CN101146239A - 一种用户接口厚膜电路测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用户接口厚膜电路测试装置，包括：主控单元，用于在接收到用户接口厚膜电路测试指令后控制通道切换单元、负载单元和信号发生及测试单元；通道切换单元，用于在该主控单元的控制下将被测用户接口厚膜电路的用户侧线切换到与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道；负载单元，用于在该主控单元的控制下为与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道提供测试负载；信号发生及测试单元，用于在该主控单元的控制下根据所述测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路进行测试。本发明还相应地提供一种用户接口厚膜电路测试方法。本发明实现了用户接口厚膜电路的如静态参数、功能及动态性能等的自动化测试，从而大大提高了测试效率。

Description

一种用户接口厚膜电路测试装置及方法

技术领域

本发明涉及电子通信技术领域，尤其涉及一种用户接口厚膜电路测试装置及方法。

背景技术

在程控数字交换机中，SLIC(Subscriber Line Interface Circuit，用户接口电路)是用于实现用户线与交换网络之间的连接。其可以分为两类：模拟用户接口电路和数字用户接口电路。模拟用户接口电路是为了适应模拟用户环境而配置的，而数字用户接口电路是为了适应数字用户环境而设置的。本发明以下提及的用户接口电路为模拟用户接口电路。

目前程控数字交换机用户接口电路广泛采用厚膜电路形式。厚膜电路是集成电路的一种，是指将电阻、电感、电容、半导体元件和互连导线通过印刷、烧成和焊接等工序，在基板上制成的具有一定功能的电路单元。

用户接口厚膜电路的基本功能包括：

(1)调整交换机至电话用户终端方向的模拟信号增益；

(2)调整电话用户终端至交换机方向的模拟信号增益；

(3)向电话用户终端提供恒流馈电；

(4)检测电话用户终端的摘挂机状态。

由于厚膜电路加工工艺和成本的限制，厚膜电路的合格率一直是电子通信技术领域十分关注的问题，可以设置测试系统对厚膜电路进行测试以判断厚膜电路合格与否。所述测试系统的功能主要包括厚膜电路静态参数测试、功能测试和动态性能测试三部分，所述静态参数包括馈电参数等，所述功能包括摘挂机功能，所述动态性能主要包括：用户厚膜电路上/下行语音通路DTMF(Double Tone MultiFrequency，双音多频信号)拨号/收号功能和用户接口厚膜电路上/下行增益调整指标。

中国专利CN91210479提供了厚膜混合集成电路测试装置。该装置采用直流电压方式，提供一个稳定的直流电压、一个可调稳定直流电流以及一个可调负载电阻，通过分别独立的插座，加在被测厚膜混合集成电路的相应引出端进行静态测试。该现有技术提供的测试装置，只能对用户接口厚膜电路的静态特性进行测试，对于动态性能如电路的功能实现及信号增益调整等指标无法测试。

另一种现有技术采用信号发生器及示波器等设备来进行用户接口厚膜电路信号增益调整指标等动态性能的测量，但该技术无法实现自动化测试，测试效率较低。

综上可知，现有的用户接口厚膜电路测试技术，在实际使用上显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。

发明内容

针对上述的缺陷，本发明的第一目的在于提供一种用户接口厚膜电路测试装置，该装置可以自动化测试用户接口厚膜电路的静态参数、功能和动态性能，并且测试效率高。

本发明的第二目的在于提供一种用户接口厚膜电路测试方法，该方法可以自动化测试用户接口厚膜电路的静态参数、功能和动态性能，并且测试效率高。

为了实现上述第一目的，本发明提供一种用户接口厚膜电路测试装置，包括：

主控单元，用于在接收到用户接口厚膜电路测试指令后控制通道切换单元、负载单元和信号发生及测试单元；

通道切换单元，用于在该主控单元的控制下将被测用户接口厚膜电路的用户侧线切换到与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道；

负载单元，用于在该主控单元的控制下为与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道提供测试负载；

信号发生及测试单元，用于在该主控单元的控制下根据所述测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路进行测试。

