CN101261868B - 光学记录介质、记录/再现设备、和记录/再现方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光学记录介质、记录/再现设备、和记录/再现方法。一种信息记录介质，其上，当被创建在信息记录介质的预定区域中的用于替换缺陷块的替换块的备用区被扩大或重新分配时，扩大的或重新分配的备用区中的块的缺陷状态信息被改变并且被写在该信息记录介质上。通过管理扩大的或重新分配的备用区中的块的缺陷状态信息，驱动系统的不必要的操作被消除，因此改善了驱动系统的效率。

Description

光学记录介质、记录/再现设备、和记录/再现方法

本申请是申请日为2005年1月31日、申请号为200510005021.3、题为“光学记录介质、记录/再现设备、和记录/再现方法”的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种光学记录介质、一种记录和/或再现设备和一种记录和/或再现方法。

背景技术

为了管理根据数字多功能盘(DVD)标准工作的可记录盘上的缺陷，在初始化盘时，当出现缺陷时使用滑动替换方法，并且由滑动替换代替的缺陷扇区位置被记录在盘的缺陷管理区的主要缺陷列表(PDL)中而不给其分配逻辑扇区号。而且，在线性替换方法中，在使用盘时，以其中当出现缺陷时出现错误的区的纠错码块为单位用备用区中的普通块代替缺陷，并且在次要缺陷列表(SDL)中记录缺陷块位置。

当初始化盘时可分配这种备用区，并且在使用盘时可分配附加的备用区。

缺陷管理被执行以改善记录在盘上的用户数据的再现的可靠性。即，当缺陷出现或在记录或再现盘时确定有很高可能性出现缺陷时，用备用区代替缺陷以改善再现的可靠性。

在线性替换方法中使用的缺陷列表项目被典型地分为状态信息、缺陷块的物理地址和替换块的物理地址。

状态信息包括具有替换块的缺陷块的状态信息和没有替换块的缺陷块的状态信息。

缺陷块的物理地址被限于盘内用户数据区的地址，从而其可在在再现处理中被容易地检查。即，主机可利用记录在盘上的文件系统来找到记录在用户数据区内记录的数据，并且在此基础上，该主机可再现记录在盘上的用户数据。当该主机试图寻找记录在盘上的文件系统或试图再现用户数据时，其利用逻辑地址将再现数据的请求发送到驱动系统。其后，该驱动系统再现与逻辑地址相应的物理地址中的数据并且将其发送到主机。在此，如果缺陷块存在于与逻辑地址相应的物理地址中，则驱动系统将从缺陷列表内的列表项再现作为对缺陷块的替换的替换块。因此，当缺陷管理被用于改善记录在用户数据区内的用户数据的再现可靠性时，缺陷列表项的缺陷块的物理地址可被限于盘的用户数据区的地址。

因此，在扩大的或重新分配的备用区内的块中的缺陷列表项被未被触及而没有任何处理地留下是不可取的。这是因为，如果重新分配的或扩大的备用区起内的块上的缺陷列表项被留下如同没有任何改变，则缺陷列表项得到备用区的地址并且未得到用户数据区的地址。

另外，在其中通过指示备用区内的每一块是否可被用作对缺陷列表项的替换来管理缺陷的介质中，被进一步扩大的或重新分配的备用区内的缺陷列表项被未被改变地留下是不可取的。而且，当驱动系统读取缺陷列表时将缺陷列表项留下引起了混淆，因此降低了驱动系统的性能。

发明内容

根据本发明的一方面，提供一种其上可在用于替换介质中的缺陷块的重新分配的或扩大的备用区内管理关于块的缺陷状态的信息的光学记录介质、一种记录和/或再现设备、以及一种记录和/或再现方法。

根据本发明的一方面，提供一种当在使用信息记录介质时用于替换在信息记录介质的预定区中出现的缺陷块的替换块的备用区被扩大或重新分配时，其上扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息被改变的信息记录介质。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息指示具有替换块的缺陷块时，包括指示该替换块和缺陷块是不可用的替换块的状态信息的缺陷列表项可被记录在信息记录介质上。在此情况下，该缺陷块可被记录为包括指示其为不可用的替换块的状态信息的缺陷列表项，并且该替换块可被记录为指示其为可用的替换块的缺陷列表项。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息指示不具有替换块的缺陷块时，包括指示该缺陷块是可用的替换块的状态信息的缺陷列表项可被记录在信息记录介质上。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息指示可能的缺陷块时，如果该块的确认结果指示在可能的缺陷块中有缺陷，则包括指示可能的缺陷块是不可用的替换块的状态信息的缺陷列表项可被记录在信息记录介质上，并且如果该块的确认结果指示在可能的缺陷块中没有缺陷，则包括指示可能的缺陷块是可用的替换块的状态信息的缺陷列表项可被记录在信息记录介质上。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息指示可能的缺陷块时，根据驱动器制造商或用户的选择，包括指示可能的缺陷块是不可用的替换块的状态信息的缺陷列表项或包括指示可能的缺陷块是可用的替换块的状态信息的缺陷列表项可被记录在信息记录介质上。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息未被记录在该介质上时，包括指示该块是可用的替换块的状态信息的缺陷列表项可被记录在该介质上。

在此，状态信息被包括在记录在介质的预定区上的缺陷列表中，并且该缺陷列表包括包括缺陷的通用信息的缺陷列表头和包括缺陷的详细信息的缺陷列表项。该信息记录介质包括关于具有替换块的缺陷块的数量、缺陷块的数量、可用的备用块的数量、不可用的备用块的数量、和/或可能的缺陷块的数量的信息中的至少一个。该缺陷列表项包括指示块的缺陷状态或可用状态的状态信息、关于缺陷块的物理地址的信息、和关于替换块的物理地址的信息。该状态信息包括具有替换块的缺陷块的状态、不具有替换块的缺陷块的状态、备用区的可用的块的状态、备用区的不可用的块的状态、和可能的缺陷块的状态。

根据本发明的一方面，提供一种当在使用该介质时扩大或重新分配用于替换该介质的预定区中的缺陷块的替换块的备用区时，其上扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息被改变的一次写入记录介质。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块已被使用时，具有指示被使用的块是不可用的替换块的状态信息的缺陷列表项可被记录在该介质上。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块还未被使用并且该块的状态信息还未被写在该介质上时，具有指示未使用的块是可用的替换块的状态信息的缺陷列表项可被记录在该介质上。

