CN101329877B - 使用参考图案的记录介质及其记录/再现方法以及用于其的装置 - Google Patents

Abstract

一种可对高容量的数据进行记录/再现的记录介质及其记录/再现方法以及用于其的装置。本发明包括步骤：将包括有多个划分区域的参考图案插入到数据图像中并且将该数据图像记录到记录介质中，其中，该多个划分区域具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

Description

使用参考图案的记录介质及其记录/再现方法以及用于其的装置

该申请要求于2007年6月22日提交的韩国专利申请No.10-2007-0061498以及于2007年8月21日提交的韩国专利申请No.10-2007-0083889的权益，通过参考而将该两个申请引入就好像在这里充分阐述一样。

技术领域

本发明涉及一种记录介质及其记录/再现方法和用于其的装置，并且尤其是涉及一种利用全息术的记录介质记录/再现方法以及利用全息术的记录介质记录/再现装置。

背景技术

通常，近来的技术发展产生了高容量和密度的记录介质。作为该记录介质的示例，有CD(光盘)、DVD(数字多用途盘片)等等。此外，具有诸如BD(蓝光盘片)、利用全息术的记录介质等等这样的具有显著提高的记录容量的下一代记录介质。在利用全息术的记录介质的情况下，能够通过使数据重叠而利用光的衍射和干涉特性来将数据记录到记录介质的卷上。因此，可显著地提高记录介质的容量。

然而，对数据进行重建/再现需要用于对数据偏移、数据失真等等进行更加准确地检测并对该数据进行补偿的装置和方法。

发明内容

因此，本发明的目的是可充分消除由于现有技术的限制和缺点所造成的一个或多个问题的记录介质及其记录/再现方法以及用于其的装置。

本发明的目的是提供一种可用来对高容量的数据进行记录/再现的记录介质及其记录/再现方法以及用于其的装置。

在接下来的描述中将在部分地对本发明的附加优点、目的以及特征进行阐述并且部分地对于本领域普通技术人员来说在检查下文后可显而易见地得知或者从本发明的实施学习到本发明的附加优点、目的以及特征。通过尤其在所写的描述及其权利要求以及附图中所指出的结构可实现并获得本发明的目的及其他优点。

为了实现这些目的及其他优点并且根据本发明的目的，如这里所具体化的且宽广描述的，根据本发明的记录介质的记录方法包括步骤：将包括有多个划分区域的参考图案插入到数据图像中并且将该数据图像记录到记录介质中，其中多个划分区域处于反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

优选地，通过反映出记录/再现设备的失真特性而将参考图案插入到数据图像中。

进一步优选地，参考图案插入步骤包括步骤：利用测试图像对记录/再现设备的失真特性进行测量；根据所测量的失真特性来确定数据图像之内的参考图案之间的间隔；并且通过根据所确定的间隔将参考图案插入到数据图像中来对参考图案进行记录。

在这种情况下，按照使参考图案在水平方向和垂直方向上等间隔的布置这样的方式来配置测试图像。

并且，失真特性测量步骤包括步骤：对测试图像进行记录；对测试图像进行再现；并且对所记录的测试图像与所再现的测试图像进行相互比较。

在这种情况下，测试图像比较步骤包括步骤：得到在对相应参考图案进行再现前和后的测试图像内的相应参考图案的位置偏移。

并且，位置偏移得到步骤包括步骤：得到偏移距离和偏移方向。

优选地，参考图案的`接通(on)′数目等于参考图案的`断开(off)′数目。

优选地，在单个数据图像之内以不同形状使用参考图案。

进一步优选地，不同形状的参考图案之间具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

优选地，将形状不同的参考图案插入到多个数据图像的每一个中。

进一步优选地，多个数据图像的每一个的参考图案之间具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

优选地，将与所记录的参考图案的位置有关的信息以及参考图案的图案信息记录在记录介质中。

在本发明的另一方面中，记录介质的再现方法包括步骤：读取包括有下述参考图案的数据图像并且利用参考图案来对数据图像进行再现，所述参考图案包括数据图像中的多个划分区域，其中多个划分区域具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

优选地，数据图像再现步骤包括步骤：对数据图像的位置进行校正。

进一步优选地，数据图像校正步骤包括步骤：通过对所再现的参考图案的位置和大小与所记录的参考图案的位置和大小进行比较来对数据图像进行校正。

优选地，参考图案的″接通″数目等于参考图案的″断开″数目。

在本发明的另一方面中，用于记录介质的记录装置包括：控制单元，用于将包括有多个划分区域的参考图案插入到数据图像中；以及光输出单元，用于将该数据图像记录到记录介质中，其中多个划分区域具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

优选地，控制单元利用测试图像对记录设备的失真特性进行测量，根据所测量的失真特性来确定数据图像内的参考图案之间的间隔，并且通过根据所确定的间隔将参考图案插入到数据图像中来对参考图案进行记录。

