制指令以存取所述动态随机存取存储器中第X行、第Y列的存储单元；
检测所述第Y列是否属于所纪录损坏的存储单元所对应的列地址；
根据所述控制指令以及检测结果，对所述动态随机存取存储器中第X行、第Z列的存储单元进行存取。
与现有技术相比，本发明提供的控制动态随机存取存储器的方法，不仅能够提升动态随机存取存储器的寿命，对使用者来说，也节省了许多成本。
附图说明
图1是现有技术的控制动态随机存取存储器的方法的流程图；
图2是根据本发明的一实施例所述的控制动态随机存取存储器的方法的流程图。
附图标记说明：100、200-方法；110～140、210～280-步骤。
具体实施方式
以下结合附图，对本发明上述的和另外的技术特征和优点作更详细的说明。
请参考图2，图2是根据本发明的一实施例所述的控制动态随机存取存储器的方法200的流程图，步骤说明如下：
步骤210：开始；
步骤220：检测一动态随机存取存储器中损坏的存储单元；
步骤230：纪录损坏的存储单元所对应的列；
步骤240：设定一部份的列的存储单元为保留列存储器单元；
步骤250：接收一控制指令以对所述动态随机存取存储器中第X行、第Y列的存储单元进行存取；
步骤260：检测所述第Y列是否属于所纪录损坏的存储单元所对应的列地址；若是，接至步骤272；若否，接至步骤271；
步骤271：对所述动态随机存取存储器中第X行、第Y列的存储单元进行存取；
步骤272：对所述动态随机存取存储器中第X行、第Z列的存储单元进行存取；
步骤280：结束。
在步骤220中，检测所述动态随机存取存储器中损坏的存储单元是以扫描的方式，逐一扫描过所述动态随机存取存储器中所有存储单元，然后判断哪些存储单元是损坏的、哪些存储单元是未损坏的。判断的方式可以以一控制指令与一数据，来写入某一行地址、某一列地址的存储单元。然后再将刚写入的存储单元所储存的数据读取出来。若和原先写入的数据不符，则可判断所述行、所述列的存储单元是损坏的。
在步骤230中，纪录损坏的存储单元所对应的列是将先前扫描过判断损坏的存储单元，纪录其所对应的列。举例来说，若损坏的存储单元有第1行第2列、第2行第3列及第3行第4列存储单元三个。则将第2、3、4列纪录起来，表示所述列中具有损坏的存储单元，并舍弃所纪录的列不用。当之后动态随机存取存储器接收到的控制指令是会存取到这些列中的存储单元(如第3行第3列，而第3列已被纪录为损坏列)时，便自动将存取的列地址转换为步骤240中所保留的列地址，而便不会发生存取到损坏的存储单元的状况发生。
在步骤240中，设定一部份的列的存储单元为保留列存储器单元，用于取代损坏的存储单元。设定的方式可为设定所述动态随机存取存储器中最后几列(至少为一列)。这样设定的方式是因为一般使用者都不会将动态随机存取存储器使用到百分之百，也就是说，最后几列会使用到的机率很小。因此，便可以将动态随机存取存储器较少用到的列，设计为保留列，来作为取代损坏存储单元的功能使用。另外，为了提高本发明的使用性，也可根据扫描过后所纪录的损坏列，来设定保留列以确保所设定的保留列中的存储单元都是未损坏的，如此才能更提高数据的准确性。
另外，保留列的数目，可设为一定值，若使用者很少使用到动态随机存取存储器最后5列，则可将保留列设为5。又或者可根据步骤230所纪录损坏列的数目，来设计保留列的数目，例如已纪录的损坏列有10列，则可将保留列的数目设为10，如此便不会发生损坏列超过保留列的数目而造成仍有数据存取是错误的情况。
除此之外，损坏列与保留列所对应的关系，可以根据使用者设计来对应。举例来说，列2(损坏)可对应至列10(保留)、列4(损坏)可对应至列18(保留)…可以是依序对应，也可以不是，看使用者如何设计能较为方便。
在步骤260中，判断所欲存取的存储单元，是否位于所纪录的损坏列中，若是，则将所欲存取的存储单元的列地址改为保留列中对应的列地址，而行地址不变，以此方式，来进行存取动作(步骤272)；若否，也即表示所欲存取的存储单元对应到的列中，并未有损坏的存储单元，因此即进行存取所述所欲存取的存储单元(行地址、列地址都不改变)(步骤271)。而这样便能避开损坏的存储单元，使得存取的数据不会出现错误。
综上所述，本发明所提供的控制方法，能有效地利用动态随机存取存储器，在动态随机存取存储器部分存储单元损坏之后，仍能够正常运作而不需将整个动态随机存取存储器视为完全损坏，不仅能够提升动态随机存取存储器的寿命，对使用者来说，也节省了许多成本。
以上说明对本发明而言只是说明性的，而非限制性的，本领域普通技术人员理解，在不脱离以下所附权利要求所限定的精神和范围的情况下，可做出许多修改，变化，或等效，但都将落入本发明的保护范围内。
Claims (8)
1.一种控制动态随机存取存储器的方法，所述动态随机存储器包含M行×N列个存储单元，其特征在于，所述方法包含以下步骤：
检测所述动态随机存取存储器中损坏的存储单元；
纪录损坏的存储单元所对应的列地址；
接收一控制指令以存取所述动态随机存取存储器中第X行、第Y列的存储单元；
检测所述第Y列是否属于所纪录损坏的存储单元所对应的列地址；
根据所述控制指令以及检测结果，对所述动态随机存取存储器中第X行、第Z列的存储单元进行存取。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包含以下步骤：设定一W列存储单元为保留列存储器单元，W至少为1。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述控制指令以及检测结果，存取所述动态随机存取存储器中第X行、第Z列的存储单元步骤包含：当所述第Y列不是属于所纪录损坏的存储单元所对应的列地址时，根据所述控制指令，对所述动态随机存取存储器中第X行、第Y列的存储单元进行存取。
4.如权利要求2所述的方法，其中根据所述控制指令以及检测结果，所述对所述动态随机存取存储器中第X行、第Z列的存储单元进行存取步骤包含：当所述第Y列属于所纪录损坏的存储单元所对应的列地址时，根据所述控制指令，对所述动态随机存取存储器中第X行、第Z列的存储单元进行存取，Z不等于Y。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第Z列存储单元属于所述W列保留列存储单元中的一列存储单元。
6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述设定一W列存储单元为保留列存储器单元步骤包含：根据纪录损坏的存储单元所对应的列地址，设定所述W列保留列存储单元为保留列存储单元。
7.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述设定一W列存储单元为保留列存储器单元步骤包含：设定一部份的W列存储单元为W保留列存储单元。
8.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述设定一W列存储器单元为保留列存储单元步骤包含：根据纪录损坏的存储单元所对应的列地址数目，设定W列的大小。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN105225698A (zh) * | 2015-09-25 | 2016-01-06 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 一种列修复方法和装置 |
| CN106205737A (zh) * | 2016-07-06 | 2016-12-07 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | 一种测试Nand flash生命周期的方法 |
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2008
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