根据本发明的另一方面，提供一种具有记录在其上的用于执行一种方法的程序的计算机可读记录介质，该方法是在信息记录介质上记录数据和/或从该信息记录介质再现写在其上的数据的方法。该记录和/或再现方法包括，当在使用该介质时扩大或重新分配用于替换该介质的预定区中的缺陷块的替换块的备用区时改变扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息，并且将改变的状态信息记录在该介质上。

根据本发明的另一方面，提供一种信息记录介质，其中当在使用该介质时扩大或重新分配用于替换缺陷块的替换块的备用区时，指示扩大的或重新分配的备用区内的块是可用的或不可用的替换块的缺陷列表项被记录在介质上。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息指示具有替换块的缺陷块时，该缺陷列表项可指示该缺陷块和该替换块是可用的或不可用的替换块。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息指示不具有替换块的缺陷块时，该缺陷列表项可指示该缺陷块是可用的或不可用的替换块。

根据本发明的一方面，当扩大的或重新分配的备用区中的块的状态信息指示可能的缺陷块时，该缺陷列表项可指示该可能的缺陷块是可用的或不可用的替换块。

根据本发明的另一方面，提供一种在信息记录介质上记录数据或从信息记录介质再现数据的记录和/或再现设备。该记录和/或再现设备可包括控制单元，当在使用该介质时扩大或重新分配用于替换该介质中的缺陷块的替换块的备用区时，该控制单元控制读和/或写单元写指示扩大的或重新分配的备用区内的块是可用的或不可用的用于替换的替换块的缺陷列表项。

根据本发明的另一方面，提供一种在信息记录介质上记录数据和/或从该信息记录介质再现数据的方法。该方法包括，当在使用该介质时扩大或重新分配用于替换该介质的预定区中的缺陷块的替换块的备用区时，记录指示扩大的或重新分配的备用区内的块是可用的或不可用的用于替换的替换块的缺陷列表项。

本发明的另外的方面和/或优点将在下面的描述中被部分阐述，并且另外的部分通过描述将是清楚的，或通过实施本发明而被了解。

附图说明

通过结合附图对实施例进行描述，本发明的这些和/或其他方面和优点将更容易被理解，其中：

图1是显示根据本发明实施例的记录和/或再现设备的结构的方框图；

图2是根据本发明实施例的单记录层盘的结构图；

图3是根据本发明实施例的双记录层盘的结构图；

图4是根据本发明实施例的缺陷列表的数据格式的结构图；

图5是图4中显示的缺陷列表项的数据格式的结构图；

图6是显示图5中显示的缺陷列表项的状态信息的参考图；

图7是显示根据本发明实施例的单记录层盘中的用户数据区和备用区的使用方向的参考图；

图8是显示根据本发明实施例的双记录层盘中的用户数据区和备用区的使用方向的参考图；

图9A和9B是显示根据本发明实施例的处理重新分配的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图；

图10A和10B是显示根据本发明实施例的处理扩大的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图；

图11A和11B是显示根据本发明实施例的改变重新分配的或扩大的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图；

图12A是根据本发明实施例恰好在放大或分配备用区之前的缺陷列表头的数据的状态的示图；

图12B是根据本发明实施例恰好在放大或分配备用区之后的缺陷列表头的数据的状态的示图；

图13A到13C是显示根据本发明实施例的缺陷管理的方法的流程图；

图14是显示根据本发明实施例的一次记录存储介质中的缺陷管理的方法的流程图；

图15A和15B是用于描述根据本发明实施例的处理重新分配的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图；

图16A和16B是用于描述根据本发明实施例的处理扩大的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图；

图17A和17B是用于描述根据本发明实施例的改变重新分配的或扩大的备用区内的块的缺陷列表项的参考图；

图18是根据本发明实施例恰好在放大或分配备用区之后的缺陷列表头的数据的状态的示图；

图19是显示根据本发明实施例的缺陷管理的方法流程图；

图20A和20B是用于描述根据本发明实施例的处理重新分配的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图；

图21是显示根据本发明实施例的用于可记录光学记录介质的缺陷管理的方法的流程图；以及

图22是根据本发明实施例的处理用于改善驱动器性能的缺陷列表项的示例性方法的示图。

具体实施方式

现在，将详细说明本发明的实施例，其例子显示在附图中，其中相同的标号始终指的是相同的元件。实施例在下面被描述以便参照附图解释本发明。

图1是显示根据本发明实施例的记录和/或再现设备的结构的方框图。

参照图1，记录和/或再现设备包括读和/或写单元2和控制单元1。

该读和/或写单元2包括拾取器装置，并且将数据写在作为根据本发明实施例的光学记录介质的盘4上。

该控制单元1根据预定的文件系统控制从盘4读数据和在盘4上写数据。尤其是，当没有足够空间用于写替换在当初始化盘4时分配的备用区(盘4的预定区)中出现的缺陷的替换块时，控制单元1分配新备用区或扩大当前备用区并管理重新分配的备用区或扩大的备用区中的块的缺陷状态。

控制单元1包括系统控制器10、主机接口(I/F)20，数字信号处理器(DSP)30、射频放大器(RF AMP)40和伺服系统50。

为了将数据写在盘4上，主机I/F 20从主机3接收预定的写命令，并且将预定的写命令发送到系统控制器10。系统控制器10控制DSP 30和伺服系统50以便执行从主机I/F 20接收的写命令。DSP 30加上附加数据例如用于校正将被写的并从主机I/F 20接收的数据的错误的奇偶数据，执行纠错码(ECC)编码，并产生作为纠错块的ECC块，并且其后将ECC块调制为预定形式。RF AMP 40将从DSP 30输出的数据转换为RF信号。具有拾取器装置的读和/或写单元2将从RF AMP 40接收的RF信号记录到盘4上。伺服系统50从系统控制器10接收伺服控制所需的命令，并且伺服系统50控制读和/或写单元2的拾取器装置。

尤其是，系统控制器10包括用于管理扩大的或重新分配的备用区的块的缺陷状态的缺陷管理器11。

缺陷管理器11改变扩大的或重新分配的备用区中的块的缺陷状态信息。

如果扩大的或重新分配的备用区中的块的缺陷状态信息指示具有替换块的缺陷块，则缺陷管理器11产生包括指示该缺陷块和替换块是可用的或不可用的替换块的状态信息的缺陷列表项。