进一步优选地，控制单元通过2维地布置参考图案并且使参考图案等间隔分开来配置测试图像。

进一步优选地，控制单元按照对测试图像进行记录、对测试图像进行再现并且对所记录的测试图像与所再现的测试图像进行相互比较这样的方式来测量失真特性。

在这种情况下，控制单元通过得到测试图像内的相应参考图案的记录位置与再现位置之间的偏移，来对所记录的测试图像与所再现的测试图像进行相互比较。

并且，控制单元通过得到参考图案的偏移距离和偏移方向来得到位置之间的偏移。

在本发明的另一方面中，用于记录介质的再现装置包括：光检测单元，用于读取包括有下述参考图案的数据图像，所述参考图案包括数据图像中的多个划分区域；以及控制单元，用于利用参考图案来对数据图像进行再现，其中多个划分区域具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

优选地，控制单元通过对数据图像的位置进行校正来对数据图像进行再现。

优选地，控制单元通过对所再现的参考图案的位置和形状与所记录的参考图案的位置和形状进行比较来对数据图像进行校正。

在本发明的进一步方面中，记录介质包括其中记录了参考图案和用户数据的数据区以及包括有与参考图案有关的信息的控制区，其中参考图案包括数据图像中的多个划分区域并且其中多个划分区域具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

优选地，与参考图案有关的信息包括用于指示其上记录了参考图案的位置的位置信息。

优选地，与参考图案有关的信息包括参考图案的形状。

优选地，与参考图案有关的信息反映出记录介质的记录设备的光学失真特性。

因此，本发明提供了以下效果和/或优点。

首先，本发明可对数据图像进行有效地补偿并且便于对微失真等等进行检测和补偿，因此可提高再现数据的质量。

其次，本发明根据系统配置对失真程度进行测量，因此可对失真进行有效补偿。

第三，本发明通过反映出记录装置的特性来对记录介质执行记录，因此通过考虑到相应记录能够进行附加记录或再现。

还应该明白的是对本发明的上述一般说明及其后详细说明是示意性和说明性的并且意图提供了对如权利要求所要求的本发明的进一步说明。

附图说明

所包括的以提供对本发明的进一步理解的并且并入到该申请中且构成了其一部分的附图示出本发明的(多个)实施例并且与描述一起用于对本发明的原理进行说明。在附图中：

图1是根据本发明一个实施例的记录介质记录和/或再现装置的方框图；

图2A至2D是根据本发明一个实施例的参考图案200的图示；

图3是通过以上参考图案产生方法利用像素单元所产生的参考图案的图示；

图4是根据本发明一个实施例的参考图案的图示；

图5是图4所示的参考图案的相关系数的图示；

图6是根据本发明一个实施例的测试图像的图示；

图7A是记录/再现装置的失真特性的图示，其中失真特性是利用图6所示的测试图像得到的；

图7B是另一记录/再现装置的失真特性的图示；

图8是根据记录装置的失真特性而插入到测试图像之中的参考图案的图示，其中失真特性是预先测量的；

图9是根据本发明一个实施例的用于对记录装置的失真特性进行测量的方法的流程图；

图10是根据本发明的记录介质的记录方法的方法的流程图；

图11是根据本发明一个实施例的用于对记录介质进行再现的方法的流程图；

图12是根据本发明一个实施例的插入的参考图案的图示；以及

图13是根据本发明一个实施例的插入的参考图案的图示。

具体实施方式

现在详细地参考本发明的优选实施例，在附图中对本发明的优选实施例的示例进行了示出。只要可能，在附图各处中使用相同参考数字以标识相同或相似部分。

在本发明中，`记录介质′是指每个可记录的介质。例如，`记录介质′具有包含诸如盘片、磁带等等而与记录类型或系统而关的每个介质的意思。为了清楚并便于以下描述起见，例如盘片用作记录介质，并且尤其是`全息记录介质′用作记录介质。并且，应该理解的是本发明的技术思想也适用于其他记录介质。

图1是根据本发明一个实施例的记录介质记录和/或再现装置的方框图。在图1中，省略该装置的一般元件，而是仅给出用于对本发明的技术点进行描述的必要元件。

参考图1，根据本发明的记录介质记录/再现装置包括光源单元11、第一分光单元13、第二分光单元16、参考光调节单元12、光学调制单元15、存储器17、图像传感器18、以及控制单元20。

光源单元11包括用于产生具有如同激光束的高干涉的光等的气体激光、固态激光、半导体激光、半导体二极管等等。此外，向输出终端侧提供用于使光源单元11所输出的光集聚以使其不分散的透镜。在这种情况下，该透镜例如包括准直透镜。

