CN101312064B - 在光学记录介质上记录数据和/或再现数据的设备 - Google Patents

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Abstract

提供了一种光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。所述光学记录介质，包括用户数据区和SA/DL区，其中，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中，其中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。

Description

在光学记录介质上记录数据和/或再现数据的设备
本申请是向中国知识产权局提交的申请日为2004年12月27日的标题为“光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法”的第200480039939.3号申请的分案申请。 
技术领域
本发明涉及一种用于缺陷管理的光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。 
背景技术
盘缺陷管理是这样一种处理，其通过将记录在盘的用户数据区中的缺陷，即缺陷块中的用户数据写入用户数据区的新的部分来补偿由缺陷块引起的数据损失。通常，使用线性替换方法或滑动替换方法来执行盘缺陷管理。在这些方法中，用没有缺陷的备用区来替换有缺陷的区。在滑动替换方法中，滑过有缺陷的区，而使用下一个无缺陷的区。在线性替换方法中，用户数据区的出现缺陷的块被称为缺陷块。用于替换缺陷块的替换块被记录在盘的预定部分中的备用区中。关于缺陷块和替换块的信息，即用于搜索缺陷块和替换块的位置的信息被表示于缺陷列表中。 
通常，当主机读取记录在盘上的数据时，主机确定数据的逻辑地址，并命令硬盘驱动器读取数据。然后，硬盘驱动器搜索与该逻辑地址对应的物理地址，并读取记录在盘上的与该物理地址对应的位置中的数据。如果缺陷块出现在与该物理地址对应的数据中，则硬盘驱动器必须寻找替换缺陷块的替换块。因此，缺陷列表包括缺陷列表条目，每一条目分别包含关于每一缺陷块的信息。即，为每一缺陷块产生缺陷列表条目，因此需要用于缺陷列表的相当大的记录空间。 
发明公开 
技术问题 
因此，需要对用于缺陷列表的空间进行有效管理。为此，需要对关于缺陷块，特别是用户数据区的连续位置中出现的缺陷块的信息进行有效管理。 
技术解决方案 
本发明提供一种其上缺陷被管理的光盘、一种有效地管理盘中用于管理缺陷的缺陷列表所需的空间的缺陷管理设备和方法、以及存储用于控制设备执行所述缺陷管理方法的计算机程序的计算机可读光盘。 
有益效果 
根据本发明，在缺陷管理被执行的光盘上，用于记录缺陷管理的缺陷列表的空间可被有效地管理，从而整个盘空间可被有效地管理。 
附图说明
图1是根据本发明实施例的数据记录/再现装置的框图。 
图2是根据本发明实施例的单记录层盘的结构图。 
图3是根据本发明实施例的双记录层盘的结构图。 
图4是根据本发明实施例的SA/DL区的数据结构图。 
图5是图4中所示的DL#i的详细的数据构图。 
图6是图5中所示的DL条目#i的详细的数据结构图。 
图7是示出根据本发明实施例的连续缺陷块的参考图。 
图8是示出根据本发明实施例的连续缺陷列表的参考图。 
图9是示出图6中所示的替换状态信息和连续缺陷信息的示例的示图。 
图10A和图10B是示出根据本发明实施例的具有替换的连续缺陷块和没有替换的连续缺陷块的参考图。 
图11A是图10B中所示的DL#k的数据结构图。 
图11B是图10B中所示的DL#k的数据结构图，该DL#k还包括关于连续缺陷列表条目的数量的信息。 
图11C是图10B中所示的DL#k的数据结构图，该DL#k还包括关于具有替换状态信息“0”的连续缺陷列表条目的数量的信息以及关于具有替换状态信息“1”的连续缺陷列表条目的数量的信息。 
图12是根据本发明实施例的用于其上缺陷区被管理的光盘的缺陷管理 方法的流程图。 
最佳方式 