例如，缺陷管理器11控制读和/或写单元2记录指示该缺陷块和替换块是不可用的替换块的缺陷状态信息。换句话说，缺陷列表项被生成包括指示该缺陷块和替换块是不可用的替换块的缺陷状态信息，并且缺陷列表项被记录在盘4的预定区(即，缺陷管理区(DMA))上。另外，在此情况下，缺陷管理器11可控制读和/或写单元2来记录包括指示替换块是不可用的替换块的状态信息的缺陷列表项，并且记录包括指示该缺陷块是不可用的替换块的状态信息的缺陷列表项。

而且，缺陷管理器11检验扩大的或重新分配的备用区内的块，并且如果块的缺陷状态信息指示没有替换块的缺陷块，则缺陷管理器11控制读和/或写单元2以便缺陷状态信息被记录为包括指示替换块是可用的或不可用的替换块的状态信息的缺陷列表项。

例如，当扩大的或重新分配的备用区内的块的缺陷状态信息指示该没有缺陷块的替换块时，缺陷管理器11控制读和/或写单元2记录包括指示替换块时不可用的缺陷状态信息的缺陷列表项。

而且，缺陷管理器11检验扩大的或重新分配的备用区内的块，并且如果块的缺陷状态信息指示可能的缺陷块，则缺陷管理器11控制读和/或写单元2以便缺陷状态信息被记录为包括指示替换块是可用或不可用的状态信息的缺陷列表项。

例如，当扩大的或重新分配的备用区内的块的缺陷状态信息指示可能的缺陷块时，缺陷管理器11确认是否有关于块的缺陷，并且控制读和/或写单元2记录包括指示替换块不可用的缺陷状态信息的缺陷列表项。如果没有缺陷，则缺陷管理器11控制包括指示替换块是可用的缺陷状态信息的缺陷列表项的记录。

该确认是指检查块是否有缺陷。例如，确认方法包括“写后检验”。

而且，当扩大的或重新分配的备用区内的块的缺陷状态信息指示可能的缺陷块时，缺陷管理器11可根据用户或驱动器制造商的选择来控制读和/或写单元2记录指示替换块可用的缺陷状态信息。

另外，当扩大的或重新分配的备用区内的块的缺陷状态信息未被记录时，缺陷管理器11控制读和/或写单元2记录包括指示替换块可用的缺陷状态信息的缺陷列表项。

尤其是，如果盘4是一次写入的盘，则当扩大的或重新分配的备用区内的块被使用时，缺陷管理器11控制对包括指示替换块不可用的缺陷状态信息的缺陷列表项的记录。这是因为即使记录的块中有缺陷该块也不能被再次写。

而且，当盘4是一次写入的盘，并且扩大的或重新分配的备用区内的块还未被使用且该块的缺陷状态信息未被记录时，缺陷管理器11控制对包括指示替换块可用的缺陷状态信息的缺陷列表项的记录。尽管数据不能被再次记录到一次写入的盘上，该盘还是可以根据预定规则具有包括缺陷状态信息的缺陷列表项。因此，当还未被使用时的可用的且不具有缺陷列表项的替换块可被指示。

为了从盘4再现数据，主机I/F 20从主机3接收再现命令。系统控制器10执行为数据再现而需要的初始化。读和/或写单元2将激光束发射到盘4上，并且输出通过接收从盘4反射的激光束而获得的光信号。RF AMP 40将从读和/或写单元2输出的光信号转换为RF信号，并且在为了从RF信号获得的控制而将伺服信号提供给伺服系统50时将从RF信号获得的调制的数据提供到DSP 30。DSP 30解调调制的数据，并且输出通过执行ECC纠错而获得的数据。同时，伺服系统50接收来自于RF AMP 40的伺服信号和来自于系统控制器10的用于伺服控制的命令，并且对该拾取器执行伺服控制。主机I/F 20将从DSP 30接收的数据发送到主机3。

现在将描述根据本发明实施例的光学记录介质的结构。

图2是根据本发明实施例的单记录层盘的结构图。

参照图2，该盘包括内圆周上的导入区、外圆周上的导出区、和该盘的径向上二者之间的数据区。

导入区包括DMA#2、记录或写条件测试区、和DMA#1。数据区包括备用区#1、用户数据区、和备用区#2。导出区包括DMA#3和DMA#4。

DMA是在可重写信息存储介质中记录缺陷管理信息的区。DMA位于盘4的内区或外区。

当初始化数据区时，驱动器制造商的用户可决定大小和当缺陷已经在盘4的用户数据区的预定区中出现时是否分配备用区来写替换块以替换缺陷块。作为选择，在使用盘4时备用区可被重新分配或被扩大。

记录在DMA上的缺陷管理信息由用于缺陷信息的缺陷列表和具有关于数据区的结构的信息的盘定义结构(DDS)构成。

缺陷列表包括缺陷列表头和缺陷列表项。后面参照图4更详细地描述缺陷列表的格式。

记录条件测试区用于通过测试根据写策略的各个记录功率和根据该写策略的变量来确定最佳记录功率。

图3是根据本发明实施例的双记录层盘的结构图。

参照图3，一个记录层L0包括导入区#0、数据区、和导出区#0，并且另一记录层L1包括导入区#1、数据区、和导出区#1。

L0层的导入区#0包括DMA#2、记录或写条件测试区、和DMA#1。L0层的数据区包括备用区#1、用户数据区、和备用区#2。L0层的导出区#0包括DMA#3和DMA#4。

L1层的导入区#1包括DMA#2、记录或写条件测试区、和DMA#1。L1层的数据区包括备用区#4、用户数据区、和备用区#3。L1层的导出区#1包括DMA#3和DMA#4。

图4是根据本发明实施例的缺陷列表400的数据格式的结构图。

参照图4，缺陷列表400包括缺陷列表头410和缺陷列表项420。

缺陷列表头410包含用于块的缺陷管理的数量信息。缺陷列表头410包括关于具有替换块的缺陷块的数量412、不具有替换块的缺陷块的数量413、可用的备用块的数量414、不可用的备用块的数量415、和可能的缺陷块的数量416的信息。

