CN101154207A - 一种微控制器配置接口操作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明一种微控制器的配置接口操作方法,包括以下步骤:当测试端口输入高电平时,从通用输入输出端口输入串行时钟和串行数据;将输入的串行数据与内部定义好的操作方法代码比较;根据比较结果进入相应的操作方法。本发明还包括功能测试操作方法、直流参数测试操作方法、数模转换测试操作方法、程序存储器的测试操作方法、并行编程模式操作方法、串行编程模式操作方法。本发明配置接口操作方法可以进行扩展,可以进入更多的测试操作方法和工作操作方法,使得芯片进入各种测试或工作操作方法更加简单。
Description
技术领域
本发明涉及微控制器领域,特别是关于一种配置接口操作方法。
背景技术
20世纪80年代以来,随着计算机嵌入式系统的广泛应用,微控制器(MCU,microcontroller unit)得到了飞速的发展。早期的单片机是按照嵌入式应用技术要求设计的计算机的单芯片化集成电路器件,也就是电子计算机的全部特性器件都集成到一片芯片上,故被形象的称为单片机。随后,单片机为满足嵌入式应用要求,不断增强其控制功能和外围接口功能,使得单片机在这两方面得研发显得由为重要。
近年来,微控制器的程序存储器结构获得了广泛的普及。虽然现在程序存储器可以选择的种类很多,比如掩模类(Mask),电可擦除存储器(EEPROM),快闪存储器(Flash)。对于微控制器应该采用什么样的程序存储器有很多不同的看法,但是基本上是基于以下几个方面考虑:(1)程序存储器的容量,以最小的存储器容量,以达到完全实现微控制器的功能;(2)程序存储器的结构,可编程的程序存储器或者不可编程的结构,根据芯片的应用领域;(3)程序存储器的价格,根据芯片价格的定位来选择。
现在有很多公司生产内嵌可编程的程序存储器的微控制器,如东芝半导体(Toshiba)、摩托罗拉(Motorola)、日本电气(NEC)、日立(Hitachi)、微芯(Microchip)等。虽然这些公司的产品都具备程序存储器普通编程和加密编程操作方法等功能,但是这些产品当中大多数产品没有将程序存储器配置接口电路设计成进入测试操作方法的通路,而是通过单独的测试模块来设计的。
发明内容
本发明的目的在于提供一种微控制器配置接口操作方法,通过配置接口电路,解决了芯片测试操作方法兼容性问题,节省了电路面积,使得测试更加简单,同时也使得芯片的可测性设计更加合理。
本发明是通过以下技术方法实现的:一种微控制器的配置接口操作方法,包括如下步骤:当测试端口输入高电平时,从通用输入/输出端口输入串行时钟和串行数据;将输入的串行数据与内部定义好的操作方法代码比较;根据比较结果进入相应的操作方法。
其中,所述的微控制器的配置接口操作方法进一步包括:
a、串行数据经过移位寄存器,直到移位完毕保存在寄存器组里;
b、一次串行传输完毕产生一个移位完毕信号;
c、寄存器组里的数据将与内部定义好的操作方法代码,输入到比较器进行比较;
d、比较后选择一种操作方法使能信号,进入相对应的操作方法。
上述的操作方法包括但不仅限于:功能测试操作方法、直流参数测试操作方法、数模转换测试操作方法、程序存储器的测试操作方法、并行编程模式操作方法、串行编程模式操作方法。
所述的功能测试操作方法还包括以下步骤:
a、进入功能测试操作方法之后,外部需要输入复位信号,使得配置接口部分电路复位;
b、由外部时钟信号根据指令周期,从端口并行输入程序到寄存器组,然后根据时钟将寄存器组的数据作为程序输出到指令寄存器,使得MCU根据程序运行。
所述的直流参数测试操作方法还包括以下步骤:
a、进入直流参数测试操作方法之后,所有输入/输出端口将自动设置为输出端口;
b、同时根据时钟,由芯片内部的有限状态机,控制芯片的所有的输入输出端口输出高电平和低电平;