根据本发明的一方面，其上缺陷被管理的光学记录介质包括替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息记录在其中的SA/DL区。所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。 
所述连续缺陷列表条目可包括：开始条目，对应于与第一缺陷块有关的信息；和结束条目，对应于与最后缺陷块有关的信息，其中，所述第一缺陷块和最后缺陷块属于用户数据区的连续位置中的缺陷块。 
所述开始条目可包括与第一缺陷块有关的位置信息以及与替换第一缺陷块的替换块有关的位置信息。 
所述结束条目可包括与最后缺陷块有关的位置信息以及与替换最后缺陷块的替换块有关的位置信息。 
所述与缺陷有关的信息可包括与连续缺陷列表条目的数量有关的信息。 
所述与缺陷有关的信息还可包括与缺陷列表条目的数量有关的信息。 
可通过将连续缺陷列表条目的数量乘以因数2，并从缺陷列表条目的数量中减去所得的乘积，来计算单个缺陷列表条目的数量。 
所述与缺陷有关的信息可包括缺陷列表条目，所述缺陷列表条目包括与缺陷块有关的位置信息、与替换块有关的位置信息、以及与缺陷有关的状态信息。 
所述状态信息可包括：表示缺陷块是否被替换的替换状态信息以及表示缺陷块是否是连续缺陷块的连续缺陷信息。 
所述与缺陷有关的信息还可包括：与具有表示缺陷块被替换的替换状态信息的连续缺陷列表条目的数量有关的信息。 
所述与缺陷有关的信息还可包括：与具有表示缺陷块没有被替换的替换状态信息的连续缺陷列表条目的数量有关的信息。 
根据本发明的另一方面，一种用于在光学记录介质上记录/再现数据的设备包括：写/读单元，用于将数据写在所述介质上和/或从所述介质读取数据；和控制单元，其中，所述控制单元为所述介质分配SA/DL区，替换用户数据区中的具有缺陷的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息被记录在所述 SA/DL区中，并且所述控制单元控制写/读单元将所述与缺陷有关的信息记录在SA/DL区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。 
根据本发明的另一方面，一种在光学记录介质上记录/再现数据的方法包括：为介质分配SA/DL区，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中；将与缺陷有关的信息记录在SA/DL区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。 
根据本发明的另一方面，提供一种存储程序的计算机可读光盘，所述程序用于控制将数据记录在其上缺陷被管理的光盘上/从该光盘再现数据的设备执行缺陷管理方法，所述缺陷管理方法包括：为介质分配SA/DL区，用于替换用户数据区中的具有缺陷的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中；将与缺陷有关的信息记录在SA/DL区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。 
具体实施方式
现在，将对本发明实施例进行详细描述，其示例示出于附图中，在附图中，相同的标号始终表示相同的部件。下面，将参照附图描述实施例以解释本发明。 
图1是根据本发明实施例的数据记录/再现装置的框图。 
参照图1，该数据记录/再现装置包括写/读单元2和控制单元1。 
根据本发明，写/读单元2包括拾取器，并将数据记录在其上缺陷被管理的盘4上/从盘4读取数据。控制单元1执行根据本发明的缺陷管理。在本发明的实施例中，控制单元1使用写后校验方法，通过以预定的单位记录数据并对记录的数据进行校验来寻找有缺陷的数据。控制单元1通过以记录操作单位写入用户数据并对用户数据进行校验来检查何处出现了缺陷数据。控制单元1在检查到缺陷数据之后，产生指示缺陷数据位于何处的缺陷信息，将产生的信息作为临时缺陷信息存储在存储器中，并在汇集了预定量的所述产生的信息之后，将产生的信息记录在盘上。 