第一分光单元13接收从光源单元11所输出的光并且此后将所接收到的光分成信号光和参考光。第一分光单元13包括至少一个透明衬底以及至少一个用于使光衍射的光栅层。或者，第一分光单元13可以包括用于对光的一部分进行反射并且可使其余光通过的镜子。通过第一分光单元13的光的一部分入射到第二分光单元16上并且其余光入射到光学调制单元15上。

光学调制单元15在控制单元20的控制之下利用从第一分光单元13所输出的光产生包含数据的信号光。为了清楚和方便起见，将包含该数据的信号光命名为″第一光″。例如，光学调制单元15可包含表示为白点和黑点的二进制数据。在这种情况下，为了清楚和方便期间，可以将白点命名为″接通″并且将黑点命名为″断开″，或者反之亦然。

第一光可包含数据。在这种情况下，该数据可包括其包括有要记录的用户数据的一系列数据。要记录的数据可包括控制信息和用于指示数据的一部分的标记以及用户数据的标记。并且，可包括参考图案。该参考图案在对记录介质100进行记录/再现过程中对记录在记录介质100中的其它数据进行校正中起一定作用。并且，可按照加入到数据中的方式来对参考图案进行记录。在这种情况下，可将与所记录的参考图案的位置和形状有关的数据记录在作为记录装置的存储器的存储空间中。或者，可将与所记录的参考图案的位置和形状有关的数据记录在作为记录介质的控制区和记录介质的管理区的特定区域中。

此外，由光学调制单元15所产生的数据可以包括具有2维图像的数据。为了清楚和方便起见，可将该数据命名为″数据图像″。可利用接通/断开的上述二进制数据来表示数据图像。并且，光学调制单元15能够通过像素单元或像素块单元来对数据图像进行控制以将数据图像的每个像素表示为二进制点。

在将就是具有上述特征的信号束的第一光应用于记录介质100上的同时，将第二光入射到记录介质100上。从第一分光单元13输出的光束入射到第二分光单元16上并且从第二分光单元16输出的光是第二光。此后，第二光经由光调节单元14入射到记录介质10上。

可将第二光命名为参考光束。该参考光束可以表示在将数据记录到记录介质100上的过程中导致与第一光产生干涉的光束。或者，该参考光束可以表示在从记录介质100读取数据的过程中所使用的光束。然而，如图1所示，该参考光束可以是由相同光源发射出的。

光调节单元14在控制单元20的控制之下通过对第二光的入射角、方向、波长、以及相位等等进行调节而对将第二光应用于记录介质100上的过程中起作用。

在这种情况下，根据参考光束的相位和波长将不同干涉图案记录在记录介质100上。因此，通过改变参考光束的相位或波长的方式叠置不同干涉图案，能够将不同干涉图案记录在记录介质的相同区域上。因此，利用这种特性可提高全息记录介质的容量。也就是说，可将多个数据记录到单个区域上。

此外，作为包括光源11和第一分光单元13的全部特性的元件，命名为″第一光输出单元″的元件可用于本发明。并且，作为包括光源11、第二分光单元16以及光调节单元14的全部特性的元件，命名为″第二光输出单元″的元件可用于本发明。

在对记录介质执行记录的过程中，应该使用第一分光单元13和第二分光单元16这两者。然而，在对记录介质进行再现的过程中，能够仅利用参考光束来读取记录在记录介质中的图像。因此，根据本发明，在对记录介质进行再现的过程中可仅使用第二分光单元16。

在再现的情况下，通过应用具有与用于记录的前面光相同的相位和波长的光可读取信息。因此，可将用于记录的光的相位和波长、光调节单元的入射角等等记录或存储在存储器17中。

可按照数据图像的形式将要记录的数据记录在记录介质中。当通过重叠而将数据图像记录在相同区域中时，可将每个记录的数据图像命名为″数据页″。

存储器17可对要记录在记录介质中的数据进行存储。并且，存储器17可存储将要记录在记录介质100中的数据以及用户数据中的信息。例如，可将参考图案的形状等等存储在存储器17中。

图像传感器18可包括诸如电荷耦合器件(CCD)、CMOS等等这样的光电检测器。并且，图像传感器18可包括多个光电检测器。例如，图像传感器18可包括能够提供300*200、1000*800等等的分辨率的多个光电检测器。

图像传感器18接收通过记录介质100的或者在记录介质100上反射的光，并且此后捕获/读出包含在所接收到的光之中的数据图像。例如，图1所示的图像传感器18接收通过记录介质100的光。图像传感器18可接收在从记录介质的反射方向上所产生的相位共轭信号光(与数据图像相对应)。并且，可将图像传感器18命名为″光接收单元″。