c、从而使外部机台测得芯片的输出高低电平,输出电流,漏电流等直流参数。
所述的模数转换测试操作方法还包括以下步骤:
a、通过输入/输出端口对芯片内部的模数转换模块进行控制;
b、包括模数转换的启动信号,时钟信号;
c、转换结束的信号和转换结果直接由端口输出。
所述的程序存储器的测试操作方法还包括以下步骤:
a、在该模式下芯片的部分特定输入/输出端口复用为程序存储器测试用的管脚;
b、在该模式下程序存储器输入的代码不进行加密处理;
c、根据程序存储器本身测试模式的配置要求,完成程序存储器的测试。
所述的并行编程模式的操作方法还包括以下步骤:
a、在该模式下的编程为加密编程;
b、在该模式下芯片的部分特定输入/输出端口复用为程序存储器并行编程用的管脚;
c、根据程序存储器本身编程的配置要求,完成程序存储器的并行编程。
所述的并行加密编程模式的操作方法还包括普通用户模式和高级用户模式,步骤如下:
a、从通用输入/输出端口输入串行时钟和串行数据;
b、将输入的串行数据与内部定义好的操作方法代码比较;
c、根据比较结果进入高级用户模式,而普通用户只需在进入并行编程模式后,输入8个脉冲信号即可进入该模式;
d、高级用户可以访问程序存储器的所有内容,编程过程中,地址线不进行加密处理;
e、普通用户可以通过芯片外部管脚,对内部程序存储器的用户存储区控制,进行编程,校验,及擦除操作。
所述的串行编程模式的操作方法还包括以下步骤:
a、在该模式下芯片的几个特定输入输出端口复用为程序存储器串行编程用的管脚;
b、根据程序存储器本身编程的配置要求,完成程序存储器的串行编程。所述的串行编程模式的编程操作方法还包括以下操作命令:
a、编程命令,对用户代码进行编程,操作过程中不进行校验;
b、编程校验命令,对用户代码进行编程,并在每行编程完成后,进行编程正确与否校验,从输入输出端口送出结果;
c、全部擦除命令,将存储用户程序代码和用户密码区全部擦除;
d、页面擦除命令,擦除程序存储器中某个页面(256字节);
c、数据读出命令,通过数据输出端口,依次读出整个程序存储器的数据;
d、校验命令,芯片内部对存储用户程序的进行CRC-16数据校验,计算出16位CRC校验码,通过数据输出端口送出;
e、芯片标识读取命令,依次送出芯片的ID标识信息;
f、用户标识的编程;
g、用户标识读取命令,依次送出用户设定的ID标识信息;
h、加密编程,需要首先将用户的密码写入程序存储器,密码行编程完成后,芯片反馈编程成功的标志字,密码编程校验完成后,可以继续输入用户的代码行,进行编程;
i、加密编程后的程序存储器,在下次进入编程模式后,不能进行编程和页擦除,及数据的读出操作,可以进行全部擦除,校验操作,用户标识的读取和芯片标识的读取。
本发明一种微控制器的配置接口操作方法,其操作方法包括程序存储器接口配置操作方法和测试接口配置操作方法。微控制器是通过读取程序存储器的程序,使得芯片正常工作,来达到对外围电路进行控制的目的。本发明通过对微控制器串行传输数据,可以实现控制微控制器进入相应的操作方法,以方便的进行芯片内嵌程序存储器的串并行编程操作、校验操作和各种测试操作。编程操作方法分为普通编程操作方法和加密编程操作方法。普通编程操作方法下可以通过校验操作方法,将内部程序正常读取。加密编程操作方法,在校验时无法将内部程序正常读取,以达到保护程序的目的。测试操作方法包括功能测试操作方法、模数转换测试操作方法、芯片直流参数测试操作方法。功能测试操作方法可以通过外挂只读存储器的工作方式,使得微控制器进行功能测试。模数转换测试操作方法,是进行模数转换测试。直流参数测试操作方法是对芯片进行直流参数测试的一种操作方法。本发明配置接口操作方法可以进行扩展,可以进入更多的测试操作方法和工作操作方法,使得芯片进入各种测试或工作操作方法更加简单。
附图说明
图1是本发明的配置接口示意图;
图2是本发明产生操作方法使能信号示意图;
图3是并行编程模式配置图;