根据本发明的测量装置，所述用户接口厚膜电路测试指令包括：静态参数测试指令、功能测试指令和/或动态性能测试指令；

所述静态参数测试指令包括：馈电参数测试指令；

所述功能测试指令包括：摘/挂机功能测试指令；

所述动态性能测试指令包括：用户厚膜电路上/下行语音通路拨号/收号功能和用户接口厚膜电路上/下行增益调整指标测试。

根据本发明的测量装置，所述测试通道包括：静态参数测试通道和/或功能及动态性能测试通道；所述功能及动态性能测试通道进一步包括：摘机测试通道和挂机测试通道。

根据本发明的测量装置，所述信号发生及测试单元进一步包括：

第一信号发生及测试单元，位于被测用户接口厚膜电路的交换机侧，用于在主控单元的控制下根据测试通道和测试负载测试上行方向被测用户接口厚膜电路；

第二信号发生及测试单元，位于被测用户接口厚膜电路的用户侧，用于在主控单元控制下根据测试通道和测试负载测试下行方向被测用户接口厚膜电路。

根据本发明的测量装置，所述负载单元包括：

可调精密电阻器，用于与静态参数测试通道相连，并向第二信号发生及测试单元提供静态参数测试负载；

恒流负载，用于与摘机测试通道相连，并向所述第一信号发生及测试单元和/或第二语音信号发生及测试单元提供功能测试和动态性能测试负载。

根据本发明的测量装置，所述第一信号发生及测试单元进一步包括：

第一数字信号处理器，用于在主控单元的控制下根据动态性能测试指令或功能测试指令检测被测用户接口厚膜电路的上行方向测试信号，和/或根据动态性能测试指令产生下行方向测试信号，并将其发送至被测用户接口厚膜电路；

第一测试通道接口电路，用于连接第一数字信号处理器和测试通道；

第一通讯接口电路，用于连接第一数字信号处理器和主控单元，并向主控单元上报第一数字信号处理器所检测的上行方向测试信号；

所述第二信号发生及测试单元进一步包括：

第二数字信号处理器，用于在主控单元的控制下根据静态参数测试指令检测被测用户接口厚膜电路的静态参数测试信号和/或根据功能测试或动态性能测试指令检测通过被测用户接口厚膜电路的下行方向测试信号和/或根据功能测试或动态性能测试指令产生上行方向测试信号，并将其发送至被测用户接口厚膜电路；

第二测试通道接口电路，用于连接第二数字信号处理器和测试通道；

第二通讯接口电路，用于连接第二数字信号处理器和主控单元，并向主控单元上报第二数字信号处理器所检测的静态参数测试信号和/或下行方向测试信号。

根据本发明的测量装置，所述第一测试通道接口电路包括：第一上行方向功能及动态性能测试通道接口电路和第一下行方向功能及动态性能测试通道接口电路；

所述第二测试通道接口电路包括：静态参数测试通道接口电路、第二上行功能及动态性能测试通道接口电路和第二下功能及行方向动态性能测试通道接口电路。

根据本发明的测量装置，所述测量装置进一步包括：

夹具，用于连接所述测试装置和用户接口厚膜电路。

为了实现上述第二目的，本发明提供一种用户接口厚膜电路测试方法，包括如下步骤：

A、主控单元接收用户接口厚膜电路测试指令；

B、通道切换单元在该主控单元的控制下将被测用户接口厚膜电路的用户侧线切换到与用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道；

C、负载单元在该主控单元的控制下为与用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道提供测试负载；

D、信号发生及测试单元在该主控单元的控制下根据所述测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路进行测试。

根据本发明的测试方法，所述测试指令包括静态参数测试指令、功能测试指令和动态性能测试指令；所述测试通道包括：静态参数测试通道和功能及动态性能测试通道；所述测试负载包括静态参数测试负载和动态参数负载。

根据本发明的测试方法，所述步骤D进一步包括：

D1、信号发生及测试单元在主控单元的控制下根据测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路进行静态参数测试和/或动态性能测试和/或功能测试：

D2、信号发生及测试单元将静态参数测试和/或动态性能测试和/或功能测试结果上报给主控单元。

根据本发明的测试方法，所述步骤D2之后进一步包括：

D3、主控单元对所上报的静态参数测试和/或动态性能测试和/或功能测试结果进行计算，得到被测用户接口厚膜电路的静态参数和/或动态性能和/或功能。

本发明中，测试人员向主控单元发送用户接口厚膜电路测试指令，该测试指令可以包括静态参数测试指令和/或动态性能测试指令和/或功能测试指令，所述主控单元根据所接收的用户接口厚膜电路测试指令，控制通道切换单元切换测试通道和控制负载单元提供测试负载，并且信号发生及测试单元在主控单元的控制下通过测试通道和测试负载测试用户接口厚膜电路。借此，本发明实现了用户接口厚膜电路的如静态参数、功能及动态性能等的自动化测试，从而大大提高了测试效率。