控制单元20从存储器17或记录介质读取数据或者产生新数据。此后控制单元20将相应数据提供给光学调制单元15。

控制单元20对光学调制单元15进行控制以根据已从存储器17所读取的数据产生被表示为白点和黑点的2维位图。

控制单元20对光调节单元14进行控制以对可引起与第一光的干涉的第二光的强度、入射角、相位以及波长进行调节。如上面描述所提到的，通过对光调节单元14进行控制，能够将多个数据图像(数据页)存储在记录介质100的相同区域中。控制单元20对光调节单元14进行控制以通过应用具有与用于记录的相同条件的光束来对存储在记录介质10中的数据图像进行再现。

控制单元20能够对由图像传感器18所读取的采样数据的每个2维方向(即x方向(水平方向)和y方向(垂直方向))的光强(亮度)进行检测。

控制单元20能够将参考图案插入到入射到光调制单元15上的数据中。在这种情况下，可根据随后所解释的预定规则而产生并插入参考图案。控制单元20可将与参考图案的形状和插入位置有关的信息存储到存储器17中。控制单元20读取所记录的参考图案并且此后在对除参考图案之外的其他数据进行校正的过程中使用它。尤其是，控制单元20能够利用该参考图案来对数据图像进行校正。例如，控制单元20能够按照从记录介质100读取参考图案数据并且此后对该参考图案数据与存储在存储器17中的数据进行比较的方式来对数据图像进行校正。在这种情况下，比较的对象可包括参考图案的形状和位置。

控制单元20能够利用测试图像来确定记录装置的失真特性。这能够通过将测试图像记录在记录介质上/对记录介质上的测试图像进行再现来进行的。控制单元20对光调制单元15进行控制以产生测试图像并且此后将该测试图像记录在记录装置中。控制单元20能够将所测量的失真特性记录在记录介质或记录装置中。并且，控制单元20能够根据该失真特性来确定插入到数据图像之中的参考图案的间隔。

此外，根据本发明的记录介质100可包括盘片或卷型记录介质。

图2A至2D是根据本发明一个实施例的参考图案200的图示。具体地说，图2A至2D对参考图案产生的规则进行了描述以作为代替通过像素单元来表示本发明的参考图案的实施例。

根据本发明的参考图案包括多个划分区域。并且，在划分区域之间存在预定规则。因为参考图案包括之间具有预定规则的多个划分区域，因此对称、重复、以及校正变得方便。可将参考图案的大小定义为像素，这可以根据数据图像的大小和校正程度而变化。

根据本发明的参考图案可包括多个划分区域。作为为此的实施例，图2A至2D示出具有4个划分区域的参考图案的配置。

图2A至2D所示的每个参考图案包括4个划分区域。在已产生了如图2所示的这4个划分区域210、220、230以及240中的一个之后，能够利用所产生的划分区域来产生其余三个区域。这适用于多个划分区域以及4个划分区域。并且，可按照″接通″数目等于″断开″数目这样的方式来产生参考图案。这用于使得在对数据进行记录/再现的过程中的中心频率稳定。

一旦在包括有4个划分区域的参考图案200中确定了划分区域，那么通过反转、旋转、对称等等可产生其余三个划分区域。在这种情况下，反转意味着改变亮度。尤其是，可使″接通″变为″断开″，反之亦然。旋转意味着所产生的划分区域以预定角度旋转。例如，单个划分区域以90°、180°或者270°旋转以应用于另一划分区域上。并且，对称意味着右左对称或者上下对称。可单独地或者通过将至少两个规则结合在一起来应用反转、旋转以及对称。尤其是，如果产生了单个区域，那么通过反转、旋转以及对称或者通过将反转和旋转或者反转和对称组合在一起来产生其余三个区域。例如为了使参考图案的″接通″和″断开″位数相等，可两次使用反转。

图2A示出根据本发明一个实施例的包括4个划分区域的参考图案。为了清楚并便于描述起见，采用位于4个划分区域中的左上的划分区域210作为以下描述的参考。

参考图2A，位于左上的划分区域210和位于右上的划分区域220使用上述规则的反转和对称。尤其是，反转″接通″和″断开″并且使用上下对称。通过使位于左上的划分区域反转来配置位于左下的划分区域230。并且，通过使位于左上的划分区域210对称来配置位于右下的划分区域240。

图2B示出根据本发明一个实施例的包括4个划分区域的参考图案。

参考图2B，通过对位于左上的划分区域210执行反转和右左对称来配置位于右上的划分区域220。并且，通过对位于左上的划分区域210执行反转来配置位于左下的划分区域230。此外，通过对位于左上的划分区域210执行右左对称来配置位于右下的划分区域240。

图2C示出通过对位于左上的划分区域210执行反转和上下对称来配置位于右上的划分区域220。并且，通过使位于左上的划分区域210对称来配置位于左下的划分区域230。此外，通过使位于左上的划分区域210反转来配置位于右下的划分区域240。

图2D示出通过对位于左上的划分区域210执行反转和右左对称来配置位于右上的划分区域220。并且，通过对位于左上的划分区域210执行反转和右左对称来配置位于左下的划分区域230。并且，通过对位于左上的划分区域210执行上下对称和反转来配置位于左下的划分区域230。此外，通过对位于左上的划分区域210执行右左对称和上下对称来配置位于右下的划分区域240。