图4是在nuser(普通用户)模式下的管脚信号图;
图5是在suser模式下的管脚信号图;
图6是串行编程模式基本流图;
图7是模式匹配字的输入波形图。
具体实施方式
本发明所涉及到的程序存储器接口配置操作方法包括普通编程操作方法,加密编程操作方法,程序校验方法,程序读取方法,程序擦除方法,控制实现方式有串行和并行编程两种方式。其测试接口配置操作方法包括功能测试操作方法、模数转换测试操作方法、直流参数测试操作方法。操作方法包括程序存储器接口配置操作方法和测试接口配置方法设计在一个模块,使得电路内部模块划分合理,电路外部操作简单,通过外部串行相应的数据,使之进入相应的配置模式,比如编程模式,就可以按照规定的编程协议,对微控制器的程序存储器电路进行编程。程序存储器接口配置操作方法包括普通编程操作方法,加密编程操作方法,程序校验方法,程序读取方法,程序擦除方法。这些操作方法都是对程序存储器模块电路,包括程序存储器编程、校验、读取、擦除等方法。测试接口配置方法包括功能测试操作方法、模数转换测试操作方法、直流参数测试操作方法。这些操作方法都是对微控制器芯片性能和功能测试的方法。普通编程操作方法,该操作方法编程下的程序存储器程序,可以通过程序校验方法从输入输出接口读取;该操作方法下的程序存储器程序可以正常读取,使得微控制器正常工作,实现控制外部电路的目的。加密编程操作方法,该操作方法编程下的程序存储器程序,无法通过程序校验方法从输入输出接口读取;该操作方法下的程序存储器程序可以正常读取,使得微控制器正常工作,实现控制外部电路的目的。校验操作方法,该操作方法将通过普通编程方法写入的程序存储器数据从输入输出接口读取,通过加密编程模式写入的程序存储器数据无法从输入输出接口读取;校验方法主要提供检验编程是否正确。读取操作方法,该方法是微控制器在正常工作时,读取程序存储器。擦除操作方法,该方法使微控制器在正常工作时,擦除程序存储器。
功能测试操作方法,这种操作方法可以从通用输入输出接口并行输入程序,进行功能测试。模数转换测试操作方法,这种操作方法是通过配置接口,进行模数转换测试,只需通过输入输出接口加模数转换的启动信号,模数转换完毕将从端口并行输出模数转换的结果。直流测试操作方法,这种操作方法是通过配置接口,可以对微控制器进行直流参数测试。
本发明是一种基于微控制器配置接口操作方法,进入各种操作方法的输入端口简单,只需要2个端口:串行时钟和串行数据,当串行的数据和内部硬件已经定义好的操作方法一致,就可以进入该操作方法。串行的数据可以根据设计来定义,所以具有很强的移植性。同时,由于数据是串行数据,所以可以继续扩张更多的操作方法,即具有很强的可扩展性。
在微控制器芯片领域,大多数芯片的可测性要么没有设计;要么设计的及其复杂,结构繁琐,运行效率较低,可测性的扩展较差,难以满足用户需求和本身芯片测试的要求。为提高微控制器可测性,简化设计并使其具有可扩展性,以简单的电路结构来实现,本发明提供一种可靠的而有效的设计方法,完全可以满足微控制器的各种测试要求。
下面结合附图详细描述与配置接口操作方法功能特征相关的硬件细节。
本发明是在相关芯片经过配置接口,实现微控制器各种操作模式的一种方法。主要包括测试接口配置操作方法和程序存储器操作方法。
如图1所示,配置接口包括测试操作接口和存储器接口,存储器接口是存储器和CPU、存储器和输入输出端口连接枢纽,测试操作接口是CPU和输入输出端口测试操作模式的连接枢纽。输入输出端口可以通过配置接口,使得CPU进入测试模式,也可以使得存储器进入串行或并行编程等模式。
如图2所示,当测试端口1输入高电平时,对应的2个端口:串行时钟2和串行数据3,通过微控制器(MCU)端口电路,进入到配置接口模块。串行的数据经过移位寄存器,直到移位完毕保存在特定的寄存器组里,同时产生一个移位完毕信号4,表示一次串行传输完毕。这些寄存器组里的数据将与内部定义好的操作方法代码,输入到一个比较器进行比较,并且选择一种操作方法使能信号5,进入相对应的操作方法。
