CN101285711A - 基于面阵ccd的线性相位反演波前传感器 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器,包括衍射成像光学系统、面阵CCD、图像采集卡、PC计算机、轴向平移台、横向平移台、底座,其特征在于:衍射成像光学系统固定在底座上,面阵CCD固定在轴向平移台上,将轴向平移台上又固定在横向平移台上,横向平移台固定在底座上,面阵CCD置于衍射成像光学系统的离焦面上,使平行光源通过衍射成像光学系统后形成的光斑位于面阵CCD的靶面中心,通过图像采集卡将面阵CCD的图像采集到PC计算机中进行处理;本发明的波前传感器光机结构简单,有助于降低系统硬件研制难度,减小体积和费用;且计算量小,计算速度快。
Description
技术领域
本发明属于光学信息测量技术领域,涉及一种测量入射光束波前的传感器,尤其涉及一种基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器。
背景技术
在自适应光学、光学检测、光束诊断等应用领域,需要测量光束的波前,尤其是在自适应光学系统中,需要快速测量波前信息,用于波前的实时控制。波前传感器通常通过实时连续测定入瞳面上动态入射波前的相位畸变,为波前校正器实时提供控制信号,使光学系统达到获接近衍射受限的像质水平。目前发展了许多种测量波前的波前传感器,如动态交变剪切干涉波前传感器、哈特曼波前传感器、相位反演波前传感器和曲率波前传感器等。
动态交变剪切干涉波前传感器于1976年首次在自适应光学系统中成功地应用于大气补偿成像,我国北京天文台的2.16米望远镜上的自适应光学系统也采用了这种技术,它的基本原理是利用旋转光栅衍射效应产生的波前横向剪切干涉测量波前的相位分布。但这种传感器光能利用率低,无法在脉冲信号下工作,稳定性差。
哈特曼波前传感器是目前应用最广的波前传感器,现有的哈特曼波前传感器通常采用微透镜阵列-CCD探测器结构,1995年7月20日出版的《应用光学》34卷21期第4186页的“哈特曼和剪切干涉波前传感器的基本性能比较”(“Fundamental performance comparison of aHartmann and a shearing inteferometer wave-front sensor”4186 APPLIED OPTICS/Vol 34No21 20July 1995)一文公开的一种哈特曼波前传感器,由微透镜阵列和CCD探测器构成,微透镜阵列和CCD探测器由机械结构耦合于一体。它的基本原理是用微透镜阵列等孔径分割元件把入射孔径分割为若干小子孔径,利用二维阵列光电探测器(如面阵CCD相机)等测量各个子孔径上远场光斑的质心漂移量,得到波前斜率,然后用各种复原算法得到整孔径上的波前相位。虽然哈特曼波前传感器的工程化程度高,实时性好,但其子孔径分割造成光能利用率低,严重限制了其在暗弱信标条件下的应用。
相位反演波前传感器和曲率波前传感器都是基于成像的波前传感器。R.A.Gonsalves等在1979年提出一种相位反演波前传感器,该传感器需要同时记录一幅焦面上的光束远场图像和一幅离焦的图像,并这样连续记录多帧图像,利用多帧图像之间的差异,通过迭代的方法计算出光束波前。最早由F.Roddier提出的曲率波前传感器与上述的相位反演波前传感器不同,它利用焦点前后等距的两个离焦面上的远场图像与光束波前曲率间的关系,通过特定的方法计算出光束曲率,波前曲率是波前相位的二阶导数,根据波前曲率可以用特定的方法复原出波前相位。这两种波前传感器都利用了至少两幅图像,需要对入射光束分光后分别成像和探测。在天文自适应光学等应用领域,星体目标的入射光能量非常微弱,任何分光都将减少光能利用率,而且如果分光后的两个成像系统间存在差异(例如两个成像系统的性能不一致),又会对波前探测结果带来附加误差。
李新阳等在中国专利申请号“200610089149.7”中提供了一种基于线性相位反演的波前测量方法,该方法仅仅根据单幅远场图像利用线性相位反演技术测量出入射光束波前。其基本理论推导如下:考虑一个典型的成像光学系统,入射光场经过聚焦镜头在远场焦平面上成像。φ(x,y)是入射孔径上的相位分布,I(u,v)是成像光学系统焦面上的光强分布,S(x,y)是成像系统的像差,通常是离焦、像散等类型。事先用一个理想无像差的参考光源对成像系统进行定标,得到仅存在S(x,y)时的远场强度分布I0(u,v)作为定标图像。然后用同样的光学系统测量存在像差φ(x,y)时的远场强度分布I1(u,v)。该方法已证明,远场焦面上的光强变化量ΔI(u,v)=I1(u,v)-I0(u,v)与入射相位分布φ(x,y)间存在线性关系。