在本发明的实施例中，作为由用户的意图确定的操作的记录操作或者期望的记录操作等指的是包括加载盘、在盘上记录数据、以及卸载盘的操作。在所述记录操作期间，写后校验操作至少被执行一次。然后，将通过使用写后校验操作获得的所述临时缺陷信息临时存储在存储器中。 
当用户为了卸载盘而按下弹出按钮(未示出)时，控制单元1确定记录操作被终止，并读取存储在存储器中的临时缺陷信息，将该信息提供给写/读单元2，使该信息被记录在盘上。 
控制单元1包括：系统控制器10、主机I/F 20、数字信号处理器(DSP)30、RF AMP 40和伺服机构50。在记录操作期间，主机I/F 20从主机3(在本实施例中，为计算机)接收预定的写命令，并将该写命令发送到系统控制器10。系统控制器10在从主机I/F 20接收的写命令下，控制DSP 30和伺服机构50执行记录操作。DSP 30将诸如奇偶校验的附加数据添加到从主机I/F20接收的将被记录的数据以纠正数据差错，并且DSP 30执行ECC编码，产生作为纠错块的ECC块，并以预定的方式对ECC块进行调制。RF AMP 40将从DSP 30输出的数据改变为RF信号。写/读单元2将从RF AMP 40发送来的RF信号记录在盘4上。伺服机构50存储从系统控制器10输入的记录命令，并对写/读单元2的拾取器进行伺服控制。 
系统控制器10包括缺陷管理单元11和存储器单元12，以管理缺陷。根据本发明，缺陷管理单元11读取存储在存储器单元12中的临时缺陷信息，汇集所述临时缺陷信息，然后产生缺陷列表。即，当缺陷管理单元11在读取的缺陷信息中找到关于连续的缺陷块的信息时，缺陷管理单元11产生连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括：开始条目，与关于所述连续缺陷块的第一缺陷块的信息对应；和结束条目，与关于所述连续缺陷块的最后缺陷块的信息对应。因此，即使连续出现例如8个缺陷块，也仅产生2个条目，而不是8个条目，这是因为不是为8个块的每一个产生条目，而是为8个连续缺陷块的第一块和最后块产生条目。因此，存储条目所需的空间可减小。缺陷管理单元11还产生DL条目，所述DL条目包括：连续缺陷信息，显示缺陷是连续缺陷还是单个缺陷；替换状态信息，显示是否存在替换块。缺陷管理单元11产生包括这样的DL条目的DL。 
为了再现数据，主机I/F 20从主机3接收读命令。系统控制器10执行再现所需的初始化。写/读单元2将激光束投射到盘4上，并输出通过接收从盘 4反射的激光束而获得的光学信号。RF AMP 40将从写/读单元2输出的光学信号改变为RF信号，将从该RF信号获得的调制的数据发送到DSP 30，并将从该RF信号获得的伺服控制信号发送到伺服机构50。DSP 30对调制的数据进行解调，并对解调的数据执行ECC纠错。在接收到来自RF AMP 40的伺服信号和来自系统控制器10的控制伺服所需的命令之后，伺服机构50对拾取器进行伺服控制。主机I/F 20将从DSP 30接收的数据发送到主机3。为了控制数据的再现，系统控制器10控制伺服机构50从数据被记录的位置读取数据。 
根据本发明实施例的其上缺陷被管理的光盘的结构如下。 
记录在根据本发明实施例的光盘上的盘管理信息(DMI)包括：盘定义结构(DDS)、记录管理数据(RMD)和缺陷列表(DL)。DMI记录于其上的盘管理区(DMA)包括：临时盘管理区(TDMA)，当盘被记录时，TDMA用于记录临时DMI；和最终的盘管理区(FDMA)，用于记录最终的DMI。 
用于记录临时DMI的TDMA包括：DDS/RMD区，用于记录DDS和RMD；和DL区，用于记录DL。 
DDS包括：关于SA/DL区的位置信息，在所述SA/DL区中记录有替换块和DL，当记录在数据区中的数据块中出现缺陷时所述替换块替换缺陷块；关于DDS/RMD区的位置信息；关于DL被记录于何处的位置信息；可用于替换SA/DL区中的数据或用于更新DL的位置信息；一致性标记，用于检查盘是否在被使用时正常弹出；以及写保护信息，用于防止写入。 
RMD是与管理盘上记录的数据有关的信息，包括：R区域条目，显示顺序记录模式下每一R区域的状态；位图，显示为位值，所述位值表示对于随机记录模式，与用户区的每一记录单位块有关的数据是否被记录。 