具有替换块的缺陷块的数量412表示具有指示该缺陷块已被备用区内的替换块替换的缺陷状态信息的缺陷列表项的数量。

不具有替换块的缺陷块的数量413表示具有指示不具有被备用区内的替换块的缺陷块的缺陷状态信息的缺陷列表项的数量。

可用的备用块的数量414表示具有指示可被用作为未在备用区内被替换的块中的替换的块的缺陷状态信息的缺陷列表项的数量。

不可用的备用块的数量415表示具有指示不可被用作为未在备用区内被替换的块中的替换的块的缺陷状态信息的缺陷列表项的数量。

可能的缺陷块的数量416表示具有指示用户数据区内的块中的可能的但未被确认的缺陷的块的缺陷状态信息的缺陷列表项的数量。

缺陷列表项420是具有关于块的缺陷状态信息的缺陷列表项的集合。缺陷列表项420包括缺陷列表项#1421、缺陷列表项#2422、...、和缺陷列表项#N 423。

图5是图4中显示的缺陷列表项的数据格式的结构图。

参照图5，缺陷列表项#i 500包括状态信息510、缺陷块的物理地址520、和替换块的物理地址530。

状态信息510是缺陷块的缺陷状态信息，缺陷块的物理地址520是在用户数据区内缺陷块所在的物理地址，并且替换块的物理地址530是在备用区内替换块所在的物理地址。

图6是显示图5中显示的缺陷列表项#i 500的状态信息的参考图。

参照图6，状态信息510包括五个状态，“1”、“2”、“3”、“4”、和“5”。

状态信息“1”指示具有替换块的缺陷块的状态。在此情况下，缺陷块的物理地址指示用户数据区内的缺陷块的物理地址。替换块的物理地址是替换缺陷块的替换块被记录在在备用区中的物理地址。

状态信息“2”指示不具有替换块的缺陷块的状态。在此情况下，缺陷块的物理地址指示用户数据内的替换块的物理地址。

状态信息“4”指示备用区的可用的块的状态。这是为了指示存在于备用区中块的状态。在此情况下，替换块的物理地址指示备用区的未被替换的块中的可用的块的物理地址。

状态信息“5”指示备用区的不可用的块的状态。这是为了指示存在于备用区中的块的状态。在此情况下，替换块的物理地址指示备用区的未被替换的块中的不可用的块的物理地址。

状态信息“3”指示可能的缺陷块的状态。在此情况下，具有可能的但未被确认的缺陷的块的物理地址被指示。

图7是显示根据本发明实施例的单记录层盘中的用户数据区和备用区的使用方向的参考图。

参照图7，如果用户数据区的使用方向是在数据区中从导入区到导出区并且仅备用区#1被初始分配，则如图7所示，备用区#2可在数据区中被重新分配靠近导出区，并且如果备用区#2已经被初始分配，则备用区#2可在用户数据区的使用方向的相反方向上被扩大。同样地，通过考虑用户数据区和备用区的使用方向，新备用区可被分配或备用区可被更方便地扩大。

图8是显示根据本发明实施例的双记录层盘中的用户数据区和备用区的使用方向的参考图。

参照图8，如果用户数据区的使用方向是在数据区中从导入区#0经导出区#0和导出区#1到导入区#1并且仅备用区#1、2和3被初始分配，则如图8所示，备用区#4可在数据区中被重新分配靠近导出区#1，并且如果备用区#4已经被初始分配，则备用区#4可在用户数据区的使用方向的相反方向上被扩大。同样地，通过考虑用户数据区和备用区的使用方向，新备用区可被分配或备用区可被更方便地扩大。

图9A和9B是描述根据本发明实施例的处理重新分配的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图。

图9A是显示在其中仅备用区#1在初始化时被分配并被使用的单层盘中的数据块的状态的示图，并且图9B是显包括示在具有使用该盘时在其中分配的备用区#2的盘中的备用区#2中包括的处理的状态信息的示图。

参照图9A，仅备用区#1在数据区中被初始地分配，并且因此该数据区包括备用区#1和用户数据区。

块①、③和④被记录在用户数据区的末端。块①是缺陷块，并且将替换缺陷块的替换块②被记录在备用区#1。块③是缺陷块，但是在备用区#1中不具有替换缺陷块的替换块。块④是可能的缺陷块。

在以当前状态使用盘时，如果备用区#2被分配在包括其中块①、③和④被重新分配的区的用户数据区的末端，则当前状态变为图9B中显示的那样。

参照图9B，备用区#2被分配在数据区的末端，并且因此数据区包括备用区#1、用户数据区、和备用区#2。

在此情况下，关于具有替换块的块①，缺陷列表项被记录指示该缺陷块①和替换块②是备用区的不可用的块。即，具有替换块的缺陷块的缺陷列表项被转换为指示备用区的不可用的块的两个缺陷列表项。

对登记指示该缺陷块①和替换块②是备用区的不可用的块的缺陷列表项的需要如下所述。如以上参照图7所述，在单层盘中，备用区#2的使用方向被设定为用户数据区的使用方向的反方向以使备用区#2扩展。即，备用区#2以从盘的外圆周向内圆周的方向被使用。因此，当具有替换块的缺陷块在扩展的备用区#2的内部时，替换缺陷块的替换块实际上不是缺陷块。然而，考虑到备用区#2的使用方向，替换块不应被使用。另外，扩大的备用区#2内的缺陷块已经具有缺陷，并且因此缺陷块不应被用作替换块。如果缺陷块未被登记为指示该缺陷块是备用区的不可用的块的缺陷列表项，则驱动系统在将来将使用缺陷块用于替换块。然而，因为缺陷块预先具有缺陷，所以缺陷块的数据的可靠性未被保证。另外，即使在将数据写在缺陷块之后确认数据，因为缺陷块已经具有缺陷所以缺陷块可再次发展出缺陷也有很大的可能。因此，如果缺陷块被确定以具有缺陷，则基于备用区的使用顺序，缺陷块将被备用区的下一块替换。在此处理中，大量时间被浪费在替换缺陷块中，并且导致驱动系统的效率的降低。因此，通过登记指示该缺陷块是备用区的不可用的块的扩大的备用区#2内的缺陷块，在保持驱动系统的效率时驱动系统的不必要的操作被减少。