附图说明

图1是本发明提供的用户接口厚膜电路测试装置模块示意图；

图2是本发明第一实施例提供的第一信号发生及测试单元结构模块示意图；

图3是本发明第一实施例提供的第二信号发生及测试单元结构模块示意图；

图4是本发明第二实施例提供的第一/第二信号发生及测试单元结构模块示意图；

图5是本发明提供的用户接口厚膜电路测试方法流程图；

图6是本发明第三实施例提供的用户接口厚膜电路测试方法流程图；

图7是本发明第四实施例提供的用户接口厚膜电路测试方法流程图；

图8是本发明第五实施例提供的同时并行执行多个用户接口厚膜电路测试指令的方法流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明的基本思想是：测试人员向主控单元发送用户接口厚膜电路测试指令，该测试指令可以包括静态参数测试指令和/或动态性能测试指令和/或功能测试指令，所述主控单元根据所接收的用户接口厚膜电路测试指令，控制通道切换单元切换测试通道和控制负载单元提供测试负载，并且信号发生及测试单元在主控单元的控制下通过测试通道和测试负载测试用户接口厚膜电路。

本发明提供的用户接口厚膜电路测试装置100如图1所示，其适用于模拟用户厚膜电路的测试。该装置100包括：夹具101、主控单元102、通道切换单元103、负载单元104以及信号发生及测试单元，其中：

夹具101，用于连接测试装置100和被测用户接口厚膜电路107。

本发明中，对于不同引脚定义的被测用户接口厚膜电路107有不同类型的夹具101与之对应，以使得被测用户接口厚膜电路107的安装测试比较方便。

本发明中，所述测试装置100可以为4片用户接口厚膜电路进行并行测试并且提供测试通路。

主控单元102，用于在接收到用户接口厚膜电路测试指令后控制通道切换单元103、负载单元104以及信号发生及测试单元。

所述用户接口厚膜电路测试指令后包括：静态参数测试指令、功能测试指令和动态性能测试指令。其中，所述静态参数包括：馈电参数；所述功能测试指令包括：摘挂机功能；所述动态性能包括：用户厚膜电路上/下行语音通路DTMF拨号/收号功能和用户接口厚膜电路上/下行增益调整指标。

该主控单元102是通过总线与通道切换单元103、负载单元104、信号发生及测试单元和被测用户接口厚膜电路107相连，用于控制所述通道切换单元103、负载单元104、信号发生及测试单元和被测用户接口厚膜电路107。

具体而言，所述主控单元可以根据用户配置，对被测用户接口厚膜电路107的单个及多个功能或者性能指标测试进行控制；可以控制信号发生及测试单元发送上/下行语音信号或测试上/下行行语音信号；可以控制通路切换单元103对测试通路进行切换；可以控制负载单元104为测试回路配置不同的负载；可以读取被测试用户接口厚膜电路单元206的摘挂机输出电平信号；可以获取信号发生及测试单元的检测结果，并计算所述检测结果、显示及上报测试数据。

信号发生及测试单元，用于在主控单元102的控制下测试被测用户接口厚膜电路107。

为了表述方便，本发明做如下设定：对于被测用户接口厚膜电路107与电话用户接口的一侧，称之为“用户侧”；另一侧则称之为“交换机侧”，参见图1。对于语音测试信号的传输方向，由电话用户终端到交换机的方向称为“上行方向”，由交换机到电话用户终端的方向称为“下行方向”。

通道切换单元103，位于被测用户接口厚膜电路107的用户侧，由继电器组成，用于在主控单元102的控制下将被测用户接口厚膜电路107的用户侧线切换到与用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道。

所述测试通道如图1所示，位于通路切换单元103和负载单元104之间，其包括静态参数测试通道1和功能及动态性能测试通道，而功能及动态性能测试通道又进一步包括：摘机测试通道3和挂机测试通道2。其中，所述挂机测试通道2的负载端悬空。

具体而言，当用户接口厚膜电路测试指令为馈电测试指令即静态参数测试指令时，将被测用户接口厚膜电路107的用户侧线切换到静态参数测试通道1。当用户接口厚膜电路测试指令为挂机测试指令时，将被测用户接口厚膜电路107的用户侧线切换到挂机测试通道2，当用户接口厚膜电路测试指令为摘机测试指令或动态性能测试指令时，将被测用户接口厚膜电路107的用户侧线切换到摘机测试通道3。