在单记录层盘中，用于记录DDS和RMD的DDS/RMD区被布置在导入区或导出区中，而在双记录层盘中，DDS/RMD区被布置在导入区、中间区或导出区中。在为了使用盘而对盘初始化时根据驱动器制造商或用户的意图，DDS/RMD区可被分配在数据区的一部分中以增加可能的更新的数量。 
当已不能在盘上记录更多数据，或者用户想要保持盘的当前状态而不再记录另外的数据，仅将该盘用于再现时，执行封盘，并且最终的盘管理信息被记录在FDMA中。 
PCA区被布置用于测试，所述测试是指根据写策略从各种记录功率中检 测最佳记录功率并检测根据写策略的变量。 
图2是根据本发明实施例的单记录层盘的结构图。 
参照图2，导出区向着盘的外周形成，导入区向着盘的中心形成，数据区形成在导出区和导入区之间。 
导入区包括：PCA#0、FDMA#1、FDMA#2和DDS/RMD区#0。数据区包括用户区、SA/DL区#0和SA/DL区#1。导出区包括PCA#1、FDMA#3、FDMA#4和DDS/RMD区#1。 
图3是根据本发明实施例的双记录层盘的结构图。 
参照图3，导入区、数据区#0和中间区#0布置在一个记录层L0中，而中间区#1、数据区#1和导出区顺次布置在另一记录区L1中。 
在层L0中，导入区包括：PCA#0、FDMA#2、DDS/RMD区#0和FDMA#1。数据区包括SA/DL区#0和用户区#0。中间区#0包括：FDMA#3、DDS/RMD区#2、FDMA#4和PCA#1。另一方面，在层L1中，中间区#1包括：FDMA#3、DDS/RMD区#3、FDMA#4和PCA#3。数据区#1包括：SA/DL区#1和用户区#1。导出区包括PCA#2、FDMA#2、DDS/RMD区#1和FDMA#1。 
如图2和图3中所示，当用户区中出现缺陷时，替换缺陷块的替换块与关于缺陷的信息一起被记录在SA/DL区中。所述关于缺陷的信息包括关于缺陷块的位置信息、关于替换块的位置信息以及关于连续缺陷的信息。 
图4是根据本发明实施例的SA/DL区的数据结构图。 
参照图4，SA/DL区#i包括：DL#0、替换块#1......替换块#k、DL#1、替换块#k+1......DL#m。 
DL#0是包括关于缺陷的信息的缺陷列表，包括初始化信息。 
从替换块#1至#k的替换块紧接着DL#0设置，这些替换块替换从缺陷块#1至#k的缺陷块。DL#1是包括与从缺陷块#1至#k的缺陷块有关的信息以及与从替换块#1至#k的替换块有关的信息的缺陷列表，DL#1紧接着替换块#k被记录。从替换块#k+1至#m的替换块紧接着DL#1设置，关于用户区中出现的缺陷，这些替换块替换从缺陷块#k+1至#m的缺陷块。 
以这样的方式，根据本发明实施例的包括与缺陷有关的信息的缺陷列表被记录在SA/DL区中，替换缺陷块的替换块也位于该SA/DL区中。即，缺陷列表和替换块位于一个区中，而不是位于分开的区中。 
图5是图4中所示的DL#i的详细的数据结构图。 
参照图5，DL#i 200包括：DL标识符210、DL更新计数器220、DL条目数量230、DL条目#1240、以及DL条目#2250。 
DL标识符210是指示缺陷列表的标识符。即，由于根据本发明本实施例，缺陷列表和替换块一同位于SA/DL区中，因此需要指示缺陷列表的标识符。 
DL更新计数器220是显示缺陷列表的更新次数的值。 
DL条目数量230是缺陷列表中包括的条目的总数。 
DL条目#1240或DL条目#2250是具有关于缺陷的信息的条目。图6中示出了这些DL条目中包括的内容的例子。 
图6是图5中所示的DL条目#i的详细的数据结构图。 
参照图6，DL条目#i 300包括：状态信息310、缺陷块位置信息320和替换块位置信息330。 
状态信息310是关于由相应的DL条目表示的缺陷的状态信息。缺陷块位置信息320表示与用户区上记录的缺陷块有关的位置信息，例如缺陷块的扇区号。替换块位置信息330表示与SA/DL区上记录的替换块有关的位置信息，例如替换块的物理扇区号。 
状态信息310包括：长度为1位的替换状态信息311、长度为2位的连续缺陷信息312。 