而且，关于不具有替换块的块③，指示该缺陷块③是备用区的不可用的块的缺陷列表项被记录在其上。在此情况下，缺陷列表项被改变为备用区的缺陷列表项。

关于具有可能的缺陷的块④，位于实际物理地址中的块④的确认可被执行，或根据没有确认的预定计划的缺陷列表项可被记录在其上。更具体地说，在确认可能的缺陷块并且根据该确认结果登记缺陷列表项的情况下，当在该块的确认之后在块中没有缺陷时，指示该块是备用区的可用的块的缺陷列表项被登记在其上，并且如果块中有缺陷，则指示该块是备用区的不可用的块的缺陷列表项被登记在其上。在没有根据预定计划的块的确认而登记缺陷列表项的情况下，根据预定规则(即，驱动器制造商或用户的选择)指示该块是备用区的可用的或不可用的块的缺陷列表项被登记。

图10A和10B是描述根据本发明实施例的处理扩大的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图。

图10A是显示在其中备用区#1和#2在初始化时被分配并且被使用的单层盘中的数据块的状态的示图，并且图10B是显示当在使用该盘时备用区#2需要被扩大时包括在扩大的备用区#2中的块的处理的状态信息的示图。

参照图10A，最初，数据区包括备用区#1、用户数据区和备用区#2。块⑤、⑦和⑧被位于用户数据区的末端。块⑤是缺陷块，并且替换块⑥位于备用区#2以替换该缺陷块。块⑦也是缺陷块并且其中具有缺陷，但是替换缺陷块的替换块不存在于备用区#1或备用区#2中。块⑧是可能的缺陷块。

在这种情况下，如果在使用该盘时备用区#2被扩展到块⑤、⑦和⑧所位于的用户数据区，则当前状态变为如图10B中所示。

参照图10B，数据区包括备用区#1，用户数据区和备用区#2。

在此情况下，关于具有替换块的缺陷块⑤，指示该缺陷块⑤是备用区的不可用的块的缺陷列表项和指示替换块⑥是备用区的不可用的块的缺陷列表项被登记。即，具有替换块的缺陷块的缺陷列表项被转换为指示备用区的不可用的块的两个缺陷列表项。

关于不具有替换块的块⑦，指示该缺陷块⑦是备用区的不可用的块的缺陷列表项被登记。在此情况下，一个缺陷列表项被改变为备用区的一个缺陷列表项。

如果在在实际物理地址上的块⑧中有缺陷块则可能的缺陷块⑧可被检验。作为选择，根据没有确认的预定计划的缺陷列表项可被登记。更具体地说，在检验可能的缺陷块⑧和根据该确认的结果登记缺陷列表项的情况下，当在检验块⑧之后在块⑧中没有缺陷时，指示块⑧是备用区的可用的块的缺陷列表项被登记，并且如果在块⑧中有缺陷，则指示块⑧是备用区的不可用的块的缺陷列表项被登记。在没有根据预定计划检验块⑧而登记的缺陷列表项的情况下，根据预定规则(即，驱动器制造商或用户的选择)指示块⑧是备用区的可用的或不可用的块的缺陷列表项可被登记。

迄今为止，描述涉及了单记录层盘，但是相同的方法应用于双记录层盘。

图11A和11B是显示根据本发明实施例的改变重新分配的或扩大的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图。

参照图11A和11B，显示了在图9A到10B中描述的情况中的缺陷列表项的改变的状态。在图11A中示出的在扩大或分配块之前的缺陷列表项是指示在图9A或10A中显示的在扩大或重新分配备用区之前的块的状态信息的缺陷列表项。在图11B中示出的在扩大或分配块之后的缺陷列表项是指示在图9B或10B中显示的扩大或重新分配备用区之后的块的状态信息的缺陷列表项。

如参照图6所描述，状态信息“1”指示具有替换块的缺陷块的状态；状态信息“2”指示不具有替换块的缺陷块的状态；状态信息“3”指示可能的缺陷块的状态；状态信息“4”指示备用区的可用的块的状态；并且状态信息“5”指示不可用的缺陷块的状态。

对于在扩大或分配备用区之前的块①的缺陷列表项，其状态信息是“1”，缺陷块的物理地址是“0010000h”，并且替换块的物理地址是“0100000h”。在备用区被关于块①而扩大或重新分配之后，两个缺陷列表项被登记为如图11B中所示。即，该两个缺陷列表项是具有关于缺陷块①的状态信息为“5”并且替换块的物理地址是“0010000h”的缺陷列表项、和具有关于替换块的状态信息为“5”并且该替换块的物理地址为“0100000h”的缺陷列表项。

在扩大或分配备用区之前的块③的缺陷列表项具有状态信息“2”，缺陷块的物理地址是“0010100h”，并且由于没有替换块，所以没有替换块的物理地址。在备用区关于块③被扩大或重新分配之后，具有状态信息“5”的缺陷列表项和为“0010100h”的替换块的物理地址被登记如图11B中所显示。

在扩大或分配备用区之前的块④的缺陷列表项具有状态信息“3”，缺陷块的物理地址是“0010110h”，并且由于没有替换块，所以没有替换块的物理地址。在备用区关于块④而扩大或重新分配之后，具有状态信息“4”的缺陷列表项和为“0010110h”的替换块的物理地址被登记如图11B中所显示。因此，上面描述了登记可能的缺陷块的缺陷列表项的各种方法。

扩大的或重新分配的备用区内的全部块是具有替换块的缺陷块、备用区的可用的块、和/或不可用的备用块之一。因此，全部备用区的块的数量满足以下等式。

全部备用区的块的数量＝备用区的可用的块的数量

                      +备用区的不可用的块的数量

                      +具有替换块的缺陷块的数量...(1)

换句话说，对于备用区内的块的每一个，替换块的物理地址是备用区内的块的物理地址，并且仅具有状态信息“1”、“4”或“5”的缺陷列表项是可能的。当然，在替换块的情况下，替换块的缺陷列表项的替换块的物理地址需要是用户数据区内的块的物理地址。

图12A是根据本发明实施例恰好在放大或分配备用区之前的缺陷列表头120的数据的状态的示图。图12B是根据本发明实施例恰好在放大或分配备用区之后的缺陷列表头120的数据的状态的示图。

参照图12A，缺陷列表头120包括缺陷列表标识符121和其中因为它们被全部用于替换所以没有更多替换块被留下的备用区。因此，可用的备用块的数量124是“0”。而且，因为备用区内的块符合要求，所以不可用的备用块的数量125也是“0”。具有替换块的缺陷块的数量122是“N-M-1”，不具有替换块的缺陷块的数量123是“M”，并且可能的缺陷块的数量126是“1”。