这种线性关系可以用矩阵形式表示为:
ΔI=H·Φ (1)
式中的H是(N2×M2)的线性矩阵。ΔI是ΔI(u,v)展开后的向量,Φ是φ(x,y)展开后的矩阵向量。当入射孔径和焦平面的对应关系确定后,H矩阵的元素可以根据成像系统的波长、焦距、CCD的象素大小、视场大小等参数事先确定。
波前畸变可以用一系列波前模式的线性叠加表示:
其中ai为模式系数,Mi(x,y)为波前模式,如常用的泽尼克(Zernike)多项式等,P是模式阶数。波前相位分布的变化量与入射像差的各阶波前模式系数ai间存在线性关系:
上式可以用矩阵形式表示为:
Φ=D·a (4)
其中模式系数变化量a为(P×1)维的向量,D为(M2×P)的长方矩阵。根据(1)式,易得各阶波前模式系数的变化量与焦平面上光强分布变化量间也存在线性关系:
ΔI=HD·a=Z·a (5)
其中Z=HD为(N2×P)的长方矩阵。那么从光强分布变化量反演计算波前模式系数变化量的过程为:
a=R+·ΔI (6)
其中R=Z+是长方矩阵Z的伪逆矩阵,该专利中称为模式复原矩阵,通过奇异值分解的方法得到。
但该专利中只是提出了这种方法,没有提出具体的波前传感器结构,并将其运用到实际的波前探测中。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:克服现有技术的不足,在申请号为“200610089149.7”的中国专利的基础上,提供一种基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器,该传感器仅仅根据单幅远场图像利用线性相位反演技术测量出入射光束波前,光能利用率高,实时性强,且光机结构简单,体积和费用小。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器,包括衍射成像光学系统、面阵CCD、图像采集卡、PC计算机、轴向平移台、横向平移台和底座,其特征在于:衍射成像光学系统固定在底座上,面阵CCD固定在轴向平移台上,将轴向平移台上又固定在横向平移台上,横向平移台固定在底座上,面阵CCD置于衍射成像光学系统的离焦面上,使平行光源通过衍射成像光学系统后形成的光斑位于面阵CCD的靶面中心,通过图像采集卡将面阵CCD的图像采集到PC计算机中进行处理。
上述所述衍射成像光学系统可以采用带有三维调整功能的机械件固定,再固定在底座上,或直接固定在底座上。
上述所述传感器的系统像差可以自由设置,可以通过自由调整轴向平移台的位置来调整面阵CCD的位置,以改变离焦像差的大小,也可以加入像差为实偶函数的像差板。
上述所述传感器使用前,先用无像差理想平行光源定标传感器的系统像差,并记录下定标时的系统像差图像。
上述所述通过调整横向平移台,使面阵CCD和衍射成像光学系统同轴。
上述所述衍射成像光学系统为单透镜或透镜组。
传感器使用前,先用无像差理想平行光源对传感器自身像差定标,理想的无像差光束通过衍射成像光学系统,在面阵CCD上得到无畸变像差时的远场图像,利用图像采集卡采集到PC计算机中,并将此作为定标基准图像。然后对包含待测畸变波前的入射光束利用同样的成像光学系统、成像器件、图像采集卡等进行测量。待测畸变波前的入射光束通过衍射成像光学系统,在面阵CCD上得到畸变波前条件下的远场图像,利用图像采集卡采集到PC计算机中。通过PC计算机对上述两幅图像进行计算,利用中国专利申请号“200610089149.7”中提供的一种基于线性相位反演的波前测量方法,计算出波前畸变。
本发明的原理:基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器是一种根据入射全孔径远场光斑强度分布直接反演出入射波前相位的新型传感器。它只需实时测量一幅远场光斑图像,根据远场光斑图像光强分布的微小变化量与入射孔径面上的相位分布的微小变化量之间存在的近似线性关系,就可以用模式复原的原理复原出入射波前相位。它要求光学系统自身的主要像差为实偶函数像差且其值大于波前畸变像差。
本发明与现有技术相比有如下优点:
(1)本发明的波前传感器光能利用率高;本发明的波前传感器仅仅需要测量畸变波前对应的单幅远场图像即可完成波前过程,不需要对入射光束进行全口径分光(如曲率波前传感器)或子孔径分光(如哈特曼波前传感器)。这一点对星体目标天文观测的自适应光学等入射光强非常微弱的应用领域特别有用,可以节省宝贵的入射光能量。
(2)本发明的波前传感器实用性强,本发明的波前传感器基准图像和复原矩阵的定标过程,消除了波前传感器成像光学系统自身像差的影响。线性运算特别适合用现代的DSP(数字信号处理)技术实时快速完成。相对其他波前测量技术的迭代计算过程,本发明的计算量小,因而计算速度快。
(3)本发明的波前传感器光机结构简单,有助于降低系统硬件研制难度,减小体积和费用。
附图说明
图1为基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施方式详细介绍本发明。但本发明的保护范围并不仅限于下列实施例,应包含权利要求书中的全部内容。而且本领域的技术人员从以下的一个实施例即可实现权利要求中的全部内容。
如图1所示,本实施例的基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器包括衍射成像光学系统1、面阵CCD2、图像采集卡3、PC计算机4、轴向平移台5、轴向平移台6和底座7。
图1所示的基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器中各组件之间的连接关系为:衍射成像光学系统1用于对入射光束成像,衍射成像光学系统1采用带有三维调整功能的机械件固定,再固定在底座7上,或直接固定在底座7上;这里选择衍射成像光学系统1为单透镜;面阵CCD2固定在轴向平移台5上,将轴向平移台5上又固定在横向平移台6上,横向平移台6固定在底座7上。装调时,利用三维调整架和横向平移台6分别对衍射成像光学系统1和面阵CCD2进行准直调整,使面阵CCD2和衍射成像光学系统1同轴;然后平行光入射,调整轴向平移台5,使面阵CCD2位于衍射成像光学系统1的离焦面上,并且光斑尽量充满靶面,整个装调过程完成;图像采集卡3用于将面阵CCD2的图像采集到PC计算机4中进行处理。
基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器使用前,先用无像差理想平行光源定标传感器自身系统像差,理想的无像差光束通过衍射成像光学系统1成像,在面阵CCD2上得到无像差时的远场图像,利用图像采集卡3采集到PC计算机4中,并将此作为定标基准图像。
当基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器开始工作时,包含待测畸变波前的入射光束通过衍射成像光学系统1成像,在面阵CCD2上得到畸变波前条件下的远场图像,这幅图像包含了系统自身像差和畸变波前像差共同产生的相位信息。图像采集卡3采集到图像数据后,通过PC计算机4进行处理,采用中国专利申请号“200610089149.7”中提供的一种基于线性相位反演的波前测量方法,探测全孔径的畸变波前信息。
本发明的具体测量和计算过程如下:
(1)传感器使用前,根据光源波长、传感器的焦距、成像器件的像素大小等已知参数,求得事先定标得到的传感器的远场光强相对变化值ΔI与入射波前中各项泽尼克系数相对变化值Δa间对应关系的响应矩阵D,然后对响应矩阵D求逆得到复原矩阵R。在测量响应矩阵D的过程中,一般采用更加准确的双极法。
(2)传感器使用前还需要用一个理想的参考平面光源对传感器的自身像差、CCD相机靶面像素大小和光电响应灵敏度、图像采集卡的转换特性等参数进行标定,得到参考平面波光源的图像,按照事先的约定展开为列向量,并记为I0;定标完后将参考光源移开。利用同样的成像光学系统、成像器件、图像采集卡等记录下待测量畸变波前对应的远场图像的两维光强分布,同样按照事先的约定展开为列向量,并记为I。
(3)求出存在像差前后远场图像光强分布的相对变化,记为列向量ΔI=I-I0(或者ΔI=I0-I也可,根据事先约定)。
(4)根据关系Δa=RΔI,利用向量矩阵乘法的线性运算得到Δa。因为理想平面波对应的泽尼克系数a0=0,所以这就是待测波前畸变中包含的各项泽尼克系数a=Δa,通常得到泽尼克系数即认为测量出了波前畸变。因为根据复原出的各项泽尼克系数及各阶泽尼克多项式的定义,可以很方便地得到待测量波前畸变的具体值。