因此，应该理解的是可按照除了图2A至2D所示的实施例之外的各种方式来产生参考图案。

图3是通过上述参考图案产生方法利用像素单元所产生的参考图案的图示。

参考图3，通过图2D所示的规则产生参考图案。尤其是，″接通″数目等于″断开″数目。并且，通过对位于图2所示4个划分区域中的左上的区域分别执行反转、上下对称、以及右左对称来产生剩余三个区域。

图4是根据本发明一个实施例的参考图案的图示。

参考图4，根据图2D所示的规则产生参考图案。并且，本发明意图保护图4所示的参考图案的配置以及其规则。如果将图4所示的参考图案反转或者旋转，那么产生相同参考图案。如果通过与图4所示不同的规则来使位于左上的划分区域反转并对称，那么产生相同参考图案。

因此，利用图2A至4中的一个所示的产生的参考图案可对数据图像进行校正。通过将参考图案插入到相应数据图像之内来执行记录和再现可对数据图像进行校正。

在以下描述中，对确定用于将参考图案插入到数据图像中的位置的方法以及用于将参考图案插入到数据图像中的方法进行详细说明。

图5是图4所示的参考图案的相关系数的图示。参考图5，当将图4所示的参考图案记录在记录介质中并且此后对其进行再现时，将所记录的参考图案与所再现的参考图案之间的相关系数表示为等高线。右侧上的每个系数表示相应等高线的斜率。尤其是，`slop_lc′表示向左方向上的斜率，`slop_rc′表示向右方向上的斜率，`slop_uc′表示向上方向上的斜率，并且`slop_dc′表示向下方向上的斜率。

如果对各个方向上的斜率进行相互比较，可观察到不存在很大差别。也就是说，当对图4所示的参考图案进行记录和再现时，图案本身存在较小失真。因此，可用作可靠的参考图案。

图6是根据本发明一个实施例的测试图像的图示。

参考图6，测试图像包括多个参考图案。测试图像是用于通过得到记录/再现装置的失真特性而确定当将参考图案插入到数据图像中时的位置和间隔的图像。

测试图像可包括参考图案。尤其是，可将测试图像设置为仅包括参考图案。为了得到记录/再现装置的失真特性，如图6所示，可将参考图案彼此等间隔分开地插入。

在图6中，参考图案布置成垂直或者水平地彼此等间隔。或者，参考图案布置成在垂直和水平地彼此等间隔。在这种情况下，间隔可根据记录装置的特性或者要记录的数据图像的大小而变。可通过像素单元或者像素块单元来控制参考图案之间的间隔。

图7A是记录/再现装置的失真特性的图示，其中失真特性是利用图6所示的测试图像得到的。

参考图7A，按照通过图6所示的方法产生测试图像并将该测试图像记录到记录介质中并且对所记录的测试图像进行再现这样的方式可得到失真特性。当将测试图像记录在记录介质中时，可同时将与测试图像有关的消息记录在记录装置或者记录介质中。尤其是，将与插入到测试图像之中的参考图案的形状有关的消息、与插入到测试图像之中的参考图案的位置有关的消息等等记录在记录装置或者记录介质中。

当对所记录的测试图像进行再现并且此后再次对其记录时，将其与所存储的与测试图像有关的信息进行比较。在这种情况下，可对记录在测试图像中的每个参考图案执行相应比较。尤其是，能够对每个测试图像的位置与所再现的参考图案的位置进行比较。进一步尤其是，通过对所记录的参考图案与所再现的参考图案进行相互比较，可得到并表示每个参考图案的偏移距离和方向。这得到了图7A或图7B的结果。可将如图7A或图7B所示的表示在对参考图案进行记录前和后的偏移距离和偏移方向的映射图(map)称为″偏移映射图(shift map)″。并且，该偏移映射图可表示记录装置的失真特性。

图7A或图7B所示的每个圆圈表示记录在记录介质中的参考图案的位置。并且，附着于相应圆圈上的直线表示相应参考图案的偏移距离和偏移方向。此外，图7A或图7B所示的水平轴和垂直轴通过像素单元来表示每个测试图像的大小。

图7A和图7B分别示出不同记录装置的失真特性。在图7A的情况下，可观察到失真程度在偏移映射图中朝着左下变小。并且，还可观察到朝着右上失真变强。在图7B的情况下，可以观察到失真朝着右下的中心区域变小。

尽管是相同类型的记录装置，记录装置的失真特性依然是受到光轴准直以及每个记录装置的部件误差影响的因素。

因此，必须对每个记录装置进行补偿。优选地，像本发明一样，对每个记录装置的失真特性进行测量和补偿。

图8是根据记录装置的失真特性插入到测试图像之中的参考图案的图示，其中失真特性是预先测量的。尤其是，图8示出如果失真特性显示出图7A所示的上述相同特性插入的参考图案的实施例。