比如设计定义进入编程操作方法的操作方法代码为16’h1010,那么串行输入的数据也为16’h1010,等待串行传输数据完毕,那么这两串数据匹配,于是就进入编程操作方法。这些操作方法代码可以根据设计和用户的实际需求,进行调整修改,操作方法代码具备可扩展性和可移植性。
测试接口配置操作方法主要有以下四种:
a.功能测试方法
功能测试包括指令集和各外围模块的测试。在功能测试时,通过输入端口输入指令,节省了烧写/擦除程序存储器的时间,并且测试用的patten的长度不受限制;对外围模块较慢的源时钟,改为使用预分频级数少的时钟,以加快测试时间。
b.直流参数测试方法
在直流参数测试过程中,由芯片内部的有限状态机,控制芯片的所有的输入输出端口输出高低电平;从而使外部机台测得芯片的输出高低电平,输出电流,漏电流等直流参数。
c.模数转换模块测试方法
在测试时,直接通过输入输出端口对芯片内部的模数转换模块进行控制。包括模数转换的启动信号,时钟信号;转换结束的信号和转换结果直接由端口送出。
d.程序存储器测试方法
主要针对芯片内部程序存储器的wafer test。在该模式下,芯片的几个特定输入输出端口复用为程序存储器测试用的管脚。根据程序存储器本身测试模式的要求,完成程序存储器的测试。在该模式下,程序存储器内部代码不进行加密处理。这样可以保证在晶园测试时输入的数据与程序存储器内部存储的数据一致,同时由于芯片在正常编程时进行了加密处理,可以保证不会在程序存储器的测试模式下由管脚读出真正的程序。
程序存储器的编程接口的设计规格,包括并行接口和异步串行接口两种模式。并行接口模式下,程序存储器编程所使用的控制信号,与芯片本身的输入输出端口复用,地址和数据线也是并行存取。串行模式下,采用UART端口作为编程接口,由芯片内部的BOOT程序进行数据的读出和写入,完成编程。串行模式下,编程控制器只需要控制芯片的复位管脚,测试管脚和两个复用为UART端口的输入输出端口,可以实现在系统编程ISP。
为保护程序存储器的内部代码,对内部程序存储器的地址线和数据线接口进行加密。芯片通过内部硬件电路加密算法,对数据线进行加密,解密;同时允许用户设定最长7个字节的密码,对地址线进行加密,加密后的用户代码,在程序存储器中的存储顺序被随机打乱,不能由芯片管脚直接对内部程序存储器进行访问,也无法通过芯片内部的程序存储器管脚读出可识别的程序代码。保证了用户进行加密编程后,程序存储器代码的安全性。加密编程,需要在编程前,首先将用户密码写入到内部程序存储器,由boot程序计算出加密用数据,对地址线进行加密。
数据线的加密由芯片电路自行完成;地址线的加密,由用户设定密码。用户选择加密编程后,芯片内部会在特定存储单元置标志字0x5A(即bit7,5,2,0共四位为零),说明用户设定的password有效。
加密后的程序存储器,无法通过芯片外部管脚进行读写,在重新编程前,必须将整个程序存储器进行擦除,擦除包括用户程序代码区和password存储区两部分。
e.程序存储器并行编程方法
并行编程模式,主要用于芯片在专用烧录器上进行编程。芯片在shipping之前,内嵌的boot程序也是通过并行编程模式完成,可以在wafer阶段或封装后进行。
芯片的特定端口P47~P40做为程序存储器的数据端口,P37~P30做为地址输入端,分时输入地址线XA[9:2]和{XA[1:0],YA[5:0]}的高低字节,并由XALD和YALD的上升沿进行锁存。
并行模式下的管脚配置如图3。
并行模式下,程序存储器的加密编程,需要首先对密码区进行编程,写入7个字节的password,和一个字节的加密标志字0X5A。输入的地址依次时0X8000~0X8007,其中0X80000存储password的高字节,依次类推,0X8007存储加密标志字0X5A。