替换状态信息311表示出现在用户区中的缺陷块是否被替换。即，该信息表示是用户区中的缺陷块被替换并且替换块存在于SA/DL区中，还是缺陷块没有被替换并且替换块不存在于SA/DL区中。 
连续缺陷信息312表示DL条目是否是表示连续缺陷块的连续DL条目，以及如果DL条目是连续DL条目，则该DL条目是连续DL条目的开始还是连续DL条目的结束。 
以下，将参照图7和图8描述连续缺陷块和连续缺陷列表条目。 
参照图7，①至⑦指的是其中写后校验操作被执行的单位。记录设备将用户数据记录到区段①上，然后返回区段①的最初部分，以检查是数据被正确地记录还是出现缺陷。如果检测到有缺陷的部分，则该部分被指定为缺陷区。因此，作为缺陷区的缺陷#1被指定。记录设备将缺陷#1中记录的数据再次记录在SA/DL区中。缺陷#1中记录的数据被再次记录在其中的部分称为替换#1。然后，记录设备将用户数据记录到区段②，然后返回区段②的最初部 分，以检查是数据被正确地记录还是出现缺陷。如果检测到有缺陷的部分，则该部分被指定为缺陷#2。以相同的方式，产生与缺陷#2对应的替换#2。在区段③中，产生缺陷#3和替换#3。由于在区段④中没有检测到有缺陷的部分，因此在该区段中不存在缺陷区。 
当在记录并校验到区段④之后预知记录操作#0的终止时(当用户按下弹出按钮或者该记录操作中分配的用户数据的记录完成时)，记录设备在SA/DL区中记录DL#1，所述DL#1包括与区段①至④中出现的缺陷#1、#2和#3有关的信息。 
在记录操作#1期间，记录装置将用户数据记录到区段⑤，然后返回区段⑤的最初部分，以检查是数据被正确地记录还是出现缺陷。如果检测到有缺陷的部分，则该部分被指定为缺陷区。以这样的方式，由于作为缺陷区的缺陷#4和缺陷#5已连续出现，因此连续块被指定为缺陷块。记录装置将缺陷#4和缺陷#5中记录的数据再次记录在SA/DL区中。然后，记录设备将用户数据记录到区段⑥，然后返回区段⑥的最初部分，以检查是数据被正确地记录还是出现缺陷。如果作为缺陷区的缺陷#6和缺陷#7连续地出现，则连续块被指定为缺陷块。记录设备将缺陷#6和缺陷#7中记录的数据再次记录在SA/DL区中。在区段⑦中，没有检测到有缺陷的部分，所以不存在缺陷区。当预知记录操作#1的终止时，记录设备将DL#2记录在SA/DL区中，DL#2包括关于缺陷#4至#7的信息。 
用户区的连续位置中出现的缺陷块，如记录操作#1中出现的缺陷是连续缺陷块。该连续缺陷块的第一缺陷块是缺陷#4，最后缺陷块是缺陷#7。 
替换在用户区的预定位置中连续出现的连续缺陷块的替换块被记录在SA/DL区的连续位置。如SA/DL区中所示，替换缺陷块#4的替换块#4被布置。在下一位置，替换缺陷块#5的替换块#5被布置。在下一位置，替换缺陷块#6的替换块#6被布置。然后，在下一位置，替换缺陷块#7的替换块#7被布置。替换连续缺陷块的替换块中的第一替换块是替换块#4，替换这些连续缺陷块的最后替换块是替换块#7。 
当在连续位置出现连续缺陷块时，由于这样的特性，即连续缺陷块中包括的缺陷块位于连续位置，因此只要知道了连续缺陷块的第一块的位置和最后块的位置，就可从第一和最后块的位置知道连续缺陷块中包括的其余块的位置。因此，通过仅包括关于缺陷的信息中的与连续缺陷块的第一缺陷块和 最后缺陷块有关的信息，可减小记录关于缺陷的信息所需的空间。这也同样适用于替换连续缺陷块的替换块。 
因此，如图8中所示，显示与连续缺陷块有关的信息的连续缺陷列表条目可包括开始条目和结束条目。 
参照图8，连续缺陷列表条目包括开始条目和结束条目。开始条目和结束条目都具有与图6中所示的DL条目相同的结构。开始条目包含与连续缺陷中的第一缺陷有关的信息，结束条目包含与连续缺陷中的最后缺陷有关的信息。 
开始条目包括：状态信息；第一缺陷块位置信息，表示连续缺陷块中的第一缺陷块被记录在用户区中的位置；第一替换块位置信息，表示替换第一缺陷块的第一替换块被记录在SA/DL区中的位置。结束条目包括：状态信息；最后缺陷块位置信息，表示连续缺陷块中的最后缺陷块被记录在用户区中的位置；最后替换块位置信息，表示替换最后缺陷块的最后替换块被记录在SA/DL区中的位置。 