负载单元104，与通道切换单元103和信号产生及测试单元相连，用于在主控单元102的控制下为测试通道提供测试负载。

该负载单元104包括可调精密电阻器1041和恒流负载1042。其中，

可调精密电阻器1041，用于与静态参数测试通道1和信号发生及测试单元相连，并向信号发生及测试单元提供静态参数测试负载。

本发明通过设置可调的精密电阻器，使得信号发生及测试单元在较宽的负载范围内对静态参数即馈电参数进行测试。

恒流负载1042，用于与摘机测试通道3和信号发生及测试单元相连，并向信号发生及测试单元提供摘机功能测试和动态性能测试负载。

所述信号发生及测试单元包括第一信号发生及测试单元105和第二信号发生及测试单元106。其中，

第一信号发生及测试单元105，位于被测用户接口厚膜电路107的交换机侧，与主控单元102和被测用户接口厚膜电路107相连，用于在主控单元102的控制下根据测试通道和测试负载测试上行方向被测用户接口厚膜电路107。

第二信号发生及测试单元106，位于被测用户接口厚膜电路107的用户侧，与主控单元102和负载单元104相连，用于在主控单元102控制下根据测试通道和测试负载测试下行方向被测用户接口厚膜电路107。

作为本发明的第一实施方式，所述第一信号发生及测试单元105和第二信号发生及测试单元106的结构模块不一致，可参见图2和图3。

图2中该第一发生及测试单元105进一步包括：第一DSP(Digital SignalProcessor，数字信号处理器)201、第一测试通道接口电路202、第一通讯接口电路203、第一上行语音调理电路204、第一下行语音调理电路205和第一CODEC(编解码)芯片206。其中，

第一数字信号处理器201，与第一通讯接口电路203和下行语音调理电路206相连，用于在主控单元102的控制下根据动态性能测试指令或功能测试指令检测被测用户接口厚膜电路107的上行方向测试信号，和/或根据动态性能测试指令产生下行方向测试信号，并将其发送至被测用户接口厚膜电路107。

第一测试通道接口电路202，用于连接第一数字信号处理器201和测试通道。

该第一测试通道接口电路202进一步包括：第一上行方向功能及动态性能测试通道接口电路2021和第一下行方向功能及动态性能测试通道接口电路2022。其中，第一上行方向功能及动态性能测试通道接口电路2021用于连接上行语音调理电路204和被测用户接口厚膜电路107的交换机侧。所述第一下行方向功能及动态性能测试通道接口电路2022用于连接下行语音调理电路205和被测用户接口厚膜电路107的交换机侧。

第一数字信号处理器201在主控单元102的控制下根据动态性能测试指令通过该第一测试通道接口电路202检测被测用户接口厚膜电路107的上行方向测试信号。

第一通讯接口电路203，用于连接第一数字信号处理器201和主控单元102，并向主控单元102上报第一数字信号处理器201所检测的上行方向测试信号。

第一上行语音调理电路204，与第一编解码芯片(CODEC)206和第一上行方向功能及动态性能测试通道接口电路2021相连，用于对第一数字信号处理器201所检测的上行方向测试信号的幅值进行调整使其位于第一编解码芯片(CODEC)204的门限范围内。

第一下行语音调理电路205，与第一编解码芯片(CODEC)206和第一下行动态性能测试通道接口电路2021相连，用于对第一数字信号处理器201所产生的下行方向测试信号的幅值进行调整，以适合下行方向上的传输。

第一编解码芯片(CODEC)206，用于对检测到的上行方向的测试信号进行A/D(模拟数字)转换或对第一数字信号处理器201所产生的下行方向测试信号进行D/A(数字模拟)转换。该第一编解码芯片(CODEC)206进一步包括：A/D转换器2061和D/A转换器2062。其中，

所述A/D转换器2061，连接第一上行语音调理电路204和第一数字信号处理器201，用于将检测到的上行方向的测试信号进行A/D转换。

所述D/A转换器2062，连接第一下行语音调理电路205和第一数字信号处理器201，用于将第一数字信号处理器201产生的下行方向测试信号进行D/A转换。

参见图3，该第二发生及测试单元106进一步包括：第二数字信号处理器301、第二测试通道接口电路302、第二通讯接口电路303、第二上行语音调理电路304、第二下行语音调理电路305、第二编解码芯片306、馈电调理电路307和A/D转换器308。其中，