程序存储器在进行加密编程后,可以读出数据(包括用户程序区和password区)进行校验。但在芯片断电后,变无法读取程序存储器的内容。直到擦除后,才能重复以上操作。
加密后的程序存储器,可以读取用户ID和芯片ID。
附管脚信号说明:
请参阅图4,CHKLD:该信号平时为低电平,进入用户的并行编程模式后, 输入脉冲信号,CPU芯片利用该信号的上升沿,进行用户password存储区的读取, 共计8个脉冲信号。如果该管脚给出的脉冲数目不对,则无法对内部程序存储器访问,不能编程和读取。
芯片进行加密编程时,在密码编写完毕后,同样需要再次输入8个脉冲信号触发芯片的加密编程操作。
进入nuser(普通用户)通过芯片外部管脚,对内部程序存储器储区控制,进行编程或其它操作。
请参阅图5,FCTLD,FCTLC:分别作为芯片内部程序存储器数据和时钟信号。进入并行编程模式后,再由FCTLC管脚输入同步时钟信号,FCTLD管脚输入模式字0x965A,芯片在FCTLC的上升沿,进行采样。输入完毕后,如果模式字正确,则进入对内部程序存储器的内嵌boot程序区的控制状态。并且在FCTLC管脚的第16个脉冲上升沿时,管脚R47~R40,R37~R30的数值应该为16’hAD63。
进入suser模式后,可以访问Flash的boot程序存储区。suser模式的进入,不需要CHKLD信号的配合,编程过程中,地址线不进行加密处理。
f.程序存储器串行编程方法
芯片和外围控制电路之间的通信波特率,可以进行选择设定。但在通信初期,双方遵守缺省的波特率9600bps,boot程序可以根据接收到的数据位序列对芯片所使用的振荡器频率进行判断。两者握手后,上层软件可以在规格声明的波特率中进行选择,然后使用新设定的波特率进行通讯。
串行编程模式基本流程如图6。
(1)编程命令,对用户代码进行编程,操作过程中不进行校验。以H16(intel 16进制)格式输入编程数据文件。芯片以行为单位进行数据的接收与编程。行接收完成后,根据接收结果反馈相应的标志字,用户可以判断数据传输正确与否。其中出错码0x9D表示接收到的数据校验出错,0xAB表示帧错误,0xAC表示接收过程中出现数据溢出的错误。芯片内部根据接收到的当前行信息判断需要编程的字节数,以及是否需要继续编程。
关于H16文件格式,简单描述如下表所示:
开始 | 字节数(8位) | 地址(16位) | record(8位) | 数据 | 校验和(8位) |
: | C | A | R | d1~d15 | S |
每行有开始标志“:”,其ASCII码为0x3A,之后依次是当前行数据字节个数,该行的逻辑地址,记录类型,代码数据,该行的校验和。其中记录类型有0x00和0x01两种数据,0x00表示当前行为用户代码,0x01表示该行是用户代码文件的最后一行,并且该行不包括用户代码。芯片在接收到记录类型为0x01的行后,编程操作结束。校验和是该行中除开始标志外的所有8位数据相加后,结果取反加1得到。程序代码行示例如下:
:10C000000A354E0A2A00E107784064A5D9184B008A文件结束行示例如下:
:00000001FF
(2)编程/校验命令,对用户代码进行编程,并在每行编程完成后,进行编程正确与否校验,送出校验结果。编程方式同前面的编程命令。
(3)全部擦除命令,将存储用户程序代码的整个程序存储器和用户的password全部擦除。擦除完成后,返回标志。
(4)页面擦除命令,供编程器在编程,或编写用户密码过程中,擦除程序存储器的某个页面(256字节),进行编程数据的修改。对在本次编程前,已经加密的芯片,该命令操作无效。
(5)数据读出命令,通过UART的数据输出端P11管脚,依次读出整个程序存储器的数据。读出顺序由程序存储器的第一个字节开始,直到最后一个字节。UART的通信波特率,根据用户的设定进行。