图9是图6中所示的替换状态信息和连续缺陷信息的示例。 
参照图9，表示替换状态信息的位是“0”和“1”。如果替换状态信息311是“1”，则与缺陷块位置信息320对应的缺陷块没有被替换，仅缺陷位置被示出。如果替换状态信息311是“0”，则与缺陷块位置信息320对应的缺陷块被与替换块位置信息330对应的替换块替换。 
表示连续缺陷信息的位是“00”、“01”和“10”。如果连续缺陷信息312是“00”，则DL条目不是连续缺陷列表条目，而是单个缺陷列表条目。在这种情况下，取决于作为替换状态信息设置的值，DL条目可表示具有替换的缺陷块或者没有替换的缺陷块。在具有替换的缺陷块的情况下，DL条目具有缺陷块位置信息和替换块位置信息。在没有替换的缺陷块的情况下，DL条目仅具有缺陷块位置信息。 
如果连续缺陷信息312是“01”，则DL条目表示连续缺陷列表条目的开始条目。因此，如图8中所示，该DL条目具有与连续缺陷块有关的第一缺陷块位置信息以及与连续替换块有关的第一替换块位置信息。 
如果连续缺陷信息312是“10”，则DL条目表示连续缺陷列表条目的结束条目。因此，如图8中所示，DL条目具有与连续缺陷块有关的最后缺陷块位置信息以及与连续替换块有关的最后替换块位置信息。 
以下，将描述长度为1位的状态信息311和长度为2位的连续缺陷信息312的3位组合的赋值。 
如果所述3位组合为“000”，则DL条目表示关于单个缺陷块的单个缺陷列表条目以及该单个缺陷块具有替换块的状态。因此，DL条目具有缺陷块位置信息和替换块位置信息。 
如果所述3位组合为“100”，则DL条目表示关于单个缺陷块的单个缺陷列表条目以及该单个缺陷块没有替换块的状态。因此，DL条目具有缺陷块位置信息，但是没有替换块位置信息。 
如果所述3位组合为“001”，则DL条目表示连续缺陷块的连续缺陷列表条目的开始条目，并且与该开始条目对应的作为连续缺陷块中的第一缺陷块的缺陷块具有替换块。因此，DL条目具有与连续缺陷块中的第一缺陷块有关的位置信息以及与替换连续缺陷块的连续替换块中的第一替换块有关的位置信息。 
如果所述3位组合为“010”，则DL条目表示连续缺陷块的连续缺陷列表条目的结束条目，并且与该结束条目对应的作为连续缺陷块中的最后缺陷块的缺陷块具有替换块。因此，DL条目具有与连续缺陷块中的最后缺陷块有关的位置信息以及与替换连续缺陷块的连续替换块中的最后替换块有关的位置信息。 
如果所述3位组合为“110”，则DL条目表示连续缺陷块的连续缺陷列表条目的结束条目，并且与该结束条目对应的作为连续缺陷块中的最后缺陷块的缺陷块没有替换块。因此，DL条目具有与连续缺陷块中的最后缺陷块有关的位置信息，但是没有与替换连续缺陷块的连续替换块中的最后替换块有关的位置信息。 
图10A和图10B是示出根据本发明实施例的连续缺陷信息的参考图。 
图10A表示用户数据被记录在其中的用户区，图10B表示替换块和缺陷列表被记录在其中的SA/DL区。 
参照图10A，作为第一缺陷的单个缺陷块a出现在用户区位置“5”。作为第二缺陷块的连续缺陷块b、c、d和e出现在连续位置“9”至“12”。作为第三缺陷块的连续缺陷块f、g、h和i出现在连续位置“17”至“20”。 
参照图10B，SA/DL区中示出了作为替换用户区中出现的缺陷块的替换块以及缺陷列表。 
替换单个缺陷块a的单个替换块a’布置在SA/DL区的位置“55”。连续地替换连续缺陷块b、c、d和e的连续替换块b’、c’、d’和e’布置在SA/DL区的位置“56”至“59”。在第四个连续缺陷之后被更新的缺陷列表DL#k被记录在位置“60”。连续缺陷块f、g、h和i没有替换块。图11A中示出缺陷列表DL#k中包括的信息。 
图11A是图10B中示出的DL#k的数据结构图。 
参照图11A，DL#k 400包括：DL标识符410、DL更新计数器420、DL条目数量430、以及5个DL条目，即DL条目#1440、DL条目#2450、DL条目#3460、DL条目#4470和DL条目#5480。 
DL标识符410是指示DL的标识符。在DL更新计数器420中，“K”被记录为DL更新的次数。在DL条目数量430中，“5”被记录为DL#K中包括的条目的总数。 