参考图8，可观察到图7A所示的偏移映射图中的记录装置的失真程度朝着右上变强。因此，能够使参考图案朝着即就是失真变强的方向的右上方向更密集地布置。

在对数据图像进行记录的过程中所插入的参考图案可在对相应数据图像进行再现过程中对补偿数据图像起作用。例如，可预先将插入到数据图像之中的参考图案的位置和形状存储在记录介质或记录装置中。在对记录介质进行再现的过程中，通过对先前存储的参考图案的位置与所再现的参考图案的位置进行相互比较，能够判定数据图像的偏移。然而，对于每个数据图像区域可能示出不同偏移类型。在这种情况下，能够利用先前已知的包括参考图案的位置和形状的信息，来获得就每个区域而言局部偏移的数据图像的偏移。

尤其是，通过考虑到插入到数据图像之中的参考图案的位置偏移，能够对记录在与每个参考图案相邻的区域中的数据的偏移进行补偿。如果在整个数据图像上数据图像的偏移不是均匀的，那么参考图案的位置选择变成重要因素。通过考虑参考图案的偏移位置，可对参考图案之间的数据的位置偏移进行补偿。如果参考图案之间的间隔远远大于数据图像的失真程度，那么不能执行有效校正。如果参考图案之间的间隔布置得比数据图像的失真程度更密集，那么可降低记录介质的记录/再现效率。

在这种情况下，如果预先通过测试图像得到了记录装置的失真程度并且如果相应地插入参考图案，那么本发明可对记录介质进行有效的记录/再现。

图9是根据本发明一个实施例的对记录装置的失真特性进行测量的方法的流程图。

参考图9，产生测试图像[S10]。对于产生测试图像的方法而言可参考对图6的描述。通过记录装置的控制单元产生测试图像并且可经由光输出单元将测试图像记录在记录介质中[S20]。在用于记录的记录介质的情况下，在销售之前预先将测试图像插入到记录介质中。

当将测试图像记录在记录介质中时，可临时将与测试图像有关的信息存储在记录装置中。例如，可将与插入到测试图像之中的参考图案的形状有关的信息以及与参考图案之间的间隔有关的信息临时存储在记录装置的存储器中。如果对里面记录了测试图像的记录介质进行交付以供销售，那么可将与测试图像有关的消息记录在记录介质的特定区域中。

对所记录的用于对记录装置的失真特性进行测量的测试图像进行再现[S30]。通过对测试图像进行再现，可对记录在测试图像之内的参考图案的位置进行检测。可对所再现的参考图案的检测位置与记录在记录装置之内的或者记录介质的特定区域之中的参考图案的位置进行比较。在这种情况下，通过对所再现的参考图案的位置与所记录的参考图案的位置进行相互比较可得到相应参考图案之间的位置偏移。此外，通过得到相应参考图案的位置偏移，可得到偏移映射图[S40]。

偏移映射图反映出记录装置的失真特性。尤其是，测试图像之内的偏移特性根据记录装置的光学元件与光轴准直状态的结合而变。在考虑在对数据图像进行补偿中要插入的参考图案的位置的过程中，可使用偏移映射图。也就是说，可利用偏移映射图设置参考图案的插入位置[S50]。例如，在偏移映射图中的具有参考图案的很大偏移量的区域的情况下，将参考图案设置成以较密集的间隔插入。在偏移映射图中的具有参考图案的相对较小偏移量的区域的情况下，将参考图案设置成以较稀疏间隔插入。

在已创建了偏移映射图之后，将记录装置的失真特性记录在记录装置的存储空间中[S60]。在这种情况下，记录装置的失真特性可与先前创建的偏移映射图相对应。或者，该失真特性与利用该偏移映射图所得到的参考图案的插入位置相对应。

图10是根据本发明的记录介质的记录方法的方法的流程图。

参考图10，将参考图案插入到数据图像中[S110]。如上面描述所提到的，通过反映出记录装置的失真特性来确定参考图案的插入位置。或者，能够通过利用偏移映射图来确定参考图案的位置，来插入参考图案。在这种情况下，可将参考图案在具有强失真的区域中更密集地布置，也就是说，可将参考图案在具有记录/再现之间的较大偏移的区域中更密集地布置。在里面记录了多个数据图像的记录介质的情况下，周期性地或者利用规定规则重复地插入多个不同参考图案。

将里面插入了参考图案的数据图像记录在记录介质中[S120]。在这种情况下，可向记录介质分配用于对数据图像进行记录的区域。例如，为了将数据图像记录在记录介质中，可向记录介质分配被命名为数据区或者用户数据区的区域。如在上面描述所提到的，信号光和参考光被用于记录以通过引起干涉而执行记录。如在上面描述所提到的，通过改变参考光的入射角、相位或者波长，可通过使数据图像彼此重叠而将数据图像记录在相同区域中。