第二数字信号处理器301，用于在主控单元102的控制下根据静态参数测试指令检测被测用户接口厚膜电路107的静态参数测试信号和/或动态性能测试指令或功能测试指令检测通过被测用户接口厚膜电路107的下行方向测试信号和/或根据动态性能测试指令或功能测试指令产生上行方向测试信号，并将其发送至被测用户接口厚膜电路107。

本发明中，第一数字信号处理器201所产生的下行方向测试信号为下行方向语音测试信号。第二数字信号处理器301所产生的上行方向测试信号为上行方向语音测试信号。

第二测试通道接口电路302，用于连接第二数字信号处理器301和测试通道。该第二测试通道接口电路302进一步包括：静态参数测试通道接口电路3021、第二上行方向功能及动态性能测试通道接口电路3022和第二下行方向动态性能测试通道接口电路3023。

所述静态参数测试通道接口电路3021，用于连接馈电调理电路307和负载单元104的可调精密电阻器1041；所述第二上行动态性能测试通道接口电路3022用于连接第二上行语音调理电路304和负载单元104的恒流负载1042；所述第二下行方向功能及动态性能测试通道接口电路3023用于连接第二下行语音调理电路305和负载单元104的恒流负载1042。

第二通讯接口电路303，用于连接第二数字信号处理器301和主控单元102，并向主控单元102上报第二数字信号处理器301所检测的静态参数测试信号和/或下行方向测试信号。

馈电调理电路307，与静态参数测试通道接口电路3021和A/D转换器308相连，用于对被测用户接口厚膜电路107产生的馈电参数进行幅值调整使其位于A/D转换器308的门限范围内。

A/D转换器308，与馈电调理电路307和第二数字信号处理器301进行相连，用于将经过幅值调整的馈电参数进行A/D转换，然后发送至第二数字信号处理器301进行检测处理。

第二上行语音调理电路304，与第二编解码芯片(CODEC)306和第二上行动态性能测试通道接口电路3022相连，用于对第二数字信号处理器301所产生的上行方向测试信号的幅值进行调整，以适合上行方向的传输。

第二下行语音调理电路305，与第二编解码芯片(CODEC)306和第二下行动态性能测试通道接口电路3023相连，用于对第二数字信号处理器301所检测的下行方向测试信号的幅值进行调整使其位于第二编解码芯片(CODEC)306的门限范围内。

第二编解码芯片(CODEC)306，用于对检测到的下行方向的测试信号进行A/D(模拟数字)转换或对第二数字信号处理器301所产生的上行方向测试信号进行D/A(数字模拟)转换。该第二编解码芯片(CODEC)306进一步包括：A/D转换器3061和D/A转换器3062。其中，

所述A/D转换器3061，连接第二下行语音调理电路305和第二数字信号处理器301，用于将检测到的上行方向的测试信号进行A/D转换。

所述D/A转换器3062，连接第二上行语音调理电路304和第二数字信号处理器301，用于将第二数字信号处理器301产生的上行方向测试信号进行D/A转换。

作为本发明的第二实施方式，所述第一信号发生及测试单元105和第二信号发生及测试单元106的结构模块一样，可参见图4，均包括第一/第二数字信号处理器401、第一/第二测试通道接口电路402、通讯接口电路403、第一/第二上行语音调理电路404、第一/第二下行语音调理电路405、第一/第二编解码芯片(CODEC)406、馈电调理电路407和A/D转换器408。当第一信号发生及测试单元105工作时，只执行第一/第二数字信号处理器401、第一/第二测试通道接口电路402、通讯接口电路403、第一/第二上行语音调理电路404、第一/第二下行语音调理电路405、第一/第二编解码芯片(CODEC)406，并且执行过程和功能与图2相同，当第二信号发生及测试单元106工作时，执行全部模块，但所述模块的执行过程和功能与图3相同，基于篇幅所限，此处不一一描述。