DL条目#1440是与图10A中所示的单个缺陷块a有关的条目。在DL条目#1440中，“0”被记录为替换状态信息，“00”作为连续缺陷信息，“5”作为缺陷块位置信息，“55”作为替换块位置信息。 
DL条目#2450和DL条目#3460包括连续缺陷列表条目。 
DL条目#2450是连续缺陷列表条目的开始条目，DL条目#3460是连续缺陷列表条目的结束条目。即，DL条目#2450是与图10A中所示的连续缺陷块中的第一缺陷块b有关的条目。在DL条目#2450中，因为缺陷块b被替换，所以“0”被记录为替换状态信息。因为DL条目#2450是连续缺陷列表条目的开始条目，所以“01”被记录为连续缺陷信息。“9”被记录为缺陷块b的位置信息，“56”被记录为替换块b’的位置信息。 
DL条目#3460是与图8中所示的连续缺陷块中的最后缺陷块e有关的条目。在DL条目#3460中，因为缺陷块e被替换，所以“0”被记录为替换状态信息。DL条目#3460是连续缺陷列表条目的结束条目，所以“10”被记录为连续缺陷信息。“12”被记录为缺陷块e的位置信息，“59”被记录为替换块e’的位置信息。 
DL条目#4470和DL条目#5480包括连续缺陷列表条目。 
DL条目#4470是连续缺陷列表条目的开始条目，DL条目#5480是连续缺陷列表条目的结束条目。即，DL条目#4470是与图10A中所示的连续缺陷块中的第一缺陷块f有关的条目。在DL条目#4470中，因为缺陷块f没 有被替换，所以“1”被记录为替换状态信息。因为DL条目#4470是连续缺陷列表条目的开始条目，所以“01”被记录为连续缺陷信息。“17”被记录为缺陷块f的位置信息。因为替换缺陷块f的替换块不存在，所以“00”被记录为替换位置信息。 
DL条目#5480是与图10A中所示的连续缺陷块中的最后缺陷块i有关的条目。在DL条目#5480中，因为缺陷块i没有被替换，所以“1”被记录为替换状态信息。因为DL条目#5480是连续缺陷列表条目的结束条目，所以“10”被记录为连续缺陷信息。“20”被记录为缺陷块i的位置信息。因为替换缺陷块i的替换块不存在，所以“00”被记录为替换块位置信息。 
图11B是图10B中所示的DL#k的结构图，该DL#k还包括关于连续缺陷列表条目数量的信息。 
图11B中所示的DL#k与图11A中所示的DL#k相似，不同之处在于图11B中所示的DL#k还包括连续缺陷列表条目数量490。参照图10，因为有两个连续缺陷列表条目，所以“2”被记录为连续缺陷列表条目数量490。 
通过包括用于连续缺陷列表条目的数量的字段，不需搜索所有的DL条目，就可知道缺陷列表中连续缺陷列表条目的数量和单个缺陷列表条目的数量。如下面所示，可从DL条目的数量和连续缺陷列表条目的数量计算单个缺陷列表条目的数量。 
单个缺陷列表条目数量＝DL条目数量-2×连续缺陷列表条目数量。 
因为连续缺陷列表条目包括开始条目和结束条目，所以可形成上面的表达式。 
例如，在图11B中所示的DL#k中，单个缺陷列表条目的数量可被计算为“单个缺陷列表条目数量＝5-2×2＝1”。 
图11C是图11B中所示的DL#k的数据结构图，该DL#k还包括：与具有替换状态信息“0”的连续缺陷列表条目的数量有关的信息；以及与具有替换状态信息“1”的连续缺陷列表条目的数量有关的信息。 
图11C中所示的DL#k与图11B中所示的DL#k相似，不同之处在于图11C中所示的DL#k还包括：与具有替换状态信息“0”的连续缺陷列表条目的数量有关的信息500；以及与具有替换状态信息“1”的连续缺陷列表条目的数量有关的信息510。参照图11A，具有替换状态信息“0”的连续缺陷列表条目是包括DL条目#2450和DL条目#3460的连续缺陷列表条目。因为具有替换 状态信息“0”的连续缺陷列表条目的数量为1，所以“1”被记录为具有替换状态信息“0”的连续缺陷列表条目的数量500。具有替换状态信息“1”的连续缺陷列表条目是包括DL条目#4470和DL条目#5480的连续缺陷列表条目。因为具有替换状态信息“1”的连续缺陷列表条目的数量为1，所以“1”被记录为具有替换状态信息“1”的连续缺陷列表条目的数量510。 