将与参考图案的位置和形状有关的消息以及里面插入了参考图案的数据图像记录在记录介质中[S130]。在这种情况下，能够通过向记录介质分配特定区域，来将与参考图案的位置和形状有关的消息记录在记录介质中。例如，能够通过分配管理区来对与参考图案有关的信息进行记录。作为另一实例而言，能够通过向导入区分配控制信息区，来对与参考图案有关的信息进行记录。此外，为了安全可靠性，可以对与参考图案有关的消息至少记录一次。

图11示出根据本发明一个实施例的对记录介质进行再现的方法。尤其是，图11是根据本发明一个实施例的用于对记录介质进行再现的方法的流程图。

参考图11，读取用于将全部管理信息记录在记录介质上的区域[S210]。为了清楚和方便起见，将这种区域命名为″控制区″。该控制区包括与插入到每个数据图像之中的参考图案的位置和形状有关的消息。

在已从控制区读取了与参考图案有关的消息之后，读取记录在数据区中的数据图像[S220]。如在上面描述所提到的，已将用于校正的参考图案插入到数据图像之中。因此，在读取数据图像的同时，读取插入到数据图像之中的参考图案。在这种情况下，对从数据图像所读取的参考图案的位置与记录在控制区中的参考图案的位置信息进行比较。通过对这两类参考图案的位置进行相互比较，能够得到在数据图像记录/再现过程中的数据的偏移量。根据所得到的偏移量，可对数据图像区的数据进行校正[S230]。

图12是根据本发明一个实施例的插入的参考图案的图示。

参考图12，可将本发明的参考图案插入到数据图像的各个点中。可将所插入的参考图案的位置记录在记录介质记录/再现装置中。并且，通过对记录位置与相对于所插入的参考图案的记录位置的再现位置进行比较，可对数据图像本身的偏移进行检测。或者，通过对图案本身的失真程度进行检测，可对数据图像的失真程度进行检测。所检测到的图像的偏移和失真可用在对所再现的数据图像进行校正。

图13是根据本发明一个实施例的插入的参考图案的图示。

参考图13，可将根据本发明的参考图案插入到多个数据图像中。在这种情况下，可改变将插入到彼此相邻的数据图像之间的参考图案的形状，以使两个相邻数据图像之间的干涉最小。例如，如图13所示，通过使插入到前面数据图像之中的参考图案的形状反转，可将反转的参考图案插入到后面图像之中。在这种情况下，如在上面描述所提到的，用于改变参考图案的形状的规则可使用对称、反转或者旋转。或者，可根据记录装置的特性或者制造商做出的选择而使用具有相同形状的图案。

可对每个数据图像或者之间具有预定间隔的每个数据图像执行利用参考图案来对数据图像进行的校正。或者，可仅对指定的特定数据图像执行校正。

此外，可提取数据区并且利用参考图案来对图像进行校正。在对数据图像进行记录的情况下，通过将参考图案的位置和形状存储在诸如记录装置的存储器和缓冲器的存储空间中，在再现的情况下对参考图案的位置进行搜索以提取数据图像的区域。

或者，将参考图案的记录位置和形状记录在记录介质的控制数据区中，以用于对记录介质进行再现。

可利用参考图案来区分数据图像。在本发明的全息记录介质的情况下，可通过将多个数据图像相互重叠而将该多个数据图像记录在特定区域中，这会引起干涉等等问题。在这种情况下，将不同参考图案插入到每个数据图像中并且将所插入的参考图案的位置和形状存储在记录/再现装置中或者存储在记录介质的控制区中。

因此，本发明提供了以下效果和/或优点。

首先，本发明可对数据图像进行有效地补偿并且便于对微失真等等进行检测和补偿，从而可提高再现数据的质量。

其次，本发明根据系统配置对失真程度进行测量，因此可有效地对失真进行补偿。

第三，本发明通过反映出记录装置的特性来对记录介质执行记录，因此能够通过考虑到相应记录来进行附加记录或者再现。

对于本领域普通技术人员来说显而易见的是在不脱离本发明的精神或范围的情况下可对本发明做出各种修改和变化。因此，本发明覆盖了在所附权利要求及其等效的范围之内所提供的本发明的修改和变化。

Claims (23)

1.一种记录介质的记录方法，包括以下步骤：

利用测试图像对记录设备的失真特性进行测量；

根据所述测量的失真特性，来确定在数据图像内的参考图案之间的间隔；

根据所述确定的参考图案之间的间隔，将参考图案插入到所述数据图像中；以及

在所述记录介质上，记录包含所述参考图案的数据图像，

其中，所述参考图案包含多个划分的区域，并且所述多个划分区域具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