因此，N-M-1+M+0+0+1＝N缺陷列表项的总和存在。而且，备用区的总块数是“具有替换块的缺陷块的数量122”+“可用的备用块的数量124”+“不可用的备用块的数量125”＝N-M-1+0+0＝N-M-1。

在这种状态下，假定因为没有用于替换的备用区的块所以具有S块的备用区被扩大或重新分配。而且，假定有如图11A所示在扩大的或重新分配的备用区内有一个具有替换块的缺陷块、一个不具有替换块的缺陷块、和一个可能的缺陷块。其后，正好在扩大或分配备用区之后，备用区被改变为如11B所示的缺陷列表项，并且缺陷列表头120的内容被改变为如图12B所示。即，具有替换块的缺陷块的数量122被从“N-M-1”改变为“N-M-2”，不具有替换块的缺陷块的数量123被从“M”改变为“M-1”，可用的备用块的数量124被从“0”改变为S-2，不可用的备用块的数量125被从“0”改变为“3”，并且可能的缺陷块的数量126被从“1”改变为“0”。

因此，N-M-2+M-1+S-2+3+0＝N+S-2缺陷列表项的总和存在。而且，在扩大或分配备用区之前“全部备用区的块的数量”是“N-M-1”并且在扩大或分配备用区之后是“S”。因此，“全部备用区的块的数量”＝N-M-1+S，并且“具有替换块的缺陷块的数量122”+“可用的备用块的数量124”+“不可用的备用块的数量125”＝N-M-2+S-2+3＝N-M-1+S。因此，等式1被满足。

图13A到13C是显示根据本发明实施例的在光学记录介质中的缺陷管理的方法的流程图。

参照图13A，首先，备用区被重新分配到盘的预定区或现存的备用区被扩大(操作步骤131)。即，当存在于盘中的全部备用区被用完或者在备用区中没有更多空间留下时，新的备用区被分配或者该备用区被扩大。

其后，存在于重新分配的或扩大的备用区中的块的缺陷状态被检查(操作步骤132)。即，通过管理重新分配的或扩大的备用区中的块的缺陷状态，备用区内的具有缺陷或缺陷出现具有高可能性的块未被再次使用。

检验重新分配的或扩大的备用区中的块是否是缺陷块(操作步骤133)。

如果该块不是缺陷块，则执行下一操作步骤，并且如果该块是缺陷块，则检验缺陷块是否具有替换块(操作步骤134)。

如果确认结果指示该缺陷块具有替换块，则指示该缺陷块和替换块不能被使用的缺陷状态信息被记录在盘上(操作步骤135)。换句话说，包括指示用于替换块的每一个的备用区的不可用的块和替换块的缺陷状态信息的缺陷列表项被记录在缺陷列表中。

如果确认结果指示该缺陷块不具有替换块，则指示该缺陷块不能被使用的缺陷状态信息被记录在盘上(操作步骤136)。如之前所述，包括指示用于缺陷块的备用区的不可用的块的缺陷状态信息被记录在缺陷列表中。

下面，参照图13B，在操作步骤137中，检验重新分配的或扩大的备用区内的块是否具有缺陷的可能性。

如果确定该块不具有缺陷的可能性，则操作步骤□被执行。

当该块具有缺陷的可能性时，确定是否检验实际物理地址中的块(操作步骤138)。换句话说，确定是否根据规则检验可能的缺陷块。

当设置不需要检验可能的缺陷块的规则时，根据驱动器制造商或用户的选择指示可以或不可以被使用的替换块的缺陷状态信息被写在该盘上(操作步骤143)。

当设置根据可能的缺陷该块的确认结果登记缺陷状态信息的规则时，实际物理地址中的可能的缺陷块被检验(操作步骤139)。

在根据确认结果确定是否发现缺陷之后(操作步骤140)，如果确定有缺陷，则包括指示不可用的替换块的缺陷状态信息的缺陷列表项被写在盘上(操作步骤141)。

如果根据确认结果确定没有发现缺陷，则包括指示可用的替换块的缺陷状态信息的缺陷列表项被写在盘上(操作步骤142)。

接下来，参照图13C，该方法移动到操作步骤144。

检查扩大的或重新分配的备用区内的块是否具有缺陷状态信息(即，扩大的或重新分配的备用区内的块是否具有缺陷列表项)。如果该块不具有缺陷列表项，则包括指示可用的替换块的缺陷状态信息的缺陷列表项被写在盘上(操作步骤144)。

图14是显示根据本发明实施例的一次记录存储介质中的缺陷管理的方法的流程图。

参照图14，确定扩大的或重新分配的备用区内的块是否已被使用(操作步骤151)。

如果确认结果指示该块已被使用，则包括指示不可用的替换块的缺陷状态信息的缺陷列表项被写在盘上(操作步骤152)。

如果确认结果指示该块还未被使用，则包括指示可用的替换块的缺陷状态信息的缺陷列表项被写在盘上(操作步骤153)。

将被参照图15到19描述根据本发明另一实施例的处理缺陷列表项的方法。

图15A和15B是描述根据本发明另一实施例的处理重新分配的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图。

图15A是显示其中仅备用区#1在初始化时被分配和被使用的单记录层盘中的数据块的状态的示图，并且图15B是显示在具有在使用该盘时其中分配的备用区#2的盘中的备用区#2中包括的块的处理的状态信息的示图。

图15A与图9A相同，并且除了位于备用区#1中的替换块②，图15B类似于图9B。

参照图15B，指示备用区#2中的块①是备用区的不可用的块的缺陷列表项和指示备用区#2中的块③是备用区的不可用的块的缺陷列表项被分别登记，并且指示备用区#1中的块②是备用区的可用的块的缺陷列表项被登记。即，因为块①和③是具有缺陷的缺陷块所以它们被指示为不可用的块，但是块②由于其不具有缺陷所以被指示为可用的块。

在本实施例中，在备用区#2被重新分配之后，考虑到备用区的使用方向，备用区#1中的替换块②被登记为指示其为备用区的不可用的块的缺陷列表项。然而，在本实施例中，即使块的顺序与备用区的使用方向不相符，替换块②也可被登记为指示其为备用区的可用的块的缺陷列表项，以便通过使用因为在它们中没有缺陷所以为可用的块来不浪费备用区的任何空间地使用盘。