图12是示出根据本发明实施例的缺陷管理方法的流程图。 
参照图12，在操作1201，记录设备以其中执行写后校验操作的单位在数据区中记录用户数据。接下来，在操作1202，操作1201中记录的数据被校验以寻找出现缺陷的部分。在操作1203，控制单元1将出现缺陷的部分指定为缺陷区，将记录在缺陷区中的数据再次记录在SA/DL区中以产生替换区，产生与缺陷块和替换块有关的信息，并将该信息记录在存储器中。操作1201至1203被重复，直到预知到记录操作的终止。 
当根据用户输入记录了用户数据，或者完成了记录操作并且在操作1204中预知到该记录操作的终止时，在操作1205，记录装置的控制单元1读取存储在存储器中的关于缺陷的信息。 
如果在读取的关于缺陷的信息中存在关于连续缺陷的信息，则产生包括开始条目和结束条目的连续缺陷列表条目，所述开始条目与关于连续缺陷的第一缺陷的信息对应，所述结束条目与关于最后缺陷的信息对应，并且在操作1206中，还通过包括连续缺陷信息和替换状态信息来产生DL，所述连续缺陷信息显示缺陷是连续缺陷还是单个缺陷，所述替换状态信息显示在每一DL条目中是否存在替换块。 
在操作1207中，产生的DL被记录在SA/DL区中。 
上面所描述的盘缺陷管理方法还可被实现为存储在计算机可读记录介质上的计算机可读代码。所述计算机可读记录介质包括存储有计算机可读数据的所有种类的记录介质。所述计算机可读记录介质的例子包括ROM、RAM、CD-ROM、立体声磁带、软盘和光学数据记录装置。计算机可读记录介质还可以是载波(例如，经互联网传输)。在分布到通过网络连接的计算机系统的计算机可读记录介质中，可存储并执行可由计算机通过分布式方法读取的代码。可由本发明所属技术领域的程序员容易地推出用于实现盘缺陷管理方法的功能程序、代码、代码段。 
尽管已显示并描述了本发明的几个实施例，但是本领域的技术人员应该 理解，在不脱离权利要求及其等同物中限定其范围的本发明的原则和精神的情况下，可对这些实施例进行改变。 
产业上的可利用性 
本发明适用于用于缺陷管理的光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。 

Claims (4)

1.一种在光学记录介质上记录数据和/或从光学记录介质再现数据的设备，所述设备包括：
写/读单元，将数据写到光学记录介质上或从光学记录介质读取数据，所述光学记录介质包括记录用于替换用户数据区中具有缺陷的缺陷块的替换块和关于缺陷的信息的预定区域；
控制单元，控制写/读单元将关于缺陷的信息记录在预定区域中；
其中，关于缺陷的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目相应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息，并且所述连续缺陷列表条目包括关于缺陷的状态信息，其中，状态信息指示缺陷是否是连续的缺陷。
2.如权利要求1所述的设备，其中，状态信息指示缺陷块中的数据是否被记录在替换块中。
3.一种在光学记录介质上记录数据和/或从光学记录介质再现数据的设备，所述设备包括：
写/读单元，将数据写到光学记录介质上或从光学记录介质读取数据，所述光学记录介质包括记录用于替换用户数据区中具有缺陷的缺陷块的替换决和关于缺陷的信息的预定区域；
控制单元，控制写/读单元从预定区域读取关于缺陷的信息；
其中，关于缺陷的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目相应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息，并且所述连续缺陷列表条目包括关于缺陷的状态信息，其中，状态信息指示缺陷是否是连续缺陷。
4.如权利要求3所述的设备，其中，状态信息指示缺陷块中的数据是否被记录在替换块中。
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附图1.
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