(6)校验命令,芯片内部对存储用户程序的整个程序存储器进行CRC-16数据校验,计算出16位CRC校验码,通过UART送出,依次是低字节和高字节。计算校验码所采用的多项表达式是“X16+X12+X5+1”。
(7)芯片标识读取命令,依次送出芯片的ID标识信息。ID信息包括芯片的版本号,ROM类型,校验和。
(8)用户标识读取命令,依次送出用户设定的ID标识信息。该ID信息共16个字节,全部读出,并在最后送出校验和字节。共计17个字节。用户标识主要供用户记录其产品信息使用。
(9)非法命令,除以上有效命令字之外的其它命令字,编程模式不支持。
(10)对加密编程,需要首先将用户的密码写入flash。密码的写入方式与普通数据编程方式相同。以H16格式输入,只是行地址为0x0000。密码行编程完成后,芯片反馈编程成功与否的标志字,成功为0x86,否则为0x9E。密码编程校验完成后,可以继续输入用户的代码行,进行编程,直到输入结束行。
(11)加密编程后的flash,在下次进入编程模式后,不能进行编程和页擦除,及数据的读出操作,可以进行全部擦除,校验操作,用户标识的读取和芯片标识的读取。
(12)用户标识的编程,写入方式与普通数据编程方式相同。以H16格式输入,只是行地址为0x0010。编程完成后,芯片反馈编程成功与否的标志字,成功为0x86,否则为0x9E。之后可以继续输入用户的代码行,进行编程,直到输入结束行。
模式匹配字的输入波形图如图7所示:
芯片接收到模式匹配字后,以9600bps的波特率,由P11/TXD管脚反馈模式匹配字。
接收到芯片反馈的模式匹配字后,用户可以设定新的通信波特率,可供选择的通信波特率列表如下:
选择码 | 0x15 | 0x27 | 0x38 | 0x49 | 0x5A | 0x6B |
波特率(bps) | 4800 | 9600 | 19200 | 38400 | 31250 | 62500 |
以上介绍的仅仅是基于本发明的几个较佳实施例,并不能以此来限定本发明的范围。任何对本发明的装置作本技术领域内熟知的部件的替换、组合、分立,以及对本发明实施步骤作本技术领域内熟知的等同改变或替换均不超出本发明的揭露以及保护范围。
Claims (11)
1.一种微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,包括如下步骤:当测试端口输入高电平时,从通用输入/输出端口输入串行时钟和串行数据;将输入的串行数据与内部定义好的操作方法代码比较;根据比较结果进入相应的操作方法。
2.如权利要求1所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的操作方法进一步包括:
a、串行数据经过移位寄存器,直到移位完毕保存在寄存器组里;
b、一次串行传输完毕产生一个移位完毕信号;
c、寄存器组里的数据将与内部定义好的操作方法代码,输入到比较器进行比较;
d、比较后选择一种操作方法使能信号,进入相对应的操作方法。
3.如权利要求1或2所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的操作方法包括但不仅限于:功能测试操作方法、直流参数测试操作方法、数模转换测试操作方法、程序存储器的测试操作方法、并行编程模式操作方法、串行编程模式操作方法。
4.如权利要求3所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的功能测试操作方法还包括以下步骤:
a、进入功能测试操作方法之后,外部需要输入复位信号,使得配置接口部分电路复位;
b、由外部时钟信号根据指令周期,从端口并行输入程序到寄存器组,然后根据时钟将寄存器组的数据作为程序输出到指令寄存器,使得MCU根据程序运行。
5.如权利要求3所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的直流参数测试操作方法还包括以下步骤:
a、进入直流参数测试操作方法之后,所有输入/输出端口将自动设置为输出端口;
b、同时根据时钟,由芯片内部的有限状态机,控制芯片的所有的输入输出端口输出高电平和低电平;
c、从而使外部机台测得芯片的输出高低电平,输出电流,漏电流等直流参数。
6.如权利要求3所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的模数转换测试操作方法还包括以下步骤:
a、通过输入/输出端口对芯片内部的模数转换模块进行控制;
b、包括模数转换的启动信号,时钟信号;
c、转换结束的信号和转换结果直接由端口输出。
7.如权利要求3所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的程序存储器的测试操作方法还包括以下步骤:
a、在该模式下芯片的部分特定输入/输出端口复用为程序存储器测试用的管脚;
b、在该模式下程序存储器输入的代码不进行加密处理;
c、根据程序存储器本身测试模式的配置要求,完成程序存储器的测试。
8.如权利要求3所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的并行编程模式的操作方法还包括以下步骤:
a、在该模式下的编程为加密编程;
b、在该模式下芯片的部分特定输入/输出端口复用为程序存储器并行编程用的管脚;
c、根据程序存储器本身编程的配置要求,完成程序存储器的并行编程。
9.如权利要求8所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的并行加密编程模式的操作方法还包括普通用户模式和高级用户模式,步骤如下:
a、从通用输入/输出端口输入串行时钟和串行数据;
b、将输入的串行数据与内部定义好的操作方法代码比较;
c、根据比较结果进入高级用户模式,而普通用户只需在进入并行编程模式后,输入8个脉冲信号即可进入该模式;
d、高级用户可以访问程序存储器的所有内容,编程过程中,地址线不进行加密处理;
e、普通用户可以通过芯片外部管脚,对内部程序存储器的用户存储区控制,进行编程,校验,及擦除操作。
10.如权利要求3所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的串行编程模式的操作方法还包括以下步骤:
a、在该模式下芯片的几个特定输入输出端口复用为程序存储器串行编程用的管脚;
b、根据程序存储器本身编程的配置要求,完成程序存储器的串行编程。
11.如权利要求10所述的微控制器的配置接口操作方法,其特征在于,所述的串行编程模式的编程操作方法还包括以下操作命令:
a、编程命令,对用户代码进行编程,操作过程中不进行校验;
b、编程校验命令,对用户代码进行编程,并在每行编程完成后,进行编程正确与否校验,从输入输出端口送出结果;
c、全部擦除命令,将存储用户程序代码和用户密码区全部擦除;
d、页面擦除命令,擦除程序存储器中某个页面(256字节);
c、数据读出命令,通过数据输出端口,依次读出整个程序存储器的数据;
d、校验命令,芯片内部对存储用户程序的进行CRC-16数据校验,计算出16位CRC校验码,通过数据输出端口送出;
e、芯片标识读取命令,依次送出芯片的ID标识信息;
f、用户标识的编程;
g、用户标识读取命令,依次送出用户设定的ID标识信息;
h、加密编程,需要首先将用户的密码写入程序存储器,密码行编程完成后,芯片反馈编程成功的标志字,密码编程校验完成后,可以继续输入用户的代码行,进行编程;
i、加密编程后的程序存储器,在下次进入编程模式后,不能进行编程和页擦除,及数据的读出操作,可以进行全部擦除,校验操作,用户标识的读取和芯片标识的读取。
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Open date: 20080402 |