图16A和16B是用于描述根据本发明另一实施例的处理扩大的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图。

图16A是显示在其中备用区#1和#2在初始化时被分配并且被使用的单记录层盘中的数据块的状态的示图，并且图16B是显示当在使用该盘时备用区#2需要被扩大时包括在扩大的备用区#2中的块的已处理的状态信息的示图。

图16A与图10A相同，并且除了替换块⑥之外，图16B类似于图10B。

参照图16B，指示备用区#2中的块⑤是备用区的不可用的块的缺陷列表项和指示备用区#2中的块⑦是备用区的不可用的块的缺陷列表项被分别登记，并且指示在被扩大之前的备用区#2中的块⑥是备用区的可用的块的缺陷列表项被登记。即，因为块⑤和⑦具有缺陷所以它们被指示为不可用的块，但是块⑥因为其不具有缺陷所以被指示为可用的块。

在本实施例中，在备用区#2被扩大之后，考虑到备用区的使用方向，替换块⑥被登记为指示其为备用区的不可用的块的缺陷列表项。然而，在本实施例中，替换块②也可被登记为指示其为备用区的可用的块的缺陷列表项。因此，即使块与备用区的使用方向不相符，可通过使用因为在它们中没有缺陷所以为可用的块来不浪费备用区的任何空间地使用该盘。

图17A和17B是用于描述根据本发明另一实施例的改变重新分配的或扩大的备用区内的块的列表项的参考图。

图17A和17B显示了在图15A到16B中描述的情况中的缺陷列表项的改变的状态。在图17A中示出的在扩大或重新分配备用区之前的缺陷列表项是指示在图15A或16A中显示的在扩大或重新分配备用区之前的块的状态信息的缺陷列表项。在图17B中示出的在扩大或重新分配块之后的缺陷列表项是指示在图15B或16B中显示的扩大或重新分配备用区之后的块的状态信息的缺陷列表项。

除了替换块②之外，图17A和17B类似于根据本发明实施例的图11A和11B中显示的那些情况，可以看出替换块②的状态信息根据本发明实施例而变化。

本实施例的一方面在于使备用区的替换块变为重新分配的或扩大的备用区中的可用的块。参照图17B，替换块②的状态信息被登记为“4”。即，指示替换块②是可用的块的状态信息被包含在替换块②的缺陷列表项中。

图18是根据本发明另一实施例恰好在放大或重新分配备用区之后的缺陷列表头的数据的状态的示图。即，根据本发明实施例，在放大或重新分配备用区之后的缺陷列表头120的更新在图18中被显示。

参照类似于图12的图18，可以看出仅图12B中显示的可用的备用块的数量124和不可用的备用块的数量125不同于图18B中显示的可用的备用块的数量124和不可用的备用块的数量125。即，在本实施例中，不能使用替换块②的块被指示，但是在本实施例中，能使用替换块②的块被指示。因此，仅涉及此改变的部分被改变。更具体地说，可用的备用块的数量124与图12B的可用的备用块的数量124相比较增加一并且因此S-1被登记，并且不可用的备用块的数量125与图12B的不可用的备用块的数量125相比较减少一并且因此“2”被登记。

图19是显示根据本发明另一实施例的缺陷管理的方法流程图。与图13A相比较，仅处理替换重新分配的或扩大的备用区中的缺陷块的替换块的部分不同。

参照图19，首先，备用区被重新分配到盘的预定区或现存的备用区被扩大(操作步骤191)。即，当存在于盘中的全部备用区被用完或者在备用区中没有更多空间留下时，新的备用区被分配或者备用区被扩大。

其后，存在于重新分配的或扩大的备用区中的块的缺陷状态被检查(操作步骤192)。即，通过管理重新分配的或扩大的备用区中的块的缺陷状态，备用区内的具有缺陷或缺陷出现的高可能性的块未被再次使用。

其后，检验重新分配的或扩大的备用区内的块是否是缺陷块(操作步骤193)。

如果该块不是缺陷块，则执行下一操作步骤，并且如果该块是缺陷块，则检验缺陷块是否具有替换块(操作步骤194)。

如果确认结果指示该缺陷块不具有替换块，则指示该缺陷块是不可用的替换块的缺陷状态信息被记录在盘上(操作步骤196)。换句话说，包括指示用于缺陷块的备用区的不可用的块的缺陷状态信息的缺陷列表项被记录在缺陷列表中。

如果确认结果指示该缺陷块具有替换块，则指示替换块是可用的替换块的缺陷状态信息被记录在盘上(操作步骤195)。其后，指示该缺陷块是不可用的替换块的缺陷状态信息被记录在盘上(操作步骤196)。

在本发明实施例中，决定重新分配的或扩大的备用区中的缺陷块或替换块。然而，如果块满足等式1，则对备用区的可用的或不可用的块的决定可根据驱动系统的规则或制造商的不同而被改变。根据本发明的另一实施例考虑了此情况。

即，为了满足等式1，当在使用盘时由于扩大备用区或分配限定备用区而导致缺陷列表需要更新时，关于在使用该盘时扩大的或重新分配的备用区内的缺陷块和替换块，指示该缺陷块或替换块是用于替换的可用的块的缺陷列表项或指示该缺陷块或替换块是用于替换的不可用的块的缺陷列表项被登记。

即，当具有替换块的缺陷块的物理地址位于扩大的或重新分配的备用区内时，指示该缺陷块是用于替换的可用的或不可用的块的缺陷列表项被登记。而且，指示该缺陷块是用于替换的可用的或不可用的块的缺陷列表项被登记。

当不具有替换块的缺陷块的物理地址位于扩大的或重新分配的备用区内时，指示该缺陷块是用于替换的可用的或不可用的块的缺陷列表项被登记。

当可能的缺陷块的物理地址位于扩大的或重新分配的备用区内时，指示该缺陷块是用于替换的可用的或不可用的块的缺陷列表项被登记。

图20A和20B是用于描述根据本发明另一实施例的处理重新分配的备用区内的块的缺陷列表项的方法的参考图。

图20A是显示其中仅备用区#1在初始化时被分配和被使用的单记录层盘中的数据块的状态的示图。图20B是显示在具有在使用该盘时分配在其中的备用区#2的盘中的备用区#2中包括的块的已处理的状态信息的示图。