图5是本发明提供的用户接口厚膜电路测试方法流程图，该测试方法包括如下：

步骤S501，主控单元102接收用户接口厚膜电路测试指令，主控单元102接下来实现对通道切换单元103、负载单元104和信号发生及测试单元的控制。

本发明中，主控单元102会根据用户的配置的指令，控制被测用户接口厚膜电路107的测试。根据用户接口厚膜电路的4个基本功能，本发明设置了与其对应的用户接口厚膜电路测试指令，包括：静态参数测试指令、功能测试指令和动态性能测试指令。所述静态参数测试指令包括：馈电参数测试指令；所述功能测试包括：摘挂机功能测试；所述动态性能测试指令包括：用户厚膜电路上/下行语音通路DTMF拨号/收号功能测试指令和用户接口厚膜电路上/下行增益调整指标测试指令。

用户可以根据需要选择用户接口厚膜电路测试指令，并向主控单元102发送。

步骤S502，通道切换单元103在主控单元102的控制下将被测用户接口厚膜电路107的用户侧线切换到用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道。

步骤S503，负载单元104在主控单元102的控制下为测试通道提供测试负载。

步骤S504，信号发生及测试单元在主控单元102的控制下测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路107进行测试。

具体而言，该步骤包括：

步骤S510，信号发生及测试单元在主控单元102的控制下根据测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路107进行静态参数测试和/或动态性能测试和/或功能测试；

步骤S512，信号发生及测试单元将静态参数测试和/或动态性能测试和/或功能测试结果上报给主控单元102。

步骤S513，主控单元102对所上报的静态参数测试和/或动态性能测试和/或功能测试结果进行计算得到被测用户接口厚膜电路107的静态参数和/或动态性能和/或功能。

本发明第三实施例提供了一种用户接口厚膜电路测试方法如图6所示，结合图1、图2和图3所示的测试装置100进行描述，该第三实施例中，被测用户接口厚膜电路107通过夹具101与测试装置100相连，且用户向主控单元102下发用户接口厚膜电路上行增益调整指标测试指令，该方法具体包括如下：

步骤S601，主控单元102接收用户接口厚膜电路上行增益调整指标测试指令，以便后续步骤中根据用户接口厚膜电路上行增益调整指标测试指令控制通道切换单元103、负载单元104、第一信号发生及测试单元105和第二信号产生及测试单元106。

步骤S602，通道切换单元103在主控单元102的控制下将用户接口厚膜电路的用户侧线即AB线切换到与用户接口厚膜电路上行增益调整指标测试指令对应的摘机测试通道3。

步骤S603，负载单元104在主控单元102的控制下为摘机测试通道3提供恒流负载1042。

由此，测试通道处于模拟通话状态。

步骤S604，第二信号产生及测试单元106在主控单元102的控制下产生并向被测用户接口厚膜电路107和主控单元102发送上行方向测试信号。

本实施例中，所述测试信号为语音测试信号，其可以在较宽的范围内：20Hz-20kHz，用户接口厚膜电路上行增益调整指标测试过程需要测试到多个频点，本步骤中，仅以1000Hz正弦波为例，其它频点的测试流程与之一致。

该1000Hz正弦波由第二信号产生及测试单元106的第二数字信号处理器301产生，该1000Hz正弦波经过第二编解码芯片(CODEC)306、第二上行语音调理电路304、第二上行方向功能及动态性能测试通道接口电路3022到达负载单元104的恒流负载1042，然后经由摘机测试通道3、通道切换单元103到达被测用户接口厚膜电路107的用户侧。

步骤S605，被测用户接口厚膜电路107接收到所述1000Hzz正弦波测试信号后，对该测试信号进行增益调整，并将其从被测用户接口厚膜电路107的交换机侧发送给第一信号产生及测试单元105。

步骤S606，第一信号产生及测试单元105检测所述1000Hz正弦波测试信号。

具体而言，该1000Hz正弦波测试信号到达第一信号产生及测试单元105的第一上行动态性能测试通道接口电路2021，然后经过第一上行语音调理电路204和第一编解码芯片(CODEC)206的A/D转换后进入第一数字信号处理器201，第一数字信号处理器201根据相应的算法对该1000Hz正弦波测试信号进行检测。

步骤S607，第一信号产生及测试单元105将所述1000Hz正弦波测试信号的检测结果数据通过第一通讯接口电路203上报给主控单元102。

步骤S608，主控单元102根据第二信号产生及测试单元106所发送的1000Hz正弦波测试信号和第一信号产生及测试单元105所上报的1000Hz正弦波测试信号的检测结果计算得到该1000Hz正弦波测试信号的增益调整大小。