在得到泽尼克响应矩阵过程中,基于面阵CCD的线性相位波前传感器成像系统自身的像差非常重要。任何一个传感器系统都有一个固有像差,并且需要事先标定。成像波前反演传感器的自身像差可以自由设置,例如可以通过自由调整面阵CCD2的位置或衍射成像光学系统1的位置改变离焦像差的大小。传感器自身像差的大小和形式对复原矩阵和波前反演传感器性能的影响很大。当传感器自身像差改变后,需要重新测量复原矩阵。
Claims (6)
1.基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器,包括衍射成像光学系统(1)、面阵CCD(2)、图像采集卡(3)、PC计算机(4)、轴向平移台(5)、横向平移台(6)和底座(7),其特征在于:衍射成像光学系统(1)固定在底座(7)上,面阵CCD(2)固定在轴向平移台(5)上,将轴向平移台(5)上又固定在横向平移台(6)上,横向平移台(6)固定在底座(7)上,面阵CCD(2)置于衍射成像光学系统(1)的离焦面上,使平行光源通过衍射成像光学系统(1)后形成的光斑位于面阵CCD(2)的靶面中心,通过图像采集卡(3)将面阵CCD(2)的图像采集到PC计算机(4)中进行处理。
2.根据权利要求1所述之基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器,其特征在于:衍射成像光学系统(1)可以采用带有三维调整功能的机械件固定,再固定在底座(7)上,或直接固定在底座(7)上。
3.根据权利要求1所述之基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器,其特征在于:传感器的系统像差可以自由设置,可以通过自由调整轴向平移台(5)的位置来调整面阵CCD的位置,以改变离焦像差的大小,也可以加入像差为实偶函数的像差板。
4.根据权利要求1所述之基于分立光强测量器件的线性相位反演波前传感器,其特征在于:传感器使用前,先用无像差理想平行光源定标传感器的系统像差,并记录下定标时的系统像差图像。
5.根据权利要求1所述之基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器,其特征在于:通过调整横向平移台(6),使面阵CCD(2)和衍射成像光学系统(1)同轴。
6.根据权利要求1所述之基于面阵CCD的线性相位反演波前传感器,其特征在于:衍射成像光学系统(1)为单透镜或透镜组。
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Cited By (4)
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CN102169020A (zh) * | 2010-12-08 | 2011-08-31 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种哈特曼波前传感器质心运算的流水线装置 |
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Cited By (7)
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CN101738721B (zh) * | 2009-12-25 | 2011-12-14 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种消除哈特曼波前传感器系统误差的自适应光学成像系统 |
CN102169020A (zh) * | 2010-12-08 | 2011-08-31 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种哈特曼波前传感器质心运算的流水线装置 |
CN102169020B (zh) * | 2010-12-08 | 2012-03-21 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种哈特曼波前传感器质心运算的流水线装置 |
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Open date: 20081015 |