图20A与图15A相同。

参照图20B，根据预定规则，为了使全部块，即备用区#1中的块②和备用区#2中的块①、③和④可用或不可用，全部块被登记为指示它们是备用区的可用的或不可用的块的缺陷列表项。

图21是显示根据本发明另一实施例的可记录光学记录介质的缺陷管理的方法的流程图。

参照图21，首先，备用区被重新分配到盘的预定区或现存的备用区被扩大(操作步骤211)。即，当存在于盘中的全部备用区被用完或者在备用区中没有更多空间留下时，新的备用区被分配或者备用区被扩大。

其后，存在于重新分配的或扩大的备用区中的块的缺陷状态被检查(操作步骤212)。即，通过管理重新分配的或扩大的备用区中的块的缺陷状态，备用区内的具有缺陷或缺陷出现的高可能性的块未被再次使用。

其后，检验重新分配的或扩大的备用区内的块是否是缺陷块(操作步骤213)。

如果该块是缺陷块，则检验缺陷块是否具有替换块(操作步骤214)。

如果确认结果指示该缺陷块不具有替换块，则根据预定规则，指示该缺陷块是可用的或不可用的替换块的缺陷状态信息被记录在盘上(操作步骤216)。换句话说，根据预定规则，包括指示备用区的可用的或不可用的块的缺陷状态信息的缺陷列表项被记录在缺陷列表中。

如果确认结果指示该缺陷块具有替换块，则根据预定规则，指示替换块是可用的或不可用的块的缺陷状态信息被记录在盘上(操作步骤215)。其后，关于该缺陷块，关于缺陷块，根据预定规则，指示该缺陷块是可用的或不可用的替换块的缺陷状态信息被记录在盘上(操作步骤216)。

如果确定重新分配的或扩大的备用区中的块是缺陷块，则在操作步骤217中，确定该块是否有缺陷的可能。

当确定该块有缺陷的可能时，根据预定规则，指示块是可用的或不可用的替换块的缺陷状态信息被记录在盘上(操作步骤218)。

图22是根据本发明实施例的处理用于改善驱动器性能的缺陷列表项的示例性方法的示图。

参照图22，当即使备用区被扩大或重新分配之后具有替换块的缺陷块和/或不具有替换块的缺陷块和可能的缺陷块在用户数据区内时，当前状态被保持而不改变该缺陷列表项。

而且，因为备用区被扩大或者新备用区被分配，所以在扩大该备用区或重新分配备用区之前的备用区中的替换块不能存在于在扩大或重新分配备用区之后的用户数据区中。

当在扩大该备用区或重新分配备用区之前具有替换块的缺陷块被包括在扩大或重新分配备用区之后的备用区中时，优选地但不必须地是，将缺陷列表项改变为指示该缺陷块是可用的替换块的缺陷列表项。

在替换块被包括在扩大或重新分配备用区之后的备用区中的情况下，当与替换块相应的缺陷块位于该备用区被扩大或重新分配之后的备用区中时，优选但不必须登记指示替换块是可用的替换块的缺陷列表项。由于替换块可不再起到缺陷块的替换块的作用，所以这是优选但不必须的，并且以这种方式，替换块被用于替换另一缺陷块。

在扩大备用区或重新分配备用区之前的替换块被包括在扩大或重新分配备用区之后的备用区中的情况下，当与替换块相应的缺陷块位于备用区被扩大或重新分配之后的用户数据区中时，优选地但不必须地是，关于替换块的缺陷列表项保持在与扩大或重新分配备用区之前相同的状态。由于与替换块相应的缺陷块位于备用区被扩大或重新分配之后的用户数据区中，所以优选地但不必须地是，因为替换块是替换缺陷块的有效块所以以当前状态保持缺陷列表项。

当在扩大或重新分配备用区之前的不具有替换块的缺陷列表项的缺陷块被包括在扩大或重新分配备用区之后的备用区中时，优选地但不必须地是，登记指示该缺陷块是不可用的替换块的缺陷列表项。

当在扩大该备用区或重新分配备用区之前的具有缺陷可能的缺陷列表项的缺陷块被包括在扩大或重新分配备用区之后的备用区中时，优选地但不必须地是，登记指示该缺陷块是不可用的替换块的缺陷列表项。

迄今为止，处理扩大的或重新分配的可重写信息存储介质中的备用区内的缺陷列表项的方法已被描述。然而，如果该方法被应用于一次写入的信息存储介质，则由于不能被覆盖写入的一次写入的信息存储介质而导致已经写入扩大的或重新分配的备用区中的全部块需要被登记为用于备用区的不可用的块的缺陷列表项(状态信息“5”)。

根据本发明的一方面，通过管理扩大的或重新分配的备用区中的块的缺陷状态信息，驱动系统的不必需的操作步骤可被防止，并且因此改上驱动系统的效率。

该缺陷管理的方法也可被实施为计算机可读记录介质上的计算机可读代码。该计算机可读记录介质是可存储其后可有计算机系统读取的数据的任一数据存储装置。计算机可读记录介质的例子包括只读存储器(ROM)、随机访问存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘、光学数据存储装置、和载波(诸如通过互联网的数据传输)。计算机可读记录介质还可分布在通过计算机系统连接的网络上，从而计算机可读代码被存储并且以分发的方式被执行。而且，用于完成缺陷管理的方法的功能程序、代码和代码片段可被本发明所属的本领域的程序员容易地解释。

尽管本发明的一些实施例已被示出和描述，本领域技术人员将会理解，在不脱离本发明的原理和实质的情况下可对实施例进行改变，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。实施例应被认为用于描述而非限制。因此，本发明的范围不是由本发明的描述限定，而是由所附权利要求限定，并且该范围内的全部差别将被解释为包括在本发明中。

Claims (1)

1.一种管理信息存储介质上的缺陷的方法，包括：

当与第一缺陷列表项相应的块存在于扩大的或新分配的备用区中时获得第二缺陷列表项，

其中，第一缺陷列表项包括指示该块是具有替换块的缺陷块的状态信息、指示该块的位置的第一信息和指示替换块的位置的第二信息，以及

第二缺陷列表项包括指示该块是不可用于替换另一缺陷块的块的状态信息和指示作为替换块的位置的块的位置的第二信息。

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