本发明第四实施例提供了一种用户接口厚膜电路测试方法如图7所示，结合图1、图2和图3所示的测试装置100进行描述，该第四施例中，被测用户接口厚膜电路107通过夹具101与测试装置100相连，且用户向主控单元102下发用户接口厚膜电路馈电参数测试指令，该方法具体包括如下：

步骤S701，主控单元102接收用户接口厚膜电路馈电参数测试指令，以便后续步骤中根据用户接口厚膜电路馈电参数测试指令控制通道切换单元103、负载单元104、第二信号产生及测试单元106和被测用户接口厚膜电路107。

步骤S702，通道切换单元103在主控单元102的控制下将用户接口厚膜电路的用户侧线即AB线切换到与用户接口厚膜电路馈电参数测试指令对应的静态测试通道1即馈电测试通道。

步骤S703，负载单元104在主控单元102的控制下为静态测试通道1提供可调电阻负载。

本步骤中负载单元104是通过可调电阻器1041为静态测试通道1提供可调电阻。

步骤S704，被测用户接口厚膜电路107在主控单元102的控制下产生馈电恒流测试信号，并向通道切换单元103发送。

步骤S705，馈电恒流测试信号通过通道切换单元103、静态测试通道1和可调电阻负载转换为电压测试信号，并发送至第二信号产生及测试单元106。

步骤S706，第二信号产生及测试单元106检测所述电压测试信号。

具体而言，该电压测试信号到达第二信号产生及测试单元106静态参数测试通道接口电路3021，由馈电调理电路307和A/D转换器308进行模数转换后到达第二数字处理器301，第二数字处理器301对该电压测试信号进行滤波预处理，然后对该信号进行检测。

步骤S707，第二信号产生及测试单元106将所述电压测试信号的检测结果数据通过第二通讯接口303上报给主控单元102。

步骤S708，主控单元102根据所上报的电压测试信号的检测结果数据计算得到被测用户接口厚膜电路107馈电恒定电流的大小。

本发明中，用户接口厚膜电路下行增益调整指标、用户厚膜电路上/下行语音通路DTMF拨号/收号功能以及摘挂机功能等功能及动态性能测试过程与第三实施例的测试过程大致一致，居于篇幅所限，这里不作一一描述，具体可参见图6。

须声明，本发明提供的测试方法可以在一个被测用户接口厚膜电路107执行一个用户接口厚膜电路测试指令，或在一个被测用户接口厚膜电路107同时执行多个用户接口厚膜电路测试指令，并且该测试方法也可以同时并行测试多个被测用户接口厚膜电路107和在多个被测用户接口厚膜电路107执行多个用户接口厚膜电路测试指令。

参见图8所示的同时并行执行多个用户接口厚膜电路测试指令，包括如下步骤：

步骤S801，测试装置100自检。

步骤S802，判断是否存在n个用户接口厚膜电路测试指令或存在用户接口厚膜电路测试结束指令，若存在n个测试指令或测试结束指令，则执行步骤S803，否则继续执行步骤S802。

步骤S803，根据用户接口厚膜电路测试指令测试被测用户接口厚膜电路107，并在测试完毕后返回步骤S802或根据用户接口厚膜电路测试结束指令结束被测用户接口厚膜电路107的测试过程。

本步骤中，若用户接口厚膜电路测试指令为馈电参数测试指令，则按照第四实施例所提供的测试方法进行被测用户接口厚膜电路107的测试；若用户接口厚膜电路测试指令为功能及动态性能测试指令，则其测试过程与第三实施例所提供的测试方法类似，可参见该第三实施例进行被测用户接口厚膜电路107的测试。

综上可知，本发明中，测试人员向主控单元发送用户接口厚膜电路测试指令，该测试指令可以包括静态参数测试指令和/或动态性能测试指令和/或功能测试指令，所述主控单元根据所接收的用户接口厚膜电路测试指令，控制通道切换单元切换测试通道和控制负载单元提供测试负载，并且信号发生及测试单元在主控单元的控制下通过测试通道和测试负载测试用户接口厚膜电路。借此，本发明实现了用户接口厚膜电路的如静态参数、功能及动态性能等的自动化测试，从而大大提高了测试效率。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (12)

1.一种用户接口厚膜电路测试装置，其特征在于，包括：

主控单元，用于在接收到用户接口厚膜电路测试指令后控制通道切换单元、负载单元和信号发生及测试单元；

通道切换单元，用于在该主控单元的控制下将被测用户接口厚膜电路的用户侧线切换到与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道；