2.根据权利要求1所述的记录方法，其中，按照使所述参考图案布置为在水平和垂直方向上等间隔分开的方式，来配置所述测试图像。

3.根据权利要求1所述的记录方法，其中，所述失真特性测量步骤包括以下步骤：

对所述测试图像进行记录；

对所述测试图像进行再现；以及

对所述记录的测试图像与所述再现的测试图像进行相互比较。

4.根据权利要求3所述的记录方法，其中，所述测试图像比较步骤包括以下步骤：得到在对相应参考图案进行再现之前和之后的所述测试图像内的所述相应参考图案的位置偏移。

5.根据权利要求4所述的记录方法，其中，所述位置偏移得到步骤包括以下步骤：得到偏移距离和偏移方向。

6.根据权利要求1所述的记录方法，其中，所述参考图案被表示为白点和黑点，并且所述参考图案的白点的数目等于所述参考图案的黑点的数目。

7.根据权利要求1所述的记录方法，其中，在单个数据图像之内使用不同形状的所述参考图案。

8.根据权利要求7所述的记录方法，其中，所述不同形状的参考图案之间具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

9.根据权利要求1所述的记录方法，其中，将形状不同的所述参考图案插入到多个数据图像的每一个中。

10.根据权利要求9所述的记录方法，其中，所述多个数据图像的每一个的所述参考图案之间具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

11.根据权利要求1所述的记录方法，其中，将与所述记录的参考图案的位置有关的信息以及所述参考图案的图案信息记录在所述记录介质中。

12.一种记录介质的再现方法，包括以下步骤：

读取包括参考图案的数据图像；

读取与所述参考图案有关的信息，所述与所述参考图案有关的信息包含其上记录的所述参考图案的位置信息和其上记录的所述参考图案的形状信息；

通过将所述读取的参考图案的位置和形状同在与所述参考图案有关的信息中包含的位置信息和形状信息进行比较，来补偿所述数据图像；以及

对所述补偿的数据图像进行再现，

其中，所述参考图案包括多个划分区域，并且所述多个划分区域具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

13.根据权利要求12所述的再现方法，其中，将形状不同的所述参考图案插入到多个数据图像的每一个中。

14.根据权利要求13所述的再现方法，其中，所述多个数据图像的每一个的所述参考图案具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

15.根据权利要求12所述的再现方法，其中，所述参考图案被表示为白点和黑点，并且所述参考图案的白点的数目等于所述参考图案的黑点的数目。

16.一种用于在记录介质记录数据的记录装置，包括：

光输出单元，所述光输出单元被配置以在所述记录介质上记录数据；以及

控制单元，所述控制单元被配置以：

利用测试图像来测量所述记录装置的失真特性，

根据所述测量的失真特性来确定所述数据图像内的参考图案之间的间隔，

根据所述确定的参考图案之间的间隔，将所述参考图案插入到所述数据图像中，以及

控制所述光输出单元以在所述记录介质上记录包含所述参考图案的数据图像，

其中，所述参考图案包含多个划分区域，并且所述多个划分区域具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

17.根据权利要求16所述的记录装置，其中，所述控制单元被配置以通过2维地布置所述参考图案并且使所述参考图案等间隔分开，来配置所述测试图像。

18.根据权利要求16所述的记录装置，其中，所述控制单元被配置以按照记录所述测试图像、再现所述测试图像、以及将所述记录的测试图像与所述再现的测试图像进行相互比较这样的方式来测量所述失真特性。

19.根据权利要求18所述的记录装置，其中，所述控制单元被配置以通过得到所述测试图像中的相应参考图案的记录位置与再现位置之间的偏移，来对所述记录的测试图像与所述再现的测试图像进行相互比较。

20.根据权利要求19所述的记录装置，其中，所述控制单元被配置以通过得到所述参考图案的偏移距离和偏移方向来得到所述位置之间的偏移。

21.一种用于从记录介质再现数据的再现装置，包括：

光检测单元，所述光检测单元被配置以从所述记录介质读取数据；以及

控制单元，所述控制单元被配置以：

控制所述光检测单元以读取包括参考图案的数据图像，

控制所述光检测单元以读取与所述参考图案有关的信息，所述与所述参考图案有关的信息包含其上记录的所述参考图案的位置信息和其上记录的所述参考图案的形状信息，

通过将所述读取的参考图案的位置和形状同在与所述参考图案有关的信息中包含的位置信息和形状信息进行比较，来补偿所述数据图像，以及

对所述补偿的数据图像进行再现，

其中，所述参考图案包括多个划分区域，并且所述多个划分区域具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

22.根据权利要求21所述的再现装置，其中，将形状不同的所述参考图案插入到多个数据图像的每一个中。

23.根据权利要求22所述的再现装置，其中，所述多个数据图像的每一个的所述参考图案具有反转和/或旋转和/或对称这样的关系。

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