负载单元，用于在该主控单元的控制下为与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道提供测试负载；

信号发生及测试单元，用于在该主控单元的控制下根据所述测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述用户接口厚膜电路测试指令包括：静态参数测试指令、功能测试指令和/或动态性能测试指令；

所述静态参数测试指令包括：馈电参数测试指令；

所述功能测试指令包括：摘/挂机功能测试指令；

所述动态性能测试指令包括：用户厚膜电路上/下行语音通路拨号/收号功能和用户接口厚膜电路上/下行增益调整指标测试。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试通道包括：静态参数测试通道和/或功能及动态性能测试通道；所述功能及动态性能测试通道进一步包括：摘机测试通道和挂机测试通道。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述信号发生及测试单元进一步包括：

第一信号发生及测试单元，位于被测用户接口厚膜电路的交换机侧，用于在主控单元的控制下根据测试通道和测试负载测试上行方向被测用户接口厚膜电路；

第二信号发生及测试单元，位于被测用户接口厚膜电路的用户侧，用于在主控单元控制下根据测试通道和测试负载测试下行方向被测用户接口厚膜电路。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述负载单元包括：

可调精密电阻器，用于与静态参数测试通道相连，并向第二信号发生及测试单元提供静态参数测试负载；

恒流负载，用于与摘机测试通道相连，并向所述第一信号发生及测试单元和/或第二语音信号发生及测试单元提供功能测试和动态性能测试负载。

6.根据权利要求4或5所述的测试装置，其特征在于，所述第一信号发生及测试单元进一步包括：

第一数字信号处理器，用于在主控单元的控制下根据动态性能测试指令或功能测试指令检测被测用户接口厚膜电路的上行方向测试信号，和/或根据动态性能测试指令产生下行方向测试信号，并将其发送至被测用户接口厚膜电路；

第一测试通道接口电路，用于连接第一数字信号处理器和测试通道；

第一通讯接口电路，用于连接第一数字信号处理器和主控单元，并向主控单元上报第一数字信号处理器所检测的上行方向测试信号；

所述第二信号发生及测试单元进一步包括：

第二数字信号处理器，用于在主控单元的控制下根据静态参数测试指令检测被测用户接口厚膜电路的静态参数测试信号和/或根据功能测试或动态性能测试指令检测通过被测用户接口厚膜电路的下行方向测试信号和/或根据功能测试或动态性能测试指令产生上行方向测试信号，并将其发送至被测用户接口厚膜电路；

第二测试通道接口电路，用于连接第二数字信号处理器和测试通道；

第二通讯接口电路，用于连接第二数字信号处理器和主控单元，并向主控单元上报第二数字信号处理器所检测的静态参数测试信号和/或下行方向测试信号。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述第一测试通道接口电路包括：第一上行方向功能及动态性能测试通道接口电路和第一下行方向功能及动态性能测试通道接口电路；

所述第二测试通道接口电路包括：静态参数测试通道接口电路、第二上行功能及动态性能测试通道接口电路和第二下功能及行方向动态性能测试通道接口电路。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，进一步包括：

夹具，用于连接所述测试装置和用户接口厚膜电路。

9.一种应用如权利要求1～8任一项所述装置的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

A、主控单元接收用户接口厚膜电路测试指令；

B、通道切换单元在该主控单元的控制下将被测用户接口厚膜电路的用户侧线切换到与用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道；

C、负载单元在该主控单元的控制下为与用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道提供测试负载；

D、信号发生及测试单元在该主控单元的控制下根据所述测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路进行测试。

10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述测试指令包括静态参数测试指令、功能测试指令和动态性能测试指令；所述测试通道包括：静态参数测试通道和功能及动态性能测试通道；所述测试负载包括静态参数测试负载和动态参数负载。

11.根据权利要求10所述的测试方法，其特征在于，所述步骤D进一步包括：

D1、信号发生及测试单元在主控单元的控制下根据测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路进行静态参数测试和/或动态性能测试和/或功能测试；

D2、信号发生及测试单元将静态参数测试和/或动态性能测试和/或功能测试结果上报给主控单元。

12.根据权利要求11所述的测试方法，其特征在于，所述步骤D2之后进一步包括：

D3、主控单元对所上报的静态参数测试和/或动态性能测试和/或功能测试结果进行计算，得到被测用户接口厚膜电路的静态参数和/或动态性能和/或功能。

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